JPH03134819A - 磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体及びその製造方法Info
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- JPH03134819A JPH03134819A JP27418789A JP27418789A JPH03134819A JP H03134819 A JPH03134819 A JP H03134819A JP 27418789 A JP27418789 A JP 27418789A JP 27418789 A JP27418789 A JP 27418789A JP H03134819 A JPH03134819 A JP H03134819A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/225—Oblique incidence of vaporised material on substrate
- C23C14/226—Oblique incidence of vaporised material on substrate in order to form films with columnar structure
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は高密度磁気記録に適する磁気記録媒体及びその
製造方法に関する。
製造方法に関する。
従来の技術
近年、磁気記録技術の発展はめざましく、記録密度の向
上、とりわけ装置の小型化、高性能化。
上、とりわけ装置の小型化、高性能化。
多機能化に於ける進歩は著しく、この傾向は今後も続く
ことが予測され、重要な要素である磁気メディアは薄膜
磁気記録層、垂直磁化薄膜の採用に向って改良が進めら
れている。
ことが予測され、重要な要素である磁気メディアは薄膜
磁気記録層、垂直磁化薄膜の採用に向って改良が進めら
れている。
垂直磁化薄膜はCo−Crスパッタ膜に代表され、Ni
−FeとCo−Crのいわゆる積層2層媒体と単磁極ヘ
ッドの組み合わせでは、680KFRPIの記録再生が
報告され[アイ・イー・イー・イー・トランザクション
・オン・マグネチフス(IEEE TRANSACT
IONSON MAGNETIC3)Vol、MAG−
23゜尚5 2072(1987)]るに至っている一
方、Co−Cr−Nb単層膜とリングヘットの既存のイ
ンターフェース技術によっての高密度化も確認されし特
開昭61−77128号公報コ実用化への期待が高まっ
てきている。
−FeとCo−Crのいわゆる積層2層媒体と単磁極ヘ
ッドの組み合わせでは、680KFRPIの記録再生が
報告され[アイ・イー・イー・イー・トランザクション
・オン・マグネチフス(IEEE TRANSACT
IONSON MAGNETIC3)Vol、MAG−
23゜尚5 2072(1987)]るに至っている一
方、Co−Cr−Nb単層膜とリングヘットの既存のイ
ンターフェース技術によっての高密度化も確認されし特
開昭61−77128号公報コ実用化への期待が高まっ
てきている。
実用化にあたって今日重要なテーマは、耐久性に優れ、
記録性能の良好な磁気ディスク、磁気テープ等の磁気記
録媒体を再現よく、高速で製造する技術の確率であると
いえる。かかる事情に鑑み、電子ビーム蒸着技術1アイ
・イー・イー・イー・トランザクション・オン・マグネ
チフス(IEEE TRANSACTIONS O
NMAGNETIC8)Vo 1.MA−23,嵐52
449 (1987)参照]スパッタリング法[同誌2
443頁(1987)参照]が中心に検討されている。
記録性能の良好な磁気ディスク、磁気テープ等の磁気記
録媒体を再現よく、高速で製造する技術の確率であると
いえる。かかる事情に鑑み、電子ビーム蒸着技術1アイ
・イー・イー・イー・トランザクション・オン・マグネ
チフス(IEEE TRANSACTIONS O
NMAGNETIC8)Vo 1.MA−23,嵐52
449 (1987)参照]スパッタリング法[同誌2
443頁(1987)参照]が中心に検討されている。
発明が解決しようとする課題
しかしながら従来知られる磁気記録媒体の特性は製造パ
ラメータ依存性が大で、基板温度や、製膜速度の面でみ
ると、基板温度が大きいこと、製膜速度が小さいことが
好ましい条件とされることから磁気記録媒体として磁気
ディスクの製造や利用には、十分であっても、磁気テー
プとしての応用には不十分であり、改善が望まれていた
。本発明は上記した事情に鑑みなされたもので、垂直磁
気記録媒体の性能向上と生産性向上を目的としたもので
ある。
ラメータ依存性が大で、基板温度や、製膜速度の面でみ
ると、基板温度が大きいこと、製膜速度が小さいことが
好ましい条件とされることから磁気記録媒体として磁気
ディスクの製造や利用には、十分であっても、磁気テー
プとしての応用には不十分であり、改善が望まれていた
。本発明は上記した事情に鑑みなされたもので、垂直磁
気記録媒体の性能向上と生産性向上を目的としたもので
ある。
課題を解決するための手段
上記した課題を解決するため本発明の磁気記録媒体は微
粒子を配したフィルム上にM斜め蒸着。
粒子を配したフィルム上にM斜め蒸着。
Co−M垂直蒸着、Co酸化物が連続した柱状微粒子か
ら成るようにしたものである。
ら成るようにしたものである。
作用
本発明の磁気記録媒体は上記した構成により、微粒子の
凹凸とCo酸化物による耐久性向上と、微粒子による形
状の乱れからくるCo−M結晶配向性がM斜め蒸着膜部
分で改良される。特に従来の積層型と異なり柱状微粒子
として一体連続であることでその改良が明確になる。こ
