JP2677630B2

JP2677630B2 - 情報記録装置

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Publication number: JP2677630B2
Application number: JP63244311A
Authority: JP
Inventors: 雅史横田
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1988-09-30
Filing date: 1988-09-30
Publication date: 1997-11-17
Anticipated expiration: 2012-11-17
Also published as: JPH0294029A; DE3932661A1; US5042023A; DE3932661C2

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明は、たとえば光ディスクに対して情報の記録、
再生を行う光ディスク装置等の情報記録装置に関する。

（従来の技術）従来、たとえば追記型あるいは消去可能型の光ディス
クなどの記録媒体に、光学的に情報を記録あるいは再生
する光ディスク装置等の情報記録再生装置においては、
光源としての半導体レーザ（光出力手段）からの比較的
小さい光出力で光ディスク上の情報を読取る一方、比較
的大きい一定値以上の光出力で光ディスク上に情報を記
録するようになっている。したがって、上記一定値以上
の光出力が発生された場合、それが記録を意図したもの
でなくても光ディスクに不定の情報を書込んでしまい、
結果的に、既に記録されている情報を破壊することにな
る。

上記したような光ディスクに既に記録されている情報
の破壊を防止するために、２重記録防止回路を備えるも
の（特開昭54−147006）、記録済みフラグを書き込んで
２重書き（破壊）を防止するようにしたもの等が考えら
れており、さらに物理的な破壊の防止という観点から、
光学ヘッドが光ディスクに衝突するのを防止するように
したものも考えられている。

しかしながら、このような従来の光ディスク装置の情
報破壊防止策は、トラック外れ等によって目標トラック
以外の位置に記録光が照射され、これにより既に記録さ
れている光ディスク上の情報が破壊される場合について
は特に考慮されていない。つまり、トラック外れ等が発
生したような場合には、たとえ上記のような情報破壊防
止策が施されていても光ディスクに記録されている情報
を破壊する恐れがあり、かかる状態を放置すると破壊が
拡大されるという問題点があった。

（発明が解決しようとする課題）本発明は、上記したようにトラック外れ等があると、
既に光記録媒体に記録されている情報を破壊する恐れが
あり、これを放置すると破壊が拡大されるという問題点
を解決するためになされたもので、トラック外れ等が発
生しても光記録媒体に記録されている情報を破壊するこ
とのない情報記録装置を提供することを目的とする。

［発明の構成］（課題を解決するための手段）本発明の情報記録装置は、ブロック番号が記録されて
いるヘッダ領域と情報が記録されているデータ領域とか
らなり、連続したブロックに連続したブロック番号が記
録されている多数のブロックからなる情報記録トラック
が形成されている記録媒体に情報を光学的に記録するも
のにおいて、上記記録媒体へ照射するレーザ光を発生す
る光出力手段とこの光出力手段を光出力制御回路とを有
し、上記記録媒体のデータ領域に情報を記録する記録手
段と、上記記録媒体のヘッダ領域からブロック番号を読
取る読取手段と、上記記録手段による記録動作に先立っ
て、上記読取手段によりヘッダ領域から読取ったブロッ
ク番号が連続的に変化しているか否かを検出する検出手
段と、この検出手段によりブロック番号の非連続的な変
化が検出された際に、故障検知信号を出力する出力手段
と、この出力手段により出力される故障検知信号が一定
時間以上供給された際に、上記記録手段の光出力制御回
路への電源供給を遮断する遮断手段とから構成されてい
る。

（作用）本発明は、ブロック番号が記録されているヘッダ領域
と情報が記録されているデータ領域とからなり、連続し
たブロックに連続したブロック番号が記録されている多
数のブロックからなる情報記録トラックが形成されてい
る記録媒体に情報を光学的に記録するものにおいて、上
記記録媒体のデータ領域に情報を記録する記録手段に上
記記録媒体へ照射するレーザ光を発生する光出力手段と
この光出力手段を光出力制御回路とを有し、上記記録媒
体のデータ領域に情報を記録する記録動作に先立って、
上記記録媒体のヘッダ領域から読取ったブロック番号が
連続的に変化しているか否かを検出し、この検出により
ブロック番号の非連続的な変化が検出された際に、故障
検知信号を出力し、この出力される故障検知信号が一定
時間以上供給された際に、上記記録手段の光出力制御回
路への電源供給を遮断するようにしたものである。

