JP2003168233A - 発光パワー制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造時のレーザパワー調整工程を削減して組
立コストの低減を図ると共に、光記録媒体の記録容量を
低減させず、使用者の使用コストを上昇させないように
する。 【解決手段】 第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変
化させて第１コンパレータ６の出力が変化したとき、第
３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第１設定値として保
存し、第１設定値がしきい値Ａを超える場合、第３Ｄ／
Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋５ＬＳＢ」と
「第１設定値＋１０ＬＳＢ」にしたときのそれぞれのＡ
／Ｄコンバータ２２の値を測定して保存し、その２点の
値を通る直線の傾きを計算し、その値を可変ゲインアン
プ２０のゲインとして設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ＭＯ，ＭＤ等の
光磁気ディスクに対して光パワーによって情報の記録及
び再生を行う光磁気ディスク装置やＣＤ−Ｒ，ＣＤ−Ｒ
Ｗ，ＤＶＤ等の光ディスクに対して光パワーによって情
報の記録及び再生を行う光ディスク装置等に適用する発
光パワー制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク装置における光ディスク（光
記録媒体）へのデータの記録は、例えばＣＤ−Ｒディス
クではＣＤ−Ｒディスク上の記録膜に発光素子（レーザ
光発光手段）であるレーザダイオード（以下「ＬＤ」と
称する）から発光される強いレーザ光量を光ビームとし
て照射して、その熱反応によって記録膜に情報に応じた
穴（「ピット」と称する）を開けることにより行われ
る。また、ＣＤ−ＲＷディスクでは記録膜の結晶状態を
変化させることによって行われる。一方、光ディスクに
書き込まれたデータは、ＬＤから発光される弱いレーザ
光量を光ビームとして記録膜上に照射して得られる反射
光量の反射光に基づいて読み取ることができる。

【０００３】ところで、上述したように光ディスクの記
録はＬＤからの光ビームによって光ディスクにピットを
開けることで行われる。そのときのレーザ光の発光パワ
ーの変化を図７に示す。図７において、記録時にはＬＤ
からは第１の光量レベルの発光パワーＰ１とそれよりも
大きい（高い）第２の光量レベルの発光パワーＰ２が繰
り返して出射される。第２の光量レベルの発光パワーＰ
２は記録パワーであり、その発光パワーで照射した記録
膜の部分にピットが形成され、第１の光量レベルの発光
パワーＰ１は再生パワーであり、その発光パワーで照射
した記録膜の部分はそのままスペースになる。

【０００４】また、ＣＤ−Ｒディスクでは、Ｐ３＞Ｐ２
の関係を有する第３の光量レベルの発光パワーＰ３を設
けて、Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３の３値で記録パワー波形を生成
することがあり、その第３の光量レベルの発光パワーＰ
３をピット先頭に位置付けるようにしてピットエッジを
先鋭化している。また、ＣＤ−ＲＷディスク（Ｃｏｍｐ
ａｃｔ Ｄｉｓｃ ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）のような相
変化型の書き換え可能な媒体では、やはり３値を設ける
が、第３の光量レベルの発光パワーＰ３と第１の光量レ
ベルの発光パワーＰ１を高速で繰り返すことによって記
録膜をアモルファス（非結晶）化し、第２の光量レベル
の発光パワーＰ２を持続させることによって結晶化さ
せ、それをデータに対応させる。

【０００５】図７に示すように、時間ｔライトスタート
より前が光ディスクからデータを再生するときの発光波
形であり、時間ｔライトスタートより後が光ディスクに
データを記録する場合の発光波形である。上述したよう
に光ディスクのデータを再生するとき、ＬＤから発光さ
れるパワーは低くてＤＣ発光であり、一般的に第１の光
量レベルの発光パワーＰ１は１ｍＷほどである。一方、
記録時にＬＤから発光されるレーザ光のパワーは高くて
第２の光量レベルの発光パワーＰ２は一般に数ｍＷ〜数
１０ｍＷである。記録時は第１の光量レベルの発光パワ
ーＰ１と第２の光量レベルの発光パワーＰ２の発光が繰
り返すことによって光ディスク上の記録膜にピットをつ
くることができるのである。

【０００６】ところで、近年の光ディスク装置では再生
速度，記録速度共に向上されつつある。再生速度では３
２倍速のものもあり、記録速度では１２倍や１６倍にな
るものもある。例えば、ＣＤ−Ｒディスクに１２倍速で
データを記録する場合、記録パワーは再生パワーに対し
て３０倍くらいになることもあり、それは再生パワーが
１ｍＷの時に記録パワーが３０ｍＷになることを示す。
また、ＬＤは自らの発振による温度上昇等の原因によっ
てその発光パワーが変化する（特に発光パワーが高パワ
ーであるときには温度上昇する時間は短くなる）ので、
光ディスク装置等において受光素子（以下「ＰＤ」と称
する）でＬＤ出力をモニタしながらＬＤを駆動する電流
を制御してＬＤの発光パワーを一定にしている。そのＬ
Ｄの発光パワーを制御する部分が発光パワー制御装置で
ある。

【０００７】図８は、従来のＬＤの発光パワーを定パワ
ー制御する発光パワー制御装置の回路構成例を示す図で
ある。この発光パワー制御装置では、定パワー制御をデ
ィジタルＡＰＣ制御で行っている。図８において、ＰＤ
１に入射された光は光電変換によって光量に比例した電
流のかたちで出力される。ただし、ＰＤ１によるモニタ
はＬＤ２からのレーザ光の一部をモニタするものであ
り、レーザ光の大部分は光ディスクの記録膜へ照射され
る。次に、ＰＤ１から出力された電流信号をＡＰＣ部の
Ｉ／Ｖ変換器（Ｉ／Ｖ変換回路）３によって電圧信号に
変換して電圧値として出力する。その出力された電圧信
号において第１の光量レベルの発光パワーＰ１に対応し
た値を電圧信号Ｖ（Ｐ１），第２の光量レベルの発光パ
ワーＰ２に対応したものを電圧信号Ｖ（Ｐ２）とする。

【０００８】記録時における出力は再生時と異なり、電
圧信号Ｖ（Ｐ１）と電圧信号Ｖ（Ｐ２）が交互に変化す
る信号であるため、第１サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回
路４と第２サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路５によって
それぞれ電圧信号Ｖ（Ｐ１）と電圧信号Ｖ（Ｐ２）に分
離される。また、第１Ｓ／Ｈ回路４における第１サンプ
ル信号は再生時は常に第１Ｓ／Ｈ回路４内のスイッチＳ
Ｗをオン（ＯＮ）する信号であり、記録時は記録時の第
１の光量レベルの発光パワーＰ１で出射されている期
間、あるいはそれよりも短い期間のみ第１Ｓ／Ｈ回路４
内のスイッチＳＷをオン（ＯＮ）にし、また、第２の光
量レベルの発光パワーＰ２が出射されている期間は第１
Ｓ／Ｈ回路４内のスイッチＳＷをオフ（ＯＦＦ）して第
１Ｓ／Ｈ回路４内のコンデンサＣで第１の光量レベルの
発光パワーＰ１に対応した電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）のみを
取り出すようにコントロールしている。