の両者の作用効果で課題の解決がはかれる。
凹凸とCo酸化物による耐久性向上と、微粒子による形
状の乱れからくるCo−M結晶配向性がM斜め蒸着膜部
分で改良される。特に従来の積層型と異なり柱状微粒子
として一体連続であることでその改良が明確になる。こ
の両者の作用効果で課題の解決がはかれる。
実施例
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について説
明する。第1図は本発明の一実施例の磁気記録媒体の拡
大断面図である。
明する。第1図は本発明の一実施例の磁気記録媒体の拡
大断面図である。
実施例1
第1図で1は微粒子塗布層を配したポリエチレンテレフ
タレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリエーテル
エーテルケトン、ポリアミドイミド、ポリイミド等の高
分子フィルムで、微粒子塗布層は、ミミズ状の隆起層と
の組み合わせでもよい。用いられる微粒子はS i 0
2. Ai! 203゜Cr2O3,T i 02.F
e203.Ca C03,S b20s等やポリエス
テル球ポリイミド球等いずれでもよく、100Aから3
00Aまでの球状が高さが10OAから300Aの範囲
となる楕円球等でもよい。
タレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリエーテル
エーテルケトン、ポリアミドイミド、ポリイミド等の高
分子フィルムで、微粒子塗布層は、ミミズ状の隆起層と
の組み合わせでもよい。用いられる微粒子はS i 0
2. Ai! 203゜Cr2O3,T i 02.F
e203.Ca C03,S b20s等やポリエス
テル球ポリイミド球等いずれでもよく、100Aから3
00Aまでの球状が高さが10OAから300Aの範囲
となる楕円球等でもよい。
2は磁気記録層で、M斜め蒸着膜部、Co−M垂直蒸着
膜部、Co酸化膜部が一体の柱状微粒子から成る柱状微
粒子の集合体である。M元素として好ましいものはCr
、Ru、Ti、Ta、Mo。
膜部、Co酸化膜部が一体の柱状微粒子から成る柱状微
粒子の集合体である。M元素として好ましいものはCr
、Ru、Ti、Ta、Mo。
W等である。3は保護潤滑層でプラズマ重合膜。
炭素膜、酸化膜、炭化物膜、脂肪酸、脂肪酸アミド、脂
肪族アルコール、パーフルオロポリエーテル等の組み合
わせが用いられる。第2図は本発明の磁気記録媒体を製
造するのに用いた蒸着装置の要部構成図である。第2図
で、4は高分子フィルムで、5は回転支持体(この場合
は回転キャン)で、6は送り出し軸、7は巻取り軸、8
はM蒸着源、9はCO蒸発源、10はM蒸気流、11は
C。
肪族アルコール、パーフルオロポリエーテル等の組み合
わせが用いられる。第2図は本発明の磁気記録媒体を製
造するのに用いた蒸着装置の要部構成図である。第2図
で、4は高分子フィルムで、5は回転支持体(この場合
は回転キャン)で、6は送り出し軸、7は巻取り軸、8
はM蒸着源、9はCO蒸発源、10はM蒸気流、11は
C。
蒸気流、12はマスクA、13はマスクB、14は酸化
室、15はグロー放電電極である。第2図の装置で、M
蒸気流はマスクA12での制限により斜め蒸着にまず寄
与し、Co蒸気流と混じわって、合成ベクトル的にみて
垂直蒸着とほぼ等価の結晶成長に寄与し、最終はマスク
B13での制限によりCOが蒸着されCOは直ちに酸素
グロー放電により酸化される。マスクA、Bと蒸発源8
゜9の位置関係の最適化て、本発明の磁気記録媒体は高
速で得られかつ性能も良好なものとすることができる。
室、15はグロー放電電極である。第2図の装置で、M
蒸気流はマスクA12での制限により斜め蒸着にまず寄
与し、Co蒸気流と混じわって、合成ベクトル的にみて
垂直蒸着とほぼ等価の結晶成長に寄与し、最終はマスク
B13での制限によりCOが蒸着されCOは直ちに酸素
グロー放電により酸化される。マスクA、Bと蒸発源8
゜9の位置関係の最適化て、本発明の磁気記録媒体は高
速で得られかつ性能も良好なものとすることができる。
以下、更に具体的に本発明の一実施例について比較例と
の対比で説明する。
の対比で説明する。
厚み10μmの芳香族ポリアミドフィルム上に直系10
0AのCr2O3微粒子を9ケ/(μm)2配し、直径
50 cmの回転キャンの中心線振り分けで対称にM蒸
発源とCO蒸発源(夫々30 K V最大100KWの
電子ビーム蒸発源)を配し、4xlO−’〜5X10
”(Torr)で電子ビーム蒸着し、表面酸化は13.
56 (MHz)0.6〜1.4 (KW)、酸素分圧
6(mTorr)〜19(mTorr)で行い、各種の
磁気記録層を形成し、夫々0.4μmのバックコート層
を配し、0.6(mg/n?)のパーフルオロポリエー
テル“フォンブリンZ−25” (モンテジソン社裂)
を配し8ミリ幅の磁気テープを準備した。キャン温度は
115℃一定とした。比較例は、マスク位置を移動し、
M蒸発源で斜め蒸着を行い、巻き戻しながら9の蒸発源
をCo−M蒸発源として用いCo−M垂直磁化膜を配し
てから大気中で280℃の熱ロールに沿わせ2 (m/
m i n )で走行させて表面酸化させたものを用い
た。夫々のテープを改造した8ミリビデオによりギャッ
プ長0.15μmのセンダストスパッタ膜利用のメタル
・インギャップ型ヘッドで0.22μmのビット長を記
録再生しC/Nを相対比較した結果をテープの条件と共
に第1表にまとめて示した。
0AのCr2O3微粒子を9ケ/(μm)2配し、直径
50 cmの回転キャンの中心線振り分けで対称にM蒸
発源とCO蒸発源(夫々30 K V最大100KWの
電子ビーム蒸発源)を配し、4xlO−’〜5X10
”(Torr)で電子ビーム蒸着し、表面酸化は13.