（実施例）以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明
する。

第４図は本発明の情報記録装置たとえば光ディスク装
置の概略構成を示すものである。すなわち、光ディスク
（光記録媒体）１は、例えばガラスあるいはプラスチッ
クス等で円形に形成された基板の表面に、テルルあるい
はビスマス等の金属被膜層がドーナツ形にコーティング
されて成るものである。

上記光ディスク１は、スピンドルモータ２によって回
転されるようになっている。このスピンドルモータ２は
モータ制御回路３により駆動制御されるもので、制御回
路４からの回転指令信号S1に応じて回転の始動、停止等
が制御されるようになっている。

上記制御回路（検出手段）４は、マイクロコンピュー
タ等により構成され、上記スピンドルモータ２の回転制
御の他の、装置全体の制御を司るものである。

上記光ディスク１の下方部には、光学ヘッド（照射手
段）５が配設されている。この光学ヘッド５は光ディス
ク１に対して情報の記録あるいは再生を行なうもので、
半導体レーザ発振器６、コリメータレンズ７、ビームス
プリッタ８、対物レンズ９、集光レンズ10、光検出器1
1、およびフォトダイオード12等により構成されてい
る。

半導体レーザ発振器（光出力手段）６は光出力制御回
路15からのドライブ信号S2に従って発散性のレーザ光を
発生するのもので、情報を光ディスク１の記録膜に書込
む記録の際は、書込むべき情報に応じてその光強度が変
調された強いレーザ光を発生し、情報を光ディスク１の
記録膜から読出す再生の際は、一定の光強度を有する弱
いレーザ光を発生するようになっている。

上記半導体レーザ発振器６から発生された発散性のレ
ーザ光は、コリメータレンズ７によって平行光束に変換
されてビームスプリッタ８に導かれる。このビームスプ
リッタ８に導かれたレーザ光は、ビームスプリッタ８で
反射されて対物レンズ９に入射され、この対物レンズ９
によって光ディスク１の記録膜に向けて集束される。

上記対物レンズ９は、その光軸方向および光軸と直交
する方向にそれぞれ移動可能に支持されており、対物レ
ンズ９が所定位置に位置されることにより、この対物レ
ンズ９を通った集束性のレーザ光が光ディスク１の記録
膜の表面上に投射され、最小ビームスポットが光ディス
ク１の記録膜の表面上に形成される。この状態におい
て、対物レンズ９は合焦状態および合トラック状態にい
保たれ、情報の書込みおよび読出しが可能となる。

また、光ディスク１の記録膜から反射された発散性の
レーザ光は、合焦時には対物レンズ９によって平行光束
に変換され、再びビームスプリッタ８に戻される。そし
て、ビームスプリッタ８を透過して集光レンズ10によっ
て光検出器11上に結像される。

光検出器11は、集光レンズ10によって結像された光を
電気信号に変換する光検出セルによって構成されてい
る。この光検出器11で光電変換された電気信号は再生信
号として信号処理回路13に送出される。

また、上記半導体レーザ発振器６の記録あるいは再生
用レーザ光の発光口と反対の側には、光電変換素子とし
てのフォトダイオード12が設けられている。このフォト
ダイオード12は、上記半導体レーザ発振器６からのモニ
タ光が照射されることにより、そのモニタ光を電気信号
に変換し、半導体レーザ発振器６の光出力モニタ信号S3
として光出力制御回路15に供給するようになっている。

上記した光学ヘッド５は、例えばリニアモータ等によ
って構成される移動機構（図示しない）により光ディス
ク１の半径方向に移動可能になっており、この移動機構
により記録あるいは再生の対象となる目標トラックへ移
動するようになっている。

