JPH0294061A - 情報再生装置および情報記録再生装置 - Google Patents

情報再生装置および情報記録再生装置

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JPH0294061A
JPH0294061A JP63244320A JP24432088A JPH0294061A JP H0294061 A JPH0294061 A JP H0294061A JP 63244320 A JP63244320 A JP 63244320A JP 24432088 A JP24432088 A JP 24432088A JP H0294061 A JPH0294061 A JP H0294061A
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    • G11B19/00Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
    • G11B19/02Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
    • G11B19/04Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045Recording

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  • Optical Head (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、たとえば光ディスクに対して情報の記録、再
生を行なう光デイスク装置等の光出力制御装置および情
報再生装置に関する。
(従来の技術) 従来、たとえは追記型あるいは消去可能型の光ディスク
などの光記録媒体に、光学的に情報を記録あるいは再生
する光デイスク装置等の情報記録再生装置においては、
光源としての半導体レサ(光出力手段)からの比較的小
さい光出力で光デイスク上の情報を読取る一方、比較的
大きい一定値以上の光出力で光ディスク−Lに情報を記
録するようになっている。したかって、上記一定値以」
ユの光出力が発生された場合、それか記録を意図したも
のでなくても光ディスクに不定な情報を書込んでしまい
、結果的に、既に記録されている情報を破壊することに
なる。
」1記したような光ディスクに既に記録されている情報
の破壊を防止するために、2重記録防止回路を備えるも
の(特開昭54−1.47006 )、記録済みフラグ
を書き込んで2重書き(破壊)を防止するようにしたも
の等が考えられており、さらに物理的な破壊の防止とい
う観点から、光学ヘッドが光ディスクに衝突するのを防
止するようにしたものも考えられている。
しかしながら、このような従来の光デイスク装置の情報
破壊防止策は、半導体レーザの発光を制御する光出力制
御回路自体には故障はないという前提の下に施されてお
り、光出力制御回路自体の故障によって光ディスクにの
情報か破壊される場合については特に考慮されていない
つまり、光出力制御回路の故障で半導体レーザが異常発
光したような場合には、たとえ上記のような情報破壊防
止策か施されていても光ディスクに記録されている情報
を破壊する恐れがあり、がかる異常発光を放置すると破
壊が拡大されるという問題点があった。
(発明か解決しようとする課題) 本発明は、上記したように先出力制御回路に故障かある
と、光記録媒体に記録されている情報を破壊する恐れか
あり、これを放置すると破壊が拡大されるという問題点
を解決するためになされたちので、光記録媒体に記録さ
れている情報を破壊することのない光出力制御装置およ
び情報再生装置を提供することを目的とする。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) 本発明の光出力制御装置は、上記目的を達成するために
、光ビームを放射する光出力手段と、この光出力手段か
ら放射される光ビームの光出力を制御する第1の制御手
段と、この第1の制御手段の動作状態を検知する検知手
段と、前記第1の制御手段の制御により前記光出力手段
からの光ビームの放射されている状態において、前記検
知手段により前記第1の制御手段の故障が検知された際
、前記第1の制御手段の動作を停止させる第2の制御手
段とを具備したことを特徴とする。
また、同様の目的で、光ビームを放射する光出力手段と
、この光出力手段から放射される光ビムの光出力を制御
する第1の制御手段と、この第1の制御手段の動作状態
を検知する検知手段と、前記第1の制御手段の制御によ
り前記光出力手段からの光ビームの放射されている状態
において、前記検知手段により前記第1の制御手段の故
障が検知された際、前記第1の制御手段の動作を停止さ
せる第2の制御手段と、前記検知手段により検知された
前記第1の制御手段の故障状態を記憶する記憶手段とを
具備したものである。
さらに、本発明の情報再生装置は、上記と同様の同様の
目的で、情報が記録されている光記録媒体から情報を再
生する情報再生装置において、光ビームを放射する光出
力手段と、この光出力手段から放射された光ビームを前
