JPH02282919A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JPH02282919A JPH02282919A JP10492689A JP10492689A JPH02282919A JP H02282919 A JPH02282919 A JP H02282919A JP 10492689 A JP10492689 A JP 10492689A JP 10492689 A JP10492689 A JP 10492689A JP H02282919 A JPH02282919 A JP H02282919A
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Landscapes
- Other Resins Obtained By Reactions Not Involving Carbon-To-Carbon Unsaturated Bonds (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は高密度磁気記録に適する強磁性金属薄膜を磁気
記録層とする磁気記録媒体に関する。
記録層とする磁気記録媒体に関する。
従来の技術
磁気記録における高密度記録傾向は年々強まる一方で、
面記録密度を高めるには周知のように狭トラツク化と短
波長化に耐える高C/N媒体の具現化である。
面記録密度を高めるには周知のように狭トラツク化と短
波長化に耐える高C/N媒体の具現化である。
信号当りの磁束量が減少する高密度記録の実現に有望と
される強磁性金属薄膜は開発が進み、実用域へ近すいて
きている。第3図に、開発中の公知でない強磁性金属薄
膜を磁気記録層とする磁気記録媒体の代表的な構成を示
した。第3図で1は中心線平均粗さが0.001〜0.
01μmと平滑なポリエチレンテレフタレート、ポリア
ミドイミド。
される強磁性金属薄膜は開発が進み、実用域へ近すいて
きている。第3図に、開発中の公知でない強磁性金属薄
膜を磁気記録層とする磁気記録媒体の代表的な構成を示
した。第3図で1は中心線平均粗さが0.001〜0.
01μmと平滑なポリエチレンテレフタレート、ポリア
ミドイミド。
ポリイミド等の高分子フィルムで、必要に応じて、高分
子をミミズ状に構成配設したり、微粒子を配設したりし
たものを用いてもよい。2は酸素雰囲気中でCo−Ni
を電子ビーム加熱で蒸発させ、斜め蒸着することで得た
高保磁力のCo−Ni−0薄膜や、自己減磁を解消する
短波長出力の改善案として優れた提案であるC o −
Cr等のいわゆる垂直磁化膜等から成る磁気記録層で3
は高分子フィルムの磁気記録層と反対側の面に必要に応
じて配されたバックコート層で、ポリウレタン樹脂塩ビ
酢ビ樹脂等の結合剤樹脂中にカーボンA区、03゜Ca
Co s等のフィラーを分散させたもので、4は保護
潤滑層でアモルファス・カーボン膜とフロロカーボン系
の潤滑層を積層したもの(特開昭61−142525号
公報)プラズマ重合膜と有機蒸着膜の積層(特開昭61
−151837号公報)パーフロロアルキルカルボン酸
の真空蒸着膜(特開昭61−220116号公報)等多
くの組み合わせが提案されている。
子をミミズ状に構成配設したり、微粒子を配設したりし
たものを用いてもよい。2は酸素雰囲気中でCo−Ni
を電子ビーム加熱で蒸発させ、斜め蒸着することで得た
高保磁力のCo−Ni−0薄膜や、自己減磁を解消する
短波長出力の改善案として優れた提案であるC o −
Cr等のいわゆる垂直磁化膜等から成る磁気記録層で3
は高分子フィルムの磁気記録層と反対側の面に必要に応
じて配されたバックコート層で、ポリウレタン樹脂塩ビ
酢ビ樹脂等の結合剤樹脂中にカーボンA区、03゜Ca
Co s等のフィラーを分散させたもので、4は保護
潤滑層でアモルファス・カーボン膜とフロロカーボン系
の潤滑層を積層したもの(特開昭61−142525号