上記信号処理回路13は、光検出器11により光電変換さ
れた再生信号の増幅、２値化等の処理を行なうものであ
る。この信号処理回路13で２値化された再生信号はヘッ
ダ分離読取回路14に供給されるようになっている。ヘッ
ダ分離読取回路14は、光ディスク１から読取って２値化
された再生信号中からヘッダ部の情報とデータ部の情報
とを分離し、制御回路４へ送出するものである。

上記光出力制御回路（光出力制御手段）15は、半導体
レーザ発振器６が出力する光出力モニタ信号S3を入力し
てフィードバック制御を行なうことにより半導体レーザ
発振器６の光出力を一定値に保つように制御するもので
あり、詳細は後述する。

故障検知回路（出力手段）16は、上記光出力制御回路
15の種々の故障を検知するもので、検知結果は、リレー
回路17に供給されるとともに、上記制御回路４に供給さ
れるようになっている。この故障検知回路16についても
詳細は後述する。

リレー回路17は、図示しない電源装置から供給される
電圧源E₀のうち、他の回路から独立して、半導体レーザ
発振器６、フォトダイオード12、および光出力制御回路
15のみに供給される電圧源Ｅを遮断するもので、上記故
障検知回路16からの故障検知信号S4に基づいて開閉制御
されるようになっている。

次に、上記光出力制御回路15および故障検知回路16の
詳細について、第１図を参照しながら説明する。

まず、光出力制御回路15は次のように構成される。す
なわち、電流電圧変換回路20は、上記フォトダイオード
12で光電変換され、電流信号として取出された光出力モ
ニタ信号S3を入力し、フォトダイオード12の光強度、つ
まり半導体レーザ発振器６の光出力に応じた電圧信号Ve
₀に変換するものである。この電流電圧変換回路20が出
力する電圧信号Ve₀は誤差増幅器21に供給されるように
なっている。誤差増幅器21は、上記電圧信号Ve₀を一方
の入力とし、図示しない定電圧源により発生される基準
電圧Vsを他方の入力として、これら両電圧Ve₀およびVs
を比較し、その差分を増幅して誤差信号S5として出力す
るものである。この誤差信号S5は切換回路22に供給され
るようになっている。なお、上記基準電圧Vsは、再生に
必要な光出力を得るための一定電圧であり、後述するよ
うに、電圧信号Ve₀を基準電圧Vsに近付けるべくフィー
ドバック制御を行なうことにより半導体レーザ６から一
定の光出力が得られるようになっている。

上記切換回路22は、記録あるいは再生等の動作モード
に応じて制御ループの開閉を制御するもので、第２図に
詳図するように構成されている。すなわち、上記誤差増
幅器21が出力する誤差信号S5は抵抗R7を会してスイッチ
25の一端側に接続され、このスイッチ25の他端側は抵抗
R8を介して演算増幅器27の非反転入力端子に接続されて
いる。このスイッチ25は制御回路４が出力する制御ルー
プ開閉信号S10により開閉が制御されるようになってい
る。また、上記スイッチ25の他端側（抵抗R8の一端）は
スイッチ26を介して接地されており、このスイッチ26は
制御回路４が出力する再生光出力制御信号S11により開
閉が制御されるようになっている。また、上記抵抗R8の
他端側、つまり、演算増幅器27の非反転入力端子はドラ
イブ電圧保持コンデンサ28を介して接地されている。さ
らに、上記演算増幅器27はバッファとして利用するもの
で、その出力信号S6はトランジスタ23のベースに供給す
るようになっている。

トランジスタ23は、再生光として弱光度の一定値のレ
ーザ光を発生するために、そのベースに供給される信号
S6に応じて半導体レーザ発振器８を駆動するものであ
る。このトランジスタ23のエミッタは抵抗R1を介して接
地されている。トランジスタ24は、記録光として記録デ
ータに応じた強光度のレーザ光を発生するために、その
ベースに供給される記録信号S7に応じて半導体レーザ発
振器６を駆動するものである。このトランジスタ24のエ
ミッタは抵抗R2を介して接地されている。