記光記録媒体に照射する照射手段と、前記光出力手段か
ら放射される光ビームの光出力を制御する第1の制御手
段と、前記光出力手段から放射される光ビームの光出力
を検出する検出手段と、この検出手段により、前記光記
録媒体に記録されている情報が破壊される可能性のある
程度の光出力を有した光ビームが前記光出力手段から放
射されたことが検出された際、前記第1の制御手段の動
作状態を検知し、かつこの第1の制御手段の動作を停止
させる第2の制御手段とを具備したものである。
(作用) 本発明は、光出力制御装置が光ビームを放射している状
態において、検知手段によりる第1の制御手段の複数の
故障を検知し、この検知結果基づいて光出力手段の発光
出力を停止するようにしたものである。これにより、光
出力手段の異常発光出力を抑止し、光記録媒体に記録さ
れている情報の破壊を防止できるものとなっている。
また、上記検知手段により検知された複数の故障要因は
各要因毎に記憶手段に記憶しておき、後に行なう異常状
態の報知等に供することができるようになっている。
さらに、情報再生装置が停止あるいは再生動作を行なっ
ている状態において、これら各状態における光記録媒体
の内容の破壊につながる第1の制御手段の複数の故障を
検知し、この検知結果基づいて光出力手段の発光出力を
停止するようにしたものである。これにより、光出力手
段の異常発光出力を抑止し、光記録媒体に記録されてい
る情報の破壊を防止できるものとなっている。
(実施例) 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第4図は本発明の情報記録再生装置たとえば光デイスク
装置の概略構成を示すものである。すなわち、光ディス
ク(光記録媒体)1は、例えばガラスあるいはプラスチ
ックス等で円形に形成された基板の表面に、テルルある
いはビスマス等の金属被膜層がドーナツ形にコーティン
グされて成るものである。
上記光ディスク1は、スピンドルモータ2によって回転
されるようになっている。このスピンドルモータ2はモ
ータ制御回路3により駆動制御されるもので、制御回路
4からの回転指令信号S1に応じて回転の始動、停止等
が制御されるようになっている。
」二足制御回路4は、マイクロコンピュータ等により構
成され、−]二2スピンドルモータ2の回転制御の他、
装置全体の制御を司るものである。
」2記光ディスク1の下方部には、光学ヘッド(照射手
段)5か配設されている。この光学ヘッド5は光ディス
ク1に対して情報の記録あるいは再生を行なうもので、
半導体レーザ発振器6、コリメータレンズ7、ビームス
プリッタ8、対物レンズ9、集光レンズ]0、光検出器
11、およびフォトタイオード12等により構成されて
いる。
半導体レーザ発振器(光出力手段)6は光出力制御回路
15からのドライブ信号S2に従って発散性のレーザ光
を発生するもので、情報を光ディスク1の記録膜に書込
む記録の際は、書込むべき情報に応してその光強度か変
調された強いレーザ光を発生し、情報を光ディスク1の
記録膜から読出す再生の際は、一定の光強度を有する弱
いレザ光を発生するようになっている。
上記半導体レーザ発振器6から発生された発散性のレー
ザ光は、コリメータレンズ7によって平行光束に変換さ
れてビームスプリッタ8に導かれる。このビームスプリ
ッタ8に導かれたレーザ光は、ビームスプリッタ8で反
射されて対物レンズ9に入射され、この対物レンズ9に
よって光ディスク1の記録膜に向けて集束される。
−1−記対物レンズ9は、その光軸方向および光軸と直
交する方向にそれぞれ移動可能に支持されており、対物
レンズ9が所定位置に位置されることにより、この対物
レンズ9を通った集束性のレザ光か光ディスク1の記録
膜の表面上に投射され、最小ビームスポットが光ディス
ク1の記録膜の表面上に形成される。この状態において
、対物レンズ9は合焦状態および合トラック状態に保た
れ、情報の書込みおよび読出しか可能となる。
また、光ディスク1の記録膜から反射された発散性のレ
ーザ光は、合焦時には対物レンズ9によって平行光束に
変換され、再びビームスプリッタ8に戻される。そして
、ビームスプリッタ8を透過して集光レンズ10によっ
て光検出器11上に結像される。
光検出器11は、集光レンス10によって結像された光
を電気信号に変換する光検出セルによって構成されてい
る。この光検出器11で光電変換された電気信号はil
T生信号として信号処理回路13に送出される。
また、上記半導体レーザ発振器6の記録あるいは再生用
レーザ光の発光口と反対の側には、光電変換素子として
のフォトダイオード12か設けられている。このフォト
ダイオード12は、上記半導体レーザ発振器6からのモ
ニタ光か照射されることにより、そのモニタ光を電気信
号に変換し、半導体レーザ発振器6の光出力モニタ信号
S3として光出力制御回路15に供給するようになって
いる。
上記した光学ヘッド5は、例えばリニアモータ等によっ
て構成される移動機構(図示しない)により光ディスク
1の半径方向に移動可能になっており、この移動機構に
より記録あるいは再生の対象となる目標トラックへ移動
するようになっている。
上記信号処理回路13は、光検出器11により光電変換
された再生信号の増幅、2値化等の処理を行なうもので
