JPH11161995A - 光記録再生方法及び光記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】外部機器を用いることなく簡単な構成でレーザ
ー劣化判定をすることができる光記録再生装置及び光記
録再生方法を提案するものである。 【解決手段】光記録再生装置は、レーザー光を照射する
レーザーダイオード１２の電流経路に設けられ、所定時
におけるレーザーダイオード１２の駆動電流を検出する
抵抗器１６と、抵抗器１６により検出されたレーザーダ
イオード１２の駆動電流値を記憶するフラッシュＲＯＭ
４１と、フラッシュＲＯＭ４１に記憶された所定時の駆
動電流値と現在の駆動電流値とを比較する比較器５０と
を備え、現在の駆動電流値が所定時の駆動電流値より所
定量大きいときにレーザーダイオード１２が劣化してい
ると判断して、レーザーダイオード１２のレーザー劣化
判定をパワーメータや電流計等の外部機器を利用せずに
装置内部で正確に行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光記録再生装置及
び光記録再生方法に関し、例えば追記型コンパクトディ
スク（ＣＤ−ＲＯＭ）や光磁気ディスク（ＭＯ）、ディ
ジタルビデオディスク（ＤＶＤ）、及びこれらのディス
クのレーザーの劣化判定装置に適用することができる。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えばこの種の光情報記録媒体の
光記録再生装置において使用される、レーザーダイオー
ドには寿命があり、使用時間および使用パワーに比例し
て性能が劣化するものである。

【０００３】このような従来のレーザー劣化判定に関し
て、特開平６−２１５３９９号公報には、電源とレーザ
ーダイオードとの間に電流検出手段としての抵抗器を接
続して、このレーザーダイオードに流れる電流量を検出
し、比較手段としてのコンパレータにより電流検出手段
で検出された電流量が所定の値を超えたらＬＥＤを点滅
させたり、ブザーで報知するレーザーダイオードの寿命
検知回路が開示されている。

【０００４】また、他のレーザー劣化判定としては、例
えばレーザーダイオードをドライブするトランジスタの
ベース電位を利用して、その電位が基準レベルよりも高
いか否かでレーザーダイオードの劣化を判定していた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
のレーザー劣化判定では、検出されたレーザーダイオー
ドに流れる電流値を光記録再生装置自身が記憶していな
かったので、製造ラインでは電源投入時と出荷時にこの
電位を測定して、その差でレーザー劣化を判定するよう
にしていたが、この両者の値は検査器側で記憶して比較
していた。このため、電源投入検査器と出荷直前検査器
とをネットワークで接続するか、または電源投入時に検
査タグに電位を記憶してラインに流し出荷時に比較する
などの複雑な工程が必要であるという不都合があった。

【０００６】また、レーザーの初期電流特性や工場内の
温度のバラツキが考慮されていないため、劣化判定基準
を下げる必要があり、精度のよい判定ができなかったと
いう不都合があった。また、出荷した後も、レーザーの
出荷時の電流値は検査器側に記憶されているので、元デ
ータを参照したいときに不便であるという不都合があっ
た。

【０００７】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、外部機器を用いることなく簡単な構成でレーザー劣
化判定をすることができる光記録再生装置及び光記録再
生方法を提案しようとするものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明の光記録再生装置は、光記録媒体に形成された
ピットに光学ピックアップからレーザー光を照射して情
報信号を記録し、上記レーザー光の反射光を検出するこ
とにより情報信号を再生する光記録再生装置において、
上記レーザー光を照射するレーザーダイオードの電流経
路に設けられ、所定時における上記レーザーダイオード
の駆動電流を検出するレーザー電流検出手段と、上記レ
ーザー電流検出手段により検出された上記レーザーダイ
オードの駆動電流値を記憶する記憶手段と、上記記憶手
段に記憶された上記所定時の駆動電流値と現在の駆動電
流値とを比較する比較手段とを備え、上記現在の駆動電
流値が上記所定時の駆動電流値より所定量大きいときに
上記レーザーダイオードが劣化していると判断するよう
にしたものである。

【０００９】また、本発明の光記録再生方法は、光記録
媒体に形成されたピットに光学ピックアップからレーザ
ー光を照射して情報信号を記録し、上記レーザー光の反
射光を検出することにより情報信号を再生する光記録再
生方法において、上記レーザー光を照射するレーザーダ
イオードの電流経路において、所定時における上記レー
ザーダイオードの駆動電流を検出するレーザー電流検出
ステップと、上記レーザー電流検出ステップにより検出
された上記レーザーダイオードの駆動電流値を記憶する
記憶ステップと、上記記憶ステップにおいて記憶された
上記所定時の駆動電流値と現在の駆動電流値とを比較す
る比較ステップとを備え、上記現在の駆動電流値が上記
所定時の駆動電流値より所定量大きいときに上記レーザ
ーダイオードが劣化していると判断するようにしたもの
である。

【００１０】本発明の光記録再生装置によれば、以下の
作用をする。レーザーダイオードのアノード側において
レーザー電流検出手段によりレーザーダイオードのアノ
ード側の電圧が一定に保たれるように動作する。レーザ
ー電流検出手段の両端の電圧が基準値中心に差動増幅に
より電位変換されてレーザーダイオードを流れるレーザ
ー電流値がモニタされる。

【００１１】モニタされたレーザー電流値は振幅に応じ
て基準値をダイナミックレンジに合わせてディジタル値
に変換される。ディジタルのレーザー電流値は記憶手段
により記憶される。これにより、レーザーダイオードに
流れている電流値をモニタすることができる。そして、
レーザー電流検出手段により現在のレーザー電流値をモ
ニタする。そこで、記憶手段に先に記憶されたレーザー
電流値と現在のレーザー電流値とが比較手段により比較
されて現在の駆動電流値が所定時の駆動電流値より所定
量大きいときにレーザーダイオードが劣化していると判
断する。