次に上記のように構成される光出力制御回路15の動作
について説明する。まず、制御回路４から出力される制
御ループ開閉信号S10は、光ディスク１に記録されてい
る情報を再生する時にのみ高レベル（以下、「Ｈレベ
ル」という。）に、これ以外のスタンバイ時あるいは情
報の記録時は低レベル（以下、「Ｌレベル」という。）
になるように制御される。この制御ループ開閉信号S10
がＨレベルにされることによりスイッチ25がオンにされ
て制御ループが閉じられる。一方、再生光出力制御信号
S11は、スタンバイ時はＬレベルに、情報の再生時およ
び記録時はＨレベルになるように制御される。上記スイ
ッチ26は再生光出力制御信号S11がＬレベルにあるとき
にオンされ、Ｈレベルにあるときにオフにされる。

すなわち、スタンバイ時は、制御ループ開閉信号S10
および再生光出力制御信号S11は共にＬレベルにあり、
したがって、スイッチ25はオフ、スイッチ26はオンにさ
れている。これにより演算増幅器27の非反転入力端子は
接地された状態となり、その出力信号S6は０ボルトとな
る。したがって、トランジスタ23はオフとなり、半導体
レーザ発振器６からレーザ光は発生されない。この際、
もちろん、記録信号S7は供給されておらず、したがっ
て、トランジスタ24もオフの状態にある。

再生時は、制御ループ開閉信号S10および再生光出力
制御信号S11は、制御回路４により共にＨレベルにさ
れ、したがって、スイッチ25はオン、スイッチ26はオフ
にされる。これにより切換回路15は、入力された誤差信
号S5に応じた信号S6を出力し、制御ループが閉じられた
状態になる。すなわち、誤差増幅器21から出力された誤
差信号S5が切換回路22を経由してトランジスタ23のベー
スに供給されることによりトランジスタ23のコレクタに
ドライブ信号S2が流れ、これにより半導体レーザ発振器
６が発光する。この半導体レーザ発振器６の光出力はフ
ォトダイオード12で光電変換されて光出力モニタ信号S3
として電流電圧変換回路20に供給される。電流電圧変換
回路20では、上記光出力モニタ信号S3を電圧信号Ve₀に
変換し、誤差増幅器21に供給する。誤差増幅器21では、
予め設定されている基準電圧Vsと上記電圧信号Ve₀とを
比較し、その誤差分を誤差信号Ｓとして出力する。この
誤差信号S5は、上記電圧信号Ve₀が基準信号Vsより大き
ければ半導体レーザ発振器６の光出力を小さくし、上記
電圧信号Ve₀が基準信号Vsより小さければ半導体レーザ
発振器６の光出力を大きくする信号であり、かかるフィ
ードバック制御により上記基準電圧Vsと電圧信号Ve₀と
が等しくなるように作用し、これにより半導体レーザ発
振器６の光出力が一定に保たれるようになっている。

記録時は、制御ループ開閉信号S10はＬレベル、再生
光出力制御信号S11はＨレベルにされ、したがって、ス
イッチ25および26は共にオフにされる。この状態では、
ドライブ電圧保持コンデンサ28には再生時に演算増幅器
27の非反転入力端子に供給していた電圧が保持されてお
り、記録に先だって行なうヘッダ情報の再生時は、この
保持された電圧によりトランジスタ23を駆動し、再生光
を得るようになっている。かかる状態で記録すべき情報
に応じた記録信号S7をトランジスタ24のベースに供給す
ることによりこのトランジスタ24のコレクタにドライブ
信号S2を流し、これにより半導体レーザ６を発甲させて
光ディスク１に情報を記録する。

