JPH03137580A - Ic搬送装置 - Google Patents
Ic搬送装置Info
- Publication number
- JPH03137580A JPH03137580A JP1276323A JP27632389A JPH03137580A JP H03137580 A JPH03137580 A JP H03137580A JP 1276323 A JP1276323 A JP 1276323A JP 27632389 A JP27632389 A JP 27632389A JP H03137580 A JPH03137580 A JP H03137580A
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- suction
- tray
- stroke
- suction chuck
- chuck
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- Granted
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、IC(半導体集積回路装置)wL送装置に
関し、例えば、ICハンドラに用いられるものに利用し
て有効な技術に関するものである。
関し、例えば、ICハンドラに用いられるものに利用し
て有効な技術に関するものである。
完成されたICの測定試験に用いられるのが、tCハン
ドラ(HANDLER)である。ICハンドラは、トレ
イに整理収納された【Cを、テストヘッドに接続された
ICソケットに供給し常温又は高温試験を行い、そのテ
スターの試験結果に応じて分類、整列、収納を自動的に
行う機能を持つ。このようなICハンドラに関しては、
例えば、アーコム・インターナショナル社1986年発
行、バイヤーズガイド 86 セミコンニューズ(SE
MICON NWES)別冊rlc/LSIティステ
ィング装置」頁368〜頁381がある。
ドラ(HANDLER)である。ICハンドラは、トレ
イに整理収納された【Cを、テストヘッドに接続された
ICソケットに供給し常温又は高温試験を行い、そのテ
スターの試験結果に応じて分類、整列、収納を自動的に
行う機能を持つ。このようなICハンドラに関しては、
例えば、アーコム・インターナショナル社1986年発
行、バイヤーズガイド 86 セミコンニューズ(SE
MICON NWES)別冊rlc/LSIティステ
ィング装置」頁368〜頁381がある。
従来のICハンドラにおいては、lCトレイ上のICの
表面に吸着チャックが取り付けられたアームを下降させ
てICの吸着を行い、上記アームを上昇させて目的の位
置まで搬送させる。
表面に吸着チャックが取り付けられたアームを下降させ
てICの吸着を行い、上記アームを上昇させて目的の位
置まで搬送させる。
ところで、IC)レイとして合成樹脂により構成された
いわゆるソフトトレイは、その平面度に比較的大きな反
りを持つものであり、収納されたICのレベル(高さ)
にも比較的大きなバラツキが生じる。このため、上記ト
レイの反りにより高さが低くされたICの表面に対して
は、吸着チャックの下降ストロークが不足して、吸着出
来ない場合が生じるという問題がある。このため、IC
を吸着できなかったときには、上記吸着チャックの下降
ストローク量を増加させて再び吸着動作を行うことが考
えられる。しかし、上記吸着の失敗により落下したIC
がトレイ上のもとの位置と異なる位置に移動した場合、
吸着チャックがトレイをICと見做して吸着してしまう
という虞れがある。
いわゆるソフトトレイは、その平面度に比較的大きな反
りを持つものであり、収納されたICのレベル(高さ)
にも比較的大きなバラツキが生じる。このため、上記ト
レイの反りにより高さが低くされたICの表面に対して
は、吸着チャックの下降ストロークが不足して、吸着出
来ない場合が生じるという問題がある。このため、IC
を吸着できなかったときには、上記吸着チャックの下降
ストローク量を増加させて再び吸着動作を行うことが考
えられる。しかし、上記吸着の失敗により落下したIC
がトレイ上のもとの位置と異なる位置に移動した場合、
吸着チャックがトレイをICと見做して吸着してしまう
という虞れがある。
この発明の目的は、簡単な構成により確実にICの吸着
を可能にしたICI送装置を提供することにある。
を可能にしたICI送装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、lCトレイに整列して収納されたICをその
パッケージの表面から真空吸着する吸着チャックが取り
付けられるI(Jl送アームに光センサーを設けて、吸