【０００９】一方、第２サンプル信号は再生時は常に第
２Ｓ／Ｈ回路５内のスイッチＳＷをオフ（ＯＦＦ）する
信号であり、記録時は第２の光量レベルの発光パワーＰ
２で出射されている期間、あるいはそれよりも短い期間
のみ第２Ｓ／Ｈ回路５内のスイッチＳＷをオン（ＯＮ）
し、記録時に第１の光量レベルの発光パワーＰ１で出射
されている期間は第２Ｓ／Ｈ回路５内のスイッチＳＷを
オフ（ＯＦＦ）して第２Ｓ／Ｈ回路５内のコンデンサＣ
で第２の光量レベルの発光パワーＰ２に対応した電圧信
号Ｖｓ（Ｐ２）のみを取り出すようにコントロールする
信号である。第１Ｓ／Ｈ回路４と第２Ｓ／Ｈ回路５によ
ってＩ／Ｖ変換器３の出力する電圧信号から分離した各
電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）及びＶｓ（Ｐ２）を、それぞれ第
１コンパレータ６及び第２コンパレータ７に入力する。

【００１０】第１コンパレータ６では電圧信号Ｖｓ（Ｐ
１）と第１基準電圧Ｖｒｅｆ１とを比較し、同様に第２
コンパレータ７では電圧信号Ｖｓ（Ｐ２）と第２基準電
圧Ｖｒｅｆ２とを比較している。第１コンパレータ６及
び第２コンパレータ７からは入力信号（それぞれ電圧信
号Ｖｓ（Ｐ１）と電圧信号Ｖｓ（Ｐ２））が基準電圧
（それぞれ第１基準電圧Ｖｒｅｆ１と第２基準電圧Ｖｒ
ｅｆ２）に対して大きいか小さいかのみを示す信号、つ
まり２値の値（ディジタル値）が出力されてＣＰＵ８で
読み込むようにしている。また、ディジタル値をアナロ
グ値に変換する第１Ｄ／Ａコンバータ９にＣＰＵ８から
データが送られ、第１Ｄ／Ａコンバータ９からは入力さ
れたデータに比例した電圧を出力している。さらに、そ
の出力に比例した値がＬＤドライバ部の第１Ｖ／Ｉ変換
器１１によって電流が出力される。

【００１１】同様にして、第２Ｄ／Ａコンバータ１０に
もＣＰＵ８からデータが送られて第２Ｖ／Ｉ変換器１２
からも電流が出力される。さらに、第１Ｖ／Ｉ変換器１
１と第２Ｖ／Ｉ変換器１２の出力電流をそれぞれ第１電
流増幅器１３と第２電流増幅器１４によって増幅するの
だが、再生時はＬＤＯＮ信号をオン（ＯＮ）にすること
によって第１増幅器１３側のスイッチＳＷを閉じて第１
電流増幅器１３から出力された電流信号をＬＤ２へ供給
し、第１の光量レベルの発光パワーＰ１レベルでＬＤ２
を発光させる。また、記録時はライトパルス重畳信号を
オン（ＯＮ）にすることによって第２増幅器１４側のス
イッチＳＷを閉じて第２電流増幅器１４の出力を電流加
算器１５へ供給し、電流加算器１５によって第１電流増
幅器１３から出力された電流信号に第２電流増幅器１４
から出力された電流信号を足してＬＤ２へ供給し、その
電流信号によってＬＤ２を第２の光量レベルの発光パワ
ーＰ２レベルで発光させる。

【００１２】その第１電流増幅器１３からの出力を電流
信号ＩＰ１とし、第２電流増幅器１４からの出力を電流
信号ＩＰ２とする。ところで、再生開始時、ＣＰＵ８は
まず、第１Ｄ／Ａコンバータ９に“０”を出力する。そ
れによりＬＤ２の記録パワー分の電流は“０”からスタ
ートする。そして、ＣＰＵ８は第１Ｄ／Ａコンバータ９
に出力するデータを徐々に増加させながら、第１コンパ
レータ６の出力が反転する（つまり電圧信号Ｖｓ（Ｐ
１）が第１基準電圧Ｖｒｅｆ１よりも大になる）まで増
加させる。その後、第１コンパレータ６の出力が常に反
転を繰り返すように（つまり電圧信号Ｖｓ（Ｐ１）＝第
１基準電圧Ｖｒｅｆ１になるように）、第１Ｄ／Ａコン
バータ９へ出力するデータを常に可変する。このように
して、ＬＤ２から出射される再生パワーは一定レベルに
保たれる。

【００１３】図９は、図８に示した発光パワー制御装置
におけるデジタルＡＰＣ制御時の第１Ｓ／Ｈ回路４と第
１コンパレータ６のそれぞれの出力電圧を示す波形図で
ある。上述の制御動作の様子を示すものである。また、
上述と同様にして、記録開始時から記録パワーレベルが
一定に保たれるまでの制御について説明する。図１０
は、図８に示した発光パワー制御装置におけるデジタル
ＡＰＣ制御時の第２Ｓ／Ｈ回路５と第２コンパレータ７
のそれぞれの出力電圧を示す波形図である。図１０に示
すように、再生発光時にはＣＰＵ８は第２Ｄ／Ａコンバ
ータ１０の出力を“０”にしておく。

【００１４】次に、記録発光が開始されるとＣＰＵ８は
第２Ｄ／Ａコンバータ１０に出力するデータを“１”ず
つ乃至は所定ずつ上げていく。それにともなって、第２
Ｄ／Ａコンバータ１０の出力する電圧信号に比例した電
流信号がＬＤ２に記録パワーの電流として第１Ｄ／Ａコ
ンバータ９の出力する電圧信号に比例した電流信号に重
畳されるため、それをモニタして、サンプルホールドし
た第２Ｓ／Ｈ回路５の出力する電圧信号も所定量ずつ増
加していく。そしてやがて第２Ｓ／Ｈ回路５の出力する
電圧信号が第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を超えると第２コン
パレータ７の出力が反転する。反転するとＣＰＵ８は、
その前とは逆方向に動かしたデータを第２Ｄ／Ａコンバ
ータ１０へ送出する。

【００１５】このようにして、ＬＤ２へ供給される電流
信号が減少し、また、第２コンパレータ７が反転する。
反転するとＣＰＵ８は、その前とは逆方向に．．．．．
のようにして、ＣＰＵ８は永久に第２Ｄ／Ａコンバータ
１０を操作し、常に第２Ｓ／Ｈ回路５の出力する電圧信
号と第２基準電圧Ｖｒｅｆ２とがまたぎあうように操作
する。こうしてＬＤ２から一定の第２の光量レベルの発
光パワーＰ２が出射されることになる。このように構成
されたフィードバックループ回路により、基準電圧によ
って決定される一定パワーがＬＤ２から発光されること
になるが、その回路構成はＣＰＵとＤ／Ａコンバータ等
を用いたディジタルＡＰＣ制御である。

【００１６】しかし、定パワー制御は上述のようなディ
ジタルＡＰＣ制御だけではなく、Ｓ／Ｈ回路からの信号
を誤差増幅器等に入力し、誤差増幅器等で基準電圧と比
較して、基準電圧に対してずれを生じているときに誤差
増幅器はずれを補正するような電圧をＶ／Ｉ変換器に出
力することによってもパワー制御することができる。こ
のように、アナログ制御でもディジタル制御でもＬＤ発
光パワーをモニタして第１の光量レベルの発光パワーＰ
１，第２の光量レベルの発光パワーＰ２といったレベル
を基準電圧と比較して基準電圧になるようにＬＤへの駆
動電流を制御するといった点では同じ動作である。

