JP3983526B2 - 発光パワー制御装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ＭＯ，ＭＤ等の光磁気ディスクに対して光パワーによって情報の記録及び再生を行う光磁気ディスク装置やＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ等の光ディスクに対して光パワーによって情報の記録及び再生を行う光ディスク装置等に適用する発光パワー制御装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスク装置における光ディスク（光記録媒体）へのデータの記録は、例えばＣＤ−ＲディスクではＣＤ−Ｒディスク上の記録膜に発光素子（レーザ光発光手段）であるレーザダイオード（以下「ＬＤ」と称する）から発光される強いレーザ光量を光ビームとして照射して、その熱反応によって記録膜に情報に応じた穴（「ピット」と称する）を開けることにより行われる。
また、ＣＤ−ＲＷディスクでは記録膜の結晶状態を変化させることによって行われる。
一方、光ディスクに書き込まれたデータは、ＬＤから発光される弱いレーザ光量を光ビームとして記録膜上に照射して得られる反射光量の反射光に基づいて読み取ることができる。
【０００３】
ところで、上述したように光ディスクの記録はＬＤからの光ビームによって光ディスクにピットを開けることで行われる。そのときのレーザ光の発光パワーの変化を図７に示す。
図７において、記録時にはＬＤからは第１の光量レベルの発光パワーＰ１とそれよりも大きい（高い）第２の光量レベルの発光パワーＰ２が繰り返して出射される。
第２の光量レベルの発光パワーＰ２は記録パワーであり、その発光パワーで照射した記録膜の部分にピットが形成され、第１の光量レベルの発光パワーＰ１は再生パワーであり、その発光パワーで照射した記録膜の部分はそのままスペースになる。
【０００４】
また、ＣＤ−Ｒディスクでは、Ｐ３＞Ｐ２の関係を有する第３の光量レベルの発光パワーＰ３を設けて、Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３の３値で記録パワー波形を生成することがあり、その第３の光量レベルの発光パワーＰ３をピット先頭に位置付けるようにしてピットエッジを先鋭化している。
また、ＣＤ−ＲＷディスク（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）のような相変化型の書き換え可能な媒体では、やはり３値を設けるが、第３の光量レベルの発光パワーＰ３と第１の光量レベルの発光パワーＰ１を高速で繰り返すことによって記録膜をアモルファス（非結晶）化し、第２の光量レベルの発光パワーＰ２を持続させることによって結晶化させ、それをデータに対応させる。
【０００５】
図７に示すように、時間ｔライトスタートより前が光ディスクからデータを再生するときの発光波形であり、時間ｔライトスタートより後が光ディスクにデータを記録する場合の発光波形である。
上述したように光ディスクのデータを再生するとき、ＬＤから発光されるパワーは低くてＤＣ発光であり、一般的に第１の光量レベルの発光パワーＰ１は１ｍＷほどである。
一方、記録時にＬＤから発光されるレーザ光のパワーは高くて第２の光量レベルの発光パワーＰ２は一般に数ｍＷ〜数１０ｍＷである。記録時は第１の光量レベルの発光パワーＰ１と第２の光量レベルの発光パワーＰ２の発光が繰り返すことによって光ディスク上の記録膜にピットをつくることができるのである。
【０００６】
ところで、近年の光ディスク装置では再生速度，記録速度共に向上されつつある。再生速度では３２倍速のものもあり、記録速度では１２倍や１６倍になるものもある。
例えば、ＣＤ−Ｒディスクに１２倍速でデータを記録する場合、記録パワーは再生パワーに対して３０倍くらいになることもあり、それは再生パワーが１ｍＷの時に記録パワーが３０ｍＷになることを示す。
また、ＬＤは自らの発振による温度上昇等の原因によってその発光パワーが変化する（特に発光パワーが高パワーであるときには温度上昇する時間は短くなる）ので、光ディスク装置等において受光素子（以下「ＰＤ」と称する）でＬＤ出力をモニタしながらＬＤを駆動する電流を制御してＬＤの発光パワーを一定にしている。そのＬＤの発光パワーを制御する部分が発光パワー制御装置である。
【０００７】
図８は、従来のＬＤの発光パワーを定パワー制御する発光パワー制御装置の回路構成例を示す図である。
この発光パワー制御装置では、定パワー制御をディジタルＡＰＣ制御で行っている。
図８において、ＰＤ１に入射された光は光電変換によって光量に比例した電流のかたちで出力される。ただし、ＰＤ１によるモニタはＬＤ２からのレーザ光の一部をモニタするものであり、レーザ光の大部分は光ディスクの記録膜へ照射される。
次に、ＰＤ１から出力された電流信号をＡＰＣ部のＩ／Ｖ変換器（Ｉ／Ｖ変換回路）３によって電圧信号に変換して電圧値として出力する。その出力された電圧信号において第１の光量レベルの発光パワーＰ１に対応した値を電圧信号Ｖ（Ｐ１），第２の光量レベルの発光パワーＰ２に対応したものを電圧信号Ｖ（Ｐ２）とする。
【０００８】
記録時における出力は再生時と異なり、電圧信号Ｖ（Ｐ１）と電圧信号Ｖ（Ｐ２）が交互に変化する信号であるため、第１サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路４と第２サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路５によってそれぞれ電圧信号Ｖ（Ｐ１）と電圧信号Ｖ（Ｐ２）に分離される。
また、第１Ｓ／Ｈ回路４における第１サンプル信号は再生時は常に第１Ｓ／Ｈ回路４内のスイッチＳＷをオン（ＯＮ）する信号であり、記録時は記録時の第１の光量レベルの発光パワーＰ１で出射されている期間、あるいはそれよりも短い期間のみ第１Ｓ／Ｈ回路４内のスイッチＳＷをオン（ＯＮ）にし、また、第２の光量レベルの発光パワーＰ２が出射されている期間は第１Ｓ／Ｈ回路４内のスイッチＳＷをオフ（ＯＦＦ）して第１Ｓ／Ｈ回路４内のコンデンサＣで第１の光量レベルの発光パワーＰ１に対応した電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）のみを取り出すようにコントロールしている。
【０００９】
一方、第２サンプル信号は再生時は常に第２Ｓ／Ｈ回路５内のスイッチＳＷをオフ（ＯＦＦ）する信号であり、記録時は第２の光量レベルの発光パワーＰ２で出射されている期間、あるいはそれよりも短い期間のみ第２Ｓ／Ｈ回路５内のスイッチＳＷをオン（ＯＮ）し、記録時に第１の光量レベルの発光パワーＰ１で出射されている期間は第２Ｓ／Ｈ回路５内のスイッチＳＷをオフ（ＯＦＦ）して第２Ｓ／Ｈ回路５内のコンデンサＣで第２の光量レベルの発光パワーＰ２に対応した電圧信号Ｖｓ（Ｐ２）のみを取り出すようにコントロールする信号である。
第１Ｓ／Ｈ回路４と第２Ｓ／Ｈ回路５によってＩ／Ｖ変換器３の出力する電圧信号から分離した各電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）及びＶｓ（Ｐ２）を、それぞれ第１コンパレータ６及び第２コンパレータ７に入力する。
【００１０】
第１コンパレータ６では電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）と第１基準電圧Ｖｒｅｆ１とを比較し、同様に第２コンパレータ７では電圧信号Ｖｓ（Ｐ２）と第２基準電圧Ｖｒｅｆ２とを比較している。
第１コンパレータ６及び第２コンパレータ７からは入力信号（それぞれ電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）と電圧信号Ｖｓ（Ｐ２））が基準電圧（それぞれ第１基準電圧Ｖｒｅｆ１と第２基準電圧Ｖｒｅｆ２）に対して大きいか小さいかのみを示す信号、つまり２値の値（ディジタル値）が出力されてＣＰＵ８で読み込むようにしている。
また、ディジタル値をアナログ値に変換する第１Ｄ／Ａコンバータ９にＣＰＵ８からデータが送られ、第１Ｄ／Ａコンバータ９からは入力されたデータに比例した電圧を出力している。さらに、その出力に比例した値がＬＤドライバ部の第１Ｖ／Ｉ変換器１１によって電流が出力される。
【００１１】
同様にして、第２Ｄ／Ａコンバータ１０にもＣＰＵ８からデータが送られて第２Ｖ／Ｉ変換器１２からも電流が出力される。
さらに、第１Ｖ／Ｉ変換器１１と第２Ｖ／Ｉ変換器１２の出力電流をそれぞれ第１電流増幅器１３と第２電流増幅器１４によって増幅するのだが、再生時はＬＤＯＮ信号をオン（ＯＮ）にすることによって第１増幅器１３側のスイッチＳＷを閉じて第１電流増幅器１３から出力された電流信号をＬＤ２へ供給し、第１の光量レベルの発光パワーＰ１レベルでＬＤ２を発光させる。
また、記録時はライトパルス重畳信号をオン（ＯＮ）にすることによって第２増幅器１４側のスイッチＳＷを閉じて第２電流増幅器１４の出力を電流加算器１５へ供給し、電流加算器１５によって第１電流増幅器１３から出力された電流信号に第２電流増幅器１４から出力された電流信号を足してＬＤ２へ供給し、その電流信号によってＬＤ２を第２の光量レベルの発光パワーＰ２レベルで発光させる。
【００１２】
その第１電流増幅器１３からの出力を電流信号ＩＰ１とし、第２電流増幅器１４からの出力を電流信号ＩＰ２とする。
ところで、再生開始時、ＣＰＵ８はまず、第１Ｄ／Ａコンバータ９に“０”を出力する。それによりＬＤ２の記録パワー分の電流は“０”からスタートする。
そして、ＣＰＵ８は第１Ｄ／Ａコンバータ９に出力するデータを徐々に増加させながら、第１コンパレータ６の出力が反転する（つまり電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）が第１基準電圧Ｖｒｅｆ１よりも大になる）まで増加させる。
その後、第１コンパレータ６の出力が常に反転を繰り返すように（つまり電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）＝第１基準電圧Ｖｒｅｆ１になるように）、第１Ｄ／Ａコンバータ９へ出力するデータを常に可変する。このようにして、ＬＤ２から出射される再生パワーは一定レベルに保たれる。
【００１３】
図９は、図８に示した発光パワー制御装置におけるデジタルＡＰＣ制御時の第１Ｓ／Ｈ回路４と第１コンパレータ６のそれぞれの出力電圧を示す波形図である。上述の制御動作の様子を示すものである。
また、上述と同様にして、記録開始時から記録パワーレベルが一定に保たれるまでの制御について説明する。
図１０は、図８に示した発光パワー制御装置におけるデジタルＡＰＣ制御時の第２Ｓ／Ｈ回路５と第２コンパレータ７のそれぞれの出力電圧を示す波形図である。
図１０に示すように、再生発光時にはＣＰＵ８は第２Ｄ／Ａコンバータ１０の出力を“０”にしておく。
【００１４】
次に、記録発光が開始されるとＣＰＵ８は第２Ｄ／Ａコンバータ１０に出力するデータを“１”ずつ乃至は所定ずつ上げていく。
それにともなって、第２Ｄ／Ａコンバータ１０の出力する電圧信号に比例した電流信号がＬＤ２に記録パワーの電流として第１Ｄ／Ａコンバータ９の出力する電圧信号に比例した電流信号に重畳されるため、それをモニタして、サンプルホールドした第２Ｓ／Ｈ回路５の出力する電圧信号も所定量ずつ増加していく。
そしてやがて第２Ｓ／Ｈ回路５の出力する電圧信号が第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を超えると第２コンパレータ７の出力が反転する。反転するとＣＰＵ８は、その前とは逆方向に動かしたデータを第２Ｄ／Ａコンバータ１０へ送出する。
【００１５】
このようにして、ＬＤ２へ供給される電流信号が減少し、また、第２コンパレータ７が反転する。反転するとＣＰＵ８は、その前とは逆方向に．．．．．のようにして、ＣＰＵ８は永久に第２Ｄ／Ａコンバータ１０を操作し、常に第２Ｓ／Ｈ回路５の出力する電圧信号と第２基準電圧Ｖｒｅｆ２とがまたぎあうように操作する。こうしてＬＤ２から一定の第２の光量レベルの発光パワーＰ２が出射されることになる。
このように構成されたフィードバックループ回路により、基準電圧によって決定される一定パワーがＬＤ２から発光されることになるが、その回路構成はＣＰＵとＤ／Ａコンバータ等を用いたディジタルＡＰＣ制御である。
【００１６】
しかし、定パワー制御は上述のようなディジタルＡＰＣ制御だけではなく、Ｓ／Ｈ回路からの信号を誤差増幅器等に入力し、誤差増幅器等で基準電圧と比較して、基準電圧に対してずれを生じているときに誤差増幅器はずれを補正するような電圧をＶ／Ｉ変換器に出力することによってもパワー制御することができる。
このように、アナログ制御でもディジタル制御でもＬＤ発光パワーをモニタして第１の光量レベルの発光パワーＰ１，第２の光量レベルの発光パワーＰ２といったレベルを基準電圧と比較して基準電圧になるようにＬＤへの駆動電流を制御するといった点では同じ動作である。
【００１７】
すなわち、定パワー制御は上述のようなディジタル制御だけではなく、２つのＳ／Ｈ回路からのそれぞれの信号を誤差増幅器等に入力し、誤差増幅器等で基準電圧と比較して基準電圧に対してずれを生じているときに誤差増幅器はずれを補正するような電圧をそれぞれに対応するＶ／Ｉ変換器に出力するようなアナログ制御であってもパワー制御することができる。
このように、アナログ制御でもディジタル制御でもＬＤの発光パワーをモニタして所定の光量レベルである第１の光量レベルの発光パワーＰ１，第２の光量レベルの発光パワーＰ２といったレベルを基準電圧と比較して基準電圧になるようにＬＤへの駆動電流を制御するといった点では同じ動作である。
【００１８】
ところで、上記第１コンパレータ６の第１基準電圧Ｖｒｅｆ１と第２コンパレータ７の基準電圧Ｖｒｅｆ２と第１の光量レベルの発光パワーＰ１又は第２の光量レベルの発光パワーＰ２の関係は製造工程などにおいて、例えば関係式のかたちで予め求めておく。
そして、実際の発光時はその関係式に基づいて第１の光量レベルの発光パワーＰ１と第２の光量レベルの発光パワーＰ２の設定を行う。
図１１は、ＬＤの駆動電流対発光パワー特性の関係の一例を示す線図である。
図１１に示すように、ＬＤからの発光パワーとＬＤ駆動電流は所定のしきい値Ｉｔｈよりも上では１次関数的になっている。
【００１９】
もちろん、その傾きはＬＤによって多少ばらつきもあるが、ＬＤ駆動電流と発光パワーの関係に所定の傾きがあるなら、ＬＤ駆動電流を設定するＤ／Ａコンバータの設定電圧値とも発光パワーは関係をもつことがわかる。
さらに、Ｄ／Ａコンバータの設定電圧値はもともとコンパレータの基準電圧によって決まるものなので、コンパレータの基準電圧と発光パワーはある一定の傾きで１次関数的な関係があるといえる。
したがって、その傾きを予め求めておけば、基準電圧に対して発光パワーを求めることができる。
実際は、その傾きや切片をメモリ等に記憶させておくことによって、その制御はたやすくなる。
【００２０】
また、上記傾きはＬＤの特性によって温度などで傾きが変わったり、しきい値Ｉｔｈがシフトしたりするが、コンパレータの基準電圧をまたぐようにＣＰＵがＬＤ駆動電流を変えるので一定パワーで制御することができる。
そのＬＤからの発光パワーが一定になるように制御することをオートパワーコントロール（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ：以下「ＡＰＣ制御」と略称する）という。
図８に示した発光パワー制御装置では、特に基準電圧と比較して基準電圧になるようにＶ／Ｉ変換器へ電圧を制御するＣＰＵまでをＡＰＣ部とした。
【００２１】
ところで、ＰＤ出力、つまりＩ／Ｖ変換器の出力は、ＬＤが同じ発光パワーで発光していてもＰＤの取り付け位置のばらつきなどによって異なる。
そのため、ばらつきが大きい場合、上述したように製造工程で上記コンパレータの基準電圧と第１の光量レベルの発光パワーＰ１又は第２の光量レベルの発光パワーＰ２の関係を求める際に、実際に発光させるなどして関係を求めたとしても、基準電圧を最も大きくしたときの発光パワーにばらつきがでてしまう。
したがって、Ｉ／Ｖ変換器の出力を可変ゲインアンプ等の電圧増幅手段でＳ／Ｈ回路への入力をできるだけ一定になった状態で基準電圧と第１の光量レベルの発光パワーＰ１又は第２の光量レベルの発光パワーＰ２の関係を求めるのが好ましい。
【００２２】
しかし、コンパレータの基準電圧と第１の光量レベルの発光パワーＰ１，第２の光量レベルの発光パワーＰ２の関係を求めるために、従来製造工程で実際に発光させるなどして関係式を求める際に、パワーを発光させる手順が複雑である場合に調整工程において時間がかかるといった問題や、発光パワーを検出する装置や設備を必要とするためコストがかかるといった問題があった。
【００２３】
そこで従来、再生信号を再生信号判定回路に入力し、再生信号判定回路の出力により記録時のレーザパワーが適切な値か否かを制御回路によって判定し、制御回路からレーザパワー設定回路へ記録時のパワーを補正するためにＤ／Ａ変換した電圧値を送ることによって、自動的に記録パワーを得る発光パワー制御装置（例えば、特許第２７９７８５８号公報参照）が提案されている。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の発光パワー制御装置では、調整工程等を必要としないのでコストや時間等はかからないが、実際の記録パワーの補正のために光ディスクに記録させてからその書かせた部分の再生信号を見る必要がある。そのため、光ディスクにＯＰＣ以外で書かせる必要があり、光ディスクにそのための新たな領域を設けなければならず、記録容量の減少を招くという問題があった。また、ユーザが調整用の光ディスクを用意しなければならないので使用時のコストがかかるという問題もあった。
この発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、発光パワー調整を装置や設備を必要とすることなく上記欠点を解消し、製造時の調整工程を削減して組立コストの低減を図ると共に、光記録媒体の記録容量を低減させず、使用者の使用コストを上昇させないようにすることを目的とする。
【００２５】
【課題を解決するための手段】
この発明は上記の目的を達成するため、複数のレーザーパワーのレーザ光を光記録媒体に照射するレーザ光発光手段と、上記レーザ光発光手段に電流を供給して発光駆動させるレーザ光発光駆動手段と、上記レーザ光発光手段から発光されるレーザ光の発光パワーを検出し、その発光パワーに応じた電流信号を出力する発光パワー検出手段と、その発光パワー検出手段から出力された電流信号を電圧信号に変換して出力する電流電圧変換手段と、その電流電圧変換手段によって出力された電圧信号のレベルを少なくとも２種類以上の増幅率で増幅させて出力する電圧増幅手段と、その電圧増幅手段から出力された電圧信号のレベルと予め設定された基準電圧レベルとを比較する比較手段と、その比較手段の比較結果に応じて上記発光パワーの光量レベルを調整する光量レベル調整手段と、上記電流電圧変換手段から出力された電圧信号にその電圧信号以外の所定の電圧信号を注入するオフセット電圧信号注入手段と、上記比較手段に入力される電圧信号を検出する電圧信号検出手段を備え、上記オフセット電圧信号注入手段に少なくとも２種類以上の所定の電圧信号を設定したときのそれぞれの電圧信号に対して上記比較手段に入力される電圧信号と上記電圧信号検出手段によって検出された電圧信号との関係に基づいて上記電圧増幅手段の増幅率を設定するようにしたものである。
【００２６】
また、上記のような発光パワー制御装置において、上記オフセット電圧信号注入手段から出力する電圧信号に基づいて上記電流電圧変換手段から出力される電圧信号のオフセットを打ち消し、その打ち消したときの上記オフセット電圧信号注入手段から出力された電圧信号の設定値を保存した状態で上記オフセット電圧信号注入手段に少なくとも２種類以上のオフセット電圧信号を設定したときのそれぞれのオフセット電圧信号に対して上記比較手段に入力される電圧信号と上記電圧信号検出手段によって検出された電圧信号との関係に基づいて上記電圧増幅手段の増幅率を設定するようにするとよい。
【００２７】
さらに、上記のような発光パワー制御装置において、上記電流電圧変換手段から出力される電圧信号のオフセットを打ち消したときの上記オフセット電圧信号注入手段から出力された電圧信号の設定値に基づいて上記少なくとも２種類以上の所定の電圧信号を区別するようにするとよい。
さらにまた、上記のような発光パワー制御装置において、再生時と記録時にそれぞれ上記増幅手段の増幅率を求め、それぞれある一定の値に増幅率が決定された場合にのみその増幅率を上記増幅手段に設定するようにするとよい。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施形態を図面に基づいて具体的に説明する。
図６は、この発明の発光パワー制御装置を適用する一般的なＣＤ−Ｒドライブの構成を示すブロック図であり、このＣＤ−Ｒドライブは一度だけ書き込み可能なＣＤフォーマットに準拠したディスクであるＣＤ−Ｒ（ＣＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）ディスクに対する情報の記録及び再生を行う。
【００２９】
光ディスク４８は、ＣＤ−ＲＯＭディスク，ＣＤ−Ｒディスク，ＣＤ−ＲＷディスク，ＣＤ等の光記録媒体である。例えば、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）はディスク基板上の記録膜に予め各種の情報に対応するデータ列がピットと呼ばれる穴の有無で形成されており、それにレーザ光を当てて、その反射光の変化に基づいてデータを読み取る。そのデータ列はレコードの様にディスク基板上に螺旋状に並べられている。その螺旋状に配された線をトラックと呼んでいる。隣り合うトラック間の距離は１．６ミクロンである。
スピンドルモータ（Ｓｐｉｎｄｌｅ Ｍｏｔｏｒ）３０は、情報の記録又は再生時に光ディスク４８を所定の回転数で回転駆動する。
モータドライバ（Ｍｏｔｏｒ Ｄｒｉｖｅｒ）３１とサーボ部（Ｓｅｒｖｏ）３２は、スピンドルモータ３０を一定速度になるように駆動制御する。
【００３０】
光ピックアップ部（Ｐｉｃｋ Ｕｐ）３３は、図示を省略した公知のレーザ発光手段であるレーザダイオード（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ），レンズ等の光学系，レーザ光の焦点が光ディスク４８に合うようにレンズの位置を光ディスク４８に対して垂直方向に動かす機構であるフォーカスアクチュエータ，レーザ光の焦点がトラックをトレースするように光ディスク４８の半径方向（スレッジ方向）に対してレンズを動かす機構であるトラックアクチュエータ，受光素子及びポジションセンサ等を内蔵したものであり、光ディスク４８に対する情報の記録又は再生時にレーザ光を照射する。
また、光ピックアップ部３３の全体はシークモータ（同じく図示を省略する）によってスレッジ方向に移動可能である。上記フォーカスアクチュエータ，トラックアクチュエータ，シークモータは、受光素子，ポジションセンサから得られた信号に基づいてモータドライバ３１とサーボ部３２によってレーザスポットを目的の場所に位置するように制御する。
【００３１】
光ディスク４８からのデータ読み出しの場合、光ピックアップ部３３で得られた再生信号をリードアンプ（Ｒｅａｄａｍｐ）３４で増幅してイコライザ処理や２値化（ディジタル化）を施した後、ＣＤデコーダ（ＣＤ Ｄｅｃｏｄｅｒ）３５へ入力してＥＦＭ復調する。また、ＣＤ−ＲＯＭデータの場合はＣＤ−ＲＯＭデコーダ４４によってデコードする。光ディスク４８には光学的に再生又は記録しやすいように８ビット（ｂｉｔ）データを１４ビットのデータに変調したデータが書かれており、それをＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）と呼ぶ。さらに、ＥＦＭ復調されたデータにデインタリーブ（並べ替え直し）とエラー訂正の処理を施す。
【００３２】
その後、そのデータをバッファマネージャ（Ｂｕｆｆｅｒ Ｍａｎａｇｅｒ）３６によって一旦バッファＲＡＭ（Ｂｕｆｆｅｒ ＲＡＭ）３７に蓄えて、セクタデータとして揃った段階でＡＴＡＰＩやＳＣＳＩ等のインタフェース（Ｉ／Ｆ）３８を介してホストコンピュータ（図示を省略）へ一気に送る。
また、音楽データの場合、ＣＤデコーダ３５から出てきたデータをＤ／Ａコンバータ３９へ入力してアナログのオーディオ信号を取り出す。
【００３３】
一方、データ書き込み時は、Ｉ／Ｆ３８を通してホストコンピュータから送られてきたデータをバッファマネージャ３６によって一旦バッファＲＡＭ３７に蓄えて、バッファＲＡＭ３７にある程度の量のデータが貯まったところで書き込みを開始するが、その前にレーザスポットを書き込み開始地点に位置させなければならない。その地点はトラックの蛇行によって予め光ディスク４８に刻まれているウォブル信号から求められる。ウォブル信号にはＡＴＩＰと呼ばれる絶対時間情報が含まれており、ＡＴＩＰデコーダ４０によってＡＴＩＰを取り出せる。
また、ＡＴＩＰデコーダ４０が生成する同期信号をＣＤエンコーダ４１へ入力して正確な位置でのデータの書き出しを可能にしている。
【００３４】
バッファＲＡＭ３７のデータを、ＣＤ−ＲＯＭエンコーダ４２やＣＤエンコーダ４１でエラー訂正コードの付加やインターリーブ（並べ替え）を行った後にＥＦＭ変調し、レーザコントロール回路（レーザコントローラ：Ｌａｓｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）４３，光ピックアップ部３３を介して光ディスク４８に記録する。
ＣＰＵ４５は、このＣＤ−Ｒドライブ全体の制御を司るマイクロコンピュータであり、ＲＯＭ４６はＣＰＵ４５が実行する各種の制御プログラムを格納するメモリであり、ＲＡＭ４７はＣＰＵ４５が各種の制御処理を行う際の作業領域であるメモリである。
【００３５】
次に、この発明の第１実施形態の発光パワー制御装置について説明する。
図１は、この発明の第１実施形態の発光パワー制御装置の回路構成を示すブロック図である。図８と共通する部分には同一符号を付して共通する機能についての説明を省略する。
図２は、図１に示した発光パワー制御装置における処理を示すフローチャート図である。
図１に示した各スイッチの制御信号、つまり第１サンプル信号，第２サンプル信号，ライトパルス重畳信号とＬＤＯＮ信号は図６のＣＤエンコーダ４１によって出力される信号である。
【００３６】
図１において、ＬＤ２は上記レーザ光発光手段に、第１Ｖ／Ｉ変換器１１と第２Ｖ／Ｉ変換器１２と第１電流増幅器１３と第２電流増幅器１４と電流加算器１５とは上記レーザ光発光駆動手段に、ＰＤ１は上記発光パワー検出手段に、Ｉ／Ｖ変換器３は上記電流電圧変換手段にそれぞれ相当する。
また、可変ゲインアンプ２０は上記電圧増幅手段に、第１Ｓ／Ｈ回路４と第２Ｓ／Ｈ回路５と第１コンパレータ６と第２コンパレータ７とは上記比較手段に、ＣＰＵ８と第１Ｄ／Ａコンバータ９と第２Ｄ／Ａコンバータ１０とは上記光量レベル調整手段に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は上記オフセット電流注入手段に、Ａ／Ｄコンバータ２２は上記電圧信号検出手段にそれぞれ相当する。
【００３７】
予め発光パワー制御装置に組み込んでおくソフトウェア（Ｆ／Ｗ）において、可変ゲインアンプ２０のゲインを求めるために第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を２つとする。また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１への設定は第１設定値に対して「第１設定値＋５ＬＳＢ」の場合と「第１設定値＋１０ＬＳＢ」のいずれか一方を選択できるようにしておき、「＋５ＬＳＢ」の場合は２点目を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」とし、１点目を「＋１０ＬＳＢ」とした場合は２点目を「＋２０ＬＳＢ」とする。
なお、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は最大１００ＬＳＢまで設定できるものとし、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は上限の５ＬＳＢ以内で必ず飽和する仕様とする。
【００３８】
この場合、「＋２０ＬＳＢ」になったときに「９５ＬＳＢ」とならないようにするには第１設定値で７５ＬＳＢがぎりぎりであるが、余裕をもって７０ＬＳＢとする。その「７０ＬＳＢ」をしきい値Ａとする。
また、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１や第２基準電圧Ｖｒｅｆ２は予め決定した所定値を設定するとそれに応じたパワーで発光するといった用途があるので、Ｄ／Ａコンバータ等で細かく設定を可変できるようにしているのだが、ここでは図１への図示を省略したがＤ／Ａコンバータのような回路以外に回路基準電圧にスイッチなどで基準電圧を切り換えられるようにしておくとよい。
【００３９】
製造工程において、光ピックアップ部と発光パワー制御装置を接続した後、電源をオン（ＯＮ）にする。発光パワー制御装置としては再生側にＡ／Ｄコンバータ２２を第１Ｓ／Ｈ回路４の出力側につなげておく。さらに第１基準電圧Ｖｒｅｆ１を発光パワー制御装置の回路基準電圧に設定する。その後、第１サンプル信号をオン（ＯＮ）にすることによって第１Ｓ／Ｈ回路４から電圧信号が出力される（図２のステップ（図中「Ｓ」で示す）１）。
次に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させ（Ｓ２）、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させたときの第１コンパレータ６の出力をみる。第１コンパレータ６の出力が変化したとき、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第１設定値として保存する（Ｓ３）。その保存は図示を省略したＲＡＭのような揮発性メモリ等でよい。
【００４０】
さらに、第１設定値がしきい値Ａを超えるか否かを判断し（Ｓ４）、第１設定値がしきい値Ａを超える場合、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋５ＬＳＢ」にしたときのＡ／Ｄコンバータ２２の値を測定して保存する（Ｓ５）。また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」とした時のＡ／Ｄコンバータ２２の値を測定して保存する（Ｓ６）。
次に、上記保存された２点を通る直線の傾きを計算し（Ｓ９）、その値を可変ゲインアンプ２０のゲインとして設定する（Ｓ１０）。その後、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を第１設定値に戻す（Ｓ１１）。
【００４１】
一方、第１設定値がしきい値Ａを超えない場合は、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」にしたときのＡ／Ｄコンバータ２２の値を測定して保存する（Ｓ７）。また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋２０ＬＳＢ」とした時のＡ／Ｄコンバータ２２の値を測定して保存する（Ｓ８）。
その後、上記保存された２点を通る直線の傾きを計算し（Ｓ９）、その値を可変ゲインアンプ２０のゲインとして設定する（Ｓ１０）。そして、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を第１設定値に戻す（Ｓ１１）。
こうして、製造工程において発光パワー調整のための設備や装置が不要になってコストがかからず、さらに発光パワー調整の時間も短縮することができる。
【００４２】
次に、この発明の第２実施形態の発光パワー制御装置について説明する。
図３は、この発明の第２実施形態の発光パワー制御装置の回路構成を示すブロック図である。図１及び図８と共通する部分には同一符号を付して共通する機能についての説明を省略する。
【００４３】
図３において、ＬＤ２は上記レーザ光発光手段に、第１Ｖ／Ｉ変換器１１と第２Ｖ／Ｉ変換器１２と第１電流増幅器１３と第２電流増幅器１４と電流加算器１５とは上記レーザ光発光駆動手段に、ＰＤ１は上記発光パワー検出手段に、Ｉ／Ｖ変換器３は上記電流電圧変換手段にそれぞれ相当する。
また、可変ゲインアンプ２０は上記電圧増幅手段に、第１Ｓ／Ｈ回路４と第２Ｓ／Ｈ回路５と第１コンパレータ６と第２コンパレータ７とは上記比較手段に、ＣＰＵ８と第１Ｄ／Ａコンバータ９と第２Ｄ／Ａコンバータ１０とは上記光量レベル調整手段に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は上記オフセット電流注入手段に、第１Ａ／Ｄコンバータ２３と第２Ａ／Ｄコンバータ２４とは上記電圧信号検出手段にそれぞれ相当する。
【００４４】
図４及び図５は、図３に示した発光パワー制御装置における処理を示すフローチャート図である。
第２実施形態と第１実施形態の発光パワー制御装置の相違点は、第２実施形態の発光パワー制御装置では記録側の制御回路にもＡ／Ｄコンバータを設けた点である。すなわち、図３では第１Ａ／Ｄコンバータ２３と第２Ａ／Ｄコンバータ２４を設けている。
【００４５】
また、第２実施形態の発光パワー制御装置でも第１実施形態と同様に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定は第１設定値に対して「第１設定値＋５ＬＳＢ」の場合と「第１設定値＋１０ＬＳＢ」のいずれか一方を選択できるようにしておき、「＋５ＬＳＢ」の場合は２点目を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」とし、１点目を「＋１０ＬＳＢ」とした場合は２点目を「＋２０ＬＳＢ」とする。
なお、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は最大１００ＬＳＢまで設定できるものとし、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は上限の５ＬＳＢ以内で必ず飽和する仕様にする。
この場合、「＋２０ＬＳＢ」になったときに「９５ＬＳＢ」とならないようにするには第１設定値で７５ＬＳＢがぎりぎりであるが、余裕をもって７０ＬＳＢとする。その７０ＬＳＢをしきい値Ａとする。
【００４６】
また、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１や第２基準電圧Ｖｒｅｆ２は予め決定した所定値を設定するとそれに応じたパワーで発光するといった用途があるので、Ｄ／Ａコンバータ等で細かく設定を可変できるようにしているのだが、図３でも図示を省略したが例えばＤ／Ａコンバータのような回路以外に回路基準電圧にスイッチ等で基準電圧を切り換えられるようにしておくとよい。さらに、再生側で求めたゲインを第１ゲインとし、記録側で求めたゲインを第２ゲインとする。
【００４７】
製造工程において、光ピックアップ部と発光パワー制御装置を接続した後、発光パワー制御装置としては再生側に第１Ａ／Ｄコンバータ２３を第１Ｓ／Ｈ回路４の出力側につなげておく。また、記録側に第２Ａ／Ｄコンバータ２４を第２Ｓ／Ｈ回路５の出力側につなげておいて、電源をオン（ＯＮ）にする。さらに第１基準電圧Ｖｒｅｆ１を発光パワー制御装置の回路基準電圧に設定する。その後、第１サンプル信号をオン（ＯＮ）にすることによって第１Ｓ／Ｈ回路４から電圧信号が出力される（図４のステップ（図中「Ｓ」で示す）２１）。
次に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させ（Ｓ２２）、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させたときの第１コンパレータ６の出力をみる。第１コンパレータ６の出力が変化したとき、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第１設定値として保存する（Ｓ２３）。その保存は図示を省略したＲＡＭのような揮発性メモリ等でよい。
【００４８】
さらに、第１設定値がしきい値Ａを超えるか否かを判断し（Ｓ２４）、第１設定値がしきい値Ａを超える場合、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋５ＬＳＢ」にしたときの第１Ａ／Ｄコンバータ２３の値を測定して保存する（Ｓ２５）。
また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」とした時の第１Ａ／Ｄコンバータ２３の値を測定して保存する（Ｓ２６）。
その後、上記保存された２点を通る直線の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の第１ゲインとして保存する（Ｓ２９）。
【００４９】
一方、第１設定値がしきい値Ａを超えない場合は、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」にしたときの第１Ａ／Ｄコンバータ２３の値を測定して保存する（Ｓ２７）。また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋２０ＬＳＢ」とした時の第１Ａ／Ｄコンバータ２３の値を測定して保存する（Ｓ２８）。
その後、上記保存された２点を通る直線の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の第１ゲインとして保存する（Ｓ２９）。
【００５０】
次に、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を発光パワー制御装置の回路基準電圧に設定する。その後、第１サンプル信号をオフ（ＯＦＦ）にして第２サンプル信号をオン（ＯＮ）にすることによって第２Ｓ／Ｈ回路５から電圧信号が出力される（Ｓ３０）。第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させ（Ｓ３１）、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させたときの第２コンパレータ７の出力をみる。第２コンパレータ７の出力が変化したとき、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第２設定値として保存する（図５のＳ３２）。その保存は図示を省略したＲＡＭのような揮発性メモリ等でよい。
【００５１】
さらに、第２設定値がしきい値Ａを超えるか否かを判断し（Ｓ３３）、第２設定値がしきい値Ａを超える場合、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第２設定値＋５ＬＳＢ」にしたときの第２Ａ／Ｄコンバータ２４の値を測定して保存する（Ｓ３４）。
また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第２設定値＋１０ＬＳＢ」とした時の第２Ａ／Ｄコンバータ２４の値を測定して保存する（Ｓ３５）。
その後、上記保存された２点を通る直線の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の第２ゲインとして保存する（Ｓ３８）。
【００５２】
一方、第２設定値がしきい値Ａを超えない場合は、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第２設定値＋１０ＬＳＢ」にしたときの第２Ａ／Ｄコンバータ２４の値を測定して保存する（Ｓ３６）。また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第２設定値＋２０ＬＳＢ」とした時の第２Ａ／Ｄコンバータ２４の値を測定して保存する（Ｓ３７）。
その後、上記保存された２点を通る直線の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の第２ゲインとして保存する（Ｓ３８）。
【００５３】
次に、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を発光パワー制御装置の回路基準電圧に設定する。その後、第１サンプル信号をオフ（ＯＦＦ）にして第２サンプル信号をオン（ＯＮ）にすることによって第２Ｓ／Ｈ回路５から電圧信号が出力される（Ｓ３０）。第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させ（Ｓ３１）、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化させたときの第２コンパレータ７の出力をみる。第２コンパレータ７の出力が変化したとき、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第２設定値として保存する（図５のＳ３２）。その保存は図示を省略したＲＡＭのような揮発性メモリ等でよい。
【００５４】
次に、上記保存した第１ゲインと第２ゲインについて設定誤差や計算上の誤差も考えられるため、上記保存した第１ゲインと第２ゲインを比較して、両値の誤差が所定の範囲内にあるか否かを判断し（Ｓ３９）、所定の範囲内なら第１ゲインと第２ゲインの平均値をとり、その平均値を可変ゲインアンプ２０のゲインとして設定する（Ｓ４０）。
さらに、第１設定値と第２設定値の平均値を求め、その平均値を第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値として設定する（Ｓ４１）。
一方、上記保存した第１ゲインと第２ゲインの誤差が所定の範囲外ならば、この発光パワー制御装置をＮＧとする（Ｓ４２）。
こうして、発光パワー制御装置内の回路の異常があった場合、発光させるような装置や設備を必要とせずに異常があるか否かを判定できるので、次工程での無駄を省くことができる。
【００５５】
上記実施形態における請求項１記載の発光パワー制御装置は、可変ゲインアンプ２０への入力に第３Ｄ／Ａコンバータ２１をＩ／Ｖ変換器３の出力に注入できるようにし、さらに第１Ｓ／Ｈ回路４又は第２Ｓ／Ｈ回路５のそれぞれの出力にＡ／Ｄコンバータを備えておく。（第１実施形態の場合は第１Ｓ／Ｈ回路４の出力側にＡ／Ｄコンバータ２２を設け、第２実施形態の場合は第１Ｓ／Ｈ回路４の出力側に第１Ａ／Ｄコンバータ２３を、第２Ｓ／Ｈ回路５の出力側に第２Ａ／Ｄコンバータ２４をそれぞれ設けた）
【００５６】
Ａ／Ｄコンバータは第１Ｓ／Ｈ回路４又は第１Ｓ／Ｈ回路５の出力をディジタル値に変換することができるので、ＣＰＵ８はその値からＳ／Ｈ回路の出力を測定することができる。Ｓ／Ｈ回路への入力値が一定であれば基準電圧が最大時の発光パワーの値はばらつかなくなるので、発光パワー制御装置の回路設計時にどのような値になるかを決めておくのだが、そのときＩ／Ｖ変換器３の出力が設計値になっていれば問題はないが、上述したようにばらつきがあるために可変ゲインアンプ２０によってＳ／Ｈ回路への入力を一定にする必要がある。
【００５７】
そこで、可変ゲインアンプ２０の入力用の第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を２種類以上に設定してやり、そのときのＡ／Ｄコンバータの値を測定する。第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を２種類にした場合は、その設定値に対するＡ／Ｄコンバータの値は２点になるので、その２点を通る直線の関係式の傾きを求める。
また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を３種類以上にする場合は上述と同様にして３点以上とれるので３点の近似直線を関係式とし、その傾きを求める。
そして、その求めた傾きを可変ゲインアンプ２０のゲインとし、そのゲインを可変ゲインアンプ２０のゲインとして設定する。
【００５８】
したがって、実際に発光させなくてもＳ／Ｈ回路への入力が一定になるので、レーザダイオード等のレーザ発光手段の発光パワー調整を行う装置や設備が必要ではなくなるため、製造時に調整工程を削減することができて組立コストの低減を図ることができる。
このようにして、実際に発光させることなく設備や装置を必要とすることなく発光パワー検出手段であるＰＤからの出力にばらつきがあっても可変ゲインアンプの最適なゲインをみつける事ができるので、製造時のコスト削減や時間短縮を図ることができる。
【００５９】
次に、上記請求項１記載の発光パワー制御装置では、可変ゲインアンプ２０にオフセット電圧が生じている場合があり、正確なゲインを求めることができなくなる恐れがある。
そこで、上記実施形態における請求項２記載の発光パワー制御装置では、可変ゲインアンプ２０の電圧オフセットを除くため、例えば再生パワーを制御する回路側にある第１コンパレータ６を使用して以下のようにして可変ゲインアンプのゲインを求める。
第１Ｓ／Ｈ回路４の入力は回路基準電圧であるので、第１サンプル信号をオン（ＯＮ）にした状態で第１コンパレータ６の第１基準電圧Ｖｒｅｆ１を回路基準電圧として第３Ｄ／Ａコンバータ２１を変化させる。
【００６０】
そのとき、第１コンパレータ６の出力が“０”の場合はオフセットのために回路基準電圧よりも低くなっていることを示し、逆に“１”の場合は回路基準電圧よりも大きくなっていることを示しており、“０”から“１”又は“１”から“０”へと変化したときのオフセットが無くなった（もっとも小さくなった）ことから、オフセットが無いことを検出したときの第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を保存する。
さらに、請求項１と同様にして可変ゲインアンプ２０のゲインを求め、可変ゲインアンプ２０のゲインを設定する。
そして、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の出力はオフセットを無くしたときの出力に設定し直す。
【００６１】
したがって、発光パワー制御装置にオフセットがあってもそのオフセットを取り除くことができ、さらに可変ゲインアンプのゲインの設定も設定できるので、実際に発光させなくてもＳ／Ｈ回路への入力が一定になり、レーザダイオード等のレーザ発光手段の発光パワー調整を行う装置や設備が必要ではなくなるため、製造時に調整工程を削減することができて組立コストの低減を図ることができ、設定したパワーに対する発光パワーの精度を高めることができる。
このようにして、可変ゲインアンプにオフセットがある場合でも予めオフセットを除くことによって、可変ゲインアンプのゲインをより正確に見つけることができ、発光パワーの精度を上げることができる。
【００６２】
次に、上記請求項２記載の発光パワー制御装置では、オフセット電圧注入手段の設定値が設定範囲ぎりぎりであった場合、例えばオフセット注入手段が第３Ｄ／Ａコンバータ２１であるとすると、Ｄ／Ａコンバータは一般的に「０ＬＳＢ」だったとしても出力として０Ｖではなく、数ｍＶは出力され、それは０ＬＳＢから数ＬＳＢは同じ値が出力される。
逆にＤ／Ａコンバータの設定を最大にしても、理論的に５Ｖが出力されるとしても実際は５Ｖは出力されず、最大設定以下数ＬＳＢ分はほとんど同じ値が出力されてしまう。
そのため、Ｄ／Ａコンバータを使用する際はできるだけギリギリの設定を使用しないように予めさまざまな値を設計しておく必要がある。
【００６３】
なお、可変ゲインアンプ２０のゲインの設定をするために第３Ｄ／Ａコンバータ２１に設定する少なくとも２種類以上の値は予めＦ／Ｗで目標値として決めるのだが、それを例えばオフセットを打ち消すために設定した値よりも１０ＬＳＢ大きな値と２０ＬＳＢ大きな値だった場合、さらに使用するＤ／Ａコンバータの設定範囲が１００ＬＳＢであった時のオフセットを打ち消すための設定値が８０ＬＳＢであった場合、１０ＬＳＢ大きな値は９０ＬＳＢであるが、２０ＬＳＢ大きな値は１００ＬＳＢとなり、レンジの限界になってしまう。
すると、上述したように１００ＬＳＢでは設定通りの電圧が出力されないため、それら２点の設定でＡ／Ｄコンバータで値を検出し、それらの値からゲインを求めてもゲインとしては正確ではなくなってしまう恐れがある。
【００６４】
そこで、上記実施形態における請求項３記載の発光パワー制御装置では、オフセットを打ち消すために設定された値が設定値が小さく、且つゲインを求める際の第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を小さく設定するようにＦ／Ｗで決められている場合、設定値よりも大きな値で２点をとってゲインを求めるものである。または、２点をとる間隔を狭めることによって値が飽和しない２点で求めるようにする。
【００６５】
逆に、オフセットを打ち消すために設定された値が設定値が大きく、かつゲインを求める際の第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を大きく設定するようにＦ／Ｗできめられている場合、設定値よりも小さな値で２点をとってゲインを求めるか、または２点をとる間隔をせばめることで値が飽和しない２点で求めるようにすることにより、オフセットを打ち消すために第３Ｄ／Ａコンバータ２１に設定された値とＦ／Ｗであらかじめ決められた、ゲインを求めるために第３Ｄ／Ａコンバータ２１に設定する値の目標値とを決めるものである。したがって、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定がうまくいくので、ゲインを求める精度が上がる。
【００６６】
このようにして、可変ゲインアンプ２０のゲインを見つける際、第３Ｄ／Ａコンバータ２１が飽和しないようにゲインを見つけるための第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を、オフセットをなくすために設定した第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値によって変えることにより、第３Ｄ／Ａコンバータ２１が飽和しないで済むようになるので、可変ゲインアンプ２０のゲインを正確に見つけることができる。
【００６７】
次に、上記請求項１乃至３記載の発光パワー制御装置では、製造工程における設備や装置が必要にならないのだが、再生又は記録側のどちらか一方のみにＡ／Ｄコンバータを設けており、そのＡ／Ｄコンバータを用いてゲインを求めているが、例えば再生側のみにＡ／Ｄコンバータを設けた場合、測定時に仮に再生側の回路に異常があったときにゲインをうまく求めることができなくなる恐れがある。また、再生側に異常が無くてうまくゲインを求めることができたとしても、逆に記録側の回路に問題があったときに記録側の回路の異常をみつけることができずにそのまま次工程へ移ってしまうので、そのような発光パワー制御装置は結局次工程でもＮＧとなる可能性が高く、次工程の検査時間が無駄になってしまう。
もし、その後に検査がない場合、記録側の回路に異常をもったまま出荷されてしまうという事態を招くことになる。
【００６８】
そこで、上記実施形態における請求項４記載の発光パワー制御装置では、再生側と記録側のそれぞれにＳ／Ｈ回路の出力にＡ／Ｄコンバータを設けて再生側と記録側それぞれでゲインを求めて、それぞれの回路を用いて求められたゲインがほぼ等しくなったときにゲインを決定するものである。
こうして、求められた２つのゲインが明らかに異なっている場合は回路に異常があるものと判断して、再調整もしくは出荷しないようにすることにより、回路に異常があるような発光パワー制御装置の出荷を防止し、ユーザクレームを減らすことができる。
【００６９】
このようにして、可変ゲインアンプのゲインを見つけるために再生側のパワー制御する回路と記録側のパワー制御する回路のそれぞれを用いることで、もし回路に異常が発生している場合でも次工程に移る前に見つけることができるので、次工程での検査の無駄を省くことができるうえ、異常がある回路をつけたＣＤ−Ｒドライブを市場に出さずにすむ。
【００７０】
【発明の効果】
以上説明してきたように、この発明の発光パワー制御装置によれば、製造時のレーザパワー調整工程を削減して組立コストの低減を図ると共に、光記録媒体の記録容量を低減させず、使用者の使用コストを上昇させないようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の発光パワー制御装置の第１実施形態の回路構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した発光パワー制御装置における処理を示すフローチャート図である。
【図３】この発明の発光パワー制御装置の第２実施形態の回路構成を示すブロック図である。
【図４】図３に示した発光パワー制御装置における処理を示すフローチャート図である。
【図５】同じく図４に示した続きの処理を示すフローチャート図である。
【図６】この発明の実施形態の発光パワー制御装置を適用する光ディスク装置であるＣＤ−Ｒドライブの概略構成を示すブロック図である。
【図７】従来の光ディスクに記録するときのレーザ光の発光パワーの変化を示す波形図である。
【図８】従来のＬＤの発光パワーを定パワー制御する発光パワー制御装置の回路構成例を示すブロック図である。
【図９】図８に示した発光パワー制御装置におけるデジタルＡＰＣ制御時の第１Ｓ／Ｈ回路４と第１コンパレータ６のそれぞれの出力電圧を示す波形図である。
【図１０】図８に示した発光パワー制御装置におけるデジタルＡＰＣ制御時の第２Ｓ／Ｈ回路５と第２コンパレータ７のそれぞれの出力電圧を示す波形図である。
【図１１】従来のＬＤの駆動電流対発光パワー特性の関係の一例を示す線図である。
【符号の説明】
１：受光素子（ＰＤ） ２：レーザダイオード（ＬＤ）
３：Ｉ／Ｖ変換器
４：第１サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路
５：第２サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路
６：第１コンパレータ ７：第２コンパレータ
８：ＣＰＵ ９：第１Ｄ／Ａコンバータ
１０：第２Ｄ／Ａコンバータ １１：第１Ｖ／Ｉ変換器
１２：第２Ｖ／Ｉ変換器 １３：第１電流増幅器
１４：第２電流増幅器 １５：電流加算器
２０：可変ゲインアンプ ２１：第３Ｄ／Ａコンバータ
２２：Ａ／Ｄコンバータ ２３：第１Ａ／Ｄコンバータ
２４：第２Ａ／Ｄコンバータ

Claims (4)

1. 複数のレーザーパワーのレーザ光を光記録媒体に照射するレーザ光発光手段と、前記レーザ光発光手段に電流を供給して発光駆動させるレーザ光発光駆動手段と、前記レーザ光発光手段から発光されるレーザ光の発光パワーを検出し、該発光パワーに応じた電流信号を出力する発光パワー検出手段と、該発光パワー検出手段から出力された電流信号を電圧信号に変換して出力する電流電圧変換手段と、該電流電圧変換手段によって出力された電圧信号のレベルを少なくとも２種類以上の増幅率で増幅させて出力する電圧増幅手段と、該電圧増幅手段から出力された電圧信号のレベルと予め設定された基準電圧レベルとを比較する比較手段と、該比較手段の比較結果に応じて前記発光パワーの光量レベルを調整する光量レベル調整手段と、前記電流電圧変換手段から出力された電圧信号に該電圧信号以外の所定の電圧信号を注入するオフセット電圧信号注入手段と、前記比較手段に入力される電圧信号を検出する電圧信号検出手段とを備え、
   前記オフセット電圧信号注入手段に少なくとも２種類以上の所定の電圧信号を設定したときのそれぞれの電圧信号に対して前記比較手段に入力される電圧信号と前記電圧信号検出手段によって検出された電圧信号との関係に基づいて前記電圧増幅手段の増幅率を設定するようにしたことを特徴とする発光パワー制御装置。
2. 請求項１記載の発光パワー制御装置において、
   前記オフセット電圧信号注入手段から出力する電圧信号に基づいて前記電流電圧変換手段から出力される電圧信号のオフセットを打ち消し、該打ち消したときの前記オフセット電圧信号注入手段から出力された電圧信号の設定値を保存した状態で前記オフセット電圧信号注入手段に少なくとも２種類以上のオフセット電圧信号を設定したときのそれぞれのオフセット電圧信号に対して前記比較手段に入力される電圧信号と前記電圧信号検出手段によって検出された電圧信号との関係に基づいて前記電圧増幅手段の増幅率を設定するようにしたことを特徴とする発光パワー制御装置。
3. 請求項２記載の発光パワー制御装置において、
   前記電流電圧変換手段から出力される電圧信号のオフセットを打ち消したときの前記オフセット電圧信号注入手段から出力された電圧信号の設定値に基づいて前記少なくとも２種類以上の所定の電圧信号を区別するようにしたことを特徴とする発光パワー制御装置。
4. 請求項１乃至３のいずれか一項に記載の発光パワー制御装置において、
   再生時と記録時にそれぞれ前記増幅手段の増幅率を求め、それぞれある一定の値に増幅率が決定された場合にのみその増幅率を前記増幅手段に設定するようにしたことを特徴とする発光パワー制御装置。

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