公報)プラズマ重合膜と有機蒸着膜の積層(特開昭61
−151837号公報)パーフロロアルキルカルボン酸
の真空蒸着膜(特開昭61−220116号公報)等多
くの組み合わせが提案されている。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記した構成のものは、限定された条件範
囲内では十分な実用性を有するものの、カメラ一体型V
TRや業務用VTR等で使用する時に十分な実用性が確
保できないといった課題があり、改善が望まれていた。
囲内では十分な実用性を有するものの、カメラ一体型V
TRや業務用VTR等で使用する時に十分な実用性が確
保できないといった課題があり、改善が望まれていた。
本発明は上記した事情に鑑みなされたもので、耐久性の
優れた磁気記録媒体を提供するものである。
優れた磁気記録媒体を提供するものである。
課題を解決するだめの手段
上記した課題を解決するため本発明の磁気記録媒体は、
強磁性金属薄膜上に形成した保護膜が強磁性金属薄膜中
に含むガス成分を放電分解して得られたものである。
強磁性金属薄膜上に形成した保護膜が強磁性金属薄膜中
に含むガス成分を放電分解して得られたものである。
作 用
本発明の磁気記録媒体は上記した構成により、強磁性金
属薄膜上に保護膜を形成する時尾界面に異種材料が混入
して付着強度の低下をきだすことが全くなくなるので、
微視的に均一な強度が得られ破壊に対しトリガとなる部
分がないことになり、耐久性が著しく向上することにな
る。
属薄膜上に保護膜を形成する時尾界面に異種材料が混入
して付着強度の低下をきだすことが全くなくなるので、
微視的に均一な強度が得られ破壊に対しトリガとなる部
分がないことになり、耐久性が著しく向上することにな
る。
実施例
以下、図面を参照しながら本発明の実施例について説明
する。第1図は本発明の実施例の磁気記録媒体の拡大断
面図である。第1図で、1は従来から用いられてきたポ
リエチレンテレフタレート。
する。第1図は本発明の実施例の磁気記録媒体の拡大断
面図である。第1図で、1は従来から用いられてきたポ
リエチレンテレフタレート。
、l−’ IJエチレンナフタレート、ポリフェニレン
サルファイド、ポリエーテルエーテルケト/等の高分子
フィルムで必要に応じて微粒子塗布層や、山脈状の下塗
り層を配してもよい。5はCo−0,Co−Ni。
サルファイド、ポリエーテルエーテルケト/等の高分子
フィルムで必要に応じて微粒子塗布層や、山脈状の下塗
り層を配してもよい。5はCo−0,Co−Ni。
Co−Cr、Go−Ti、Go−Mo、Co−Ni−○
等の強磁性金属薄膜で、eは模式的に、強磁性金属薄膜
にガスが含まれている様子を示したものである。このガ
スは、保護膜アを放電分解により形成して得ることの出
来るもので、例えばCH4,C2H2のガスと保護膜が
カーボンの組み合わせや、5LH4゜02ガスと5to
x(x=L2〜1.8)等がある。
等の強磁性金属薄膜で、eは模式的に、強磁性金属薄膜
にガスが含まれている様子を示したものである。このガ
スは、保護膜アを放電分解により形成して得ることの出
来るもので、例えばCH4,C2H2のガスと保護膜が
カーボンの組み合わせや、5LH4゜02ガスと5to
x(x=L2〜1.8)等がある。
8は潤滑剤で脂肪酸、脂肪酸エステル、パーフルオロア
ルキルカルボン酸、パーフルオロポリエーテル類等の市
販のもの、或いは合成したもの等の中から適宜選択して
用いればよい。3は、フィラーと樹脂から成るバックコ
ート層で本発明を磁気ディスクとして実施する場合は不
要である。
ルキルカルボン酸、パーフルオロポリエーテル類等の市
販のもの、或いは合成したもの等の中から適宜選択して
用いればよい。3は、フィラーと樹脂から成るバックコ
ート層で本発明を磁気ディスクとして実施する場合は不
要である。
本発明の磁気記録媒体を得る方法について簡単に説明し
ておく。強磁性金属薄膜をスパッタリング法、イオンブ