【００１７】すなわち、定パワー制御は上述のようなデ
ィジタル制御だけではなく、２つのＳ／Ｈ回路からのそ
れぞれの信号を誤差増幅器等に入力し、誤差増幅器等で
基準電圧と比較して基準電圧に対してずれを生じている
ときに誤差増幅器はずれを補正するような電圧をそれぞ
れに対応するＶ／Ｉ変換器に出力するようなアナログ制
御であってもパワー制御することができる。このよう
に、アナログ制御でもディジタル制御でもＬＤの発光パ
ワーをモニタして所定の光量レベルである第１の光量レ
ベルの発光パワーＰ１，第２の光量レベルの発光パワー
Ｐ２といったレベルを基準電圧と比較して基準電圧にな
るようにＬＤへの駆動電流を制御するといった点では同
じ動作である。

【００１８】ところで、上記第１コンパレータ６の第１
基準電圧Ｖｒｅｆ１と第２コンパレータ７の基準電圧Ｖ
ｒｅｆ２と第１の光量レベルの発光パワーＰ１又は第２
の光量レベルの発光パワーＰ２の関係は製造工程などに
おいて、例えば関係式のかたちで予め求めておく。そし
て、実際の発光時はその関係式に基づいて第１の光量レ
ベルの発光パワーＰ１と第２の光量レベルの発光パワー
Ｐ２の設定を行う。図１１は、ＬＤの駆動電流対発光パ
ワー特性の関係の一例を示す線図である。図１１に示す
ように、ＬＤからの発光パワーとＬＤ駆動電流は所定の
しきい値Ｉｔｈよりも上では１次関数的になっている。

【００１９】もちろん、その傾きはＬＤによって多少ば
らつきもあるが、ＬＤ駆動電流と発光パワーの関係に所
定の傾きがあるなら、ＬＤ駆動電流を設定するＤ／Ａコ
ンバータの設定電圧値とも発光パワーは関係をもつこと
がわかる。さらに、Ｄ／Ａコンバータの設定電圧値はも
ともとコンパレータの基準電圧によって決まるものなの
で、コンパレータの基準電圧と発光パワーはある一定の
傾きで１次関数的な関係があるといえる。したがって、
その傾きを予め求めておけば、基準電圧に対して発光パ
ワーを求めることができる。実際は、その傾きや切片を
メモリ等に記憶させておくことによって、その制御はた
やすくなる。

【００２０】また、上記傾きはＬＤの特性によって温度
などで傾きが変わったり、しきい値Ｉｔｈがシフトした
りするが、コンパレータの基準電圧をまたぐようにＣＰ
ＵがＬＤ駆動電流を変えるので一定パワーで制御するこ
とができる。そのＬＤからの発光パワーが一定になるよ
うに制御することをオートパワーコントロール（Ａｕｔ
ｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ：以下「ＡＰＣ制御」
と略称する）という。図８に示した発光パワー制御装置
では、特に基準電圧と比較して基準電圧になるようにＶ
／Ｉ変換器へ電圧を制御するＣＰＵまでをＡＰＣ部とし
た。

【００２１】ところで、ＰＤ出力、つまりＩ／Ｖ変換器
の出力は、ＬＤが同じ発光パワーで発光していてもＰＤ
の取り付け位置のばらつきなどによって異なる。そのた
め、ばらつきが大きい場合、上述したように製造工程で
上記コンパレータの基準電圧と第１の光量レベルの発光
パワーＰ１又は第２の光量レベルの発光パワーＰ２の関
係を求める際に、実際に発光させるなどして関係を求め
たとしても、基準電圧を最も大きくしたときの発光パワ
ーにばらつきがでてしまう。したがって、Ｉ／Ｖ変換器
の出力を可変ゲインアンプ等の電圧増幅手段でＳ／Ｈ回
路への入力をできるだけ一定になった状態で基準電圧と
第１の光量レベルの発光パワーＰ１又は第２の光量レベ
ルの発光パワーＰ２の関係を求めるのが好ましい。

【００２２】しかし、コンパレータの基準電圧と第１の
光量レベルの発光パワーＰ１，第２の光量レベルの発光
パワーＰ２の関係を求めるために、従来製造工程で実際
に発光させるなどして関係式を求める際に、パワーを発
光させる手順が複雑である場合に調整工程において時間
がかかるといった問題や、発光パワーを検出する装置や
設備を必要とするためコストがかかるといった問題があ
った。

【００２３】そこで従来、再生信号を再生信号判定回路
に入力し、再生信号判定回路の出力により記録時のレー
ザパワーが適切な値か否かを制御回路によって判定し、
制御回路からレーザパワー設定回路へ記録時のパワーを
補正するためにＤ／Ａ変換した電圧値を送ることによっ
て、自動的に記録パワーを得る発光パワー制御装置（例
えば、特許第２７９７８５８号公報参照）が提案されて
いる。

【００２４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の発光パワー制御装置では、調整工程等を必要と
しないのでコストや時間等はかからないが、実際の記録
パワーの補正のために光ディスクに記録させてからその
書かせた部分の再生信号を見る必要がある。そのため、
光ディスクにＯＰＣ以外で書かせる必要があり、光ディ
スクにそのための新たな領域を設けなければならず、記
録容量の減少を招くという問題があった。また、ユーザ
が調整用の光ディスクを用意しなければならないので使
用時のコストがかかるという問題もあった。この発明は
上記の課題を解決するためになされたものであり、発光
パワー調整を装置や設備を必要とすることなく上記欠点
を解消し、製造時の調整工程を削減して組立コストの低
減を図ると共に、光記録媒体の記録容量を低減させず、
使用者の使用コストを上昇させないようにすることを目
的とする。

【００２５】

【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、レーザ光を光記録媒体に照射するレーザ
光発光手段と、そのレーザ光発光手段から発光させるレ
ーザ光の発光パワーの光量レベルは少なくとも第１の光
量レベルと第１の光量レベルよりも大きい第２の光量レ
ベルとの２つの光量レベルでディジタル変調されてお
り、上記レーザ光発光手段に電流を供給して発光駆動さ
せるレーザ光発光駆動手段と、上記レーザ光発光手段か
ら発光されるレーザ光の発光パワーを検出し、その発光
パワーに応じた電流信号を出力する発光パワー検出手段
と、その発光パワー検出手段から出力された電流信号を
電圧信号に変換して出力する電流電圧変換手段と、その
電流電圧変換手段によって出力された電圧信号のレベル
を少なくとも２種類以上の増幅率で増幅させて出力する
電圧増幅手段と、その電圧増幅手段から出力された電圧
信号のレベルと予め設定された基準電圧レベルとを比較
する比較手段と、その比較手段の比較結果に応じて上記
発光パワーの光量レベルを調整する光量レベル調整手段
と、上記電流電圧変換手段から出力された電圧信号にそ
の電圧信号以外の所定の電圧信号を注入するオフセット
電圧信号注入手段と、上記比較手段に入力される電圧信
号を検出する電圧信号検出手段を備え、上記オフセット
電圧信号注入手段に少なくとも２種類以上の所定の電圧
信号を設定したときのそれぞれの電圧信号に対して上記
比較手段に入力される電圧信号と上記電圧信号検出手段
によって検出された電圧信号との関係に基づいて上記電
圧増幅手段の増幅率を設定するようにしたものである。

【００２６】また、上記のような発光パワー制御装置に
おいて、上記オフセット電圧信号注入手段から出力する
電圧信号に基づいて上記電流電圧変換手段から出力され
る電圧信号のオフセットを打ち消し、その打ち消したと
きの上記オフセット電圧信号注入手段から出力された電
圧信号の設定値を保存した状態で上記オフセット電圧信
号注入手段に少なくとも２種類以上のオフセット電圧信
号を設定したときのそれぞれのオフセット電圧信号に対
して上記比較手段に入力される電圧信号と上記電圧信号
検出手段によって検出された電圧信号との関係に基づい
て上記電圧増幅手段の増幅率を設定するようにするとよ
い。