次に、故障検知回路16は以下のように構成される。ま
ず、光出力制御回路15内部のモニタする箇所は、電流電
圧変換回路20の出力端子、トランジスタ23のエミッタ端
子、およびトランジスタ24のエミッタ端子てある。電流
電圧変換回路20の出力端子に現われる電圧信号Ve₀は、
その出力抵抗より十分大きな値の抵抗R3を介して電圧信
号Ve₀として取出されるようになっている。また、トラ
ンジスタ23のエミッタ端子に現われる電圧信号は、その
エミッタ抵抗R1より十分大きな値の抵抗R4を介して電圧
信号Vfとして取出され、トランジスタ24のエミッタ端子
に現われる電圧信号は、そのエミッタ抵抗R2より十分大
きな値の抵抗５を介して電圧信号Vgとして取出されるよ
うになっている。また、上記抵抗R3、R4、およびR5は、
それぞれ電流電圧変換回路20の出力端子、トランジスタ
23のエミッタ端子、およびトランジスタ24のエミッタ端
子の近傍に配設されるようになっている。このように、
光出力制御回路15の所定箇所から信号を取出すに際し、
信号源の近傍に設けた十分大きな抵抗を介在させること
により、故障検知回路16を付加したことに伴う光出力制
御回路15への影響を最小限に抑え、光出力制御回路15の
信頼性の低下を防止できるようになっている。

上記抵抗R3を介して取出された電圧信号Veは、比較器
30および32の非反転入力（＋端子）に供給されるととも
に、比較器31の反転入力端子（−端子）に供給されるよ
うになっている。

上記比較器30の反転入力端子には、図示しない定電圧
源から供給される再生光下限電圧Vaが入力されるように
なっている。そして、電圧信号Veが再生光下限電圧Vaよ
り小さい時はＬレベルの信号が、電圧信号Veが再生光下
限電圧Vaより大きい時はＨレベルの信号が出力されるよ
うになっている。

上記比較器31の非反転入力端子には、図示しない定電
圧源から供給される再生光上限電圧Vbが入力されるよう
になっている。そして、電圧信号Veが再生光上限電圧Vb
より大きい時はＬレベルの信号が、信号Veが再生光上限
電圧Vbより小さい時はＨレベルの信号が出力されるよう
になっている。

また、上記比較器32の反転入力端子には、図示しない
定電圧源から供給される記録光上源電圧Vcが入力される
ようになっている。そして、電圧信号Veが記録光上限電
圧Vcより小さい時はＬレベルの信号が、電圧信号Veが記
録光上限電圧Vcより大きい時はＨレベルの信号が出力さ
れるようになっている。

上記比較器30の出力は、ANDゲート35の一方の入力に
供給されるようになっており、このANDゲート35の他方
の入力には、再生光出力制御信号S11をインバータ36で
反転した信号が入力されるようになっている。そして、
ANDゲート35で論理積がとられた信号S30はNORゲート37
とラッチ38に供給されるようになっている。

また、ANDゲート39の一方の入力には再生光出力制御
信号S11が、他方の入力には上記比較器30および31の出
力信号をNANDゲート40で論理積をとって反転した信号が
入力されるようになっている。そして、このANDゲート3
9で論理積がとられた信号S31はNORゲート37とラッチ38
に供給されるようになっている。

また、ANDゲート41の一方の入力には上記比較器32の
出力信号が、他方の入力には制御回路４から供給される
記録制御信号S12が入力されるようになっている。そし
て、このANDゲート32で論理積がとられた出力信号S32は
NORゲート37とラッチ38に供給されるようになってい
る。

さらに、ANDゲート42の一方の入力には上記比較器30
の出力信号が、他方の入力には、制御回路４から供給さ
れる回転指令信号S1が入力されるようになっている。そ
して、ANDゲート42で論理積がとられた信号S33はNORゲ
ート37とラッチ38に供給されるようになっている。な
お、上記回転指令信号S1は、スピンドルモータ２の回転
を指示しているときにＬレベル、停止を指示していると
きにＨレベルとして出力されるものである。