レーティング法、電子ビーム蒸着法等の方法で形成する
際、保護膜形成に用いるガス単独又はAr、Ne等の不
活性ガス、02.N2゜NH3等のガスと組み合わせて
導入し、ガス成分として、1100pp〜2000 p
四程度含ませるようにし、保護膜形成をグロー放電分解
にて行うようにするのがポイントである。
ておく。強磁性金属薄膜をスパッタリング法、イオンブ
レーティング法、電子ビーム蒸着法等の方法で形成する
際、保護膜形成に用いるガス単独又はAr、Ne等の不
活性ガス、02.N2゜NH3等のガスと組み合わせて
導入し、ガス成分として、1100pp〜2000 p
四程度含ませるようにし、保護膜形成をグロー放電分解
にて行うようにするのがポイントである。
以下、更に具体的に本発明の実施例について比較例との
対比で説明する。
対比で説明する。
厚み1o、6μmのポリエチレンテレフタレートフィル
ム上に直径120人の5IO2微粒子を10ケ/(μm
)2配しその上に直径1mの円筒キャンに沿わせて、最
小入射角44度、酸素分圧8×1o″″5(Torr
) 、 CH4分圧4X10−6(Torr)でCo−
N1(Co:80wt%)を電子ビーム蒸着し、CH4
を24CIPm含むCo−Ni−0膜を0.18μm形
成しその上に、CH4ガスを0.04 (Torr)、
Arガスを0.08 (Torr )とし20(K)
Iり、900(W) で放電分解し、アモルファスカ
ーボン膜を130人形成し、その上にパーフルオロポリ
エーテルとして市販のモンテフルオス社製の1フォンプ
リンZ−26”ヲ0.4Iq/m”塗布し、フィルムの
反対面に直径500人のカーボン粒子をポリエステル樹
脂と同−重量含んだバックコート層を0.44μm配し
、8ミリテープに加工しテープ1−Aとした。
ム上に直径120人の5IO2微粒子を10ケ/(μm
)2配しその上に直径1mの円筒キャンに沿わせて、最
小入射角44度、酸素分圧8×1o″″5(Torr
) 、 CH4分圧4X10−6(Torr)でCo−
N1(Co:80wt%)を電子ビーム蒸着し、CH4
を24CIPm含むCo−Ni−0膜を0.18μm形
成しその上に、CH4ガスを0.04 (Torr)、
Arガスを0.08 (Torr )とし20(K)
Iり、900(W) で放電分解し、アモルファスカ
ーボン膜を130人形成し、その上にパーフルオロポリ
エーテルとして市販のモンテフルオス社製の1フォンプ
リンZ−26”ヲ0.4Iq/m”塗布し、フィルムの
反対面に直径500人のカーボン粒子をポリエステル樹
脂と同−重量含んだバックコート層を0.44μm配し
、8ミリテープに加工しテープ1−Aとした。
Co−Ni−0膜中にCH4ガスをs o o ppm
含む条件で0.18μmのCo−Ni−0膜を配した以
外は同じ条件でテープ1−Bを得た。
含む条件で0.18μmのCo−Ni−0膜を配した以
外は同じ条件でテープ1−Bを得た。
比較例として、CH4分圧を零とし、CH4を含まない
Co−Ni−0膜を0.18μm配した以外は同じ条件
でテープ1−Cを得た。
Co−Ni−0膜を0.18μm配した以外は同じ条件
でテープ1−Cを得た。
別の比較例として、テープ1Aの条件で、保護膜の形成
をグラファイトをターゲットにしArO,07(Tor
r)13.56(M)h)、o、e(KWFオ件でのス
パッタリング法で行ったものを率備しテープ1−Dとし
た。
をグラファイトをターゲットにしArO,07(Tor
r)13.56(M)h)、o、e(KWFオ件でのス
パッタリング法で行ったものを率備しテープ1−Dとし
た。
夫々のテープを幅601.長さ1000 fiの原反か
ら任意にサンプリングして、市販の8ミリビデオ(cc
I)−F’3007 = −(株)製)で、3°C5%
RHでスチル特性を比較した結果を第1表にまとめて示
した。スチル特性は出力が3(dB)低下するまでの時
間で示した。
ら任意にサンプリングして、市販の8ミリビデオ(cc