着チャックによるICの吸着に失敗したとき、上記光セ
ンサーによりICがトレイ上の所定の位置に存在すると
きには吸着チャックの吸着のためのストロークを前回よ
り増加させて再び吸着を行うという動作を1ないし複数
回行うようにする。
パッケージの表面から真空吸着する吸着チャックが取り
付けられるI(Jl送アームに光センサーを設けて、吸
着チャックによるICの吸着に失敗したとき、上記光セ
ンサーによりICがトレイ上の所定の位置に存在すると
きには吸着チャックの吸着のためのストロークを前回よ
り増加させて再び吸着を行うという動作を1ないし複数
回行うようにする。
上記した手段によれば、吸着に失敗したときICの存在
を確認してからストローク量を増加させて再度トライす
るものであるから、ICの確実な吸着が可能になる。
を確認してからストローク量を増加させて再度トライす
るものであるから、ICの確実な吸着が可能になる。
第1図には、この発明に係るIC吸着ヘッドの要部一実
施例の側面図が示されている。同図には、この発明に係
るrc吸着チャックの持つ機能を説明するためにlCト
レイとトレイ上に整列されたICも例示的に示されてい
る。
施例の側面図が示されている。同図には、この発明に係
るrc吸着チャックの持つ機能を説明するためにlCト
レイとトレイ上に整列されたICも例示的に示されてい
る。
この実施例における吸着ヘッドは、搬送すべきICをそ
のパフケージ表面から吸着するためのバキュームパッド
からなる吸着チャックと、この吸着チャックを上下に移
動させるための駆動手段及び光センサから構成される。
のパフケージ表面から吸着するためのバキュームパッド
からなる吸着チャックと、この吸着チャックを上下に移
動させるための駆動手段及び光センサから構成される。
上記駆動手段は、上記移動軸と平行にされたガイド上を
パルスモータと、それにより回転させられるリードスク
リューとにより構成される。上記駆動手段は、上記モー
タの回転角度とリードスクリューの捻子ピッチを最小単
位として高精度に吸着チャックの上下移動を行なわせる
。吸着チャックは、上記バキュームパッドの他端側であ
る上部に丸で示されてチューブ取り付は部が形成されて
おり、ここにフレキシブルなチューブ(図示ぜす)が取
り付けられ、このチューブの他端側に真空ポンプが設け
られる。このようなフレキシブルチューブを用いること
より、後述するような搬送アームの動作を阻害すること
なく、rcの真空吸着が可能になる。
パルスモータと、それにより回転させられるリードスク
リューとにより構成される。上記駆動手段は、上記モー
タの回転角度とリードスクリューの捻子ピッチを最小単
位として高精度に吸着チャックの上下移動を行なわせる
。吸着チャックは、上記バキュームパッドの他端側であ
る上部に丸で示されてチューブ取り付は部が形成されて
おり、ここにフレキシブルなチューブ(図示ぜす)が取
り付けられ、このチューブの他端側に真空ポンプが設け
られる。このようなフレキシブルチューブを用いること
より、後述するような搬送アームの動作を阻害すること
なく、rcの真空吸着が可能になる。
この実施例では、上記吸着チャックの吸着部に向けられ
た光センサが設けられる。この光センサは、特に制限さ
れないが、発光素子と受光素子とを組み合わせて構成さ
れた反射型センサであり、その発光素子から照射された
光の反射光を受けて、それがICからの反射光量か、ト
レイがらの反射光量かにより、ICの有無を識別する。
た光センサが設けられる。この光センサは、特に制限さ
れないが、発光素子と受光素子とを組み合わせて構成さ
れた反射型センサであり、その発光素子から照射された
光の反射光を受けて、それがICからの反射光量か、ト
レイがらの反射光量かにより、ICの有無を識別する。
上記吸着ヘッドは、取付部によりそれを90″反転(回
転)させる機構に結合される。これ1こより、トレイの
面と直角にされたICソケットを持つ測定ヘッドに対し
てICを装填することができる。
転)させる機構に結合される。これ1こより、トレイの
面と直角にされたICソケットを持つ測定ヘッドに対し
てICを装填することができる。
第2図には、この発明に係るICハンドラの一実施例を
示す概略平面図が示され、第3図には第2図では表現で
きない部分を明らかにするための機能ブロック図が示さ
れている。
示す概略平面図が示され、第3図には第2図では表現で
きない部分を明らかにするための機能ブロック図が示さ
れている。
第2図において、ICハンドラは、その機能から全体と
して左右2つに分けられる。左側には、未測定のrcの
収納部と、そこから測定すべきICを測定ヘッドまで搬
送するための各種機能ブロックが設けられる。
して左右2つに分けられる。左側には、未測定のrcの