56 (MHz)0.6〜1.4 (KW)、酸素分圧
6(mTorr)〜19(mTorr)で行い、各種の
磁気記録層を形成し、夫々0.4μmのバックコート層
を配し、0.6(mg/n?)のパーフルオロポリエー
テル“フォンブリンZ−25” (モンテジソン社裂)
を配し8ミリ幅の磁気テープを準備した。キャン温度は
115℃一定とした。比較例は、マスク位置を移動し、
M蒸発源で斜め蒸着を行い、巻き戻しながら9の蒸発源
をCo−M蒸発源として用いCo−M垂直磁化膜を配し
てから大気中で280℃の熱ロールに沿わせ2 (m/
m i n )で走行させて表面酸化させたものを用い
た。夫々のテープを改造した8ミリビデオによりギャッ
プ長0.15μmのセンダストスパッタ膜利用のメタル
・インギャップ型ヘッドで0.22μmのビット長を記
録再生しC/Nを相対比較した結果をテープの条件と共
に第1表にまとめて示した。
(以 下 余 白 )
以上のように本発明によれば、柱状微粒子が一体化して
斜め成分と表面酸化層を有することで、耐久性とC/N
が高水準でバランスすることがわかる。
斜め成分と表面酸化層を有することで、耐久性とC/N
が高水準でバランスすることがわかる。
実施例2
課題を解決する別の手段は、高分子フィルム上にCo−
M複合蒸着層を配した上にCo−M合金垂直磁化膜を配
するようにしたものである。本発明の磁気記録媒体は上
記した構成により、Co−M合金の結晶配向性が改良さ
れ雑音レベルの低い、即ちC/Nの良い磁気記録媒体が
得られる。本発明は磁気テープ、磁気ディスクのいずれ
でもよいが以下磁気テープの例について詳しく説明する
。
M複合蒸着層を配した上にCo−M合金垂直磁化膜を配
するようにしたものである。本発明の磁気記録媒体は上
記した構成により、Co−M合金の結晶配向性が改良さ
れ雑音レベルの低い、即ちC/Nの良い磁気記録媒体が
得られる。本発明は磁気テープ、磁気ディスクのいずれ
でもよいが以下磁気テープの例について詳しく説明する
。
第3図は、本発明の一実施例の磁気記録媒体の拡大断面
図である。第3図で1は高分子フィルムで、微粒子塗布
層を配したものでもよい。特に本発明の構成では、汎用
性の高いポリエステルフィルムを用いても(特に耐熱性
の高い、高価なフィルムを用いなくても〉十分なC/N
の磁気記録媒体を与えるものである。ポリエステルフィ
ルム 0 は、テレフタル酸、イソフタル酸、P−オキシ安息香酸
、コハク酸、アジピン酸、アゼライン酸。
図である。第3図で1は高分子フィルムで、微粒子塗布
層を配したものでもよい。特に本発明の構成では、汎用
性の高いポリエステルフィルムを用いても(特に耐熱性
の高い、高価なフィルムを用いなくても〉十分なC/N
の磁気記録媒体を与えるものである。ポリエステルフィ
ルム 0 は、テレフタル酸、イソフタル酸、P−オキシ安息香酸
、コハク酸、アジピン酸、アゼライン酸。
トリメリット酸等のカルボン酸類とエチレングリコール
、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、
ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、ビス
フェノールのエチレンオキシド付加物及びポリエチレン
グリコール、ポリプロピレングリコール等のグリコール
類との反応により得られるもので、ポリエチレンテレフ
タレート、ポリエチレン2.6ナフタレンジカルポキシ
レート、ポリテトラメチレンテレフタレート、ポリ1.
4−シクロヘキシレンジメチレンテレフタレート等が適
している。
、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、
ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、ビス
フェノールのエチレンオキシド付加物及びポリエチレン
グリコール、ポリプロピレングリコール等のグリコール
類との反応により得られるもので、ポリエチレンテレフ
タレート、ポリエチレン2.6ナフタレンジカルポキシ
レート、ポリテトラメチレンテレフタレート、ポリ1.
4−シクロヘキシレンジメチレンテレフタレート等が適
している。
他に実施例−1で用いたフィルム等で構成してもよいの
は勿論である。16はCo−M複合蒸着層で、CoとM
を交互に蒸着し、かつ夫々の蒸着量を均一厚み換算でI
OAから50Aの範囲で蒸着制御し、トータルで100
八から300人で十分である。M元素として好ましいの
は、Cr、Ru。
は勿論である。16はCo−M複合蒸着層で、CoとM
を交互に蒸着し、かつ夫々の蒸着量を均一厚み換算でI
OAから50Aの範囲で蒸着制御し、トータルで100
八から300人で十分である。M元素として好ましいの
は、Cr、Ru。
T i 、Ta、Mo、W、Rh等である。尚CoとM
元素の割合は平均で非磁性となる量即ちCOが70at
%以下となる量で好ましくはCoが50%以上の方が複
合蒸着層厚みを小さ(できる傾向にある。17はCo−
M垂直磁化膜で、スパッタ」レグ法による製膜をこばむ
ものではないが、生産性の面から電子ヒーム蒸着法、イ
オンブレーティング法等の方が望ましい。Co−M複合
蒸着層とCo−M垂直磁化膜のM元素は共通しているこ
とを前提としているものではないが、特性、付着強度面
から共通した構成とする方が好ましい。
元素の割合は平均で非磁性となる量即ちCOが70at
%以下となる量で好ましくはCoが50%以上の方が複
合蒸着層厚みを小さ(できる傾向にある。17はCo−
M垂直磁化膜で、スパッタ」レグ法による製膜をこばむ
ものではないが、生産性の面から電子ヒーム蒸着法、イ
オンブレーティング法等の方が望ましい。Co−M複合
蒸着層とCo−M垂直磁化膜のM元素は共通しているこ
とを前提としているものではないが、特性、付着強度面
から共通した構成とする方が好ましい。
以下、更に具体的に本発明の実施例について比較例との
対比で説明する。
対比で説明する。
厚み10μmのポリニレチンテレフタレートフィルム上
に直径100人のTiO2微粒子を12ケ/(μm)2
配し、その上に002Mの交互蒸着て複合蒸着層を形成
し更にその上にCo−M垂直磁化膜を回転キャン温度6
0 ℃、入射角10度以内、真空度5x 10””7−
3x 10−6(To r r)で電子ビーム蒸着しく
膜厚は0.2μm一定とした)その上にデュポン社製の
KRYTOX143ACを0.9 (mg/J )配し
、0.45.czmのバックコート層を配し、8ミリ幅
の磁気テープを得た。
に直径100人のTiO2微粒子を12ケ/(μm)2
配し、その上に002Mの交互蒸着て複合蒸着層を形成
し更にその上にCo−M垂直磁化膜を回転キャン温度6
0 ℃、入射角10度以内、真空度5x 10””7−
3x 10−6(To r r)で電子ビーム蒸着しく
膜厚は0.2μm一定とした)その上にデュポン社製の
KRYTOX143ACを0.9 (mg/J )配し