比較器33および34の反転入力端子には、図示しない定
電圧源から供給される比較電圧Vdが入力されるようにな
っている。この比較電圧Vdは、トランジスタ23および24
のエミッタ電流の有無を検知するための比較的低い電圧
である。上記比較器33の非反転入力端子には、トランジ
スタ23のエミッタから取出した電圧が抵抗R4を介してエ
ミッタ電圧信Vfとして入力されるようになっている。こ
の比較器33の出力はANDゲート43の一方の入力に供給さ
れ、このANDゲート43の他方の入力には上記比較器30の
出力が供給されるようになっている。そして、ANDゲー
ト43で論理積がとられた出力信号S34はNORゲート37とラ
ッチ38に供給されるようになっている。

また、比較器34の非反転入力端子には、トランジスタ
24のエミッタから取出した電圧が抵抗R5を介してエミッ
タ電圧信号Vgとして入力されるようになっている。そし
て、比較器34の出力はANDゲート44の一方の入力に供給
されるようになっており、このANDゲート44の他方の入
力には記録制御信号S12をインバータ45で反転した信号
が入力されるようになっている。そして、ANDゲート44
で論理積がとられた信号S35はNORゲート37およびラッチ
38に供給されるようになっている。

上記ANDゲート35、39、41、42、43、44の出力信号S30
〜S35、および制御回路４から直接出力される信号S36
（詳細は後述）は、NORゲート37で論理和がとられると
ともに反転されて、エラー信号S40として遅延素子45お
よびORゲート46の一方の入力に供給されるようになって
いる。遅延素子45は、入力したエラー信号S40を一定時
間Tdだけ遅らせて出力するもので、この遅延された信号
S41は上記ORゲート46の他方の入力およびラッチ38に供
給されるようになっている。そして、ORゲート46で論理
和がとられた信号は抵抗R9を介してトランジスタ47のベ
ースに供給されるようになっている。トランジスタ47は
上記ORゲート46からの信号によりオン・オフが制御さ
れ、そのコレクタに流れる故障検知信号S4によりリレー
回路17の接点を接続または開放するようになっている。

上記一定時間Tdは、光ディスク１上に記録された情報
の破壊を許容できる時間であり、さらに詳しくは、情報
記録再生装置に備えられたエラー訂正回路によるバース
トエラーを訂正できる限界の時間である。すなわち、万
一、光ディスク１上の情報が破壊された場合であって
も、エラー訂正回路により訂正が行われて正しい情報を
得ることのできる量に相当する時間を限界値とし、それ
以内の時間で決定されるようになっている。

ラッチ38は、上記遅延素子45が発生する信号S41をラ
ッチタイミング信号として、上記ANDゲート35、39、4
1、42、43、44の各出力信号S30〜S35をラッチするもの
である。このラッチ38の出力は制御回路４に送出され、
故障原因の解析、表示等に使用される。

次に、上記のように構成される故障検知回路16の動作
について、第３図のタイミングチャートを参照しながら
説明する。

この装置の動作状態は大きく３種類に別けられ、制御
回路４が出力する制御ループ開閉信号S10、再生光出力
制御信号S11、および記録制御信号S12によりそれぞれ規
定される。すなわち、第３図に示すように、第１の状態
Ａは、スタンバイ時などの再生光および記録光出力がオ
フにされている期間で、制御ループ開閉信号S10、再生
光出力制御信号S11、記録制御信号S12が全てＬレベルの
状態である。第２の状態Ｂは、再生時で再生光出力がオ
ン、記録光出力がオフにされ、信号再生に必要な小さい
光出力を発生する期間で、制御ループ開閉信号S10およ
び再生光出力制御信号S11はＨレベル、記録制御信号S12
はＬレベルの状態にある。第３の状態Ｃは、記録時で再
生光出力がオン、記録光出力がオンにされ、記録に必要
な大きい光出力を発光する期間で、制御ループ開閉信号
S10はＬレベル、再生光出力制御信号S11はＨレベル、記
録制御信号S12はＨレベルの状態にある。以下、これら
の各状態における故障検知動作について説明する。