収納部と、そこから測定すべきICを測定ヘッドまで搬
送するための各種機能ブロックが設けられる。
ローダ部は、未測定ICが収納されたトレイが設けられ
る。特に制限されないが、上記トレイは、複数のトレイ
が積み重ねることが可能である。このように複数のトレ
イを積み重ねてセットするとともに、操作部によりオー
トロードモードに設定すると、最上位部のトレイに未測
定のICが無くなると、そのトレイが第3図の空トレイ
搬送部により自動的に取り除かれて空きトレイ収納部に
収納され、代わってその下側にあったトレイがエレベー
タ機構により、lトレイのピッチ分押し上げられる。こ
のようにして、複数からなるトレイに収納された未測定
tCを順次連続的に測定することができる。
る。特に制限されないが、上記トレイは、複数のトレイ
が積み重ねることが可能である。このように複数のトレ
イを積み重ねてセットするとともに、操作部によりオー
トロードモードに設定すると、最上位部のトレイに未測
定のICが無くなると、そのトレイが第3図の空トレイ
搬送部により自動的に取り除かれて空きトレイ収納部に
収納され、代わってその下側にあったトレイがエレベー
タ機構により、lトレイのピッチ分押し上げられる。こ
のようにして、複数からなるトレイに収納された未測定
tCを順次連続的に測定することができる。
ヒート部は、ヒートプレートからなり、プレート内部の
ヒータにより、そこに置かれたICの下面から加熱を行
う。加熱範囲は、特に制限されないが、室温から+12
5”Cまで設定が可能とされる。ヒートプレートは、温
度センサーによりICの温度を高精度に設定することが
できる。
ヒータにより、そこに置かれたICの下面から加熱を行
う。加熱範囲は、特に制限されないが、室温から+12
5”Cまで設定が可能とされる。ヒートプレートは、温
度センサーによりICの温度を高精度に設定することが
できる。
ロードアライメントプレートは、ICのリード位置精度
を出すためのもので、■C111送アームAに取り付け
られた吸着チャックによりICのパッケージ表面から真
空吸着したICを、このロードアライメントプレートに
落とし込み、ここで測定ヘッドのソケット等に対応した
ICのリードのアライメントを行う。なお、高温度で測
定が行われるICのために、このアライメントプレート
にも加熱手段が設けられるものである。
を出すためのもので、■C111送アームAに取り付け
られた吸着チャックによりICのパッケージ表面から真
空吸着したICを、このロードアライメントプレートに
落とし込み、ここで測定ヘッドのソケット等に対応した
ICのリードのアライメントを行う。なお、高温度で測
定が行われるICのために、このアライメントプレート
にも加熱手段が設けられるものである。
ICR送アームAは、上記ローダ部の未測定■Cを真空
吸着し、高温度試験のときにはそれをヒート部まで搬送
し、常温での試験のときには直接にロードアライメント
プレートまで搬送する。IC!送アームAは、第2図に
おいて、上下に走るY駆動部と、上記Y駆動部上を左右
に走るX駆動部に吸着ヘッドが備えられてなる。上記Y
及びX駆動部は、特に制限されないが、ステッピングモ
ータとベルト駆動により吸着チャックのY及びX方向の
高精度に制御された移動が可能にされる。
吸着し、高温度試験のときにはそれをヒート部まで搬送
し、常温での試験のときには直接にロードアライメント
プレートまで搬送する。IC!送アームAは、第2図に
おいて、上下に走るY駆動部と、上記Y駆動部上を左右
に走るX駆動部に吸着ヘッドが備えられてなる。上記Y
及びX駆動部は、特に制限されないが、ステッピングモ
ータとベルト駆動により吸着チャックのY及びX方向の
高精度に制御された移動が可能にされる。
高温度試験において、ヒート部で高温度にされたICは
、ロードアライメントプレート上まで搬送され、そこで
真空吸着が解除されてリードを利用した位置合わせ治具
により位置出しが行われる。
、ロードアライメントプレート上まで搬送され、そこで
真空吸着が解除されてリードを利用した位置合わせ治具
により位置出しが行われる。
位置出しが行われICは、上記ICI送アームAの吸着
チャックにより、測定ヘッドまで搬送される。すなわち
、アライメントプレートで位置決めされたICは、搬送
アームAの吸着チャックにより再びピンクアンプされ、
このピックアップ後に吸着チャックが90°反転(回転
)し、測定ヘッドのICソケット等にICを装填させる
。
チャックにより、測定ヘッドまで搬送される。すなわち
、アライメントプレートで位置決めされたICは、搬送
アームAの吸着チャックにより再びピンクアンプされ、
このピックアップ後に吸着チャックが90°反転(回転