、0.45.czmのバックコート層を配し、8ミリ幅
の磁気テープを得た。
比較例は、M元素の下地を入射角20度以内で、膜厚3
50人配し、その上にCo−M垂直磁化膜を形成した以
外は実施例と同じ条件内で選択した。
50人配し、その上にCo−M垂直磁化膜を形成した以
外は実施例と同じ条件内で選択した。
夫々のテープをギャップ長0.15μmのC。
Zr−Nbアモルファス合金膜を利用したメタルインギ
ャップ型ヘットでビット長0.2μmを記録再生しC/
Nを比較すると共に、初期出力が3 (dB)低下する
までのステル時間を比較した。テープ条件と評価結果を
第2表にまとめて示した。
ャップ型ヘットでビット長0.2μmを記録再生しC/
Nを比較すると共に、初期出力が3 (dB)低下する
までのステル時間を比較した。テープ条件と評価結果を
第2表にまとめて示した。
第2表より明らかなように本発明は、ポリエチレンテレ
フタレートフィルムを用いて実施したが、初期のC/N
はCo−Crの場合既に多(の研修報告がスパッタ膜で
ポリイミドフィルムを用いなされている結果とほぼ同等
(1dB以内の差である)であり、比較例との対比での
優位性を含め、実用価値は大きいことがわかする。
フタレートフィルムを用いて実施したが、初期のC/N
はCo−Crの場合既に多(の研修報告がスパッタ膜で
ポリイミドフィルムを用いなされている結果とほぼ同等
(1dB以内の差である)であり、比較例との対比での
優位性を含め、実用価値は大きいことがわかする。
(以 下 余 白 )
3
4
実施例3
課題を解決するための別の手段は、高分子フィルム上に
イオン注入飽和層を配した上にco−M合金垂直磁化膜
を配したものである。本発明の磁気記録媒体は上記した
構成により、高分子フィルムのガス吸蔵の影響が全くな
(なり結晶配向改善でのC/N向上ができ、かつ下地層
を配したものより付着強度が改善されるので耐久性も改
善される。
イオン注入飽和層を配した上にco−M合金垂直磁化膜
を配したものである。本発明の磁気記録媒体は上記した
構成により、高分子フィルムのガス吸蔵の影響が全くな
(なり結晶配向改善でのC/N向上ができ、かつ下地層
を配したものより付着強度が改善されるので耐久性も改
善される。
第4図は本発明の一実施例の磁気記録媒体の拡大断面図
である。第4図で18は高分子フィルム1の表面にイオ
ン注入法で形成したイオン注入飽和層で、用いられるイ
オンの種類は、Cr、Ti。
である。第4図で18は高分子フィルム1の表面にイオ
ン注入法で形成したイオン注入飽和層で、用いられるイ
オンの種類は、Cr、Ti。
Ta、Mo、W、Ru等のco−M垂直磁化膜17に用
いるM元素と同じものが最も適するものの、他の非磁性
元素でも改善効果を明確にすることができる。イオン注
入飽和層の形成はイオンのエネルギーと注入密度、注入
時間で条件出しを行えばよいが、化学エツチング法と組
み合わせてもよい。注入により表面は注入元素のみて占
められる状態を飽和として定義するものとする。
いるM元素と同じものが最も適するものの、他の非磁性
元素でも改善効果を明確にすることができる。イオン注
入飽和層の形成はイオンのエネルギーと注入密度、注入
時間で条件出しを行えばよいが、化学エツチング法と組
み合わせてもよい。注入により表面は注入元素のみて占
められる状態を飽和として定義するものとする。
以下、更に本発明の具体的な実施例について比較例との
対比で説明する。
対比で説明する。
厚み10μmのポリエチレンナフタレートフィルムにフ
ィラー添加により平均2ケ/(μm)2の高さ100A
の突起を形成した表面に、イオン注入飽和層を形成し、
その上にCo−M垂直磁化膜を電子ビーム蒸着法と高周
波スパッタリング法で形成した。電子ビーム蒸着法は直
径50cmの回転キャン(60℃)に沿わせて、入射角
12度以内、真空度3X10−7〜?X1O−7(To
rr)で平均5700(A/5ec)で0.2μm蒸着
し、スパッタリング法は、Co−Mターゲットと13.
56 (MHz)、0.8〜1.9 (KW)、Ar5
(mTo r r ) 〜7 (mTo r r )の
条件のグロー放電を組み合わせ120(A/5ec)〜
190(人/ s e c )で行った。
ィラー添加により平均2ケ/(μm)2の高さ100A
の突起を形成した表面に、イオン注入飽和層を形成し、
その上にCo−M垂直磁化膜を電子ビーム蒸着法と高周
波スパッタリング法で形成した。電子ビーム蒸着法は直
径50cmの回転キャン(60℃)に沿わせて、入射角
12度以内、真空度3X10−7〜?X1O−7(To
rr)で平均5700(A/5ec)で0.2μm蒸着
し、スパッタリング法は、Co−Mターゲットと13.
56 (MHz)、0.8〜1.9 (KW)、Ar5
(mTo r r ) 〜7 (mTo r r )の
条件のグロー放電を組み合わせ120(A/5ec)〜
190(人/ s e c )で行った。
尚比較例は、イオン注入を行わず、下地層を配した′場
合とない場合について試作した。
合とない場合について試作した。
夫々co−M垂直磁化膜上にKRYTOX、157FS
−Mを0.8 (mg/n? )塗布し、0.4 μm
のバックコート層を配し、8ミリ幅の磁気テープとした
。夫々のテープをギャップ長0.16μmの積層合金型
ヘッドによりビット長0.2μmを記録再生し、C/N
とスチル特性を比較した結果を第3表にまとめて示した
。
−Mを0.8 (mg/n? )塗布し、0.4 μm
のバックコート層を配し、8ミリ幅の磁気テープとした
。夫々のテープをギャップ長0.16μmの積層合金型
ヘッドによりビット長0.2μmを記録再生し、C/N
とスチル特性を比較した結果を第3表にまとめて示した
。
本発明品は、電子ヒーム蒸着法で形成したCON2合金
垂直磁化膜でもスパッタリング法で形成した従来品と同
等の性能を実現できる」−にスチル特性に於ては従来品
より優れた耐久性を示すことが理解される。
垂直磁化膜でもスパッタリング法で形成した従来品と同
等の性能を実現できる」−にスチル特性に於ては従来品
より優れた耐久性を示すことが理解される。
(以 下 余 白 )
7
8
実施例4
課題を解決するための別の手段は、Co−Zn又はCo
−Cd垂直磁化膜の側面の表面酸化膜がZnO又はCd
Oがら成るものである。本発明の磁気記録媒体は上記し
た構成により、粒子間の磁気的分離が改善され雑音が小
さくなり、Z nとCdはCoと同じく六方稠密(hc
p)構造をとることから結晶性も良好な垂直磁化膜とな
り、出力改善がはかられ、全体としてC/N改善が達成
されることになる。
−Cd垂直磁化膜の側面の表面酸化膜がZnO又はCd
Oがら成るものである。本発明の磁気記録媒体は上記し
た構成により、粒子間の磁気的分離が改善され雑音が小
さくなり、Z nとCdはCoと同じく六方稠密(hc
p)構造をとることから結晶性も良好な垂直磁化膜とな