【００１２】また、本発明の光記録再生方法によれば、
以下の作用をする。レーザーダイオードを所定のレーザ
ーパワーで発光させる。このとき、レーザー電流検出ス
テップにおいて所定時の初期電流値のレーザー電流をモ
ニタしてサンプリングする。次に記憶ステップにおいて
サンプリングされたレーザー電流を一旦記憶しておく。

【００１３】そして、その後に再度、レーザーダイオー
ドを所定のレーザーパワーで発光させる。このとき、レ
ーザー電流検出ステップにおいてレーザー電流をモニタ
してサンプリングする。そして、比較ステップにおいて
所定時の駆動電流値と現在の駆動電流値とを比較し、現
在の駆動電流値が所定時の駆動電流値より所定量大きい
ときにレーザーダイオードが劣化していると判断する。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態を詳述する。図１は、本発明の実施の
形態に係るレーザー劣化判別を行う光ディスク記録再生
装置の構成を示すブロック図である。

【００１５】すなわちこの光ディスク記録再生装置は、
図示しないホストコンピュータからＳＣＳＩ（スモール
コンピュータシステムインタフェース）を介して供給さ
れる制御データに基づいて各種信号を生成するオプティ
カルディスクコントローラＯＤＣ１と、各種演算を行う
マイクロプロセッサユニットＭＰＵ４２と、レーザービ
ームを発光するレーザーダイオード１２と、レーザーダ
イオード１２のレーザーパワーをコントロールするレー
ザーパワーコントローラＬＰＣ９とを有して構成され
る。

【００１６】この光ディスク記録再生装置は、レーザー
ダイオード１２から発光されたレーザービームを透過す
ると共に一方に反射し、光ディスク２８からの戻り光を
他方に反射するビームスプリッター２２と、ビームスプ
リッター２２により透過されたレーザービームまたは光
ディスク２８からの戻り光を反射するプリズム２３と、
プリズム２３で反射されたレーザービームを集光すると
共に光ディスク２８からの戻り光を透過する対物レンズ
２４と、対物レンズ２４により集光されたレーザービー
ムを受光すると共に反射する光ディスク２８と、光ディ
スク２８を回転させるスピンドルモータ２９と、を有す
る。

【００１７】また、光ディスク記録再生装置は、ビーム
スプリッター２２により反射された一方のレーザービー
ムを受光してパワーモニタ信号をＭＰＵ４２に供給する
モニタダイオード１４と、ＭＰＵ４２からの指令値を増
幅するドライバー２７と、ドライバー２７により増幅さ
れた指令値が供給されるフォーカスコイル２６と、フォ
ーカスコイルに磁界を加えるマグネット２５と、光ディ
スク２８に外部磁界を加える外部磁界発生器３０と、を
有する。

【００１８】また、光ディスク記録再生装置は、ビーム
スプリッター２２により他方に反射された光ディスク２
８からの戻り光を受光してデータ信号を出力するフォト
ダイオード３１と、フォトダイオード３１から供給され
るデータ信号に基づいてフォーカス信号ＦＥＳ０、トラ
ッキング信号ＴＥＳ０および光ディスクの全光量信号Ｓ
ＵＭを生成するコンパレータ３２と、フォーカス信号Ｆ
ＥＳ０を光ディスクの全光量信号ＳＵＭで正規化してフ
ォーカスエラー信号ＦＥＳを生成するアンプ３３と、ト
ラッキング信号ＴＥＳ０を光ディスクの全光量信号ＳＵ
Ｍで正規化してトラッキングエラー信号ＴＥＳを生成す
るアンプ３４と、を有する。

【００１９】また、光ディスク記録再生装置は、ＭＰＵ
４２においてフォーカスエラー信号ＦＥＳをディジタル
に変換するＡ／Ｄ変換器４３と、フォーカス指令値４５
との差分をとる減算器４４と、差分をフィルター補償す
るフィルター４６と、フィルター出力をアナログに変換
して上述したドライバー２７に出力するＤ／Ａ変換器４
７と、を有する。また、光ディスク記録再生装置は、ト
ラッキングサーボ用にもＭＰＵ４２において図示しない
がトラッキングエラー信号ＴＥＳをディジタルに変換す
るＡ／Ｄ変換器と、トラッキング指令値との差分をとる
減算器と、差分をフィルター補償するフィルターと、フ
ィルター出力をアナログに変換して上述したドライバー
２７に出力するＤ／Ａ変換器と、を有する。

【００２０】また、光ディスク記録再生装置は、フォト
ダイオード３１から供給されるデータ信号から再生ＲＦ
信号を生成するＲＦアンプ３５と、ＲＦアンプ３５で生
成されたデータ信号を位相等化するイコライザー３６
と、イコライザー３６で位相等化されたデータ信号を基
準電源３８に基づいて２値化するスライサー３７と、ス
ライサー３７から供給されるデータ信号を位相ロックし
てリードデータとリードゲート信号を生成して上述した
オプティカルディスクコントローラＯＤＣ１に供給する
ＰＬＬ３９と、を有する。

【００２１】また、光ディスク記録再生装置は、オプテ
ィカルディスクコントローラＯＤＣ１において、ホスト
コンピュータとのＳＣＳＩインターフェースをコントロ
ールするＳＣＳＩコントローラ２と、ＳＣＳＩコントロ
ーラ２から供給されるデータから記録または再生のアド
レスを検出するアドレスディテクター６と、アドレスデ
ィテクター６から供給されるアドレスに基づいて記録時
にライトゲート信号を生成し、再生時にリードゲート信
号を生成して上述したレーザーパワーコントローラＬＰ
Ｃ９に供給するゲートジェネレータ５と、ＳＣＳＩコン
トローラ２から供給されるライトデータを保持するライ
トバッファ３と、ライトバッファ３に保持されたデータ
を例えば（２，７）−ＲＬＬ（ランレングスリミテッ
ド）変調により変調するデータエンコーダ４と、ＰＬＬ
３９から供給されるリードデータ信号をデータクロック
に基づいて（２，７）−ＲＬＬ復調により復調するデー
タデコーダ８と、データデコーダ８により復調されたリ
ードデータを保持するリードバッファ７と、を有する。

【００２２】また、光ディスク記録再生装置において
は、レーザーパワーコントローラＬＰＣ９は、オプティ
カルディスクコントローラＯＤＣ１から供給されるライ
トゲート信号のタイミングでライトクロックに同期して
ライトデータからレーザーダイオード１２の発光の基準
となる発光データ信号ＩＯＵＴを生成する機能を有す
る。また、光ディスク記録再生装置は、モニタダイオー
ド１４により検出されたレーザーダイオード１２の電流
Ｉｍと、レーザーパワーコントローラＬＰＣ９から供給
される発光データ信号ＩＯＵＴとの誤差を増幅する誤差
アンプ１０と、レーザーダイオード１２のカソード側に
設けられレーザーダイオード１２の駆動をするトランジ
スタ１１と、バイアス電圧をきめる抵抗器１３と、レー
ザーダイオード１２のアノード側に設けられ電源Ｅ１に
よりレーザーダイオード１２の駆動をするトランジスタ
１５と、を有する。

【００２３】また、本実施の形態においては、特に、光
ディスク記録再生装置は、レーザーダイオード１２のア
ノード側に設けられレーザーダイオード１２のアノード
側の電圧を一定に保つための抵抗器１６と、抵抗器１６
の両端の電圧を基準値Ｖｒｅｇ中心に差動増幅により電
位変換してレーザーダイオード１２を流れるレーザー電
流値をモニタする抵抗器１７、１８、２０、２１および
オペアンプ１９からなる差動増幅器と、ＭＰＵ４２にお
いてレーザー電流値を基準値Ｖｒｅｇを振幅に応じたダ
イナミックレンジとしてディジタルに変換するＡ／Ｄ変
換器４９と、レーザーダイオードの温度を検出する温度
センサ４０と、温度センサ４０の出力をディジタルに変
換するＡ／Ｄ変換器４８と、ディジタルのレーザー電流
値を記憶するフラッシュＲＯＭ４１と、フラッシュＲＯ
Ｍ４１に先に記憶されたレーザー電流値と現在のレーザ
ー電流値とを比較して比較結果をＯＤＣ１のＳＣＳＩコ
ントローラ２を介してホストコンピュータに出力するす
る比較器５０と、を有する。

【００２４】このように構成された本実施の形態の光デ
ィスク記録再生装置の動作を説明する。すなわちこの光
ディスク記録再生装置において、図示しないホストコン
ピュータからＳＣＳＩインタフェースを介して供給され
る制御データに基づいてオプティカルディスクコントロ
ーラＯＤＣ１で記録または再生に応じて各種信号が生成
される。マイクロプロセッサユニットＭＰＵ４２によ
り、各種演算が行われ、レーザーパワーコントローラＬ
ＰＣ９によりレーザーダイオード１２のレーザーパワー
がコントロールされ、レーザーダイオード１２からレー
ザービームが発光される。

【００２５】以下、詳細に説明する。まず、光学系につ
いて説明する。この光ディスク記録再生装置において、
レーザーダイオード１２から発光されたレーザービーム
はビームスプリッター２２により透過すると共に一方に
反射され、光ディスク２８からの戻り光が他方に反射さ
れる。ビームスプリッター２２により透過されたレーザ
ービームまたは光ディスク２８からの戻りは光プリズム
２３により反射される。プリズム２３で反射されたレー
ザービームは対物レンズ２４により集光されると共に光
ディスク２８からの戻り光は対物レンズ２４により透過
される。このとき、対物レンズ２４により集光されたレ
ーザービームは光ディスク２８上に受光されて焦点を結
ぶと共に反射される。ＤＶＤに対する相変化記録の場合
には、レーザーパワーを変えて、データの記録、再生、
消去が行われ、レーザービームの変調により、データの
記録が行われる。光磁気ディスク（ＭＯ）に対する光磁
気記録の場合には外部磁界発生器３０により外部磁界が
加えられる。なお、光ディスク２８はスピンドルモータ
２９により回転されている。

【００２６】次に、フォーカスサーボのドライブについ
て説明する。ビームスプリッター２２により反射された
一方のレーザービームはモニタダイオード１４により受
光されてパワーモニタ信号がＭＰＵ４２に供給される。
ＭＰＵ４２においてフォーカス指令値４５がドライバー
２７により増幅される。ドライバー２７により増幅され
た指令値がフォーカスコイル２６に供給されると、フォ
ーカスコイル２６にマグネット２５により磁界が加えら
れ、光ディスク２８に対してフォーカス方向に対物レン
ズ２４が移動することにより、フォーカスサーボが行わ
れる。

【００２７】次に、フォーカスサーボおよびトラッキン
グサーボに用いるフォーカスエラー信号およびトラッキ
ングエラー信号について説明する。ビームスプリッター
２２により他方に反射された光ディスク２８からの戻り
光はフォトダイオード３１により受光されてデータ信号
が出力される。フォトダイオード３１から供給されるデ
ータ信号に基づいてコンパレータ３２によりフォーカス
信号ＦＥＳ０、トラッキング信号ＴＥＳ０および光ディ
スクの全光量信号ＳＵＭが生成される。フォーカス信号
ＦＥＳ０はアンプ３３により、レーザーダイオードの発
光パワーにより変化することを避けるため光ディスクの
全光量信号ＳＵＭで正規化されてフォーカスエラー信号
ＦＥＳが生成される。トラッキング信号ＴＥＳ０はアン
プ３４により同様に光ディスクの全光量信号ＳＵＭで正
規化されてトラッキングエラー信号ＴＥＳが生成され
る。

【００２８】ＭＰＵ４２においてフォーカスエラー信号
ＦＥＳはＡ／Ｄ変換器４３によりディジタルに変換され
る。減算器４４によりディジタルのフォーカスエラー信
号ＦＥＳとフォーカス指令値４５との差分が出力され、
差分はフィルター４６によりフィルター補償される。フ
ィルター出力はＤ／Ａ変換器４７によりアナログに変換
されて上述したドライバー２７に出力される。また、ト
ラッキングサーボの場合もＭＰＵ４２において図示しな
いがトラッキングエラー信号ＴＥＳはＡ／Ｄ変換器によ
りディジタルに変換され、減算器によりディジタルのト
ラッキングエラー信号ＴＥＳとトラッキング指令値との
差分が出力され、差分はフィルターによりフィルター補
償され、フィルター出力はＤ／Ａ変換器によりアナログ
に変換されて上述したドライバーに出力される。

【００２９】次に、再生ＲＦ信号について説明する。フ
ォトダイオード３１から供給されるデータ信号からＲＦ
アンプ３５により再生ＲＦ信号が生成される。ＲＦアン
プ３５で生成された再生ＲＦ信号はイコライザー３６に
より位相等化されその振幅が最適化される。イコライザ
ー３６で位相等化された再生データ信号はスライサー３
７により基準電源３８に基づいて２値化される。スライ
サー３７から供給される再生データ信号はＰＬＬ３９に
より位相ロックされてリードデータ信号とリードクロッ
ク信号が生成されて上述したオプティカルディスクコン
トローラＯＤＣ１に供給される。

【００３０】オプティカルディスクコントローラＯＤＣ
１において、ＳＣＳＩコントローラ２によりホストコン
ピュータとのＳＣＳＩインターフェースがコントロール
される。アドレスディテクター６によりＳＣＳＩコント
ローラ２から供給されるデータから記録または再生のア
ドレスが検出される。ゲートジェネレータ５によりアド
レスディテクター６から供給されるアドレスに基づいて
記録時にライトゲート信号が生成され、再生時にリード
ゲート信号が生成されて上述したレーザーパワーコント
ローラＬＰＣ９に供給される。記録時には、ホストコン
ピュータからＳＣＳＩコントローラ２を介して供給され
るライトデータはライトバッファ３により保持される。
ライトバッファ３に保持されたデータはデータエンコー
ダ４により例えば（２，７）−ＲＬＬ変調により変調さ
れる。再生時にはＰＬＬ３９から供給されるリードデー
タ信号はデータデコーダ８によりデータクロックに基づ
いて（２，７）−ＲＬＬ復調される。データデコーダ８
により復調されたリードデータはリードバッファ７によ
り保持されＳＣＳＩコントローラ２を介してホストコン
ピュータに供給される。

【００３１】次に、レーザーダイオードの駆動について
説明する。レーザーパワーコントローラＬＰＣ９によ
り、オプティカルディスクコントローラＯＤＣ１から供
給されるライトゲート信号のタイミングでライトクロッ
クに同期してライトデータからレーザーダイオード１２
の発光の基準となる発光データ信号ＩＯＵＴが生成され
る。発光データ信号ＩＯＵＴは、ＭＰＵ４２からの制御
信号に基づいてＬＰＣ９内部のレジスタ等の値を書き換
えることによりさまざまな値や波形で出力され、データ
の消去、記録または再生時のそれぞれのレーザーパワー
を制御する信号である。

【００３２】モニタダイオード１４により検出されたレ
ーザーダイオード１２の電流Ｉｍと、レーザーパワーコ
ントローラＬＰＣ９から供給される発光データ信号ＩＯ
ＵＴとの誤差は誤差アンプ１０により増幅され、常に電
流Ｉｍ＝発光データ信号ＩＯＵＴとなるようにレーザー
ダイオード１２に流れる電流を調整して、光ディスク２
８上に照射されるレーザービームのパワーを一定に制御
する。レーザーダイオード１２のカソード側において誤
差アンプ出力でトランジスタ１１がオンされ、抵抗器１
３により決められたバイアス電圧により、レーザーダイ
オード１２のアノード側において電源Ｅ１によりトラン
ジスタ１５がオンされ、レーザーダイオード１２に順方
向に電流が流れて、レーザーダイオード１２がレーザー
ビームを発光する。

【００３３】ここで、本実施の形態においては、特に、
レーザーダイオード１２のアノード側において抵抗器１
６によりレーザーダイオード１２のアノード側の電圧が
一定に保たれるように動作するようにした。つまり、抵
抗器１６の両端の電圧が基準値Ｖｒｅｇ中心に差動増幅
により電位変換されてレーザーダイオード１２を流れる
レーザー電流値が抵抗器１７、１８、２０、２１および
オペアンプ１９からなる差動増幅器によりモニタされ
る。ＭＰＵ４２においてモニタされたレーザー電流値は
Ａ／Ｄ変換器４９により振幅に応じて基準値Ｖｒｅｇを
ダイナミックレンジに合わせてディジタル値に変換され
る。ディジタルのレーザー電流値はフラッシュＲＯＭ４
１により記憶される。これにより、ＭＰＵ４２は、レー
ザーダイオード１２に流れている電流値をモニタするこ
とができる。また、レーザーダイオード１２の温度は温
度センサ４０により検出される。温度センサ４０の出力
はＡ／Ｄ変換器４８によりディジタル値に変換される。
フラッシュＲＯＭ４１に先に記憶されたレーザー電流値
と現在のレーザー電流値とが比較器５０により比較され
て比較結果はＯＤＣ１のＳＣＳＩコントローラ２を介し
てホストコンピュータに出力される。また、温度センサ
４０により、ＭＰＵ４２は、常に、現在の装置内部の温
度（レーザーダイオード１２の外気温度）をモニタする
ことができる。

【００３４】また、本実施の形態においては、特に、光
ディスク記録再生装置の製造工程や出荷後の市場からの
不具合による返却品の検討時、さらには実動作時のレー
ザー劣化判定を初期特性のバラツキや温度要因も考慮し
て、パワーメーター等の外部機器を使用することなく、
正確且つ迅速に行うようにしている。以下に、そのレー
ザー劣化判定方法について説明する。

【００３５】一般に、レーザーの発光パワーとレーザー
電流の特性は図２に示すような関係となる。図２におい
て、横軸にレーザー電流値［Ａ］、縦軸にレーザーパワ
ー［Ｗ］を示したときに、実線で示すレーザー初期特性
６０においては、レーザーパワーＰ０［Ｗ］を出力する
のに必要なレーザー電流値はＩ０［Ａ］であった場合、
レーザーダイオード１２が静電気等により劣化した場合
などには、一点鎖線のレーザー劣化６１、二点鎖線のレ
ーザー劣化６２に示すように、レーザーパワーＰ０
［Ｗ］を出力するのに必要なレーザー電流値がＩ１
［Ａ］となる場合がある。

【００３６】この場合、初期特性に対して、ＤＣ（直流
分）で図２に示す最大発光パワーＰ０［Ｗ］を発光する
ための電流値が初期特性に対して２０［％］以上増加し
たとき、レーザーダイオード１２が劣化したと判定す
る。これにより、製造の初期において、レーザーパワー
をＰ０［Ｗ］で発光させるように、ＭＰＵ４２がＬＰＣ
９に対して制御信号を供給することにより発光データ信
号ＩＯＵＴを設定し、そのときの上述したような構成に
より抵抗器１６の両端の電圧から差動増幅器を介してＭ
ＰＵ４２でモニタされるレーザー電流値Ｉ０［Ａ］を、
装置内部のフラッシュＲＯＭ４１に記憶しておき、その
後、レーザーダイオード１２を同じレーザーパワーＰ０
［Ｗ］で発光させたときのレーザー電流Ｉ１［Ａ］をＭ
ＰＵ４２でモニタし、比較器５０によりＩ１＞Ｉ０＊
１．２となっているか否かを比較して、Ｉ１がＩ０より
も２０［％］増加していたら、レーザーダイオード１２
が初期の段階に対して何らかの要因で劣化していると判
定する。

【００３７】ここで、レーザーダイオード１２をレーザ
ーパワーＰ０［Ｗ］で発光させるためには、ＬＰＣ９の
レジスタに対して予め決められた値を設定するようにＭ
ＰＵ４２から制御信号を供給するだけでよく、ＬＰＣ９
に対する設定値を同じにすることにより、毎回同じレー
ザーパワーでレーザーダイオード１２を発光させること
ができ、レーザーダイオード１２がレーザーパワーＰ０
［Ｗ］で発光しているかどうかをパワーメーターなどの
外部機器でモニタ測定する必要がなく、レーザー電流の
モニタも上述したように装置の内部で行うことができる
ので、レーザー電流の計測のための電流計等も不要で装
置単体でレーザー劣化判定をすることができる。

【００３８】また、本実施の形態の光ディスク記録再生
装置の組立ラインにおいて静電気が発生し、レーザーダ
イオード１２も光ディスク記録再生装置が製品になるま
では静電気シールド等が十分でなく、劣化する可能性が
高い。そこで、図２に、レーザー劣化判定の動作を製造
時に適用したときの、製造時の各処理のフローチャート
を示す。図２において、スタートして、ステップＳ１で
組立ラインへレーザーダイオード１２を投入する。ステ
ップＳ２でレーザーダイオード１２をレーザーパワーＰ
０［Ｗ］で発光させる。このとき、ステップＳ３で製造
時の初期電流値のレーザー電流Ｉ０［Ａ］をモニタして
サンプリングする。ステップＳ４でサンプリングされた
レーザー電流Ｉ０［Ａ］を一旦フラッシュＲＯＭ４１に
記憶しておく。

【００３９】そして、ステップＳ５で光ディスク記録再
生装置の各組立工程が終了し、検査工程に移行する。検
査工程終了後で出荷直前に再度、ステップＳ６でレーザ
ーダイオード１２をレーザーパワーＰ０［Ｗ］で発光さ
せる。このとき、ステップＳ７でレーザー電流Ｉ１
［Ａ］をモニタしてサンプリングする。ステップＳ８で
Ｉ１＞Ｉ０＊１．２となっているか否かを比較して判断
する。ステップＳ８でＩ１＞Ｉ０＊１．２であるときは
ステップＳ９へ移行してレーザー劣化と判断し、レーザ
ー交換等の処理へ移って、終了する。ステップＳ８でＩ
１＞Ｉ０＊１．２でないときはステップＳ１０へ移行し
てレーザー正常と判断して製品出荷の処理をする。

【００４０】また、出荷後に市場から不具合品として返
却された光ディスク記録再生装置のレーザー劣化判定を
検討する場合の処理について、図２に、レーザー劣化判
定の動作を市場返却時に適用したときの、市場返却時の
各処理のフローチャートを示す。図４において、スター
トして、ステップＳ２０で何らかの不具合により市場か
ら製品返却処理がされる。ステップＳ２１でレーザーダ
イオード１２をレーザーパワーＰ０［Ｗ］で発光させ
る。このとき、ステップＳ２２で市場返却時のレーザー
電流Ｉ１［Ａ］をモニタしてサンプリングする。

【００４１】ステップＳ２３でＩ１＞Ｉ０＊１．２とな
っているか否かを比較して判断する。ここで、レーザー
電流Ｉ０［Ａ］は、製造時にモニタしてサンプリングさ
れた初期電流値であり、装置内のフラッシュＲＯＭ４１
に記憶されている値である。ステップＳ２３でＩ１＞Ｉ
０＊１．２であるときはステップＳ２４へ移行してレー
ザー劣化と判断し、レーザー交換等の処理へ移って、終
了する。ステップＳ２３でＩ１＞Ｉ０＊１．２でないと
きはステップＳ２５へ移行してレーザー正常と判断して
その他の解析の処理をして終了する。

【００４２】また、レーザーの発光パワーとレーザー電
流の特性はレーザーダイオード単体でかなりばらついて
いる。この場合、規格では、３０［％］以上のバラツキ
があるものが多い。例えば、波長６８０［ｎｍ］の半導
体レーザーでは、レーザーパワー３０［ｍＷ］の発行時
のレーザー電流の仕様が、通常９０［ｍＡ］、最大値１
２０［ｍＡ］で最小値の規格がないものが存在する。こ
のようなレーザーダイオード１２の場合、９０［ｍＡ］
に対するレーザー劣化ポイントは１０８［ｍＡ］である
のに対して、１２０［ｍＡ］に対するレーザー劣化ポイ
ントは１０８［ｍＡ］以上となり、この電流値が製造時
の初期段階から必要になる。このように一律何［ｍＡ］
というようにレーザー劣化ポイントを規定することがで
きなくなる。ところが、本実施の形態の光ディスク記録
再生装置では、レーザーダイオード１つ１つについて予
めレーザーパワーＰ０［Ｗ］で発光させたときのレーザ
ー電流Ｉ０［Ａ］を測定し、その２０［％］増しのポイ
ントをレーザー劣化ポイントとしていることで、レーザ
ーダイオードの初期電流特性がばらついても、劣化ポイ
ントは初期データに対する増加分の比率だけを規定して
いるので、正確に劣化ポイントを決めることができる。

【００４３】また、レーザーの発光パワーとレーザー電
流の特性は環境温度によって変化して図５に示すような
関係となる。図５において、横軸にレーザー電流値
［Ａ］、縦軸にレーザーパワー［Ｗ］を示したときに、
室温Ｔｒ［℃］のとき実線で示すレーザー初期特性６３
においては、レーザーパワーＰ０［Ｗ］を出力するのに
必要なレーザー電流値はＩ０［Ａ］であった場合、レー
ザーダイオード１２が温度上昇Ｔｈ［℃］により劣化し
た場合などには、一点鎖線で示す初期特性６４に変化し
てレーザーパワーＰ０［Ｗ］を出力するのに必要なレー
ザー電流値がＩ１［Ａ］となり、さらに静電気等による
劣化で二点鎖線のレーザー劣化６５に示すように、レー
ザーパワーＰ０［Ｗ］を出力するのに必要なレーザー電
流値がＩ２［Ａ］となる場合がある。

【００４４】このように温度が高いときは、常温の場合
と比較の基準となる初期特性を変えなくてはならない。
温度上昇によりレーザー電流が上昇する比率は予めレー
ザーダイオードの特性によって決まっているので、温度
変化△Ｔとレーザー電流上昇分の比率をＲＴｈとする
と、装置内部で温度センサー４０により温度Ｔを測定
し、常に劣化ポイントをＩ０＊ＲＴｈ＊（Ｔ−Ｔｒ）＊
１．０２となるようにすることにより、高温時でのレー
ザー劣化判定を正確に行うことができる。

【００４５】また、光ディスク記録再生装置の実動作時
にもレーザー劣化判定を行うことができる。通常消去時
のレーザーパワーをＰ０［Ｗ］として、常に消去時に判
定することも可能であるし、光ディスクを入れ替えたと
きなどに光ディスクのデータ記録領域以外の領域でレザ
ーパワーＰ０［Ｗ］としてレーザーダイオードを発光さ
せてレーザー劣化判定を行うことができる。

【００４６】図６に、レーザー劣化判定の動作を実動作
時に適用したときの、動作中の各処理のフローチャート
を示す。図６において、スタートして、ステップＳ３０
でレーザーダイオード１２をレーザーパワーＰ０［Ｗ］
で発光させる。このとき、ステップＳ３１で実動作時の
レーザー電流Ｉ１［Ａ］をモニタしてサンプリングす
る。

【００４７】ステップＳ３２で温度Ｔｈ［℃］をサンプ
ルする。ステップＳ３３でＩ１＞Ｉ０＊ＲＴｈ＊（Ｔ−
Ｔｒ）＊１．０２となっているか否かを比較して判断す
る。ここで、レーザー電流Ｉ０［Ａ］は、製造時にモニ
タしてサンプリングされた初期電流値であり、装置内の
フラッシュＲＯＭ４１に記憶されている値である。ステ
ップＳ２３でＩ１＞Ｉ０＊ＲＴｈ＊（Ｔ−Ｔｒ）＊１．
０２であるときはステップＳ３４へ移行してレーザー劣
化と判断し、ステップＳ３５でホストコンピュータにエ
ラーを通知し、今後の記録が保証されないことを知らせ
る処理へ移って、終了する。ステップＳ３３でＩ１＞Ｉ
０＊ＲＴｈ＊（Ｔ−Ｔｒ）＊１．０２でないときはステ
ップＳ３６へ移行してレーザー正常と判断して通常動作
の処理をして終了する。

【００４８】上述した本実施の形態の光記録再生装置
は、光記録媒体としての光ディスク２８に形成されたピ
ットに光学ピックアップからレーザー光を照射して情報
信号を記録し、レーザー光の反射光を検出することによ
り情報信号を再生する光記録再生装置において、レーザ
ー光を照射するレーザーダイオード１２の電流経路に設
けられ、所定時におけるレーザーダイオード１２の駆動
電流Ｉ０を検出するレーザー電流検出手段としての抵抗
器１６と、レーザー電流検出手段としての抵抗器１６に
より検出されたレーザーダイオード１２の駆動電流値を
記憶する記憶手段としてのフラッシュＲＯＭ４１と、記
憶手段としてのフラッシュＲＯＭ４１に記憶された所定
時の駆動電流値Ｉ０と現在の駆動電流値Ｉ１とを比較す
る比較手段としての比較器５０とを備え、現在の駆動電
流値Ｉ１が所定時の駆動電流値Ｉ０より所定量（２０
［％］）大きいときにレーザーダイオード１２が劣化し
ていると判断するようにしたので、レーザーダイオード
１２のレーザー劣化判定をパワーメータや電流計等の外
部機器を利用することなく、装置内部で正確に行うこと
ができる。

【００４９】また、上述した本実施の形態の光記録再生
装置は、上述において、所定時は、製造時であるので、
製造時に組み立て前から出荷直前までのレーザー劣化を
簡単に判定することができ、不良装置の出荷防止や製造
工程のチェックを簡単に行うことができると共に、市場
からの返却等の場合も、レーザーダイオードの初期電流
特性を装置内部で記憶しているため、レーザー劣化を容
易且つ正確に判定することができ、これにより、出荷時
のデータ電流等の管理をなくすことができる。

【００５０】また、上述した本実施の形態の光記録再生
装置は、上述において、所定量は、使用状態に応じて可
変にするので、レーザーダイオード１２の初期電流特性
のバラツキを吸収することができ、様々な電流特性のレ
ーザーダイオード１２に対して正確にレーザー劣化の判
定を行うことができる。

【００５１】また、上述した本実施の形態の光記録再生
装置は、上述において、所定量に、使用状態に応じた係
数をかけるので、温度変化によるレーザー電流のシフト
に対しても、温度に対して初期特性に温度上昇係数ＲＴ
ｈをかけるだけで、正確にレーザー劣化の判定を行うこ
とができる。

【００５２】また、上述した本実施の形態の光記録再生
方法は、光記録媒体としての光ディスク２８に形成され
たピットに光学ピックアップからレーザー光を照射して
情報信号を記録し、レーザー光の反射光を検出すること
により情報信号を再生する光記録再生方法において、レ
ーザー光を照射するレーザーダイオード１２の電流経路
において、所定時におけるレーザーダイオード１２の駆
動電流Ｉ０を検出するレーザー電流検出ステップＳ３
と、レーザー電流検出ステップＳ３により検出されたレ
ーザーダイオード１２の駆動電流値を記憶する記憶ステ
ップＳ４と、記憶ステップＳ４において記憶された所定
時の駆動電流値Ｉ０と現在の駆動電流値Ｉ１とを比較す
る比較ステップＳ８と、を備え、現在の駆動電流値Ｉ１
が所定時の駆動電流値Ｉ０より所定量（２０［％］）大
きいときにレーザーダイオード１２が劣化していると判
断するようにしたので、レーザーダイオード１２のレー
ザー劣化判定をパワーメータや電流計等の外部機器を利
用することなく、装置内部で正確に行うことができる。

【００５３】また、上述した本実施の形態の光記録再生
方法は、上述において、所定時は、製造時であるので、
製造時に組み立て前から出荷直前までのレーザー劣化を
簡単に判定することができ、不良装置の出荷防止や製造
工程のチェックを簡単に行うことができると共に、市場
からの返却等の場合も、レーザーダイオードの初期電流
特性を装置内部で記憶しているため、レーザー劣化が容
易且つ正確に判定することができ、これにより、出荷時
のデータ電流等の管理をなくすことができる。

【００５４】また、上述した本実施の形態の光記録再生
方法は、上述において、所定量は、使用状態に応じて可
変にするので、レーザーダイオード１２の初期電流特性
のバラツキを吸収することができ、様々な電流特性のレ
ーザーダイオード１２に対して正確にレーザー劣化の判
定を行うことができる。

【００５５】また、上述した本実施の形態の光記録再生
方法は、上述において、所定量に、使用状態に応じた係
数をかけるので、温度変化によるレーザー電流のシフト
に対しても、温度に対して初期特性に温度上昇係数ＲＴ
ｈをかけるだけで、正確にレーザー劣化の判定を行うこ
とができる。

【００５６】

【発明の効果】本発明の光記録再生装置は、光記録媒体
に形成されたピットに光学ピックアップからレーザー光
を照射して情報信号を記録し、上記レーザー光の反射光
を検出することにより情報信号を再生する光記録再生装
置において、上記レーザー光を照射するレーザーダイオ
ードの電流経路に設けられ、所定時における上記レーザ
ーダイオードの駆動電流を検出するレーザー電流検出手
段と、上記レーザー電流検出手段により検出された上記
レーザーダイオードの駆動電流値を記憶する記憶手段
と、上記記憶手段に記憶された上記所定時の駆動電流値
と現在の駆動電流値とを比較する比較手段とを備え、上
記現在の駆動電流値が上記所定時の駆動電流値より所定
量大きいときに上記レーザーダイオードが劣化している
と判断するようにしたので、レーザーダイオードのレー
ザー劣化判定をパワーメータや電流計等の外部機器を利
用することなく、装置内部で正確に行うことができると
いう効果を奏する。

【００５７】また、本発明の光記録再生装置は、上述に
おいて、上記所定時は、製造時であるので、製造時に組
み立て前から出荷直前までのレーザー劣化を簡単に判定
することができ、不良装置の出荷防止や製造工程のチェ
ックを簡単に行うことができると共に、市場からの返却
等の場合も、レーザーダイオードの初期電流特性を装置
内部で記憶しているため、レーザー劣化を容易且つ正確
に判定することができ、これにより、出荷時のデータ電
流等の管理をなくすことができるという効果を奏する。

【００５８】また、本発明の光記録再生装置は、上述に
おいて、上記所定量は、使用状態に応じて可変にするの
で、レーザーダイオードの初期電流特性のバラツキを吸
収することができ、様々な電流特性のレーザーダイオー
ドに対して正確にレーザー劣化の判定を行うことができ
るという効果を奏する。

【００５９】また、本発明の光記録再生装置は、上述に
おいて、上記所定量に、使用状態に応じた係数をかける
ので、温度変化によるレーザー電流のシフトに対して
も、温度に対して初期特性に温度上昇係数をかけるだけ
で、正確にレーザー劣化の判定を行うことができるとい
う効果を奏する。

【００６０】また、本発明の光記録再生方法は、光記録
媒体に形成されたピットに光学ピックアップからレーザ
ー光を照射して情報信号を記録し、上記レーザー光の反
射光を検出することにより情報信号を再生する光記録再
生方法において、上記レーザー光を照射するレーザーダ
イオードの電流経路において、所定時における上記レー
ザーダイオードの駆動電流を検出するレーザー電流検出
ステップと、上記レーザー電流検出ステップにより検出
された上記レーザーダイオードの駆動電流値を記憶する
記憶ステップと、上記記憶ステップにおいて記憶された
上記所定時の駆動電流値と現在の駆動電流値とを比較す
る比較ステップと、を備え、上記現在の駆動電流値が上
記所定時の駆動電流値より所定量大きいときに上記レー
ザーダイオードが劣化していると判断するようにしたの
で、レーザーダイオードのレーザー劣化判定をパワーメ
ータや電流計等の外部機器を利用することなく、装置内
部で正確に行うことができるという効果を奏する。

【００６１】また、本発明の光記録再生方法は、上述に
おいて、上記所定時は、製造時であるので、製造時に組
み立て前から出荷直前までのレーザー劣化を簡単に判定
することができ、不良装置の出荷防止や製造工程のチェ
ックを簡単に行うことができると共に、市場からの返却
等の場合も、レーザーダイオードの初期電流特性を装置
内部で記憶しているため、レーザー劣化を容易且つ正確
に判定することができ、これにより、出荷時のデータ電
流等の管理をなくすことができるという効果を奏する。

【００６２】また、本発明の光記録再生方法は、上述に
おいて、上記所定量は、使用状態に応じて可変にするの
で、レーザーダイオードの初期電流特性のバラツキを吸
収することができ、様々な電流特性のレーザーダイオー
ドに対して正確にレーザー劣化の判定を行うことができ
るという効果を奏する。

【００６３】また、本発明の光記録再生方法は、上述に
おいて、上記所定量に、使用状態に応じた係数をかける
ので、温度変化によるレーザー電流のシフトに対して
も、温度に対して初期特性に温度上昇係数をかけるだけ
で、正確にレーザー劣化の判定を行うことができるとい
う効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク記録再生
装置の構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の実施の形態のレーザーパワーとレーザ
ー電流との関係を示す図である。

【図３】本発明の実施の形態の製造時の各処理を示すフ
ローチャートである。

【図４】本発明の実施の形態の市場返却時の各処理を示
すフローチャートである。

【図５】本発明の実施の形態の温度変化によるレーザー
パワーとレーザー電流との関係を示す図である。

【図６】本発明の実施の形態の動作中の処理を示すフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

１……ＯＤＣ（オプティカルディスクコントローラ）、
２……ＳＣＳＩコントローラ、３……ライトバッファ、
４……データエンコーダ、５……ゲートジェネレータ、
６……アドレスディテクタ、７……リードバッファ、８
……データデコーダ、９……ＬＰＣ（レーザーパワーコ
ントローラ）、１０……誤差アンプ、１１……トランジ
スタ、１２……レーザーダイオード、１３……抵抗器、
１４……モニタダイオード、１５……トランジスタ、１
６……抵抗器、１７……抵抗器、１８……抵抗器、１９
……オペアンプ、２０……抵抗器、２１……抵抗器、２
２……ビームスプリッター、２３……プリズム、２４…
…対物レンズ、２５……マグネット、２６……フォーカ
スコイル、２７……ドライバー、２８……光ディスク、
２９……スピンドルモータ、３０……外部磁界発生器、
３１……フォトダイオード、３２……コンパレータ、３
３……アンプ、３４……アンプ、３５……ＲＦアンプ、
３６……イコライザー、３７……スライサー、３８……
基準電源、３９……ＰＬＬ、４０……温度センサ、４１
……フラッシュＲＯＭ、４２……ＭＰＵ（マイクロプロ
セッサユニット）、４３……Ａ／Ｄ変換器、４４……減
算器、４５……フォーカス指令値、４６……フィルタ
ー、４７……Ｄ／Ａ変換器、４８……Ａ／Ｄ変換器、４
９……Ａ／Ｄ変換器、５０……比較回路、６０……レー
ザー初期特性、６１……レーザー劣化２、６２……レー
ザー劣化１、６３……レーザー初期特性、６４……レー
ザー初期特性、６５……レーザー劣化

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光記録媒体に形成されたピットに光学ピッ
   クアップからレーザー光を照射して情報信号を記録し、
   上記レーザー光の反射光を検出することにより情報信号
   を再生する光記録再生装置において、 上記レーザー光を照射するレーザーダイオードの電流経
   路に設けられ、所定時における上記レーザーダイオード
   の駆動電流を検出するレーザー電流検出手段と、 上記レーザー電流検出手段により検出された上記レーザ
   ーダイオードの駆動電流値を記憶する記憶手段と、 上記記憶手段に記憶された上記所定時の駆動電流値と現
   在の駆動電流値とを比較する比較手段と、 を備え、上記現在の駆動電流値が上記所定時の駆動電流
   値より所定量大きいときに上記レーザーダイオードが劣
   化していると判断するようにしたことを特徴とする光記
   録再生装置。
2. 【請求項２】請求項１記載の光記録再生装置において、 上記所定時は、製造時であることを特徴とする光記録再
   生装置。
3. 【請求項３】請求項１記載の光記録再生装置において、 上記所定量は、使用状態に応じて可変にすることを特徴
   とする光記録再生装置。
4. 【請求項４】請求項３記載の光記録再生装置において、 上記所定量に、使用状態に応じた係数をかけることを特
   徴とする光記録再生装置。
5. 【請求項５】光記録媒体に形成されたピットに光学ピッ
   クアップからレーザー光を照射して情報信号を記録し、
   上記レーザー光の反射光を検出することにより情報信号
   を再生する光記録再生方法において、 上記レーザー光を照射するレーザーダイオードの電流経
   路において、所定時における上記レーザーダイオードの
   駆動電流を検出するレーザー電流検出ステップと、 上記レーザー電流検出ステップにより検出された上記レ
   ーザーダイオードの駆動電流値を記憶する記憶ステップ
   と、 上記記憶ステップにおいて記憶された上記所定時の駆動
   電流値と現在の駆動電流値とを比較する比較ステップ
   と、 を備え、上記現在の駆動電流値が上記所定時の駆動電流
   値より所定量大きいときに上記レーザーダイオードが劣
   化していると判断するようにしたことを特徴とする光記
   録再生方法。
6. 【請求項６】請求項５記載の光記録再生方法において、 上記所定時は、製造時であることを特徴とする光記録再
   生方法。
7. 【請求項７】請求項５記載の光記録再生方法において、 上記所定量は、使用状態に応じて可変にすることを特徴
   とする光記録再生方法。
8. 【請求項８】請求項７記載の光記録再生方法において、 上記所定量に、使用状態に応じた係数をかけることを特
   徴とする光記録再生方法。