JP4359192B2 - 光ディスク記録装置のレーザー特性測定装置 - Google Patents
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Description
パルス波形のパルス幅に基づくレーザーダイオードの発光出力の安定度を測定しなければレーザーダイオードが実際に使用可能か判定することが出来ない。
一定に近く設定されるので、ライトパワー値の変化によるレーザーダイオードの発光出力の安定度の判定を同等に行うことが出来る。
出力に基づいて設定されるライトパワー値に対応してレーザードライバ2を制御するライトパワー信号を出力する。この場合、ライトパワー信号発生回路9は、記録条件に適合するディスク記録に適したライトパワー値になるようにレーザーダイオード1から出力されるレーザー出力を制御する駆動信号がレーザードライバ2から供給されるように構成されている。
うに行われるのでその説明は省略する。また、斯かる構成において、レーザーダイオード1の発光出力特性である安定度の判定動作を行う場合には、CPU13によるピックアップ制御回路33に対する制御動作が行われ、該ピックアップ制御回路33からトラッキングコイル30に対して所定周波数、例えば30Hzの外乱信号が供給されるように構成されている。
ク値及びボトム値の差分が演算され、WSHO信号の振幅値を測定する処理動作が行われる。
5の(B)は、ピックアップ制御信号生成回路32によって生成されるトラッキングエラー信号のレベル変化を示すものである。前述したようにレーザーダイオード1の発光出力の安定度を判定するための動作は、トラッキングサーボをオフにした状態にて行われるとともにディスクの回転動作もディスク等の偏心によってフラツキが発生する。
2 レーザードライバ
3 モニターダイオード
4 エンコーダ/デコーダ回路
8 リードパワー信号発生回路
9 ライトパワー信号発生回路
11 APC回路
12 サンプルホールド回路
13 CPU
16 APC回路
17 ACC回路
18 サンプルホールド回路
22 ピークホールド回路
23 ボトムホールド回路
26 測定手段
27 判定手段
28 対物レンズ
30 トラッキングコイル
31 光検出器
32 ピックアップ制御信号生成回路
33 ピックアップ制御回路
34 駆動回路
Claims (4)
- 光学式ピックアップに組み込まれているとともにレーザードライバから出力されるパルス波形の駆動信号により駆動されるレーザーダイオードから照射されるレーザー光にてディスクにデータ信号の記録動作を行う光ディスク記録装置のレーザー特性測定装置であり、前記レーザードライバからパルス波形の駆動信号を出力させるべく該レーザードライバを制御する制御信号を発生する信号発生回路と、ディスクに記録するデータ信号に対応して前記信号発生回路から制御信号を発生させるエンコーダと、レーザーダイオードから照射されるレーザー光のレベルをモニターするモニターダイオードと、前記信号発生回路から出力される制御信号に基づいてレーザードライバから出力されるパルス波形の駆動信号のライトパワー値を発生させる期間に対応するタイミングで前記モニターダイオードより得られるモニター信号の振幅値を測定する測定手段と、この測定手段により測定された振幅値とレーザードライバから出力される駆動信号の所定のライトパワー値毎に前記振幅値に対応させて予め設定されている標準値とを比較し、この比較結果に基づいてレーザーダイオードの発光出力の安定度を判定する判定手段とを備え、再生専用ディスクに記録動作を行うレーザー光をフォーカスサーボをオン、トラッキングサーボをオフの状態にて照射させるとともにトラッキングコイルに所定周波数の外乱信号を供給しながら前記判定手段による発光出力の安定度の判定動作を行うようにしたことを特徴とする光ディスク記録装置のレーザー特性測定装置。
- 前記信号発生回路は、前記モニターダイオードのモニター出力をサンプルホールド回路によりサンプルホールドしたモニター電圧に対応して発生する制御信号を補正するAPC回路を備え、前記測定手段は、前記サンプルホールド回路から得られるモニター電圧のピーク値及びボトム値の差から振幅値を測定することを特徴とする請求項1に記載のレーザー特性測定装置。
- 前記判定手段によりモニター出力のライトパワー値発生期間の振幅値と比較される判定基準となる標準値は、レーザー駆動信号のライトパワー値が大きくなるに対応して前記判定手段によりレーザーダイオードの発光出力を安定と判定する許容幅を広くするようにしたことを特徴とする請求項1に記載のレーザー特性測定装置。
- 前記レーザードライバから出力される駆動信号の出力レベルを順次変化させるべく信号発生回路から発生される制御信号を変化させ、その都度、測定手段にてモニター出力のライトパワー値発生期間の振幅値を測定するとともに判定手段によりレーザーダイオードの発光出力の安定度を判定するようにしたことを特徴とする請求項1に記載のレーザー特性測定装置。
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