り、出力改善がはかられ、全体としてC/N改善が達成
されることになる。
第5図は、柱状微粒子の拡大模式図で、第5図で19は
Co−Zn (Znは16at%〜25at%)又はC
o−Cd (Cdは16at%〜24at%)から成る
柱状微粒子で20はZnO又はCdOから成る表面酸化
層である。
Co−Zn (Znは16at%〜25at%)又はC
o−Cd (Cdは16at%〜24at%)から成る
柱状微粒子で20はZnO又はCdOから成る表面酸化
層である。
尚、従来から知られるようにCoをCo−Niに置きか
えたものも本発明の範囲である。又cOCr等は各種の
表面偏析層により強磁性結合を弱めることが知られてい
るが、本発明は、偏析の条件については特に限定はなく
、例えばCrリッチの偏析層が非磁性層として働いてい
るのと同様な働きはCdO又はZnO膜が薄(でも、ち
密な非磁性層として磁気的分離性能を十分にもっことに
なる。本発明の磁気記録媒体は電子ビーム蒸着法、イオ
ンブレーティング法、スパッタリング法等で高分子フィ
ルム」二に直接又は下地層を介して又は実施例−2,実
施例−3と同し構成等、いずれかでテープ化又はディス
ク化することて得ることができる。尚柱状微粒子の側面
酸化は、後処理で行えばよい。
えたものも本発明の範囲である。又cOCr等は各種の
表面偏析層により強磁性結合を弱めることが知られてい
るが、本発明は、偏析の条件については特に限定はなく
、例えばCrリッチの偏析層が非磁性層として働いてい
るのと同様な働きはCdO又はZnO膜が薄(でも、ち
密な非磁性層として磁気的分離性能を十分にもっことに
なる。本発明の磁気記録媒体は電子ビーム蒸着法、イオ
ンブレーティング法、スパッタリング法等で高分子フィ
ルム」二に直接又は下地層を介して又は実施例−2,実
施例−3と同し構成等、いずれかでテープ化又はディス
ク化することて得ることができる。尚柱状微粒子の側面
酸化は、後処理で行えばよい。
以下、更に具体的に本発明の実施例について、比較例と
の対比で説明する。
の対比で説明する。
厚み10μmのポリエチレンテレフタレートフィルム上
に直径150AのZnO微粒子を6JJ−/ (μm)
2配し、その上にCo−Cd(Cd:23at%) 、
Co−Zn (Zn : 22at%)をターゲット
にして、キャン温度500C。
に直径150AのZnO微粒子を6JJ−/ (μm)
2配し、その上にCo−Cd(Cd:23at%) 、
Co−Zn (Zn : 22at%)をターゲット
にして、キャン温度500C。
Ar+f(2=5 (mTorr)。
A r : H2=4 : 1 、 13.56 (M
Hz)、2(KW)で垂直磁化膜を0.2μm形成した
。Co−Cd膜を配したものを(A)とし、Co−Zn
膜を配したものを(B)とした。
Hz)、2(KW)で垂直磁化膜を0.2μm形成した
。Co−Cd膜を配したものを(A)とし、Co−Zn
膜を配したものを(B)とした。
尚、Cdイオン注入飽和層を介してCo−Cd膜を配し
たものを(C)、Znイオン注入飽和層を介してCo−
Zn膜を配したものを(D)とし、(A)から(D)を
、120℃の酸素中で2時間熱処理し柱状微粒子の側面
に約50〜60へのCdO又はZ n O膜を形成し、
その上にKRYTOX143ACを0.6 [mg/n
t ]配し、バックコート層o、45μmを配し8ミリ
テープを得た。又比較例は酸化処理をしないもので(A
)、(B)、(C)、(D)に対応するものを夫々(E
)、(F)、(G)、(H)とした。夫々のテープをキ
ャップ長o、23μmのセンダストスパッタ膜を用いた
積層合金型ヘッドによりヒツト長0.15μn]を記録
し再生C/Nを相対比較した。又併せて耐久性について
スチル特性も調査した。評価結果を第4表にまとめて示
した。
たものを(C)、Znイオン注入飽和層を介してCo−
Zn膜を配したものを(D)とし、(A)から(D)を
、120℃の酸素中で2時間熱処理し柱状微粒子の側面
に約50〜60へのCdO又はZ n O膜を形成し、
その上にKRYTOX143ACを0.6 [mg/n
t ]配し、バックコート層o、45μmを配し8ミリ
テープを得た。又比較例は酸化処理をしないもので(A
)、(B)、(C)、(D)に対応するものを夫々(E
)、(F)、(G)、(H)とした。夫々のテープをキ
ャップ長o、23μmのセンダストスパッタ膜を用いた
積層合金型ヘッドによりヒツト長0.15μn]を記録
し再生C/Nを相対比較した。又併せて耐久性について
スチル特性も調査した。評価結果を第4表にまとめて示
した。
第4表によれば、本実施例は、相対C/Nに優れスチル
特性、特に高温高湿保存後も安定してぃ1 2 てその実用性は大きい。尚C/Nはスパッタリング時の
キャン温度60℃でポリイミド上にC。
特性、特に高温高湿保存後も安定してぃ1 2 てその実用性は大きい。尚C/Nはスパッタリング時の
キャン温度60℃でポリイミド上にC。
Cr (Cr23at%)垂直磁化膜を形成したものと
1〜2 (dB)以内の差であることからも高密度特性
も良好といえる。
1〜2 (dB)以内の差であることからも高密度特性
も良好といえる。
(以 下 余 白 )
3
4
実施例5
本発明は高密度記録性能に優れたCo−Cr等のスパッ
タリング法による膜形成の高速化に関するもので、高速
化による膜の機械強度の劣化を改善することを目的とす
るもので、課題を解決するため、本発明は、高分子フィ
ルム上にプラズマ重合膜を配した後、回転支持体に静電
吸着させた状態で高速スパッタリング法によりCo系合
金垂直磁化膜を形成するようにしたものである。本発明
の磁気記録媒体の製造方法は上記した構成により、高分
子フィルムの表面がスパッタリングに対して、均一な面
状態となり欠陥(不均一部分)をトリ力にして誘発され
る異常突起く1ジユール)が無視できるようになり、か
つ結晶性も良好となりC/Nと耐久性の改善された磁気
記録媒体をスパッタリング法で効率よく製造できること
になる。
タリング法による膜形成の高速化に関するもので、高速
化による膜の機械強度の劣化を改善することを目的とす
るもので、課題を解決するため、本発明は、高分子フィ
ルム上にプラズマ重合膜を配した後、回転支持体に静電
吸着させた状態で高速スパッタリング法によりCo系合
金垂直磁化膜を形成するようにしたものである。本発明
の磁気記録媒体の製造方法は上記した構成により、高分
子フィルムの表面がスパッタリングに対して、均一な面
状態となり欠陥(不均一部分)をトリ力にして誘発され
る異常突起く1ジユール)が無視できるようになり、か
つ結晶性も良好となりC/Nと耐久性の改善された磁気
記録媒体をスパッタリング法で効率よく製造できること
になる。
第6図は本発明により製造される磁気記録媒体の拡大断
面図である。第6図で21はプラズマ重合膜で、膜厚は
均一厚み換算で20人から100への範囲で十分である
。用いられるモノマーカスは特に限定はなく、CF4.