)し、測定ヘッドのICソケット等にICを装填させる
。
この実施例では、特に制限されないが、前述のように、
吸着チャックは、ステッピング(パルス)モータを駆動
源としている。すなわち、ICを吸着したり、吸着した
ICを測定ヘッドに装填するときのICのストロークは
、ステッピングモータの回転数及び回転角度と、リード
スクリューからなるシャフトの捻子ピッチとに応じて高
精度に移動するようにされる。これにより、ICをその
表面から吸着する場合のストローク及び吸着したICを
測定ヘッドに装填する場合のストロークが高精度に設定
できる。
吸着チャックは、ステッピング(パルス)モータを駆動
源としている。すなわち、ICを吸着したり、吸着した
ICを測定ヘッドに装填するときのICのストロークは
、ステッピングモータの回転数及び回転角度と、リード
スクリューからなるシャフトの捻子ピッチとに応じて高
精度に移動するようにされる。これにより、ICをその
表面から吸着する場合のストローク及び吸着したICを
測定ヘッドに装填する場合のストロークが高精度に設定
できる。
ICハンドラの右側には、測定が終了したICの収納部
と、その搬送するためのIC搬送アアームが設けられる
。
と、その搬送するためのIC搬送アアームが設けられる
。
NG/RT収納部は、特に制限されないが、上下2段式
の収納部になっており、測定結果の指示に従い、IC@
送アームBによりICの収納が行われる。これに先立っ
て、IC@送アームBは、ICをアンロードアライメン
トプレートに落とし込み、ここでアンローダ部、N G
/RT部のトレイに対応した位置決めが行われる。不良
ICは、NO(不良)部のトレイに収納され、再テスト
を必要とするICは、RT部に収納される。I(Jl送
アアーBも、上記同様なY駆動部及びX駆動部により高
精度の移動制御が行われる。
の収納部になっており、測定結果の指示に従い、IC@
送アームBによりICの収納が行われる。これに先立っ
て、IC@送アームBは、ICをアンロードアライメン
トプレートに落とし込み、ここでアンローダ部、N G
/RT部のトレイに対応した位置決めが行われる。不良
ICは、NO(不良)部のトレイに収納され、再テスト
を必要とするICは、RT部に収納される。I(Jl送
アアーBも、上記同様なY駆動部及びX駆動部により高
精度の移動制御が行われる。
アンローダ部は、良品ICが収納される。特に制限され
ないが、このアンローダ部もロード部と同様にトレイが
積み重ねることが可能とされ、オートアンロードモード
に設定すると、トレイにICが満杯になると、アンロー
ド部のエレベータ機構がトレイの1ピッチ分下降し、そ
の上に空きトレイが第3図の空きトレイ搬送手段からセ
ットされる。この空きトレイは、上記ロード部で空きト
レイになったものが空きトレイ収納部にプールされ、そ
れを再びアンロード部において用いるようにされる。
ないが、このアンローダ部もロード部と同様にトレイが
積み重ねることが可能とされ、オートアンロードモード
に設定すると、トレイにICが満杯になると、アンロー
ド部のエレベータ機構がトレイの1ピッチ分下降し、そ
の上に空きトレイが第3図の空きトレイ搬送手段からセ
ットされる。この空きトレイは、上記ロード部で空きト
レイになったものが空きトレイ収納部にプールされ、そ
れを再びアンロード部において用いるようにされる。
装置制御部は、第3図に示されており、ハンドラの各種
機能ブロックの動作制御を行うとともに、【Cテスタか
らの測定結果を受は取り、上記測定が終了したICの分
類を行う。すなわち、ローダ部及びアンロード部に対し
ては、エレベータ機構の制御を行い、IC搬送アアーム
及びBに対しては、その吸着チャックのX、Y及びZ駆
動等の制御を行う。ヒート部に対しては温度コントロー
ルを行い、測定部に対しては、温度コントロール、90
″反転動作、ストローク動作等の制御を行う。
機能ブロックの動作制御を行うとともに、【Cテスタか
らの測定結果を受は取り、上記測定が終了したICの分
類を行う。すなわち、ローダ部及びアンロード部に対し
ては、エレベータ機構の制御を行い、IC搬送アアーム
及びBに対しては、その吸着チャックのX、Y及びZ駆
動等の制御を行う。ヒート部に対しては温度コントロー
ルを行い、測定部に対しては、温度コントロール、90
″反転動作、ストローク動作等の制御を行う。
操作部やメンテナンスパネルは、第3図に示されており
、操作部は、ユーザーが必要とするコントロールスイッ
チ、及ヒステータスディスプレイからなり本体パネルに
設けられる。、メンテナンスパネルは、各部、モータ、
アクチュエーターの動作をキー操作により確認が行える
ようにされている。