ある。この信号処理回路13で2値化された再生信号は
ヘッダ分離読取回路14に供給されるようになっている
。ヘッダ分離読取回路14は、光ディスク1から読取っ
て2値化された再生信号中からヘッダ部の情報とデータ
部の情報とを分離し、制御回路4へ送出するものである
上記光出力制御回路(第1の制御手段)15は、半導体
レーザ発振器6が出力する光出力モニタ信号S3を入力
してフィードバック制御を行なうことにより半導体レー
ザ発振器6の光出力を一定値に保つように制御するもの
であり、詳細は後述する。
故障検知回路(検知手段)16は、上記光出力制御回路
15の種々の故障を検知するもので、検知結果は、リレ
ー回路17に供給されるとともに、」1記制御回路4に
供給されるようになっている。
この故障検知回路]6についても詳細は後述する。
リレー回路(第2の制御手段)17は、図示しない電源
装置から供給される電圧源E。のうち、他の回路から独
立して、半導体レーザ発振器6、フォトダイオード12
、および光出力制御回路15のみに供給される電圧源E
を遮断するもので、上記故障検知回路16からの故障検
知信号S4に基づいて開閉制御されるようになっている
次に、上記光出力制御回路15および故障検知回路16
の詳細について、第1図を参照しながら説明する。
まず、光出力制御回路15は次のように構成される。す
なわち、電流電圧変換回路20は、上記フォトダイオー
ド12で光電変換され、電流信号として取出された光出
力モニタ信号S3を入力し、フォトダイオード12の光
強度、つまり半導体レーザ発振器6の光出力に応じた電
圧信号VeOに変換するものである。この電流電圧変換
回路20か出力する電圧信号VeOは誤差増幅器21に
供給されるようになっている。誤差増幅器21は、上記
電圧信号veoを一方の入力とし、図示しない定電圧源
により発生される基準電圧Vsを他方の入力として、こ
れら両電圧VeOおよびVsを比較し、その差分を増幅
して誤差信号S5として出力するものである。この誤差
信号S5は切換回路22に供給されるようになっている
。なお、上記基準電圧Vsは、再生に必要な光出力を得
るための一定電圧であり、後述するように、電圧信号V
e(1を基準電圧Vsに近付けるべくフィードバック制
御を行なうことにより半導体レーザ6から一定の光出力
が得られるようになっている。
−■−記切換回路22は、記録あるいは再生等の動作モ
ードに応じて制御ループの開閉を制御するもので、第2
図に詳図するように構成されている。
すなわち、上記誤差増幅器2]が出力する誤差信号S5
は抵抗R7を介してスイッチ25の一端側に接続され、
このスイッチ25の他端側は抵抗R8を介して演算増幅
器27の非反転入力端子に接続されている。このスイッ
チ25は制御回路4か出力する制御ループ開閉信号S 
]、 0により開閉が制御されるようになっている。ま
た、上記スイッチ25の他端側(抵抗R8の一端側)は
スイッチ26を介して接地されており、このスイッチ2
6は制御回路4か出力する再生光出力制御信号Sllに
より開閉か制御されるようになっている。
また、上記抵抗R8の他端側、つまり、演算増幅器27
の非反転入力端子はドライブ電圧保持コンデンサ28を
介して接地されている。さらに、上記演算増幅器27は
バッファとして作用するもので、その出力信号S6はト
ランジスタ23のベスに供給されるようになっている。
トランジスタ23は、再生光として弱光度の一定値のレ
ーザ光を発生するために、そのベースに供給される信号
S6に応して半導体レーザ発振器8を駆動するものであ
る。このトランジスタ23のエミッタは抵抗R]を介し
て接地されている。
トランジスタ24は、記録光として記録データに応じた
強光度のレーザ光を発生するために、そのベースに供給
される記録信号S7に応じて半導体レーサ発振器6を駆
動するものである。このトランジスタ24のエミッタは
抵抗R2を介して接地されている。
次に、」2記のように構成される光出力制御回路15の
動作について説明する。まず、制御回路4から出力され
る制御ループ開閉信号SIOは、光ディスク1に記録さ
れている情報を再生する時にのみ高レベル(以下、「H
レベル」という。)に、これ以外のスタンバイ時あるい
は情報の記録時は低レベル(以下、「Lレベル」という
。)になるように制御される。この制御ループ開閉信号
SIOがHレベルにされることによりスイッチ25がオ
ンにされて制御ループが閉じられる。
方、再生光出力制御信号Sllは、スタンバイ時はLレ
ベルに、情報の再生時および記録時はHレベルになるよ
うに制御される。上記スイッチ26は再生光出力制御信
号SllがLレベルにあるときにオンにされ、Hレベル
にあるときにオフにされる。
すなわち、スタンバイ時は、制御ループ開閉信号SIO
および再生光出力制御信号Sllは共にLレベルにあり
、したがって、スイッチ25はオフ、スイッチ26はオ
ンにされている。これによりei算増幅器27の非反転
入力端子は接地された状態となり、その出力信号S6は
0ボルトとなる。
したがって、トランジスタ23はオフとなり、半導体レ
ーザ発振器6からレーザ光は発生されない。
この際、もちろん、記録信号S7は供給されておらず、
したかって、トランジスタ24もオフの状態にある。