C2F4.C2H2F等のふっ素含有化合物、メヂルア
ミン、トリメチルアミン、ラウリルアミン等の有機アミ
ン化合物、有機ケイ素化合物、有機不飽和化合物等いず
れでもよい。
面図である。第6図で21はプラズマ重合膜で、膜厚は
均一厚み換算で20人から100への範囲で十分である
。用いられるモノマーカスは特に限定はなく、CF4.
C2F4.C2H2F等のふっ素含有化合物、メヂルア
ミン、トリメチルアミン、ラウリルアミン等の有機アミ
ン化合物、有機ケイ素化合物、有機不飽和化合物等いず
れでもよい。
第7図は本発明を実施するのに用いた磁気記録媒体の製
造装置の要部構成図である。第7図で22は高分子フィ
ルムで巻出し軸34から巻取り軸35へ移動する過程で
プラズマ重合膜を配され、スパッタリング法でCo−M
垂直磁化膜を形成できるよう構成する。23はエンドレ
スベルトから成る回転支持体で、24.25は円筒キャ
ンである。26は高分子フィルムをエンドレスベルトに
静電吸着させ十分熱を吸収伝達し、高分子フィルムの熱
負荷を軽減されるのに用いる電子ヒーム発生源で27は
電子ヒームである。28はプラズマ重合に供する放電電
極29はプラズマ重合室で30はプラズマである。31
はCo−M合金ターゲットでCr、Mo、Ta、Ti、
W、Mo、Ru等5 6 を19at%〜26at%含むCo合金て構成してもの
で32は高速化するための磁界発生器である。33はフ
リーローラである。
造装置の要部構成図である。第7図で22は高分子フィ
ルムで巻出し軸34から巻取り軸35へ移動する過程で
プラズマ重合膜を配され、スパッタリング法でCo−M
垂直磁化膜を形成できるよう構成する。23はエンドレ
スベルトから成る回転支持体で、24.25は円筒キャ
ンである。26は高分子フィルムをエンドレスベルトに
静電吸着させ十分熱を吸収伝達し、高分子フィルムの熱
負荷を軽減されるのに用いる電子ヒーム発生源で27は
電子ヒームである。28はプラズマ重合に供する放電電
極29はプラズマ重合室で30はプラズマである。31
はCo−M合金ターゲットでCr、Mo、Ta、Ti、
W、Mo、Ru等5 6 を19at%〜26at%含むCo合金て構成してもの
で32は高速化するための磁界発生器である。33はフ
リーローラである。
この装置を用いて具体的に磁気記録媒体を製造し、比較
例との対比で説明する。
例との対比で説明する。
厚み11μmのポリエチレンテレフタレートフィルムに
直径500人の5i02を内在粒子として添加し、表面
粗さを平均値で40人、最大粗さで120Aの面を形成
しそのフィルムを用いて、モノマーカスを用いプラズマ
重合膜を15(mT o r r ) 〜50(mTo
rr)、13.56(MHz) 、 0.65〜1.4
(KW) ノ範囲で形成し、15KV、200μA/
cn?の電子線照射により静電吸着さぜ(100μmの
ステンレス製のヘルドを温度20℃に保持した。)Co
−MをターゲットにしてAr:2(mTorr) 〜1
0(mTo r r ) 、 13.56 (MHz
) 4 (KW)〜8.5 (KW)で高速でCo−M
垂直磁化膜を0.2μm形成し、その−トにモンテシソ
ン社製のフォンブリンZ−25を0.8(mg/J)配
し0.4μmのバックコート層を配し8ミリ幅のテープ
とした。
直径500人の5i02を内在粒子として添加し、表面
粗さを平均値で40人、最大粗さで120Aの面を形成
しそのフィルムを用いて、モノマーカスを用いプラズマ
重合膜を15(mT o r r ) 〜50(mTo
rr)、13.56(MHz) 、 0.65〜1.4
(KW) ノ範囲で形成し、15KV、200μA/
cn?の電子線照射により静電吸着さぜ(100μmの
ステンレス製のヘルドを温度20℃に保持した。)Co
−MをターゲットにしてAr:2(mTorr) 〜1
0(mTo r r ) 、 13.56 (MHz
) 4 (KW)〜8.5 (KW)で高速でCo−M
垂直磁化膜を0.2μm形成し、その−トにモンテシソ
ン社製のフォンブリンZ−25を0.8(mg/J)配
し0.4μmのバックコート層を配し8ミリ幅のテープ
とした。
比較例はプラズマ重合膜を配さない場合と、プラズマ重
合の代りにCr下地をスパッタリング法で200A形成
した場合と、Co−Mスパッタ速度を小さくした場合を
テープ化した。
合の代りにCr下地をスパッタリング法で200A形成
した場合と、Co−Mスパッタ速度を小さくした場合を
テープ化した。
夫々のテープの条件と、ギャップ層0.2μmのセンダ
ストスパッタ膜を用いたメタルインギャップ型ヘッドで
ビット長o、15μmを記録、再生し、C/Nを比較し
スヂル特性も比較した。それらの結果を第5表にまとめ
て示した。
ストスパッタ膜を用いたメタルインギャップ型ヘッドで
ビット長o、15μmを記録、再生し、C/Nを比較し
スヂル特性も比較した。それらの結果を第5表にまとめ
て示した。
(以 下 余 白 )
以上のように本発明によれば高速で優れた垂直磁気記録
媒体が得られる。Cr下地はスパッタリング法で形成し
てることからプラズマ重合膜に近い条件とみれるが、実
際は1ジユールの核が残り、高速条件で製膜した場合、