I)−F’3007 = −(株)製)で、3°C5%
RHでスチル特性を比較した結果を第1表にまとめて示
した。スチル特性は出力が3(dB)低下するまでの時
間で示した。
第1表から本発明はスチル特性が安定しているのに対し
、比較例は、バラツキが大きく、スチル特性も全体に劣
化傾向であることがわかる。
、比較例は、バラツキが大きく、スチル特性も全体に劣
化傾向であることがわかる。
尚CH4ガスの含有率は、1100pp 以下ではス
チル特性のバラツキが大きくなり、2000ppm以上
ではCo−Ni−0膜の磁気特性が劣化するので、11
00pp から2000ppmの範囲とするのが好ま
しい。この範囲ではわずかに山形特性があるが、スチル
特性が十分満足のいくものでおることから特に狭い範囲
とすることはなく、用いるガスがCH4の他にC2H6
,C3H8等でもほぼ同じ範囲でよい。
チル特性のバラツキが大きくなり、2000ppm以上
ではCo−Ni−0膜の磁気特性が劣化するので、11
00pp から2000ppmの範囲とするのが好ま
しい。この範囲ではわずかに山形特性があるが、スチル
特性が十分満足のいくものでおることから特に狭い範囲
とすることはなく、用いるガスがCH4の他にC2H6
,C3H8等でもほぼ同じ範囲でよい。
次に保護膜として、5lox 膜を用いる場合について
比較する。
比較する。
厚み11μmのポリエチレンナフタレートフィルム上に
直径100人のT X O2微粒子を11ケ/(μrr
L)2配し、直径60cNで温度を120°Cに保った
円筒キャンに沿わせて、Co−Cr(Co:80wt%
)をターゲットにして、Ar分圧5X10−2(Tor
r) 、 SLH分圧5 X 10 〜1.9X10−
’(Torr)の範囲で13.6e(M)h) 、1.
4(KW) でスパッタリングしてCo−Ct垂直磁
化膜をo、19μm形成しその上にSiH4:02=1
=1で圧力を0.06〜0.09(Torr) 、 1
3.56(MHz) 、0.7(KW)でS io、
(x=1.4〜1.7 ) lluを160人形成し
、パーフルオロアラキン酸を60人真空蒸着し、0.4
6μmのバックコート層を配し、8ミリ幅のテープにし
た。
直径100人のT X O2微粒子を11ケ/(μrr
L)2配し、直径60cNで温度を120°Cに保った
円筒キャンに沿わせて、Co−Cr(Co:80wt%
)をターゲットにして、Ar分圧5X10−2(Tor
r) 、 SLH分圧5 X 10 〜1.9X10−
’(Torr)の範囲で13.6e(M)h) 、1.
4(KW) でスパッタリングしてCo−Ct垂直磁
化膜をo、19μm形成しその上にSiH4:02=1
=1で圧力を0.06〜0.09(Torr) 、 1
3.56(MHz) 、0.7(KW)でS io、
(x=1.4〜1.7 ) lluを160人形成し
、パーフルオロアラキン酸を60人真空蒸着し、0.4
6μmのバックコート層を配し、8ミリ幅のテープにし
た。
比較例は、S LH4を含まないCo−Cr膜を用いた
。夫々のテープの条件と、スチル特性を第2表Kまとめ
て示した。用いたビデオデツキは同じで環境は6°C8
0%RHとした。
。夫々のテープの条件と、スチル特性を第2表Kまとめ
て示した。用いたビデオデツキは同じで環境は6°C8
0%RHとした。
第2表でも第1表と同様の傾向があることがわかる。
課題を解決する別の手段は、強磁性金属薄膜上に形成す
る保護膜を強磁性金属薄膜中に含むガス成分を放電重合
して得られるものとすることである。
る保護膜を強磁性金属薄膜中に含むガス成分を放電重合
して得られるものとすることである。
上記した構成により、強磁性金属薄嘆に含まれるガスが
保護膜形成時に一部放出されるが界面で重合されるため
、極めて均一な界面接着を実現できることになり付着強
度が微視的にも均一になり耐久性を改善できることにな
る。
保護膜形成時に一部放出されるが界面で重合されるため
