JPH03154882A - テスト回路 - Google Patents

テスト回路

Info

Publication number
JPH03154882A
JPH03154882A JP1293304A JP29330489A JPH03154882A JP H03154882 A JPH03154882 A JP H03154882A JP 1293304 A JP1293304 A JP 1293304A JP 29330489 A JP29330489 A JP 29330489A JP H03154882 A JPH03154882 A JP H03154882A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
latch
input
mode
output
potential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1293304A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Kanazawa
武志 金沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP1293304A priority Critical patent/JPH03154882A/ja
Publication of JPH03154882A publication Critical patent/JPH03154882A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 なしに、テストモードと通常モードの切り換えができる
テスト回路に関するものである。
〔従来の技術〕
第4図は例えば昭和62年5月1日CQ出版社発行の「
インターフェース」に掲載された従来のテスト機能を付
加した12ビット同期カウンタの構成を示す回路図で、
図において、(1)は4ビット同期カウンタ、(2)は
テスト信号伝達のための論理和。
(3)はキャリー信号伝達のための論理積である。
次に動作について説明する。第4図においてテスト信号
が接地電位の場合、4ビット同期カウンタ(1)のキャ
リー出力CYは直接あるいは論理積(3)を通して論理
和(2)に伝えられ、この論理和(2)の入力がそのま
ま同期カウンタ(1)のカウントイネーブル人力ENに
伝達されることにより、第4図は12ビット同期カウン
タとして動作する。
一方、テスト信号が電源電位の場合論理和(2)の出力
は強制的に電源電位となるため、それぞれの4ビット同
期カウンタ(1)はそれぞれ同時にカウント動作を行う
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のモード切換手段は以とのように構成されていたの
で、テストモードと通常モードの切換えにテスト信号が
必要であり、そのためのピンを追加しなければならない
という問題点があった。
この発明はと記のような問題点を解消するためになされ
たもので、テストピンの追加なしにテストモードと通常
モードの切換えができるテスト回路を得ることを目的と
する。
〔課題を解決゛するための手段〕
この発明に係るテスト回路は、順序回路、Qクリア入力
とクロック入力のみで通常動作モードとテストモードの
切換えを行うようにしたものである。
〔作 用〕
この発明におけるモード切換回路は、順序回路のクリア
入力及びクロック入力の組み合せによりテストモードに
セットされ、順序回路の状態に応じて通常動作モードへ
とリセットされる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例による12ビット同期カウンタ
の構成を示す回路図である。図(ζおいて、(7)はR
−Sラッチ(4)及びDフリップフロップ(5)により
構成されたモード切換回路、(6)は百1人力の反転信
号をDフリップフロップ(5)及びR−Sラッチ(4)
に供給するインバータである。なお、図中、符号11)
〜(3)は前記従来のものと同一につき説明は省略する
次に動作を第2図及び第3図の波形図を用いて説明する
。第2図及び第3図において、CLRはカウンタをリセ
ットするクリア入力、CLKはクロック入力、S、R1
,R2,QはそれぞれR−Sラッチ(4)の入力及び出
力端子の信号である。
まず、第2図においてCLK入力が接地電位となった場
合、Dフリップフロップ(5)のQ出力、すなわちR−
Sラッチ(4)のS入力は接地電位となる。
次に、CLR入力を接地電位にすると、Dフリップフロ
ップ(5)はトリガされそのQ出力は電源電位となる。
このとき同時にR2人力が電源電位となるため、S−S
ラッチ(4)のQ出力は接地電位となる。仁のCLR入
力が接地電位である期間にCLK入力を接地電位にした
場合、Dフリップフロップ(5)はリセットされ、R−
8ラツチ(4)のS入力は接地電位となりで、以後、再
びCLR入力が電源電位から接地電位に変化するまで、
R−Sラッチ(4)のQ出力は接地電位に保たれる。以
とが通常モードであり、このとき第1図の回路は12ビ
ツトカウンタとして動作する。
一方、第3図はテストモードの動作を示す波形図であ外
、第2図の通常モードと異なら百1人力が接地電位であ
る期間にCLK’入力を電源電位に保持することにより
、Dフリップフロップ(5)のQ出力は電源電位を保持
したままとなるため。
CLR入力が接地電位から電源電位へ変化した後は、R
−Sラッチ(4)のQ出力は電源電位に保持される。R
−Sラッチ(4)のQ出力が電源電位のとき。
第1図の4ビット同期カウンタ(1)はそれぞれ同時に
カウント動作を行なう。4ビレト同期式カウンタ(1)
が15カウントされ、キャリー出力CYすなわちR−S
ラッチ(4)のR1入力が電源電位になると、R−Sラ
ッチ(4)のQ出力は接地電位となり、以後。
第1図の回路は通常の12ビツトカウンタとして動作す
る。
なお、f:記実施例ではモード切換回路(7)にDフリ
ップフロップ(5)とNORゲートで構成したR−Sラ
ッチ(4)を用いた場合を示したが、それぞれ機能が同
一であれば他のフリップフロップやR−Sラッチを用い
てもよい。
また、上記実施例では12ビット同期式カウンタの場合
について説明した゛が、他の順序回路であってもE記実
施例と同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以とのようにこの発明によれば、モード切換手段を既存
のクリア端子とクロック端子のみを用いて構成したので
、テストピンを追加することなくテストモードと通常モ
ードの切換ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による12ビット同期式カ
ウンタの機械を示す回路図、−第2図は第1図の回路の
通常動作時の波形図、第3図は第1図の回路のテストモ
ード時の波形図、第4図は従来の12ビット同期式カウ
ンタの構成を示す回路図である。 図において、(4)はR−Sラッチ、(5)はDフリッ
プフロップ、(6)はインバータ、(7)はモード切換
回路である。 なお1図中、同一符号は同一、文は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 状態を初期設定するためのクリア入力と、状態を遷移さ
    せるためのクロック入力とを備えた順序回路において、
    上記クリア入力と上記クロック入力と上記順序回路の出
    力により状態が決定するようにしたことを特徴とするテ
    スト回路。
JP1293304A 1989-11-10 1989-11-10 テスト回路 Pending JPH03154882A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1293304A JPH03154882A (ja) 1989-11-10 1989-11-10 テスト回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1293304A JPH03154882A (ja) 1989-11-10 1989-11-10 テスト回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03154882A true JPH03154882A (ja) 1991-07-02

Family

ID=17793099

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1293304A Pending JPH03154882A (ja) 1989-11-10 1989-11-10 テスト回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03154882A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06102309A (ja) * 1992-08-04 1994-04-15 Internatl Business Mach Corp <Ibm> BiCMOS集積回路の試験検出・遮断回路および方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06102309A (ja) * 1992-08-04 1994-04-15 Internatl Business Mach Corp <Ibm> BiCMOS集積回路の試験検出・遮断回路および方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6018560A (en) Up/down counter
JPH03136513A (ja) クロック信号の前縁および後縁の両方でデータをサンプルできるb型フリップフロップにd型フリップフロップを変換する装置
JPS5931892B2 (ja) 半導体集積回路
US4331926A (en) Programmable frequency divider
JPH03154882A (ja) テスト回路
JPS5828608B2 (ja) 演算処理装置
JP2797355B2 (ja) D形フリップフロップ回路
JPS594336Y2 (ja) デジタル積分回路
JP2693798B2 (ja) 制御信号発生回路
JPS5831620A (ja) 3進リングカウンタ
JP2591210B2 (ja) 信号検出回路
JPS61161014A (ja) パルス幅変調器
JPS6399277U (ja)
JPH0429248B2 (ja)
JP2858899B2 (ja) パルス発生装置
KR920003883B1 (ko) 수동 셑/리셑 구동회로
JPH02126433U (ja)
JPS5936034Y2 (ja) T型フリップフロップ回路
JPH01256805A (ja) 発振方式自動選択回路
JPS5924198Y2 (ja) センサ用コントロ−ラユニット
JPH08298443A (ja) D型フリップフロップ
JPH03106124A (ja) 3分周回路
JPH02113715A (ja) D形フリップフロップ回路
JPS62135234U (ja)
JPS6295017A (ja) マスタ・スレーブ形フリツプフロツプ回路