十分なスヂル特性にならない。第5表では示してないが
、W、Ta。
媒体が得られる。Cr下地はスパッタリング法で形成し
てることからプラズマ重合膜に近い条件とみれるが、実
際は1ジユールの核が残り、高速条件で製膜した場合、
十分なスヂル特性にならない。第5表では示してないが
、W、Ta。
Ru等も同等の性能を示し本発明の有価値性を確認して
いる。
いる。
実施例6
本発明は特にポリエステルフィルム上に直接C。
系合金垂直磁化膜を形成する方法を提供するもので、冷
却支持体に静電吸着させたポリエステルフィルム上に、
−20℃以下でCo系合金を垂直蒸着するようにしたも
のである。本発明の磁気記録媒体の製造方法は上記した
構成により、垂直磁化膜形成に於て結晶性を低下させる
ガス放出が無視できることになり、より完全性の高い結
晶成長が達成されC/Nが改善された磁気記録媒体が得
られることになる。第8図は本発明を実施するのに用い
た磁気記録媒体の製造装置の要部構成図て9 0 ある。第8図で第7図と共通要素は同一の番号を付しで
ある。第8図で36はポリエステルフィルムで、勿論化
の高分子フィルムであってもよいが、ポリエステルフィ
ルムで十分良好な垂直磁化膜が得られることから、磁気
記録媒体用に広く多量に用いられているポリエステルフ
ィルムで実施した。37は予熱キャンてポリエステルフ
ィルムの保管が長時間に及んだ場合、若干量の吸湿によ
り特性劣化が起る場合があるので、より再現性を高める
ために、加熱できるようにしたもので、併せて、放電電
極38とグロー処理室39てグロー放電処理できるよう
にした。この処理は必須条件てはないが好ましい条件と
いえる。40はCo−M電子ヒーム蒸発源で、41は電
子ビーム発生源、42は電子ビーム、43はマスクであ
る。Co−Mとしては15at%から26at%のCr
、Mo。
却支持体に静電吸着させたポリエステルフィルム上に、
−20℃以下でCo系合金を垂直蒸着するようにしたも
のである。本発明の磁気記録媒体の製造方法は上記した
構成により、垂直磁化膜形成に於て結晶性を低下させる
ガス放出が無視できることになり、より完全性の高い結
晶成長が達成されC/Nが改善された磁気記録媒体が得
られることになる。第8図は本発明を実施するのに用い
た磁気記録媒体の製造装置の要部構成図て9 0 ある。第8図で第7図と共通要素は同一の番号を付しで
ある。第8図で36はポリエステルフィルムで、勿論化
の高分子フィルムであってもよいが、ポリエステルフィ
ルムで十分良好な垂直磁化膜が得られることから、磁気
記録媒体用に広く多量に用いられているポリエステルフ
ィルムで実施した。37は予熱キャンてポリエステルフ
ィルムの保管が長時間に及んだ場合、若干量の吸湿によ
り特性劣化が起る場合があるので、より再現性を高める
ために、加熱できるようにしたもので、併せて、放電電
極38とグロー処理室39てグロー放電処理できるよう
にした。この処理は必須条件てはないが好ましい条件と
いえる。40はCo−M電子ヒーム蒸発源で、41は電
子ビーム発生源、42は電子ビーム、43はマスクであ
る。Co−Mとしては15at%から26at%のCr
、Mo。
Ti、Ta、Ru、W等が適用できるが、本実施例では
Mo、Ti、Ta、Ru、WはCrに比較して、1〜2
(dB)低いことからCr0例について以下に詳しく
のべる。
Mo、Ti、Ta、Ru、WはCrに比較して、1〜2
(dB)低いことからCr0例について以下に詳しく
のべる。
厚み9μmの内在フィラー(直径600Aの5iCh)
による凹凸を設けた(平均粗さ30人。
による凹凸を設けた(平均粗さ30人。
最大粗さll0A)ポリエチレンテレフタレートフィル
ムとポリエチレンナフタレートフィルムを用意した。夫
々のフィルムを用いて、直径30cmの予熱キャン(巻
き付は角300” )に治わせ、酸素分圧12 (mT
o r r ) 10 (KHz) 0.8(K W
)でグロー処理を行い、14KV、150μA / c
♂で静電吸着させ、ベルトの温度を変えて、Co−Cr
(Cr22.5at%)を6×1O−7(Torr)
〜7X10−”(Torr)で、入射角16度以内12
00 (A/5ec) 〜7900(A/5ee)て蒸
着し0.2μmのco−Cr垂直磁化膜を形成し、0.
6(mg/ぜ)のKRYTOXI 57−FS−Mを配
し、バックコート層0.4μmを配し8ミリ幅の磁気テ
ープを得た。
ムとポリエチレンナフタレートフィルムを用意した。夫
々のフィルムを用いて、直径30cmの予熱キャン(巻
き付は角300” )に治わせ、酸素分圧12 (mT
o r r ) 10 (KHz) 0.8(K W
)でグロー処理を行い、14KV、150μA / c
♂で静電吸着させ、ベルトの温度を変えて、Co−Cr
(Cr22.5at%)を6×1O−7(Torr)
〜7X10−”(Torr)で、入射角16度以内12
00 (A/5ec) 〜7900(A/5ee)て蒸
着し0.2μmのco−Cr垂直磁化膜を形成し、0.
6(mg/ぜ)のKRYTOXI 57−FS−Mを配
し、バックコート層0.4μmを配し8ミリ幅の磁気テ
ープを得た。
ベルトの温度を変えてテープを試作し、ギャップ長0.