再生時は、制御ループ開閉信号SIOおよび再生光出力
制御信号S ]、 1は、制御回路4により共にHレベ
ルにされ、したがって、スイッチ25はオン、スイッチ
26はオフにされる。これにより切換回路]5は、入力
された誤差信号S5に応じた信号S6を出力し、制御ル
ープが閉じられた状態になる。すなわち、誤差増幅器2
1から出力された誤差信号S5か切換回路22を経由し
てトランジスタ23のベースに供給されることによりト
ランジスタ23のコレクタにドライブ信号S2が流れ、
これにより半導体レーザ発振器6が発光する。この半導
体レーザ発振器6の光出力はフォトダイオード12で光
電変換されて光出力モニタ信号S3として電流電圧変換
回路20に供給される。
電流電圧変換回路20では、上記光出力モニタ信号S3
を電圧信号■eoに変換し、誤差増幅器21に供給する
。誤差増幅器21ては、予め設定されている基準電圧V
sと」2記電圧信号Ve、)とを比較し、その誤差分を
誤差信号S5として出力する。この誤差信号S5は、上
記電圧信号Ve。
が基準信号Vsより大きければ半導体レーザ発振器6の
光出力を小さくし、上記電圧信号VeOが基準信号Vs
より小さければ半導体レーサ発振器6の光出力を大きく
する信号であり、かかるフィトバック制御により上記基
準電圧Vsと電圧信号VeOとが等しくなるように作用
し、これにより半導体レーサ発振器6の光出力が一定に
保たれるようになっている。
記録時は、制御ループ開閉信号SIOはLレベル、再生
光出力制御信号S1]はHレベルにされ、したがって、
スイッチ25および26は共にオフにされる。この状態
では、ドライフ電圧保持コンデンザ28には再生時に演
算増幅器27の非反転入力端子に供給していた電圧か保
持されており、記録に先たって行なうヘッダ情報の再生
時は、この保持された電圧によりトランジスタ23を駆
動し、再生光を得るようになっている。かかる状態で記
録すべき情報に応した記録信号S7をトランジスタ24
のヘ−スに供給することによりこのトランジスタ24の
コレクタ(こドライブ(言号S2を流し2、これにより
崖導体レーザ6を発光させて光ディスク1に情報を記録
する。
次に、故障検知回路16は以下のように構成される。ま
ず、光出力制御回路15内部のモニタする箇所は、電流
電圧変換回路20の出力端子、トランジスタ23のエミ
ッタ端子、およびトランジスタ24のエミッタ端子であ
る。電流電圧変換回路20の出力端子に現われる電圧信
号VeOは、1 つ その出力抵抗より十分大きな値の抵抗R3を介して電圧
信号Veとして取出されるようになっている。また、ト
ランジスタ2Bのエミッタ端子に現われる電圧信号は、
そのエミッタ抵抗R1より十分大きな値の抵抗R4を介
して電圧信号Vfとして取出され、トランジスタ24の
エミッタ端子に現われる電圧信号は、そのエミッタ抵抗
R2より十分大きな値の抵抗R5を介して電圧信号Vg
として取出されるようになっている。また、上記抵抗R
3、R4、およびR5は、それぞれ電流電圧変換回路2
0の出力端子、トランジスタ23のエミッタ端子、およ
びトランジスタ24のエミッタ端子の近傍に配設される
ようになっている。このように、光出力制御回路15の
所定箇所から信号を取出すに際し、信号源の近傍に設け
た十分大きな抵抗を介在させることにより、故障検知回
路16を(=1加したことに伴う光出力制御回路15へ
の影響を最少限に抑え、光出力制御回路15の信頼性の
低下を防止できるようになっている。
−1−記抵抗R3を介して取出された電圧伝号Veは、
比較器30および32の非反転入力(+端子)に供給さ
れるとともに、比較器31の反転入力端子(一端子)に
供給されるようになっている。
」―記比較器30の反転入力端子には、図示しない定電
圧源から供給される再生光下限電圧Vaか入力されるよ
うになっている。そして、電圧信号Veが再生光下限電
圧Vaより小さい時はLレベルの信号か、電圧信号Ve
が再生光下限電圧Vaより大きい時はHレベルの信号が
出力されるようになっている。
I−記比較器31の非反転入力端子には、図示しない定
電圧源から供給される再生光上限電圧vbが入力される
ようになっている。そして、電圧信号Veが再生光上限
電圧vbより大きい時はLレベルの信号か、信号Veが
再生光上限電圧vbより小さい時はHレベルの信号が出
力されるようになっている。
また、上記比較器32の反転入力端子には、図示しない
定電圧源から供給される記録光」2限電圧Vcか人力さ
れるようになっている。そして、電圧信号Veか記録光
上限電圧Vcより小さい時はLレベルの信号か、電圧信
号Veが記録光上限電圧Vcより大きい時はHレベルの
信号か出力されるようになっている。
上記比較Z 30の出力は、ANDゲート35の一方の
入力に供給されるようになっており、このANDゲート
35の他方の入力には、再生光出力制御信号Sllをイ
ンバータ36で反転した信号か人力されるようになって
いる。そして、ANDゲート35で論理積がとられた信
号S30はNORゲート37とラッチ38に供給される
ようになっている。
また、ANDゲート3つの一方の入力には再生光出力制
御信号Sllが、他方の入力には上記比較器30および
3]の出力信号をNANDゲート40で論理積をとって
反転した信号が入力されるようになっている。そして、