、極めて均一な界面接着を実現できることになり付着強
度が微視的にも均一になり耐久性を改善できることにな
る。
以下、第1図を用い説明する。第1図で6は、本実施例
では、各種のモノマーガスが含まれている状況を模式的
に示したものである。用いることの出来るモノマーガス
は、CF4.C2F4.C2H2F。
では、各種のモノマーガスが含まれている状況を模式的
に示したものである。用いることの出来るモノマーガス
は、CF4.C2F4.C2H2F。
C2H2F2.C2F61CF3No9等のフッ素化合
物。
物。
メチルアミン、ジメチルアミン、エチルアミン。
トリエチルアミン、n−プロピルアミン、n−ブチルア
ミン、ラウリルアミン、アリルジメチルアミン、ホルム
アミド、カプロンアミド等の有機アミン化合物、トリメ
チルクロロシラン、ビニルジメチルクロロシラン、テト
ラメトキシシラン、トリメトキシシランおよびこれらの
加水分解縮合物としてのオルガノシロキサン等の有機ケ
イ素化合物、エチレン、プロピレン、塩化ビニル、 7
1J /I/アルコール、シクロペンテン、ナフタリン
等の有機不飽和化合物等及びテトラメチルシクロジシラ
ザン、ヘキサメチルシクロトリシラザン等のシラザン系
化合物等で、膜中には1100ppから1200ppm
、更に好ましくは260〜750 ppm 含むこと
で、プラズマ重合嘆8との付着強度が改善され、磁気特
性が特に劣化しないことで高密度記録特性と耐久性の両
方を確保できるものである。
ミン、ラウリルアミン、アリルジメチルアミン、ホルム
アミド、カプロンアミド等の有機アミン化合物、トリメ
チルクロロシラン、ビニルジメチルクロロシラン、テト
ラメトキシシラン、トリメトキシシランおよびこれらの
加水分解縮合物としてのオルガノシロキサン等の有機ケ
イ素化合物、エチレン、プロピレン、塩化ビニル、 7
1J /I/アルコール、シクロペンテン、ナフタリン
等の有機不飽和化合物等及びテトラメチルシクロジシラ
ザン、ヘキサメチルシクロトリシラザン等のシラザン系
化合物等で、膜中には1100ppから1200ppm
、更に好ましくは260〜750 ppm 含むこと
で、プラズマ重合嘆8との付着強度が改善され、磁気特
性が特に劣化しないことで高密度記録特性と耐久性の両
方を確保できるものである。
以下、更に具体的に本発明の実施例と比較例について特
性比較で説明する。
性比較で説明する。
厚み10μmのポリイミドフィルム上に高さ100人の
シワ状突起を配し、その上に直径1mの円筒キャンに沿
わせてC’oを最小入射角40度、酸素分圧8 X 1
0−5(Toτf)で電子ビーム蒸着し、0.1(μm
)のCo −01gを配し、巻き直して同じ方向で2回
目の蒸着を行った。モノマーガスの種類と、膜中含有歓
を変化させ、酸素分圧4×10−5〜8.6 X 10
−5(Torr )の範囲で最小入射角36度で0゜0
8μm のco−〇 膜(モノマーガス含有)を積層し
た上で、プラズマ重合嗅を同じモノマーガス単独で0.
04〜0.09 (Torr ) 、 13 、56
(MHz )0.5〜0.9 (KW)で100人形成
し、夫It 7 z 7ブリ7Z−25をo、6(q/
wl )塗布し、0.49qのバックコート層を配し1
/2インチのテープを得た。夫々のテープの条件とテー
プを1/2インチ放送用ビデオ(Ml!フォーマツ)A
V−860(検子電器製))を用い、評価した結果を第
3表にまとめて示した。
シワ状突起を配し、その上に直径1mの円筒キャンに沿
わせてC’oを最小入射角40度、酸素分圧8 X 1
0−5(Toτf)で電子ビーム蒸着し、0.1(μm
)のCo −01gを配し、巻き直して同じ方向で2回
目の蒸着を行った。モノマーガスの種類と、膜中含有歓
を変化させ、酸素分圧4×10−5〜8.6 X 10
−5(Torr )の範囲で最小入射角36度で0゜0
8μm のco−〇 膜(モノマーガス含有)を積層し
た上で、プラズマ重合嗅を同じモノマーガス単独で0.