【００２７】さらに、上記のような発光パワー制御装置
において、上記電流電圧変換手段から出力される電圧信
号のオフセットを打ち消したときの上記オフセット電圧
信号注入手段から出力された電圧信号の設定値に基づい
て上記少なくとも２種類以上の所定の電圧信号を区別す
るようにするとよい。さらにまた、上記のような発光パ
ワー制御装置において、再生時と記録時にそれぞれ上記
増幅手段の増幅率を求め、それぞれある一定の値に増幅
率が決定された場合にのみその増幅率を上記増幅手段に
設定するようにするとよい。

【００２８】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施形態を図面
に基づいて具体的に説明する。図６は、この発明の発光
パワー制御装置を適用する一般的なＣＤ−Ｒドライブの
構成を示すブロック図であり、このＣＤ−Ｒドライブは
一度だけ書き込み可能なＣＤフォーマットに準拠したデ
ィスクであるＣＤ−Ｒ（ＣＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）
ディスクに対する情報の記録及び再生を行う。

【００２９】光ディスク４８は、ＣＤ−ＲＯＭディス
ク，ＣＤ−Ｒディスク，ＣＤ−ＲＷディスク，ＣＤ等の
光記録媒体である。例えば、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄ
ｉｓｃ）はディスク基板上の記録膜に予め各種の情報に
対応するデータ列がピットと呼ばれる穴の有無で形成さ
れており、それにレーザ光を当てて、その反射光の変化
に基づいてデータを読み取る。そのデータ列はレコード
の様にディスク基板上に螺旋状に並べられている。その
螺旋状に配された線をトラックと呼んでいる。隣り合う
トラック間の距離は１．６ミクロンである。スピンドル
モータ（Ｓｐｉｎｄｌｅ Ｍｏｔｏｒ）３０は、情報の
記録又は再生時に光ディスク４８を所定の回転数で回転
駆動する。モータドライバ（Ｍｏｔｏｒ Ｄｒｉｖｅ
ｒ）３１とサーボ部（Ｓｅｒｖｏ）３２は、スピンドル
モータ３０を一定速度になるように駆動制御する。

【００３０】光ピックアップ部（Ｐｉｃｋ Ｕｐ）３３
は、図示を省略した公知のレーザ発光手段であるレーザ
ダイオード（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ），レンズ等の光
学系，レーザ光の焦点が光ディスク４８に合うようにレ
ンズの位置を光ディスク４８に対して垂直方向に動かす
機構であるフォーカスアクチュエータ，レーザ光の焦点
がトラックをトレースするように光ディスク４８の半径
方向（スレッジ方向）に対してレンズを動かす機構であ
るトラックアクチュエータ，受光素子及びポジションセ
ンサ等を内蔵したものであり、光ディスク４８に対する
情報の記録又は再生時にレーザ光を照射する。また、光
ピックアップ部３３の全体はシークモータ（同じく図示
を省略する）によってスレッジ方向に移動可能である。
上記フォーカスアクチュエータ，トラックアクチュエー
タ，シークモータは、受光素子，ポジションセンサから
得られた信号に基づいてモータドライバ３１とサーボ部
３２によってレーザスポットを目的の場所に位置するよ
うに制御する。

【００３１】光ディスク４８からのデータ読み出しの場
合、光ピックアップ部３３で得られた再生信号をリード
アンプ（Ｒｅａｄａｍｐ）３４で増幅してイコライザ処
理や２値化（ディジタル化）を施した後、ＣＤデコーダ
（ＣＤ Ｄｅｃｏｄｅｒ）３５へ入力してＥＦＭ復調す
る。また、ＣＤ−ＲＯＭデータの場合はＣＤ−ＲＯＭデ
コーダ４４によってデコードする。光ディスク４８には
光学的に再生又は記録しやすいように８ビット（ｂｉ
ｔ）データを１４ビットのデータに変調したデータが書
かれており、それをＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｆｏｕ
ｒｔｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）と呼ぶ。さらに、
ＥＦＭ復調されたデータにデインタリーブ（並べ替え直
し）とエラー訂正の処理を施す。

【００３２】その後、そのデータをバッファマネージャ
（Ｂｕｆｆｅｒ Ｍａｎａｇｅｒ）３６によって一旦バ
ッファＲＡＭ（Ｂｕｆｆｅｒ ＲＡＭ）３７に蓄えて、
セクタデータとして揃った段階でＡＴＡＰＩやＳＣＳＩ
等のインタフェース（Ｉ／Ｆ）３８を介してホストコン
ピュータ（図示を省略）へ一気に送る。また、音楽デー
タの場合、ＣＤデコーダ３５から出てきたデータをＤ／
Ａコンバータ３９へ入力してアナログのオーディオ信号
を取り出す。

【００３３】一方、データ書き込み時は、Ｉ／Ｆ３８を
通してホストコンピュータから送られてきたデータをバ
ッファマネージャ３６によって一旦バッファＲＡＭ３７
に蓄えて、バッファＲＡＭ３７にある程度の量のデータ
が貯まったところで書き込みを開始するが、その前にレ
ーザスポットを書き込み開始地点に位置させなければな
らない。その地点はトラックの蛇行によって予め光ディ
スク４８に刻まれているウォブル信号から求められる。
ウォブル信号にはＡＴＩＰと呼ばれる絶対時間情報が含
まれており、ＡＴＩＰデコーダ４０によってＡＴＩＰを
取り出せる。また、ＡＴＩＰデコーダ４０が生成する同
期信号をＣＤエンコーダ４１へ入力して正確な位置での
データの書き出しを可能にしている。

【００３４】バッファＲＡＭ３７のデータを、ＣＤ−Ｒ
ＯＭエンコーダ４２やＣＤエンコーダ４１でエラー訂正
コードの付加やインターリーブ（並べ替え）を行った後
にＥＦＭ変調し、レーザコントロール回路（レーザコン
トローラ：Ｌａｓｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）４３，
光ピックアップ部３３を介して光ディスク４８に記録す
る。ＣＰＵ４５は、このＣＤ−Ｒドライブ全体の制御を
司るマイクロコンピュータであり、ＲＯＭ４６はＣＰＵ
４５が実行する各種の制御プログラムを格納するメモリ
であり、ＲＡＭ４７はＣＰＵ４５が各種の制御処理を行
う際の作業領域であるメモリである。

【００３５】次に、この発明の第１実施形態の発光パワ
ー制御装置について説明する。図１は、この発明の第１
実施形態の発光パワー制御装置の回路構成を示すブロッ
ク図である。図８と共通する部分には同一符号を付して
共通する機能についての説明を省略する。図２は、図１
に示した発光パワー制御装置における処理を示すフロー
チャート図である。図１に示した各スイッチの制御信
号、つまり第１サンプル信号，第２サンプル信号，ライ
トパルス重畳信号とＬＤＯＮ信号は図６のＣＤエンコー
ダ４１によって出力される信号である。