このANDゲート39て論理積がとられた信号531は
NORゲト37とラッチ38に供給されるようになって
いる。
また、ANDケート4]の一方の入力には上記比較器3
2の出力信号か、他方の入力には制御回路4から供給さ
れる記録制御信号31.2が入力されるようになってい
る。そして、このANDゲト32で論理積かとられた出
力信号S32はNORゲ−1・37とラッチ38(こ倶
家合されるようになっている。
さらに、ANDゲート42の一方の入力には上記比較器
30の出力信号か、他方の入力には、制御回路4から供
給される回転指令信号S1か入力されるようになってい
る。そして、ANDゲート42で論理積かとられた信号
833はNORケト37とラッチ38に供給されるよう
になっている。なお、上記回転指令信号S1は、スピン
ドルモータ2の回転を指示しているときにLレベル、停
止I−を指示しているときにHレベルとして出力される
ものである。
比較器33および34の反転入力端子には、図示しない
定電圧源から供給される比較電圧Vclか入力されるよ
うになっている。この比較電圧VdB は、トランジスタ23および24のエミッタ電流の有無
を検知するための比較的低い電圧である。
上記比較器33の非反転入力端子には、トランジスタ2
3のエミッタから取出した電圧か抵抗R4を介してエミ
ッタ電圧信号Vfとして入力されるようになっている。
この比較器33の出力はANDゲート43の一方の入力
に供給され、このANDゲート43の他方の入力には上
記比較器30の出力か供給されるようになっている。そ
して、ANDゲート4Bで論理積がとられた出力信号S
34はNORゲート37とラッチ38に供給されるよう
になっている。
また、比較器34の非反転入力端子には、トランジスタ
24のエミッタから取出した電圧か抵抗R5を介してエ
ミッタ電圧信号Vgとして人力されるようになっている
。そして、比較器34の出力はANDゲート44の一方
の入力に供給されるようになっており、このANDケ−
1・44の他方の入力には記録制御信号S12をインバ
ータ45で反転した信号か入力されるようになっている
そして、ANDケート44て論理積がとられた信号S3
5はNORゲート37およびラッチ38に供給されるよ
うになっている。
上記ANDゲーI・35.39.41.42.43.4
4の出力信号530−835、および制御回路4から直
接出力される信号836(詳細は後述)は、NORゲー
ト37で論理和かとられるとともに反転されて、エラー
信号S40として遅延素子45およびORゲート46の
一方の入力に供給されるようになっている。遅延素子4
5は、人力したエラー信号S40を一定時間Tdだけ遅
らせて出力するもので、この遅延された信号S41は上
記ORゲート46の他方の入力およびラッチ38に供給
されるようになっている。そして、ORゲート46で論
理和かとられた信号は抵抗R9を介してトランジスタ4
7のヘースに供給されるようになっている。トランジス
タ47は上記ORゲート46からの信号によりオン・オ
フが制御され、そのコレクタに流れる故障検知信号S4
によりリレー回路17の接点を接続または開放するよう
になっている。
上記一定時間Tdは、光デイスク1上に記録された情報
の破壊を許容できる時間であり、さらに詳しくは、情報
記録再生装置に備えられたエラ訂正回路によるバースト
エラーを訂正できる限界の時間である。すなわち、万一
、光デジスフ1上の情報か破壊された場合であっても、
エラー訂正回路により訂正が行われて正しい情報を得る
ことのできる量に相当する時間を限界値とし、それ以内
の時間で決定されるようになっている。
ラッチ(記憶手段)38は、上記遅延素子45が発生ず
る信号S41をラッチタイミング信号として、」−記A
NDゲート35.39.41.42.43.44の各出
力信号830〜S35をラッチするものである。このラ
ッチ38の出力は制御回路4に送出され、故障原因の解
析、表示等に使用される。
次に、上記のように構成される故障検知回路16の動作
について、第3図のタイミングチャドを参照しながら説
明する。
この装置の動作状態は大きく3種類に別けられ、制御回
路4が出力する制御ループ開閉信号5IO1再生光出力
制御信号Sll、および記録制御信号S12によりそれ
ぞれ規定される。すなわち、第3図に示すように、第1
の状態Aは、スタンバイ時などの再生光および記録光出
力かオフにされている期間で、制御ループ開閉信号5I
O1再生光出力制御信号S11、記録制御信号S12が
全てL1ノベルの状態である。第2の状態Bは、再生時
で再生光出力がオン、記録光出力がオフにされ、信号再
生に必要な小さい光出力を発生する期間で、制御ループ
開閉信号S10および再生光出力制御信号SllはHレ
ベル、記録制御信号S12はLレベルの状態にある。第
3の状態Cは、記録時で再生光出力がオン、記録光出力
かオンにされ、記録に必要な大きい光出力を発光する期
間で、制御ループ開閉信号SIOはLレベル、再生光出
力制御信号SllはHレベル、記録制御信号S12はH
レベルの状態にある。以下、これら各状態における故障
検知動作について説明する。
まず、再生光出力オフの状態であるにも拘らず発光出力
が検知されるというモードの故障検知について説明する