04〜0.09 (Torr ) 、 13 、56
(MHz )0.5〜0.9 (KW)で100人形成
し、夫It 7 z 7ブリ7Z−25をo、6(q/
wl )塗布し、0.49qのバックコート層を配し1
/2インチのテープを得た。夫々のテープの条件とテー
プを1/2インチ放送用ビデオ(Ml!フォーマツ)A
V−860(検子電器製))を用い、評価した結果を第
3表にまとめて示した。
第
表
第3表より膜中にプラズマ重合膜形成の出発材料と同一
のモノマーガスを含むものは、スチル特性が安定するこ
とがわかる。材料により多少異なるが、1ooppmか
ら1200ppmの範囲で出力が1.0〜1.3(dB
)低下するがスチル特性はわずかに向上する。
のモノマーガスを含むものは、スチル特性が安定するこ
とがわかる。材料により多少異なるが、1ooppmか
ら1200ppmの範囲で出力が1.0〜1.3(dB
)低下するがスチル特性はわずかに向上する。
第3表に示し、た効果は、Co−Cr(Co80wt%
)垂直磁化膜を0.16μm 形成した場合、Co−V
(Co:80.5wt%)垂直磁化膜を0.2μ771
形成した場合、Co−Ni−0(Co:80wt%)模
を1回で斜め蒸着して得た0、2μm の膜についても
同程度あることが確認されている。
)垂直磁化膜を0.16μm 形成した場合、Co−V
(Co:80.5wt%)垂直磁化膜を0.2μ771
形成した場合、Co−Ni−0(Co:80wt%)模
を1回で斜め蒸着して得た0、2μm の膜についても
同程度あることが確認されている。
課題を解決するだめの別の手段は、強磁性金属薄膜上に
形成した保護膜が、強磁性金属薄膜上に含むガス成分を
放電重合して得た膜の上に硬質膜を積層するようにした
ものである。
形成した保護膜が、強磁性金属薄膜上に含むガス成分を
放電重合して得た膜の上に硬質膜を積層するようにした
ものである。
本発明の磁気記録媒体は、上記した構成により、強磁性
金属薄嗅と第1の保護膜の界面強度が大きいことと、そ
の上の保護膜の硬度が大きいことで、外部応力による破
壊を受けにくくなり、−層耐久性の向上がはかれるもの
である。
金属薄嗅と第1の保護膜の界面強度が大きいことと、そ
の上の保護膜の硬度が大きいことで、外部応力による破
壊を受けにくくなり、−層耐久性の向上がはかれるもの
である。
第2図は本発明の実施例の磁気記録媒体の拡大断面図で
、第1図と対応する部位は同じ番号を付しである。第2
図で、9は硬質膜でここでいう硬質膜はヌープ硬度で1
soo(#/d)以上、好ましは2000 Ckq/x
i )以上の膜で、スパッタリング法、CVD法、イオ
ンビームデボクシコン法等で得られる50人から200
人の範囲のカーボン。
、第1図と対応する部位は同じ番号を付しである。第2
図で、9は硬質膜でここでいう硬質膜はヌープ硬度で1
soo(#/d)以上、好ましは2000 Ckq/x
i )以上の膜で、スパッタリング法、CVD法、イオ
ンビームデボクシコン法等で得られる50人から200
人の範囲のカーボン。
5iOx(”=1.5〜1.9)、Si3N4.Al2
N、TiN、WC。
N、TiN、WC。
TiC,VC模等が適している。
以下、更に具体的な実施例について比較例との対比で説
明する。
明する。
厚み12μmのポリエチレンナフタレートフィルム上に
直径150人のEu2O3微粒子を8ケ/(μm)2配
し、その上にCo−0r(Coニア9.8wt%)をタ
ーゲットにして、直径6oα(温度110’C) の
円筒キャンに沿わせ、Ar分圧をa x 1o−3(T
ori)とし、モノマーガスをCo=Cr膜形成の終了
間際にノズルでガス導入できるよう構成し、かつその近
くに真空排気系を配し、モノマーガスが13.56(M
)h)o、4〜0.95(KW)の高周波電力で重合さ
れないようにして膜中にモノマーガスを含ませるように
し、0.2μmの垂直磁化膜を形成した。更にその上に
同じモノマーガスを用いて、13.58(M山’4.o
、6〜1.2(KW)でプラズマ重合膜を形成し、グラ
ファイトと、シリコンをターゲットにしてスパッタリン
グ法で硬質膜を形成し、その上にフォンプリンZ−26
を0.4(〜/nf )配しフィルムの反対面に0.6
μmのバックコート層を配し、1/2インチのテープに
加工し、MlフォーマットのAU−eeoで、相対出力
と、スチル特性を比較した。その結果とテープの条件を
第4表にまとめて示した。尚比較例は、膜中にモノマー
を含まないもので構成した。
直径150人のEu2O3微粒子を8ケ/(μm)2配
し、その上にCo−0r(Coニア9.8wt%)をタ
ーゲットにして、直径6oα(温度110’C) の
円筒キャンに沿わせ、Ar分圧をa x 1o−3(T
ori)とし、モノマーガスをCo=Cr膜形成の終了
間際にノズルでガス導入できるよう構成し、かつその近