【００３６】図１において、ＬＤ２は上記レーザ光発光
手段に、第１Ｖ／Ｉ変換器１１と第２Ｖ／Ｉ変換器１２
と第１電流増幅器１３と第２電流増幅器１４と電流加算
器１５とは上記レーザ光発光駆動手段に、ＰＤ１は上記
発光パワー検出手段に、Ｉ／Ｖ変換器３は上記電流電圧
変換手段にそれぞれ相当する。また、可変ゲインアンプ
２０は上記電圧増幅手段に、第１Ｓ／Ｈ回路４と第２Ｓ
／Ｈ回路５と第１コンパレータ６と第２コンパレータ７
とは上記比較手段に、ＣＰＵ８と第１Ｄ／Ａコンバータ
９と第２Ｄ／Ａコンバータ１０とは上記光量レベル調整
手段に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は上記オフセット電
流注入手段に、Ａ／Ｄコンバータ２２は上記電圧信号検
出手段にそれぞれ相当する。

【００３７】予め発光パワー制御装置に組み込んでおく
ソフトウェア（Ｆ／Ｗ）において、可変ゲインアンプ２
０のゲインを求めるために第３Ｄ／Ａコンバータ２１の
設定値を２つとする。また、第３Ｄ／Ａコンバータ２１
への設定は第１設定値に対して「第１設定値＋５ＬＳ
Ｂ」の場合と「第１設定値＋１０ＬＳＢ」のいずれか一
方を選択できるようにしておき、「＋５ＬＳＢ」の場合
は２点目を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」とし、１点目を
「＋１０ＬＳＢ」とした場合は２点目を「＋２０ＬＳ
Ｂ」とする。なお、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は最大１
００ＬＳＢまで設定できるものとし、第３Ｄ／Ａコンバ
ータ２１は上限の５ＬＳＢ以内で必ず飽和する仕様とす
る。

【００３８】この場合、「＋２０ＬＳＢ」になったとき
に「９５ＬＳＢ」とならないようにするには第１設定値
で７５ＬＳＢがぎりぎりであるが、余裕をもって７０Ｌ
ＳＢとする。その「７０ＬＳＢ」をしきい値Ａとする。
また、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１や第２基準電圧Ｖｒｅｆ
２は予め決定した所定値を設定するとそれに応じたパワ
ーで発光するといった用途があるので、Ｄ／Ａコンバー
タ等で細かく設定を可変できるようにしているのだが、
ここでは図１への図示を省略したがＤ／Ａコンバータの
ような回路以外に回路基準電圧にスイッチなどで基準電
圧を切り換えられるようにしておくとよい。

【００３９】製造工程において、光ピックアップ部と発
光パワー制御装置を接続した後、電源をオン（ＯＮ）に
する。発光パワー制御装置としては再生側にＡ／Ｄコン
バータ２２を第１Ｓ／Ｈ回路４の出力側につなげてお
く。さらに第１基準電圧Ｖｒｅｆ１を発光パワー制御装
置の回路基準電圧に設定する。その後、第１サンプル信
号をオン（ＯＮ）にすることによって第１Ｓ／Ｈ回路４
から電圧信号が出力される（図２のステップ（図中
「Ｓ」で示す）１）。次に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１
の設定値を変化させ（Ｓ２）、第３Ｄ／Ａコンバータ２
１の設定値を変化させたときの第１コンパレータ６の出
力をみる。第１コンパレータ６の出力が変化したとき、
第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第１設定値として
保存する（Ｓ３）。その保存は図示を省略したＲＡＭの
ような揮発性メモリ等でよい。

【００４０】さらに、第１設定値がしきい値Ａを超える
か否かを判断し（Ｓ４）、第１設定値がしきい値Ａを超
える場合、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定
値＋５ＬＳＢ」にしたときのＡ／Ｄコンバータ２２の値
を測定して保存する（Ｓ５）。また、第３Ｄ／Ａコンバ
ータ２１の値を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」とした時の
Ａ／Ｄコンバータ２２の値を測定して保存する（Ｓ
６）。次に、上記保存された２点を通る直線の傾きを計
算し（Ｓ９）、その値を可変ゲインアンプ２０のゲイン
として設定する（Ｓ１０）。その後、第３Ｄ／Ａコンバ
ータ２１の値を第１設定値に戻す（Ｓ１１）。

【００４１】一方、第１設定値がしきい値Ａを超えない
場合は、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値
＋１０ＬＳＢ」にしたときのＡ／Ｄコンバータ２２の値
を測定して保存する（Ｓ７）。また、第３Ｄ／Ａコンバ
ータ２１の値を「第１設定値＋２０ＬＳＢ」とした時の
Ａ／Ｄコンバータ２２の値を測定して保存する（Ｓ
８）。その後、上記保存された２点を通る直線の傾きを
計算し（Ｓ９）、その値を可変ゲインアンプ２０のゲイ
ンとして設定する（Ｓ１０）。そして、第３Ｄ／Ａコン
バータ２１の値を第１設定値に戻す（Ｓ１１）。こうし
て、製造工程において発光パワー調整のための設備や装
置が不要になってコストがかからず、さらに発光パワー
調整の時間も短縮することができる。

【００４２】次に、この発明の第２実施形態の発光パワ
ー制御装置について説明する。図３は、この発明の第２
実施形態の発光パワー制御装置の回路構成を示すブロッ
ク図である。図１及び図８と共通する部分には同一符号
を付して共通する機能についての説明を省略する。

【００４３】図３において、ＬＤ２は上記レーザ光発光
手段に、第１Ｖ／Ｉ変換器１１と第２Ｖ／Ｉ変換器１２
と第１電流増幅器１３と第２電流増幅器１４と電流加算
器１５とは上記レーザ光発光駆動手段に、ＰＤ１は上記
発光パワー検出手段に、Ｉ／Ｖ変換器３は上記電流電圧
変換手段にそれぞれ相当する。また、可変ゲインアンプ
２０は上記電圧増幅手段に、第１Ｓ／Ｈ回路４と第２Ｓ
／Ｈ回路５と第１コンパレータ６と第２コンパレータ７
とは上記比較手段に、ＣＰＵ８と第１Ｄ／Ａコンバータ
９と第２Ｄ／Ａコンバータ１０とは上記光量レベル調整
手段に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は上記オフセット電
流注入手段に、第１Ａ／Ｄコンバータ２３と第２Ａ／Ｄ
コンバータ２４とは上記電圧信号検出手段にそれぞれ相
当する。

【００４４】図４及び図５は、図３に示した発光パワー
制御装置における処理を示すフローチャート図である。
第２実施形態と第１実施形態の発光パワー制御装置の相
違点は、第２実施形態の発光パワー制御装置では記録側
の制御回路にもＡ／Ｄコンバータを設けた点である。す
なわち、図３では第１Ａ／Ｄコンバータ２３と第２Ａ／
Ｄコンバータ２４を設けている。

【００４５】また、第２実施形態の発光パワー制御装置
でも第１実施形態と同様に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１
の設定は第１設定値に対して「第１設定値＋５ＬＳＢ」
の場合と「第１設定値＋１０ＬＳＢ」のいずれか一方を
選択できるようにしておき、「＋５ＬＳＢ」の場合は２
点目を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」とし、１点目を「＋
１０ＬＳＢ」とした場合は２点目を「＋２０ＬＳＢ」と
する。なお、第３Ｄ／Ａコンバータ２１は最大１００Ｌ
ＳＢまで設定できるものとし、第３Ｄ／Ａコンバータ２
１は上限の５ＬＳＢ以内で必ず飽和する仕様にする。こ
の場合、「＋２０ＬＳＢ」になったときに「９５ＬＳ
Ｂ」とならないようにするには第１設定値で７５ＬＳＢ
がぎりぎりであるが、余裕をもって７０ＬＳＢとする。
その７０ＬＳＢをしきい値Ａとする。