。第3図中のA1期間は半導体レーサ発振器6か駆動さ
れていない状態であり、したがって、フォトダイオード
12からの光電変換出力もなく、電圧信号Veは0ボル
トに保たれているのが正常状態である。しかしながら、
同図(d)に示すように、光出力制御回路15の何らか
の故障によりA2期間の時刻t1において再生光下限電
圧Vaよりも高い電圧信号Veが発生されたとすると、
比較器30の出力端子にはHレベル信号が現われ、AN
Dゲート35の一方の入力に供給される。この際、AN
Dゲート35の他方の入力端子には再生光出力制御信号
Sllがインバータ36で反転され、Hレベルの信号と
して入力されている。したがって、ANDゲート35の
出力には、第3図(e)に示すように、時刻t1で立上
がる信号S30が出力され、この信号S30がNORゲ
ート37を経由することにより反転されてエラー信号S
40としてORゲート46および遅延素子38に供給さ
れる。そして、一定時間Tdの間に信号S30がLレベ
ルに戻らなけれはORゲート46の出力にはLレベルの
信号が出力され、抵抗R9を介してトランジスタ47の
ベースに供給される。これによりトランジスタ47のコ
レクタに流れる故障検知信号s4が遮断されてリレー回
路17の接点が開放され、半導体レーザ発振器6、フォ
トダイオード12、および光出力制御回路15に供給さ
れる電圧源Eが遮断される。これにより、半導体レーザ
6の発光出力は停止し、故障による発光で光デイスク1
上の情報が破壊されるのを防止できる。一方、ANDゲ
ート35の出力信号S30は、故障要因として上記遅延
素子45から出力される信号S41の立下がりのタイミ
ングでラッチ38にラッチされる。このラッチ38から
の信号は制御回路4に供給されるようになっており、制
御回路4で解析され、異常ランプの点灯、ブザーの鳴動
、あるいはメソセージの表示等の異常報知に使用される
2 つ 次に、再生光出力オンの状態で光出力が一定範囲外の大
きさとなるモードの故障の検知について説明する。第3
図中のB1期間は、フォトダイオード12からの電圧信
号Veが、再生光下限電圧Vaと再生光上限電圧vbと
の間にあり、正常に運転されている状態を示す。かかる
正常状態で、第3図(d)の82期間に示すように、光
出力制御回路15の何らかの故障により時刻t5におい
て再生光下限電圧Vaよりも低い電圧信号Veが発生さ
れたとすると、比較器30の出力端子にはLレベル信号
か現われ、NANDゲート40の一方の入力に供給され
ることによりその出力はHレベルとなり、これがAND
ゲート3つの一方の入力に供給される。この際、AND
ゲート39の他方の入力端子には再生光出力制御信号S
llがHレベルの信号として入力されている。
したがって、ANDゲート39の出力には、第3図(e
)に示すように、時刻t5で立上がる信号S31が出力
され、この信号S31がNORORゲート8由すること
により反転されてエラ信号S40としてORゲート46
および遅延素子38に供給される。以下」2記と同様の
動作にて、リレー回路]7の接点が開放されて電圧源E
が遮断される。ここで、」2記電圧信号Veが0ボルト
であるにも拘らず電圧源Eの供給を停止するようにした
のは、制御ループ開閉伝号SIOおよび再生光出力制御
信号Sllか共にHレベルで再生光出力か指令されてい
るにも拘らず電圧信号Veか0ボルトであると、誤差増
幅器2]は基準電圧Vsに対して最大ドライブを行なう
ように作用し、半導体レーザ発振器6が過大発光を生じ
る恐れがあるからである。これにより、フォトダイオー
ド12から電流電圧変換回路20に至る系の万一の故障
をも検知し、故障による異常発光で光デイスク1上の情
報が破壊されるのを防止できる。また、故障要因も上記
と同様の動作にてラッチ38にラッチされ、後に行なう
故障解析に供されるようになっている。
一方、第3図(d)の83期間に示すように、光出力制
御回路15の何らかの故障により時刻t6において再生
光上限電圧vbよりも高い電圧信号Veが発生されたと
すると、比較器31の出力端子にはHレベル信号が現わ
れ、NANDゲ)40の他方の入力に供給されることに
よりその出力にHレベルの信号を出力し、ANDゲート
39の一方の入力に供給される。この際、ANDケート
39の他方の入力端子には再生光出力制御信号Sllが
Hレベルの信号として入力されている。したがって、A
NDゲート39の出力には、第3図(e)に示すように
、時刻t6で立上がる信号531が出力され、この信号
S31がNORゲート37を経由することにより反転さ
れてエラー信号S40としてORゲート46および遅延
素子38に供給される。以下上記と同様の動作にて、リ
レー回路17の接点が開放されて電圧源Eが遮断される
。これにより、光出力は停止し、故障による異常発光で
光ディスク1」二の情報が破壊されるのを防止できる。
また、故障要因も上記と同様の動作にてラッチ38にラ
ッチされ、後に行なう故障解析に供されるようになって
いる。
次に、記録光出力オンの状態で光出力が一定値以」−の
大きさとなるモードの故障の検知について説明する。第
3図中の01期間は、フォトダイオード12からの電圧
信号Veが、再生光上限電圧vbと記録光1−限電圧v
bとの間にあり、正常に記録動作が行われている状態を