、操作部は、ユーザーが必要とするコントロールスイッ
チ、及ヒステータスディスプレイからなり本体パネルに
設けられる。、メンテナンスパネルは、各部、モータ、
アクチュエーターの動作をキー操作により確認が行える
ようにされている。
第4図には、上記搬送アームAにょリローダ部の未測定
1cを吸着する際に吸着ヘッドの作動形態の一実施例の
概略フローチャート図が示されている。ローダ部にセン
トされたICトレイが合成樹脂からなるようなソフトト
レイである場合、比較的大きな反りを持つ。このため、
整列されて収納された未測定のICの高さに比較的大き
なバラツキが生じる。
1cを吸着する際に吸着ヘッドの作動形態の一実施例の
概略フローチャート図が示されている。ローダ部にセン
トされたICトレイが合成樹脂からなるようなソフトト
レイである場合、比較的大きな反りを持つ。このため、
整列されて収納された未測定のICの高さに比較的大き
なバラツキが生じる。
この実施例では、上記のような高さにバラツキがあるI
Cを確実に吸着するために吸着ヘッドは、次のように作
動させられる。
Cを確実に吸着するために吸着ヘッドは、次のように作
動させられる。
ステップ(1)において、吸着チャックが目標のIC上
面に移動すると、標準ストロークにより吸着ヘッドを下
降させる。
面に移動すると、標準ストロークにより吸着ヘッドを下
降させる。
ステップ(2)において、真空吸着を開始するバルブを
開いて吸着動作を開始して吸着チャックを引き上げる。
開いて吸着動作を開始して吸着チャックを引き上げる。
そして、圧力センサーによりICの吸着が行われたか否
かの判定が行われる。すなわち、バキュームパッドが真
空吸着により負圧になることによりICの吸着が行われ
たと判定(YES)されて搬送動作に入る。これに対し
て、上記バキュームパッドが大気圧のままならICの吸
着に失敗した(NO)と判定する。このステップ(2)
において、上記ICの吸着に失敗したと判定されたなら
、ステップ(3)に移り、ここで光センサを作動させる
。
かの判定が行われる。すなわち、バキュームパッドが真
空吸着により負圧になることによりICの吸着が行われ
たと判定(YES)されて搬送動作に入る。これに対し
て、上記バキュームパッドが大気圧のままならICの吸
着に失敗した(NO)と判定する。このステップ(2)
において、上記ICの吸着に失敗したと判定されたなら
、ステップ(3)に移り、ここで光センサを作動させる
。
ステップ(4)において、光センサの出力によりICの
有無が判定され、ICが無いと判定(No)されたなら
再度の吸着を行うことなく、次のICの吸着のための動
作に入る。上記ステップ(4)において、ICが有ると
判定(YES)されたなら、ステップ(5)において再
度の吸着動作に入る。このとき、ステップ(5)では、
前のストローク量に+αのストローク量を加えたオーバ
ードライブにより吸着チャックを作動させる。これによ
り、ICトレイの反りにより高さが低くされたICへの
吸着を行うことができる。
有無が判定され、ICが無いと判定(No)されたなら
再度の吸着を行うことなく、次のICの吸着のための動
作に入る。上記ステップ(4)において、ICが有ると
判定(YES)されたなら、ステップ(5)において再
度の吸着動作に入る。このとき、ステップ(5)では、
前のストローク量に+αのストローク量を加えたオーバ
ードライブにより吸着チャックを作動させる。これによ
り、ICトレイの反りにより高さが低くされたICへの
吸着を行うことができる。
上記オーバードライブによる吸着動作の後に、ステップ
(6)において、ステップ(2)と同様な吸着の有無を
確認し吸着されたなら(YES)搬送動作に移る。ステ
ップ(6)において吸着に失敗(No)したなら、ステ
ップ(5)に戻り、更に+αだけオー・バードライブし
て吸着動作に入る。このような1個のICに対して動作
を最大4回まで繰り返して行う、これにより、吸着チャ
ックのストローク量が増加して、トレイに吸着してしま
うのを防止するものである。すなわち、オーバードライ
ブ量の最大値は、上記トレイの高さまで達しない量に設
定されるものである。1つのICの吸着のために、4段
階のオーバードライブによる吸着を試みることにより、
上記ICの高さのバラツキがあっても確実な吸着が可能
になる。なお、第4図には省略されているが、上記4回
の繰り返し動作によっても吸着されない場合は、ICが
吸着動作の失敗の結果、トレイ上に落下してしまうこと
等により、もとの位置から移動してしまい、吸着不能と
し判定し次のICの吸着動作に入る。
(6)において、ステップ(2)と同様な吸着の有無を
確認し吸着されたなら(YES)搬送動作に移る。ステ
ップ(6)において吸着に失敗(No)したなら、ステ