【００４６】また、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１や第２基準
電圧Ｖｒｅｆ２は予め決定した所定値を設定するとそれ
に応じたパワーで発光するといった用途があるので、Ｄ
／Ａコンバータ等で細かく設定を可変できるようにして
いるのだが、図３でも図示を省略したが例えばＤ／Ａコ
ンバータのような回路以外に回路基準電圧にスイッチ等
で基準電圧を切り換えられるようにしておくとよい。さ
らに、再生側で求めたゲインを第１ゲインとし、記録側
で求めたゲインを第２ゲインとする。

【００４７】製造工程において、光ピックアップ部と発
光パワー制御装置を接続した後、発光パワー制御装置と
しては再生側に第１Ａ／Ｄコンバータ２３を第１Ｓ／Ｈ
回路４の出力側につなげておく。また、記録側に第２Ａ
／Ｄコンバータ２４を第２Ｓ／Ｈ回路５の出力側につな
げておいて、電源をオン（ＯＮ）にする。さらに第１基
準電圧Ｖｒｅｆ１を発光パワー制御装置の回路基準電圧
に設定する。その後、第１サンプル信号をオン（ＯＮ）
にすることによって第１Ｓ／Ｈ回路４から電圧信号が出
力される（図４のステップ（図中「Ｓ」で示す）２
１）。次に、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を変化
させ（Ｓ２２）、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を
変化させたときの第１コンパレータ６の出力をみる。第
１コンパレータ６の出力が変化したとき、第３Ｄ／Ａコ
ンバータ２１の設定値を第１設定値として保存する（Ｓ
２３）。その保存は図示を省略したＲＡＭのような揮発
性メモリ等でよい。

【００４８】さらに、第１設定値がしきい値Ａを超える
か否かを判断し（Ｓ２４）、第１設定値がしきい値Ａを
超える場合、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設
定値＋５ＬＳＢ」にしたときの第１Ａ／Ｄコンバータ２
３の値を測定して保存する（Ｓ２５）。また、第３Ｄ／
Ａコンバータ２１の値を「第１設定値＋１０ＬＳＢ」と
した時の第１Ａ／Ｄコンバータ２３の値を測定して保存
する（Ｓ２６）。その後、上記保存された２点を通る直
線の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の
第１ゲインとして保存する（Ｓ２９）。

【００４９】一方、第１設定値がしきい値Ａを超えない
場合は、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第１設定値
＋１０ＬＳＢ」にしたときの第１Ａ／Ｄコンバータ２３
の値を測定して保存する（Ｓ２７）。また、第３Ｄ／Ａ
コンバータ２１の値を「第１設定値＋２０ＬＳＢ」とし
た時の第１Ａ／Ｄコンバータ２３の値を測定して保存す
る（Ｓ２８）。その後、上記保存された２点を通る直線
の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の第
１ゲインとして保存する（Ｓ２９）。

【００５０】次に、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を発光パワ
ー制御装置の回路基準電圧に設定する。その後、第１サ
ンプル信号をオフ（ＯＦＦ）にして第２サンプル信号を
オン（ＯＮ）にすることによって第２Ｓ／Ｈ回路５から
電圧信号が出力される（Ｓ３０）。第３Ｄ／Ａコンバー
タ２１の設定値を変化させ（Ｓ３１）、第３Ｄ／Ａコン
バータ２１の設定値を変化させたときの第２コンパレー
タ７の出力をみる。第２コンパレータ７の出力が変化し
たとき、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第２設定
値として保存する（図５のＳ３２）。その保存は図示を
省略したＲＡＭのような揮発性メモリ等でよい。

【００５１】さらに、第２設定値がしきい値Ａを超える
か否かを判断し（Ｓ３３）、第２設定値がしきい値Ａを
超える場合、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第２設
定値＋５ＬＳＢ」にしたときの第２Ａ／Ｄコンバータ２
４の値を測定して保存する（Ｓ３４）。また、第３Ｄ／
Ａコンバータ２１の値を「第２設定値＋１０ＬＳＢ」と
した時の第２Ａ／Ｄコンバータ２４の値を測定して保存
する（Ｓ３５）。その後、上記保存された２点を通る直
線の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の
第２ゲインとして保存する（Ｓ３８）。

【００５２】一方、第２設定値がしきい値Ａを超えない
場合は、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を「第２設定値
＋１０ＬＳＢ」にしたときの第２Ａ／Ｄコンバータ２４
の値を測定して保存する（Ｓ３６）。また、第３Ｄ／Ａ
コンバータ２１の値を「第２設定値＋２０ＬＳＢ」とし
た時の第２Ａ／Ｄコンバータ２４の値を測定して保存す
る（Ｓ３７）。その後、上記保存された２点を通る直線
の傾きを計算して、その値を可変ゲインアンプ２０の第
２ゲインとして保存する（Ｓ３８）。

【００５３】次に、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を発光パワ
ー制御装置の回路基準電圧に設定する。その後、第１サ
ンプル信号をオフ（ＯＦＦ）にして第２サンプル信号を
オン（ＯＮ）にすることによって第２Ｓ／Ｈ回路５から
電圧信号が出力される（Ｓ３０）。第３Ｄ／Ａコンバー
タ２１の設定値を変化させ（Ｓ３１）、第３Ｄ／Ａコン
バータ２１の設定値を変化させたときの第２コンパレー
タ７の出力をみる。第２コンパレータ７の出力が変化し
たとき、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を第２設定
値として保存する（図５のＳ３２）。その保存は図示を
省略したＲＡＭのような揮発性メモリ等でよい。

【００５４】次に、上記保存した第１ゲインと第２ゲイ
ンについて設定誤差や計算上の誤差も考えられるため、
上記保存した第１ゲインと第２ゲインを比較して、両値
の誤差が所定の範囲内にあるか否かを判断し（Ｓ３
９）、所定の範囲内なら第１ゲインと第２ゲインの平均
値をとり、その平均値を可変ゲインアンプ２０のゲイン
として設定する（Ｓ４０）。さらに、第１設定値と第２
設定値の平均値を求め、その平均値を第３Ｄ／Ａコンバ
ータ２１の設定値として設定する（Ｓ４１）。一方、上
記保存した第１ゲインと第２ゲインの誤差が所定の範囲
外ならば、この発光パワー制御装置をＮＧとする（Ｓ４
２）。こうして、発光パワー制御装置内の回路の異常が
あった場合、発光させるような装置や設備を必要とせず
に異常があるか否かを判定できるので、次工程での無駄
を省くことができる。

【００５５】上記実施形態における請求項１記載の発光
パワー制御装置は、可変ゲインアンプ２０への入力に第
３Ｄ／Ａコンバータ２１をＩ／Ｖ変換器３の出力に注入
できるようにし、さらに第１Ｓ／Ｈ回路４又は第２Ｓ／
Ｈ回路５のそれぞれの出力にＡ／Ｄコンバータを備えて
おく。（第１実施形態の場合は第１Ｓ／Ｈ回路４の出力
側にＡ／Ｄコンバータ２２を設け、第２実施形態の場合
は第１Ｓ／Ｈ回路４の出力側に第１Ａ／Ｄコンバータ２
３を、第２Ｓ／Ｈ回路５の出力側に第２Ａ／Ｄコンバー
タ２４をそれぞれ設けた）