示す。かかる性能状態で、第3図(d)の82期間に示
すように、光出力制御回路15の何らかの故障により時
刻t8において記録光上限電圧Vcよりも高い電圧信号
Veが発生されたとすると、比較器32の出力端子には
Hレベル信号が現われ、ANDゲート41の一方の入力
に供給される。この際、ANDゲート41の他方の入力
端子には記録制御信号S12がHレベルの信号として入
力されている。
したがって、ANDゲート41の出力には、第3図(e
)に示すように、時刻t8で立上がる信号S32が出力
され、この信号S32かNORゲート37を経由するこ
とにより反転されてエラー信号S40として○Rゲート
46および遅延素子38に供給される。以下」2記と同
様の動作にて、リレー回路17の接点が開放されて電圧
源Eが遮断される。これにより、光出力は停止し、故障
による異常発光で光デイスク1上の情報が破壊されるの
を防止できる。また、故障要因も上記と同様の動作にて
ラッチ38にラッチされ、後に行なう故障解析に供され
るようになっている。
次に、スピンドルモータ2の回転停止中に光出力が一定
値以上になるというモードの故障の検知について説明す
る。一般に、光ディスクが回転していないか、あるいは
所定回転数に達していない場合にレーザ光を照射すると
、照射されるエネルギーが規定値以上の値となり記録さ
れている情報が破壊されるようになっている。このため
、スピンドルモータ2が回転していないか、あるいは所
定回転数に達していない場合は、回転指定信号S1がH
レベルにされ、半導体レーザ発振器6の光出力は停止さ
れている。したがって、かかる状態で発光出力に基づく
電圧信号Veか存在するのは光出力制御回路15の故障
によるものであると判断する。すなわち、光出力制御回
路15のなんらかの故障により再生光下限電圧Vaより
高い電圧信号Veが発生されたとすると、比較器30の
出力端子にはHレベル信号が現われ、ANDゲート42
の一方の人力に供給される。この際、ANDNOゲート
37方の入力端子にはスピンドルモータ2の回転指令信
号S1かHレベルの信号として人力されている。したか
って、ANDゲト42の出力にはHレベルの信号S3B
か出力され、この信号S33かNORゲート37を経由
することにより反転されてエラー信号S40としてOR
ゲート46および遅延素子38に供給される。
以下」2記と同様の動作にて、リレー回路17の接点が
開放されて電圧源Eが遮断される。これにより、光出力
は停止し、故障による異常発光で光ディスク1」二の情
報が破壊されるを防止できる。また、故障要因も上記と
同様の動作にてラッチ38にラッチされ、後に行なう故
障解析に供されるようになっている。
次に、再生光出力オフの状態であり、かつ上記電流電圧
変換回路20からの電圧信号Veか0ボルトであるにも
拘らず、光デイスク1上の情報を破壊するようなモード
の故障の検知について説明する。つまり、上記した生成
光出力オフの状態であるにも拘らず発光出力が検知され
るというモトの故障の検知回路は、電圧信号Veを生成
する系に故障かある場合は電圧信号Veとして常に0ポ
ル]・か得られる場合も考えられ、十分とはいい難い。
このような場合は次のように動作する。すなわち、第3
図中のA3期間は半導体レーサ発振器6が駆動されてい
ない状態であり、トランジスタ23はオフになっており
、エミッタ電圧信号Vfは0ボルトに保たれているのか
正常状態である。かかる状態で、同図(d)のA2期間
に示すように、光出力制御回路15の何らかの故障によ
り時刻t2において比較電圧Vdよりも高い電圧信号V
fか発生されたとすると、比較器33の出力端子にはH
レベル信号が現われ、ANDゲート43の一方の入力に
供給される。この際、ANDゲート43の他方の入力端
子には再生光出力制御信号Sllかインバータ36で反
転され、Hレベルの信号として入力されている。したが
って、ANDゲート43の出力には、第3図(e)に示
すように、時刻t2で立上かる信号S34が出力され、
この信号S34かNORゲート37を経由することによ
り反転されてエラー信号S40としてORケ−1・46
および遅延素子38に供給される。以下−1ユ記と同様
の動作にて、リレー回路17の接点か開放されて電圧源
Eが遮断される。これにより、光出力は停止し、故障に
よる異常発光で光ディスク1−1−の情報か破壊される
のを防止できる。このように、異常検知を二重に行なっ
ているので、より確実にディスク1上の情報が破壊され
るのを防Iしてきるものとなっている。また、故障要因
も−lx記と同様の動作にてラッチ38にラッチされ、
後に行なう故障解析に供されるようになっている。
同様に、第3図中のA、1期間も半導体レーサ発振器6
か駆動されていない状態であり、したがって、トランジ
スタ24はオフにされており、エミッタ電圧信号Vgは
Oボルトに保たれているのか正常状態である。かかる状
態で、同図(d)のA4期間に示すように、光出力制御
回路15の何らかの故障により時刻t3において比較電
圧Vdよりも高い電圧信号Vgか発生されたとすると、
比較器34の出力端子にはHレベル信号か現われ、AN
Dゲート44の一方の入力に供給される。この際、AN
Dゲート43の他方の入力端子には記録制御信号31.