ップ(5)に戻り、更に+αだけオー・バードライブし
て吸着動作に入る。このような1個のICに対して動作
を最大4回まで繰り返して行う、これにより、吸着チャ
ックのストローク量が増加して、トレイに吸着してしま
うのを防止するものである。すなわち、オーバードライ
ブ量の最大値は、上記トレイの高さまで達しない量に設
定されるものである。1つのICの吸着のために、4段
階のオーバードライブによる吸着を試みることにより、
上記ICの高さのバラツキがあっても確実な吸着が可能
になる。なお、第4図には省略されているが、上記4回
の繰り返し動作によっても吸着されない場合は、ICが
吸着動作の失敗の結果、トレイ上に落下してしまうこと
等により、もとの位置から移動してしまい、吸着不能と
し判定し次のICの吸着動作に入る。
上記の実施例から得られる作用効果は、下記の通りであ
る。すなわち、 (1) I Cl−レイに整列して収納されたICをそ
のパ・ノケージの表面から真空吸着する吸着チャックが
取り付けられるIC搬送アームに光センサーを設けて、
吸着チャックによるICの吸着に失敗したとき、上記光
センサーによりICがトレイ上の所定の位置に存在する
ときには吸着、ヂャックの吸着のためのストロークを前
回より増加させて再び吸着を行うという動作を1ないし
複数回行うようにすることより、トレイを吸着してしま
うのを防止しつつ、ICの確実な吸着が可能になるとい
う効果が得られる。
る。すなわち、 (1) I Cl−レイに整列して収納されたICをそ
のパ・ノケージの表面から真空吸着する吸着チャックが
取り付けられるIC搬送アームに光センサーを設けて、
吸着チャックによるICの吸着に失敗したとき、上記光
センサーによりICがトレイ上の所定の位置に存在する
ときには吸着、ヂャックの吸着のためのストロークを前
回より増加させて再び吸着を行うという動作を1ないし
複数回行うようにすることより、トレイを吸着してしま
うのを防止しつつ、ICの確実な吸着が可能になるとい
う効果が得られる。
(2)上記(1)により、IC)レイとして比較的大き
な反りを持つ安価で軽量な合成樹脂製のトレイを利用で
きるという効果が得られる。
な反りを持つ安価で軽量な合成樹脂製のトレイを利用で
きるという効果が得られる。
(3)上記(1)により、ICの確実な吸着が可能にな
るから、ICハンドラ等の完全自動化が可能になるとい
う効果が得られる。
るから、ICハンドラ等の完全自動化が可能になるとい
う効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。例えば、光センサとして
は、固体撮像素子を用い、ICの有無をその映像信号に
よるパターン認識により行うようにするものであっても
よい。
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。例えば、光センサとして
は、固体撮像素子を用い、ICの有無をその映像信号に
よるパターン認識により行うようにするものであっても
よい。
この場合には、ICの吸着失敗によりICがトレイ上に
落下して、もとの位置から多少ずれた場合、吸着チャッ
クの位置を修正しつつ、再度の吸着動作を行わせるよう
にすることができる。ICの吸着に失敗した場合の再度
の吸着を試みる回数は、前記のように4回の他、その最
大ストロークがトレイに達しない範囲で種々の実施形態
を採ることができる。
落下して、もとの位置から多少ずれた場合、吸着チャッ
クの位置を修正しつつ、再度の吸着動作を行わせるよう
にすることができる。ICの吸着に失敗した場合の再度
の吸着を試みる回数は、前記のように4回の他、その最
大ストロークがトレイに達しない範囲で種々の実施形態
を採ることができる。
ICハンドラの他の構成は、前記実施例と同様な機能を
持つものであれば具体的構成は何であってもよい。また
、必要に応じてその一部の機能が省略されたり、別の機
能を付加するものであってもよい。
持つものであれば具体的構成は何であってもよい。また
、必要に応じてその一部の機能が省略されたり、別の機
能を付加するものであってもよい。
この発明は、ICハンドラの他、トレイ上のICを吸着
して所定の位置に搬送させるIC@送装置として広く利
用できるものである。
して所定の位置に搬送させるIC@送装置として広く利
用できるものである。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。すなわち、IC)レイに整列して収納されたICをそ
のパッケージの表面から真空吸着する吸着チャックが取
り付けられる1clIti送アームに光センサーを設け
て、吸着チャックによるICの吸着に失敗したとき、上