【００５６】Ａ／Ｄコンバータは第１Ｓ／Ｈ回路４又は
第１Ｓ／Ｈ回路５の出力をディジタル値に変換すること
ができるので、ＣＰＵ８はその値からＳ／Ｈ回路の出力
を測定することができる。Ｓ／Ｈ回路への入力値が一定
であれば基準電圧が最大時の発光パワーの値はばらつか
なくなるので、発光パワー制御装置の回路設計時にどの
ような値になるかを決めておくのだが、そのときＩ／Ｖ
変換器３の出力が設計値になっていれば問題はないが、
上述したようにばらつきがあるために可変ゲインアンプ
２０によってＳ／Ｈ回路への入力を一定にする必要があ
る。

【００５７】そこで、可変ゲインアンプ２０の入力用の
第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を２種類以上に設定して
やり、そのときのＡ／Ｄコンバータの値を測定する。第
３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を２種類にした場合は、そ
の設定値に対するＡ／Ｄコンバータの値は２点になるの
で、その２点を通る直線の関係式の傾きを求める。ま
た、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を３種類以上に
する場合は上述と同様にして３点以上とれるので３点の
近似直線を関係式とし、その傾きを求める。そして、そ
の求めた傾きを可変ゲインアンプ２０のゲインとし、そ
のゲインを可変ゲインアンプ２０のゲインとして設定す
る。

【００５８】したがって、実際に発光させなくてもＳ／
Ｈ回路への入力が一定になるので、レーザダイオード等
のレーザ発光手段の発光パワー調整を行う装置や設備が
必要ではなくなるため、製造時に調整工程を削減するこ
とができて組立コストの低減を図ることができる。この
ようにして、実際に発光させることなく設備や装置を必
要とすることなく発光パワー検出手段であるＰＤからの
出力にばらつきがあっても可変ゲインアンプの最適なゲ
インをみつける事ができるので、製造時のコスト削減や
時間短縮を図ることができる。

【００５９】次に、上記請求項１記載の発光パワー制御
装置では、可変ゲインアンプ２０にオフセット電圧が生
じている場合があり、正確なゲインを求めることができ
なくなる恐れがある。そこで、上記実施形態における請
求項２記載の発光パワー制御装置では、可変ゲインアン
プ２０の電圧オフセットを除くため、例えば再生パワー
を制御する回路側にある第１コンパレータ６を使用して
以下のようにして可変ゲインアンプのゲインを求める。
第１Ｓ／Ｈ回路４の入力は回路基準電圧であるので、第
１サンプル信号をオン（ＯＮ）にした状態で第１コンパ
レータ６の第１基準電圧Ｖｒｅｆ１を回路基準電圧とし
て第３Ｄ／Ａコンバータ２１を変化させる。

【００６０】そのとき、第１コンパレータ６の出力が
“０”の場合はオフセットのために回路基準電圧よりも
低くなっていることを示し、逆に“１”の場合は回路基
準電圧よりも大きくなっていることを示しており、
“０”から“１”又は“１”から“０”へと変化したと
きのオフセットが無くなった（もっとも小さくなった）
ことから、オフセットが無いことを検出したときの第３
Ｄ／Ａコンバータ２１の設定値を保存する。さらに、請
求項１と同様にして可変ゲインアンプ２０のゲインを求
め、可変ゲインアンプ２０のゲインを設定する。そし
て、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の出力はオフセットを無
くしたときの出力に設定し直す。

【００６１】したがって、発光パワー制御装置にオフセ
ットがあってもそのオフセットを取り除くことができ、
さらに可変ゲインアンプのゲインの設定も設定できるの
で、実際に発光させなくてもＳ／Ｈ回路への入力が一定
になり、レーザダイオード等のレーザ発光手段の発光パ
ワー調整を行う装置や設備が必要ではなくなるため、製
造時に調整工程を削減することができて組立コストの低
減を図ることができ、設定したパワーに対する発光パワ
ーの精度を高めることができる。このようにして、可変
ゲインアンプにオフセットがある場合でも予めオフセッ
トを除くことによって、可変ゲインアンプのゲインをよ
り正確に見つけることができ、発光パワーの精度を上げ
ることができる。

【００６２】次に、上記請求項２記載の発光パワー制御
装置では、オフセット電圧注入手段の設定値が設定範囲
ぎりぎりであった場合、例えばオフセット注入手段が第
３Ｄ／Ａコンバータ２１であるとすると、Ｄ／Ａコンバ
ータは一般的に「０ＬＳＢ」だったとしても出力として
０Ｖではなく、数ｍＶは出力され、それは０ＬＳＢから
数ＬＳＢは同じ値が出力される。逆にＤ／Ａコンバータ
の設定を最大にしても、理論的に５Ｖが出力されるとし
ても実際は５Ｖは出力されず、最大設定以下数ＬＳＢ分
はほとんど同じ値が出力されてしまう。そのため、Ｄ／
Ａコンバータを使用する際はできるだけギリギリの設定
を使用しないように予めさまざまな値を設計しておく必
要がある。

【００６３】なお、可変ゲインアンプ２０のゲインの設
定をするために第３Ｄ／Ａコンバータ２１に設定する少
なくとも２種類以上の値は予めＦ／Ｗで目標値として決
めるのだが、それを例えばオフセットを打ち消すために
設定した値よりも１０ＬＳＢ大きな値と２０ＬＳＢ大き
な値だった場合、さらに使用するＤ／Ａコンバータの設
定範囲が１００ＬＳＢであった時のオフセットを打ち消
すための設定値が８０ＬＳＢであった場合、１０ＬＳＢ
大きな値は９０ＬＳＢであるが、２０ＬＳＢ大きな値は
１００ＬＳＢとなり、レンジの限界になってしまう。す
ると、上述したように１００ＬＳＢでは設定通りの電圧
が出力されないため、それら２点の設定でＡ／Ｄコンバ
ータで値を検出し、それらの値からゲインを求めてもゲ
インとしては正確ではなくなってしまう恐れがある。

【００６４】そこで、上記実施形態における請求項３記
載の発光パワー制御装置では、オフセットを打ち消すた
めに設定された値が設定値が小さく、且つゲインを求め
る際の第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値を小さく設定する
ようにＦ／Ｗで決められている場合、設定値よりも大き
な値で２点をとってゲインを求めるものである。また
は、２点をとる間隔を狭めることによって値が飽和しな
い２点で求めるようにする。

【００６５】逆に、オフセットを打ち消すために設定さ
れた値が設定値が大きく、かつゲインを求める際の第３
Ｄ／Ａコンバータ２１の値を大きく設定するようにＦ／
Ｗできめられている場合、設定値よりも小さな値で２点
をとってゲインを求めるか、または２点をとる間隔をせ
ばめることで値が飽和しない２点で求めるようにするこ
とにより、オフセットを打ち消すために第３Ｄ／Ａコン
バータ２１に設定された値とＦ／Ｗであらかじめ決めら
れた、ゲインを求めるために第３Ｄ／Ａコンバータ２１
に設定する値の目標値とを決めるものである。したがっ
て、第３Ｄ／Ａコンバータ２１の設定がうまくいくの
で、ゲインを求める精度が上がる。

【００６６】このようにして、可変ゲインアンプ２０の
ゲインを見つける際、第３Ｄ／Ａコンバータ２１が飽和
しないようにゲインを見つけるための第３Ｄ／Ａコンバ
ータ２１の設定値を、オフセットをなくすために設定し
た第３Ｄ／Ａコンバータ２１の値によって変えることに
より、第３Ｄ／Ａコンバータ２１が飽和しないで済むよ
うになるので、可変ゲインアンプ２０のゲインを正確に
見つけることができる。