2がインバータ45で反転され、Hレベルの信号として
入力されている。したがって、ANDゲート44の出力
には、第3図(e)に示すように、時刻t3で立上かる
信号S35が出力され、この信号S35かNORゲート
37を経由することにより反転されてエラー信号S40
としてORゲートおよび遅延素子38に供給される。以
下」2記と同様の動作にて、リレー回路]7の接点が開
放されて電圧源Eが遮断される。これにより、光出力は
停止し、故障による異常発光で光デイスク1上の情報か
破壊されるのを防止できるものとなっている。また、故
障要因も」2記と同様の動作にてラッチ38にラッチさ
れ、後に行なう故障解1iに供されるようになっている
次に、記録時のヘッダアドレスの連続性か喪失した場合
の故障検知について第5図を参照しなから説明する。す
なわち、記録動作を行なう場合は、まず、制御回路4に
含まれるマイクロコンピュタに、記録を行なう光ディス
ク1」二の位置情報(ヘッダアドレス情報)か与えられ
る。これにより、光学ヘッド5が目標位置へ移動し、ト
ラッキングおよびフオーカッシングが行われる。また、
−1−1記動作と・19行して、制御回路4内部に設け
られたカウンタ(図示しない)に、初期値として目標位
置のブロック番号iがセットされる(ステップS])。
次に、トランキングおよびフォー力ッシングか完了して
合焦点、合トラック状態になり、光ディスク1へのアク
セスか可能になると、ヘッダアドレス情報か読出される
(ステップS2)。
そして、このヘッダアドレス情報に含まれるブロック番
号か上記カウンタの内容1と一致するか否かが調べられ
る(ステップS3)。そして、一致する場合はステップ
S4へ進んてカウンタの内容をインクリメントし、与え
られた情報に応じた記録信号S7を光出力制御回路15
に送出することにより、その情報に応じたレーザ光を発
生し、記録を行なう(ステップS5)。次いで指定され
た全ての記録が完了したか否かが調べられ(ステップS
6)、完了していなければステップS2へ戻り、再度上
記動作を繰返す。
一方、」−記ステップS3においてカウンタの内容iと
ブロック番号とが一致しなければ、例えばトラック外れ
等によりヘッダアドレスの連続性が失われたと判定し、
Hレベルのレーザオフ信号S36を出力し、処理を終了
する。この信号S36は、第1図に示すように、NOR
ゲート37を経由することにより反転されてエラー信号
S40としてORケ−1・46および遅延素子38に供
給される。以下上記と同様の動作にて、リレー回路17
の接点が開放されて電圧源Eが遮断される。これにより
、光出力は停止し、トラック外れに伴う光デイスク1上
の情報の破壊を防止できるものとなっている。
以上説明したように、光出力制御回路15の種々の不具
合を故障検知回路16で検出し、異常を検知した際、半
導体レーザ6、フォトダイオード]2、および光出力制
御回路15に供給する電源を遮断し、半導体レーザの発
光を確実に停止するようにしたので、光ディスク1に記
録されている情報を破壊から確実に防止できるものとな
っている。また、」1記不具合の要因はラッチ38に記
憶しておき、後に行なう故障解析に供するようにしたの
で、故障報知か容易となり、また故障原因の解明も容易
にできるものとなっている。
さらに、光出力制御回路]5の所定箇所から故障検知を
行なうためのモニタ信号を取出すに際し、高抵抗値を持
つ抵抗R3、R4、R5を介して行なうようにしたので
、故障検知回路16を設けたことによる光出力制御回路
への悪影響もな(、信勅性の低下を防止できるようにな
っている。
[発明の効果] 以」−詳述したように本発明によれば、光記録媒体に記
録されている情報を破壊することのない光出力制御装置
および情報再生装置を提供することかできる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示すもので、第1図は光デイス
ク装置の電気回路の概略構成を示すブロック図、第2図
は切換回路のブロック図、第3図は故障検知動作を説明
するためのタイミングチャート、第4図は光デイスク装
置の概略構成図、第5図は記録動作時の故障検知を説明
するためのフローチャートである。 1・・・光ディスク(光記録媒体)、2・・スピンドル
モータ、3・・・モータ制御回路、4・・・制御回路、
5・・・光学ヘット(照射手段)、6・・・半導体レー
ザ発振器(光出力手段)、11・・・光検知器、12・
・・フォトタイオード、13・・・信号処理回路、14
・・ヘッダ分離読取回路、15・・・光出力制御回路(
第1の制御手段)、16・・故障検知回路(検知手段)
、]7・・・リレー(第2の制御手段)、38・・・ラ
ッチ(記憶手段)、R3、R4、R5・・・抵抗。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光ビームを放射する光出力手段と、 この光出力手段から放射される光ビームの光出力を制御
    する第1の制御手段と、 この第1の制御手段の動作状態を検知する検知手段と、 前記第1の制御手段の制御により前記光出力手段からの
    光ビームの放射されている状態において、前記検知手段
    により前記第1の制御手段の故障が検知された際、前記
    第1の制御手段の動作を停止させる第2の制御手段と を具備したことを特徴とする光出力制御装置。
  2. (2)光ビームを放射する光出力手段と、 この光出力手段から放射される光ビームの光出力を制御
    する第1の制御手段と、 この第1の制御手段の動作状態を検知する検知手段と、 前記第1の制御手段の制御により前記光出力手段からの
    光ビームの放射されている状態において、前記検知手段
    により前記第1の制御手段の故障が検知された際、前記
    第1の制御手段の動作を停止させる第2の制御手段と、 前記検知手段により検知された前記第1の制御手段の故
    障状態を記憶する記憶手段と を具備したことを特徴とする光出力制御装置。
  3. (3)情報が記録されている光記録媒体から情報を再生
    する情報再生装置において、 光ビームを放射する光出力手段と、 この光出力手段から放射された光ビームを前記光記録媒
    体に照射する照射手段と、 前記光出力手段から放射される光ビームの光出力を制御
    する第1の制御手段と、 前記光出力手段から放射される光ビームの光出力を検出
    する検出手段と、 この検出手段により、前記光記録媒体に記録されている
    情報が破壊される可能性のある程度の光出力を有した光
    ビームが前記光出力手段から放射されたことが検出され
    た際、前記第1の制御手段の動作状態を検知し、かつこ
    の第1の制御手段の動作を停止させる第2の制御手段と を具備したことを特徴とする情報再生装置。
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