記光センサーによりICがトレイ上の所定の位置に存在
するときには吸着チャックの吸着のためのストロークを
前回より増加させて再び吸着を行うという動作を1ない
し複数回行うようにすることより、トレイを吸着してし
まうのを防止しつつ、ICの確実な吸着が可能になる
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。すなわち、IC)レイに整列して収納されたICをそ
のパッケージの表面から真空吸着する吸着チャックが取
り付けられる1clIti送アームに光センサーを設け
て、吸着チャックによるICの吸着に失敗したとき、上
記光センサーによりICがトレイ上の所定の位置に存在
するときには吸着チャックの吸着のためのストロークを
前回より増加させて再び吸着を行うという動作を1ない
し複数回行うようにすることより、トレイを吸着してし
まうのを防止しつつ、ICの確実な吸着が可能になる
第1図は、この発明に係るICの吸着ヘッドの一実施例
を示す概略側面図、 第2図には、この発明が適用されるICハンドラの一実
施例を示す概略平面図、 第3図は、それに対応した機能ブロック図、第4図は、
吸着チャックの作動形態の一実施例を示すフローチャー
ト図である。
を示す概略側面図、 第2図には、この発明が適用されるICハンドラの一実
施例を示す概略平面図、 第3図は、それに対応した機能ブロック図、第4図は、
吸着チャックの作動形態の一実施例を示すフローチャー
ト図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ICが整列されて収納されるICトレイと、上記I
Cトレイに収納されたICをそのパッケージの表面から
真空吸着する吸着チャックと、光学的にICの有無を判
別する光センサーとを備えたIC搬送アームを含み、吸
着チャックによるICの吸着に失敗したとき、上記光セ
ンサーによりICがトレイ上の所定の位置に存在すると
きには吸着チャックの吸着のためのストロークを前回よ
り増加させて再び吸着を行うという動作を1ないし複数
回行う機能を備えてなることを特徴とするIC搬送装置
。 2、上記ICトレイは、合成樹脂により形成されたもの
であり、吸着チャックのストロークは、パルスモータと
リードスクリューにより移動制御が行われるものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のIC搬送
装置。 3、上記IC搬送装置は、ICハンドラにおける未測定
のICを測定ヘッドまで搬送するICの搬送装置として
用いられるものであることを特徴とする特許請求の範囲
第1又は第2項記載のIC搬送装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1276323A JP2908820B2 (ja) | 1989-10-24 | 1989-10-24 | Ic搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1276323A JP2908820B2 (ja) | 1989-10-24 | 1989-10-24 | Ic搬送装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03137580A true JPH03137580A (ja) | 1991-06-12 |
JP2908820B2 JP2908820B2 (ja) | 1999-06-21 |
Family
ID=17567852
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1276323A Expired - Fee Related JP2908820B2 (ja) | 1989-10-24 | 1989-10-24 | Ic搬送装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2908820B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102043633B1 (ko) * | 2014-01-21 | 2019-11-13 | (주)테크윙 | 반도체소자 테스트용 핸들러 |
-
1989
- 1989-10-24 JP JP1276323A patent/JP2908820B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2908820B2 (ja) | 1999-06-21 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |