JPH03231384A - パターンマッチング方法 - Google Patents

パターンマッチング方法

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JPH03231384A
JPH03231384A JP2028051A JP2805190A JPH03231384A JP H03231384 A JPH03231384 A JP H03231384A JP 2028051 A JP2028051 A JP 2028051A JP 2805190 A JP2805190 A JP 2805190A JP H03231384 A JPH03231384 A JP H03231384A
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JP
Japan
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pattern
matching
pixels
standard pattern
input image
Prior art date
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Pending
Application number
JP2028051A
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English (en)
Inventor
Toshimichi Masaki
俊道 政木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、認識対象を撮像して得た入力画像を標準パ
ターンとテンプレートマツチングを行って、前記入力画
像中に標準パターンと一致するパターンが存在するか否
かを判別するパターンマツチング方法に関する。
〈従来の技術〉 第6図は、この種のパターンマツチングで用いられる文
字「1」の標準パターン1を例示している。同図中、各
折目2は画素を示し、黒く塗り潰した画素2aが文字パ
ターンを構成する黒画素、その他の画素2bが文字パタ
ーン以外の背景を構成する白画素である。なお黒画素は
画素データ「0」で表され、白画素は画素データ「1」
で表される。
このような標準パターンlを、第7図に示すような2値
化された入力画像3の全面にわたって走査し、それぞれ
の走査位置において対応する画素間の一致度を求め、所
定のしきい値を越える一致度のうち、最大の値をとる位
置に標準パターンと一致するパターンが存在するものと
判断する。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながらこのようなテンプレートマツチングにおい
て、標準パターン1のバタン構成画素(黒画素)の画素
数とそれ以外の画素(白画素)の画素数と間に大きな差
があると、マツチング位置以外の位置でもかなりの一致
度を示すことになる。
第8図は、第6図に例示した標準パターン1(自画素数
が121個、黒画素数が23個)を用いてテンプレート
マツチングを行ったときの一致度の算出結果を示すもの
で、横軸に標準パターン1の位置(具体的には第7図中
、点P (u。
■)の位置)、縦軸に一致度M(u、v)がとっである
。同図では、(u+ 、Vl )の位置で標準パターン
1と入力画像3中の「1」の文字パターン4とが重なっ
て最大の一致度r144 。
を示1−が、標準パターン1が前記文字パターン4とが
重ならない位置でも’121 Jの一致度を示している
このようにマツチング位置での一致度とそれ以外の位置
での一致度との差は顕著でないため、前記しきい値の設
定が容易でなくなり、また誤認識をひき起こし易いとい
う問題がある。
この発明は、上記問題に着目してなされたもので、マツ
チング位置での一致度とそれ以外の位置での一致度との
差を顕著となす工夫を施すことにより、しきい値の設定
が容易であり、誤認識の発生を減少させた新規なパター
ンマツチング方法を提供することを目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉 この発明は、入力画像を各画素が2値データで構成され
る標準パターンとテンプレートマツチングを行って、前
記入力画像中に標準パターンと一致するパターンが存在
するか否かを判別するパターンマツチソング方法であっ
て、前記標準パターンにおけるパターン構成画素とそれ
以外の画素との構成比率が同程度となるよう多い方の画
素の一部をマツチング対象外の画素に指定して、前記テ
ンプレートマツチングを行うようにしたものである。
〈作用〉 標準パターンにおけるパターン構成画素とそれ以外の画
素との構成比率が同程度となるよう多い方の画素の一部
をマツチング対象外の画素に指定してテンプレートマツ
チングを行うので、マツチング位置での一致度とそれ以
外の位置での一致度との差が顕著となり、候補を絞るた
めのしきい値の設定が容易となり、また誤認識の発生も
減少する。
〈実施例〉 第1図および第2図は、この発明にかかるパターンマツ
チング方法に用いられる文字「1」の標準パターン10
.11を示している。
同図中、黒(塗り潰した画素12aが文字パターンを構
成する黒画素、その他の画素12bが文字パターン以外
の背景を構成する白画素であることは、第6図の従来例
と同様である。
このような標準パターン10.11を、2値化された入
力画像の全面にわたって走査し、それぞれの走査位置に
おいて、標準パターンの各構成画素の画素データと、そ
の対応位置の入力画像の各構成画素の画素データとを照
合し、両画素データが一致する画素数、すなわち白画素
および黒画素の一致度を求めることになるが、この発明
では、前記標準パターン10.11における黒画素12
aと白画素12bとの構成比率が同程度となるよう、多
い方の画素(この場合、白画素)の一部をマツチング対
象外の画素に指定して、前記テンプレートマツチングを
行うようにしている。
第1.図および第2図中、×で示した画素12cがマツ
チング対象外の画素(以下、「対象外画素」という)に
指定されたものであり、第1図の標準パターン10では
23個の対象外画素12cをランダムに指定し、また第
2図の標準パターン11では同数の対象外画素12cを
文字に沿って指定して、マツチング対象となる黒画素1
2aと白画素12bとの構成比率を1:lに設定してい
る。
同図の標準パターン10.11を用いてテンプレートマ
ツチングを行ったときの一致度の算出結果が第3図に示
しである。
同図によれば、マツチング位置である(ul。
v、)の位置で最大の一致度「46」を示しており、そ
れ以外の位置での一致度「23」と顕著な差が生じてい
る。
上記の対象外画素12cが指定された標準パターン10
.11によるテンプレートマツチングを実現するための
マツチング処理回路20の構成例が、第4図および第5
図に示しである。
第4図に示すマツチング処理回路20は、2値化された
入力画像と標準パターンとを行毎にマツチングするため
のm行分のマツチング回路21と、各マツチング回路2
1で求めた行単位の一致度を加算する加算器群22とで
構成されている。前記標準パターンはm行×n列の画素
より成るもので、各行のマツチング回路21にはn個の
一致検出回路23 (詳細は後述する)と、各−数構出
回路23の一致出力を集計する計数回路24とが設けら
れると共に、2行目以降のマツチング回路21に対して
は、人力画像の2値画像データを1水平走査期間分ずつ
順次遅延させるための遅延回路25が付加されている。
同図中、デコーダ26は行番号を人力して各行のマツチ
ング回路21を選択し、後記する参照パターンレジスタ
31.32へ書込み信号灯。浦T1を与える。行番号の
データはこのデコーダ26へ順次与えると共に、対応す
る行のnビットの標準パターンの各画素データを各マツ
チング回路21へ送出することにより、標準パターンを
(mXn)個の一致検出回路23にセットする。
第5図は、−数構出回路23の具体例を示しており、標
準パターンの画素データをセットするだめの第1.第2
の参照パターンレジスタ31.32と、入力画像の2値
画像データを1ビツトずつシフトさせてセットするため
のサンプルパターンレジスタ33と、参照パターンレジ
スタ31.32のセント値とサンプルパターンレジスタ
33のセット値とが一致するか否かを判別するための論
理回路34とを含んでいる。
参照パターンレジスタ31.32は、前記書込み信号W
TI、WTzが「1」のとき入力データをロードしてラ
ッチするもので、セットされる画素が黒画素か、白画素
か、対象外画素かが、これらレジスタ:31..32の
セット値の組み合わせで表現される。例えば黒画素であ
れば、一方のレジスタ31に「OJが、他方のレジスタ
32r1.が、それぞれセットされ、また白画素であれ
ば、一方のレジスタ31に「1」が、他方のレジスタ3
2に「0」または「1」が、それぞれセットされ、さら
に対象外画素であれば、両方のレジスタ31.32に「
0」がセットされることになる。
その結果、この参照パターンレジスタ31゜32に白画
素の画素データがセットされかつサンプルパターンレジ
スタ33にセ・ノドされた画素データがrlj  (白
画素)のときと、参照パターンレジスタ31.32に黒
画素がセ・ントされかつサンプルパターンレジスタ33
にセットされた画素データ「0」 (黒画素)のときに
−散出力として「1」が立ち、それ以外はすべて一致出
力は「0」である。
かくして入力画像の2値画像データをこのマツチング処
理回路20へ与えると共に、各行のマツチング回路21
における各サンプルパターンレジスタ33のセット値を
サンプリングクロックによりシフトさせることにより、
入力画像に対して標準パターンを相対的に走査する動作
が実現される。そして標準パターンの走査位置毎に、各
マツチング回路21において入力画像と標準パターンと
の一致度数を計数回路24で計数し、全ての行の総和を
加算器群22で集計して一致度を算出する。
ここでの算出値は、図示しない一致点検出回路へ与えら
れて所定のしきい値と比較され、そのしきい値を越える
一致度の算出値とそのときの標準パターンの位置(χ座
標値およびY座標値)とが求められて記憶され、走査完
了後に前記算出値が最大となる位置に標準パターンと一
致するパターンが存在するものと判断される。
〈発明の効果〉 この発明は上記の如く、標準パターンにおけるパターン
構成画素とそれ以外の画素との構成比率が同程度となる
よう多い方の画素の一部をマツチラグ対象外の画素に指
定してテンプレートマツチングを行うようにしたから、
マツチング位置での一致度とそれ以外の位置での一致度
との差が顕著となる。このため候補を絞るためのしきい
値の設定が容易となり、また誤認識の発生も減少するな
ど、発明日的を達成した顕著な効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図はこの発明のパターンマツチング方
法で用いられる標準パターンの一例を示す説明図、第3
図はこの発明を実施して得た一致度算出結果を示す説明
図、第4図はマツチング処理回路の構成例を示すブロッ
ク図、第5図は第4図中の一致検出回路の具体例を示す
電気回路図、第6図は従来の標準パターンの一例を示す
説明図、第7図はテンプレートマツチングの原理を示す
説明図、第8図は従来の方法を実施して得た一致度算出
結果を示す説明図である。 10、11・・・・標準パターン 12a・・・・黒画
素12b・・・・白画素 12c・・・・対象外画素 20・・・・マツチング処理回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 入力画像を標準パターンとテンプレートマッチングを行
    って、前記入力画像中に標準パターンと一致するパター
    ンが存在するか否かを判別するパターンマッチング方法
    であって、前記標準パターンにおけるパターン構成画素
    とそれ以外の画素との構成比率が同程度となるよう多い
    方の画素の一部をマッチング対象外の画素に指定して、
    前記テンプレートマッチングを行うことを特徴とするパ
    ターンマッチング方法。
JP2028051A 1990-02-07 1990-02-07 パターンマッチング方法 Pending JPH03231384A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5872871A (en) * 1995-04-25 1999-02-16 Nippondenso Co., Ltd. Method and device for measuring the position of a pattern
WO2008081853A1 (ja) * 2006-12-28 2008-07-10 Alps Electric Co., Ltd. 画像処理方法

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JPWO2008081853A1 (ja) * 2006-12-28 2010-04-30 アルプス電気株式会社 画像処理方法

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