くに真空排気系を配し、モノマーガスが13.56(M
)h)o、4〜0.95(KW)の高周波電力で重合さ
れないようにして膜中にモノマーガスを含ませるように
し、0.2μmの垂直磁化膜を形成した。更にその上に
同じモノマーガスを用いて、13.58(M山’4.o
、6〜1.2(KW)でプラズマ重合膜を形成し、グラ
ファイトと、シリコンをターゲットにしてスパッタリン
グ法で硬質膜を形成し、その上にフォンプリンZ−26
を0.4(〜/nf )配しフィルムの反対面に0.6
μmのバックコート層を配し、1/2インチのテープに
加工し、MlフォーマットのAU−eeoで、相対出力
と、スチル特性を比較した。その結果とテープの条件を
第4表にまとめて示した。尚比較例は、膜中にモノマー
を含まないもので構成した。
発明の効果
以上のように本発明によれば、強磁性金属薄膜と保護膜
の界面に於ける破壊強度が微視的均一性の向上により大
きくなり、耐久性の良好な高密度磁気記録媒体が得られ
るといったすぐれた効果がある。
の界面に於ける破壊強度が微視的均一性の向上により大
きくなり、耐久性の良好な高密度磁気記録媒体が得られ
るといったすぐれた効果がある。
第1図、第2図は本発明の実施例の磁気記録媒体の拡大
断面図で、第3図は開発中の磁気記録媒体の拡大断面図
である。 6・・・・・・強磁性金属薄膜、6・・・・・・ガス、
7・・・・・・保護膜、9・・・・・・硬質嘆。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名5−
51 匿 性 主 凰 1躇 6−ガス 一一一
断面図で、第3図は開発中の磁気記録媒体の拡大断面図
である。 6・・・・・・強磁性金属薄膜、6・・・・・・ガス、
7・・・・・・保護膜、9・・・・・・硬質嘆。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名5−
51 匿 性 主 凰 1躇 6−ガス 一一一
Claims (3)
- (1)強磁性金属薄膜上に形成した保護膜が、強磁性金
属薄膜中に含むガス成分を放電分解して得られたもので
あることを特徴とする磁気記録媒体。 - (2)強磁性金属薄膜上に形成した保護膜が、強磁性金
属薄膜中に含むガス成分を放電重合して得られたもので
あることを特徴とする磁気記録媒体。 - (3)強磁性金属薄膜上に形成した保護膜が、強磁性金
属薄膜中に含むガス成分を放電重合して得た膜の上に硬
質膜を積層したものであることを特徴とする磁気記録媒
体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10492689A JPH02282919A (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10492689A JPH02282919A (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02282919A true JPH02282919A (ja) | 1990-11-20 |
Family
ID=14393706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10492689A Pending JPH02282919A (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02282919A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112102852A (zh) * | 2019-06-17 | 2020-12-18 | 昭和电工株式会社 | 磁记录介质的制造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63275040A (ja) * | 1987-05-07 | 1988-11-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
-
1989
- 1989-04-25 JP JP10492689A patent/JPH02282919A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63275040A (ja) * | 1987-05-07 | 1988-11-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112102852A (zh) * | 2019-06-17 | 2020-12-18 | 昭和电工株式会社 | 磁记录介质的制造方法 |
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