2μmのセンダストスパッタ膜利用のメタルインギャッ
プ型ヘッドでビット長0.15μmの記録再生を行いC
/Nを測定した結果を第9図に示した。第9図よりベル
ト温度(この温度は静電吸着させているのでフィルム温
度と同一とみなせる。)が−20℃以下であれば、C/
Nの測定誤差を含む、再現性もよく、上記した条件内で
あれば磁気記録媒体の性能を均一にできることがわかる
。フィルムの吸湿の影響については、半年保存(20℃
60%RHの空調室に保存)品は、予熱キャン温度を7
5℃にすれば、第9図とほぼ同じ結果が得られ、通常の
製造であれば2〜3ケ月の保存で処理されると考えられ
、その場合は、予熱キャンは20℃(氷温程度でよい)
で特に昇温しなくても、前処理としてのグロー処理(こ
れは付着強度の面からみてもできれば行う方が好ましい
)だけで第9図の関係が得られる。
2μmのセンダストスパッタ膜利用のメタルインギャッ
プ型ヘッドでビット長0.15μmの記録再生を行いC
/Nを測定した結果を第9図に示した。第9図よりベル
ト温度(この温度は静電吸着させているのでフィルム温
度と同一とみなせる。)が−20℃以下であれば、C/
Nの測定誤差を含む、再現性もよく、上記した条件内で
あれば磁気記録媒体の性能を均一にできることがわかる
。フィルムの吸湿の影響については、半年保存(20℃
60%RHの空調室に保存)品は、予熱キャン温度を7
5℃にすれば、第9図とほぼ同じ結果が得られ、通常の
製造であれば2〜3ケ月の保存で処理されると考えられ
、その場合は、予熱キャンは20℃(氷温程度でよい)
で特に昇温しなくても、前処理としてのグロー処理(こ
れは付着強度の面からみてもできれば行う方が好ましい
)だけで第9図の関係が得られる。
発明の効果
以上のように本発明によれば、耐久性、 C/N共に優
れたCO系垂直磁気記録媒体が得られるといったすぐれ
た効果がある。
れたCO系垂直磁気記録媒体が得られるといったすぐれ
た効果がある。
第1図は本発明の一実施例の磁気記録媒体の拡大断面図
、第2図は同実施例を実施するのに用いた蒸着装置の要
部構成図、第3図及び第4図は本発明の一実施例の磁気
記録媒体の拡大断面図、第5図は柱状微粒子の拡大模式
図、第6図は本発明の一実施例により製造される磁気記
録媒体の拡大断面図、第7図及び第8図は同実施例を実
施するのに用いた磁気記録媒体の製造装置の要部構成図
、第9図は同実施例の特性を示した特性図である。 1.4・・・・・・高分子フィルム、2・・・・・・磁
気記録層、8・・・・・・M蒸発源、9・・・・・・c
o蒸発源、14・・・・・・酸化室、16・・・・・・
Co−M複合蒸着層、17・・・・・・Co−M垂直磁
化膜、18・・・・・・イオン注入飽和層、19・・・
・・・C0−Zn又はco−cd柱状微粒子、20・・
・・・・ZnO(又はCd0)層、21・・・・・・プ
ラズマ重合膜、22・・・・・・高分子フィルム、23
・・・・・・エンドレスベルト、26・・・・・・電子
ビーム発生源、29・・・・・・プラズマ重合室、31
・・・・・・Co−M合金ターゲット、40・・・・・
・co−M電子ビーム蒸3 4 発源。
、第2図は同実施例を実施するのに用いた蒸着装置の要
部構成図、第3図及び第4図は本発明の一実施例の磁気
記録媒体の拡大断面図、第5図は柱状微粒子の拡大模式
図、第6図は本発明の一実施例により製造される磁気記
録媒体の拡大断面図、第7図及び第8図は同実施例を実
施するのに用いた磁気記録媒体の製造装置の要部構成図
、第9図は同実施例の特性を示した特性図である。 1.4・・・・・・高分子フィルム、2・・・・・・磁
気記録層、8・・・・・・M蒸発源、9・・・・・・c
o蒸発源、14・・・・・・酸化室、16・・・・・・
Co−M複合蒸着層、17・・・・・・Co−M垂直磁
化膜、18・・・・・・イオン注入飽和層、19・・・
・・・C0−Zn又はco−cd柱状微粒子、20・・
・・・・ZnO(又はCd0)層、21・・・・・・プ
ラズマ重合膜、22・・・・・・高分子フィルム、23
・・・・・・エンドレスベルト、26・・・・・・電子
ビーム発生源、29・・・・・・プラズマ重合室、31
・・・・・・Co−M合金ターゲット、40・・・・・
・co−M電子ビーム蒸3 4 発源。
Claims (6)
- (1)微粒子を配した高分子フィルム上に斜め蒸着され
たMとCo−M垂直磁化膜と表面Co酸化物が連続した
柱状微粒子から成ることを特徴とする磁気記録媒体。 - (2)高分子フィルム上にCo−M複合蒸着層を配した
上にCo−M合金垂直磁化膜を配したことを特徴とする
請求項1記載の磁気記録媒体。 - (3)高分子フィルム上にイオン注入飽和層を配した上
にCo−M合金垂直磁化膜を配したことを特徴とする請
求項1記載の磁気記録媒体。 - (4)Co−Zn又はCo−Cd垂直磁化膜の側面表面
酸化膜がZnO又はCdOであることを特徴とする請求
項1記載の磁気記録媒体。 - (5)高分子フィルム上にプラズマ重合膜を配した後、
回転支持体に静電吸着させた状態で高速スパッタリング
法によりCo系合金垂直磁化膜を形成することを特徴と
する磁気記録媒体の製造方法。 - (6)冷却支持体に静電吸着させたポリエステルフィル
ム上に−20℃以下でCo系合金を垂直蒸着することを
特徴とする請求項5記載の磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27418789A JPH03134819A (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27418789A JPH03134819A (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03134819A true JPH03134819A (ja) | 1991-06-07 |
Family
ID=17538249
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27418789A Pending JPH03134819A (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03134819A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998003695A1 (en) * | 1996-07-23 | 1998-01-29 | The Governors Of The University Of Alberta | Capped porous thin films |
-
1989
- 1989-10-20 JP JP27418789A patent/JPH03134819A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998003695A1 (en) * | 1996-07-23 | 1998-01-29 | The Governors Of The University Of Alberta | Capped porous thin films |
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