【００６７】次に、上記請求項１乃至３記載の発光パワ
ー制御装置では、製造工程における設備や装置が必要に
ならないのだが、再生又は記録側のどちらか一方のみに
Ａ／Ｄコンバータを設けており、そのＡ／Ｄコンバータ
を用いてゲインを求めているが、例えば再生側のみにＡ
／Ｄコンバータを設けた場合、測定時に仮に再生側の回
路に異常があったときにゲインをうまく求めることがで
きなくなる恐れがある。また、再生側に異常が無くてう
まくゲインを求めることができたとしても、逆に記録側
の回路に問題があったときに記録側の回路の異常をみつ
けることができずにそのまま次工程へ移ってしまうの
で、そのような発光パワー制御装置は結局次工程でもＮ
Ｇとなる可能性が高く、次工程の検査時間が無駄になっ
てしまう。もし、その後に検査がない場合、記録側の回
路に異常をもったまま出荷されてしまうという事態を招
くことになる。

【００６８】そこで、上記実施形態における請求項４記
載の発光パワー制御装置では、再生側と記録側のそれぞ
れにＳ／Ｈ回路の出力にＡ／Ｄコンバータを設けて再生
側と記録側それぞれでゲインを求めて、それぞれの回路
を用いて求められたゲインがほぼ等しくなったときにゲ
インを決定するものである。こうして、求められた２つ
のゲインが明らかに異なっている場合は回路に異常があ
るものと判断して、再調整もしくは出荷しないようにす
ることにより、回路に異常があるような発光パワー制御
装置の出荷を防止し、ユーザクレームを減らすことがで
きる。

【００６９】このようにして、可変ゲインアンプのゲイ
ンを見つけるために再生側のパワー制御する回路と記録
側のパワー制御する回路のそれぞれを用いることで、も
し回路に異常が発生している場合でも次工程に移る前に
見つけることができるので、次工程での検査の無駄を省
くことができるうえ、異常がある回路をつけたＣＤ−Ｒ
ドライブを市場に出さずにすむ。

【００７０】

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明の発
光パワー制御装置によれば、製造時のレーザパワー調整
工程を削減して組立コストの低減を図ると共に、光記録
媒体の記録容量を低減させず、使用者の使用コストを上
昇させないようにすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の発光パワー制御装置の第１実施形態
の回路構成を示すブロック図である。

【図２】図１に示した発光パワー制御装置における処理
を示すフローチャート図である。

【図３】この発明の発光パワー制御装置の第２実施形態
の回路構成を示すブロック図である。

【図４】図３に示した発光パワー制御装置における処理
を示すフローチャート図である。

【図５】同じく図４に示した続きの処理を示すフローチ
ャート図である。

【図６】この発明の実施形態の発光パワー制御装置を適
用する光ディスク装置であるＣＤ−Ｒドライブの概略構
成を示すブロック図である。

【図７】従来の光ディスクに記録するときのレーザ光の
発光パワーの変化を示す波形図である。

【図８】従来のＬＤの発光パワーを定パワー制御する発
光パワー制御装置の回路構成例を示すブロック図であ
る。

【図９】図８に示した発光パワー制御装置におけるデジ
タルＡＰＣ制御時の第１Ｓ／Ｈ回路４と第１コンパレー
タ６のそれぞれの出力電圧を示す波形図である。

【図１０】図８に示した発光パワー制御装置におけるデ
ジタルＡＰＣ制御時の第２Ｓ／Ｈ回路５と第２コンパレ
ータ７のそれぞれの出力電圧を示す波形図である。

【図１１】従来のＬＤの駆動電流対発光パワー特性の関
係の一例を示す線図である。

【符号の説明】

１：受光素子（ＰＤ） ２：レーザダイオード（Ｌ
Ｄ） ３：Ｉ／Ｖ変換器 ４：第１サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路 ５：第２サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路 ６：第１コンパレータ ７：第２コンパレータ ８：ＣＰＵ ９：第１Ｄ／Ａコンバ
ータ １０：第２Ｄ／Ａコンバータ １１：第１Ｖ／Ｉ変換
器 １２：第２Ｖ／Ｉ変換器 １３：第１電流増幅器 １４：第２電流増幅器 １５：電流加算器 ２０：可変ゲインアンプ ２１：第３Ｄ／Ａコン
バータ ２２：Ａ／Ｄコンバータ ２３：第１Ａ／Ｄコン
バータ ２４：第２Ａ／Ｄコンバータ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光を光記録媒体に照射するレーザ
   光発光手段と、該レーザ光発光手段から発光させるレー
   ザ光の発光パワーの光量レベルは少なくとも第１の光量
   レベルと該第１の光量レベルよりも大きい第２の光量レ
   ベルとの２つの光量レベルでディジタル変調されてお
   り、前記レーザ光発光手段に電流を供給して発光駆動さ
   せるレーザ光発光駆動手段と、前記レーザ光発光手段か
   ら発光されるレーザ光の発光パワーを検出し、該発光パ
   ワーに応じた電流信号を出力する発光パワー検出手段
   と、該発光パワー検出手段から出力された電流信号を電
   圧信号に変換して出力する電流電圧変換手段と、該電流
   電圧変換手段によって出力された電圧信号のレベルを少
   なくとも２種類以上の増幅率で増幅させて出力する電圧
   増幅手段と、該電圧増幅手段から出力された電圧信号の
   レベルと予め設定された基準電圧レベルとを比較する比
   較手段と、該比較手段の比較結果に応じて前記発光パワ
   ーの光量レベルを調整する光量レベル調整手段と、前記
   電流電圧変換手段から出力された電圧信号に該電圧信号
   以外の所定の電圧信号を注入するオフセット電圧信号注
   入手段と、前記比較手段に入力される電圧信号を検出す
   る電圧信号検出手段とを備え、 前記オフセット電圧信号注入手段に少なくとも２種類以
   上の所定の電圧信号を設定したときのそれぞれの電圧信
   号に対して前記比較手段に入力される電圧信号と前記電
   圧信号検出手段によって検出された電圧信号との関係に
   基づいて前記電圧増幅手段の増幅率を設定するようにし
   たことを特徴とする発光パワー制御装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の発光パワー制御装置にお
   いて、 前記オフセット電圧信号注入手段から出力する電圧信号
   に基づいて前記電流電圧変換手段から出力される電圧信
   号のオフセットを打ち消し、該打ち消したときの前記オ
   フセット電圧信号注入手段から出力された電圧信号の設
   定値を保存した状態で前記オフセット電圧信号注入手段
   に少なくとも２種類以上のオフセット電圧信号を設定し
   たときのそれぞれのオフセット電圧信号に対して前記比
   較手段に入力される電圧信号と前記電圧信号検出手段に
   よって検出された電圧信号との関係に基づいて前記電圧
   増幅手段の増幅率を設定するようにしたことを特徴とす
   る発光パワー制御装置。
3. 【請求項３】 請求項２記載の発光パワー制御装置にお
   いて、 前記電流電圧変換手段から出力される電圧信号のオフセ
   ットを打ち消したときの前記オフセット電圧信号注入手
   段から出力された電圧信号の設定値に基づいて前記少な
   くとも２種類以上の所定の電圧信号を区別するようにし
   たことを特徴とする発光パワー制御装置。
4. 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか一項に記載の
   発光パワー制御装置において、 再生時と記録時にそれぞれ前記増幅手段の増幅率を求
   め、それぞれある一定の値に増幅率が決定された場合に
   のみその増幅率を前記増幅手段に設定するようにしたこ
   とを特徴とする発光パワー制御装置。