まず、再生光出力オフの状態であるにも拘らず発光出
力が検知されるというモードの故障検知について説明す
る。第３図中のA₁期間は半導体レーザ発振器６が駆動さ
れていない状態であり、したがって、フォトダイオード
12からの光電変換出力もなく、電圧信号Veは０ボルトに
保たれているのが正常状態である。しかしながら、同図
（ｄ）に示すように、光出力制御回路15の何らかの故障
によりA₂期間の時刻t1において再生光下限電圧Vaよりも
高い電圧信号Veが発生されたとすると、比較器30の出力
端子にはＨレベル信号が現われ、ANDゲート35の一方の
入力に供給される。この際、ANDゲート35の他方の入力
端子には再生光出力制御信号S11がインバータ36で反転
され、Ｈレベルの信号として入力されている。したがっ
て、ANDゲート35の出力には、第３図（ｅ）に示すよう
に、時刻t1で立上がる信号S30が出力され、この信号S30
がNORゲート37を経由することにより反転されてエラー
信号S40としてORゲート46および遅延素子45に供給され
る。そして、一定時間Tdの間に信号S30がＬレベルに戻
らなければORゲート46の出力にはＬレベルの信号が出力
され、抵抗R9を介してトランジスタ47のベースに供給さ
れる。これによりトランジスタ47のコレクタに流れる故
障検知信号S4が遮断されてリレー回路17の接点が開放さ
れ、半導体レーザ発振器６、フォトダイオード12、およ
び光出力制御回路15に供給される電圧源Ｅが遮断され
る。これにより、半導体レーザ６の発光出力は停止し、
故障による発光で光ディスク１上の情報が破壊されるの
を防止できる。一方、ANDゲート35の出力信号S30は、故
障要因として上記遅延素子45から出力される信号S41の
立下がりのタイミングでラッチ38にラッチされる。この
ラッチ38からの信号は制御回路４に供給されるようにな
っており、制御回路４で解析され、異常ランプの点灯、
ブザーの鳴動、あるいはメッセージの表示等の異常報知
に使用される。

次に、再生光出力オンの状態で光出力が一定範囲外の
大きさとなるモードの故障の検知について説明する。第
３図中のB₁期間は、フォトダイオード12からの電圧信号
Veが、再生光下限電圧Vaと再生光上限電圧Vbとの間にあ
り、正常に運転されている状態を示す。かかる正常状態
で、第３図（ｄ）のB₂期間に示すように、光出力制御回
路15の何らかの故障により時刻t5において再生光下限電
圧Vaよりも低い電圧信号Veが発生されたとすると、比較
器30の出力端子にはＬレベル信号が現われ、NANDゲート
40の一方の入力に供給されることによりその出力はＨレ
ベルとなり、これがANDゲート39の一方の入力に供給さ
れる。この際、ANDゲート39の他方の入力端子には再生
光出力制御信号S11がＨレベルの信号として入力されて
いる。したがって、ANDゲート39の出力には、第３図
（ｅ）に示すように、時刻t5で立上がる信号S31が出力
され、この信号S31がNORゲート37を経由することにより
反転されてエラー信号S40としてORゲート46および遅延
素子45に供給される。以下上記と同様の動作にて、リレ
ー回路17の接点が開放されて電圧源Ｅが遮断される。こ
こで、上記電圧信号Veが０ボルトであるにも拘らず電圧
源Ｅの供給を停止するようにしたのは、制御ループ開閉
信号S10でおよび再生光出力制御信号S11が共にＨレベル
で再生光出力が指令されているにも拘らず電圧信号Veが
０ボルトであると、誤差増幅器21は基準電圧Vsに対して
最大ドライブを行なうように作用し、半導体レーザ発振
器６が過大発光を生じる恐れがあるからである。これに
より、フォトダイオード12から電流電圧変換回路20に至
る系の万一の故障をも検知し、故障による異常発光で光
ディスク１上の情報が破壊されるのを防止できる。ま
た、故障要因も上記と同様の動作にてラッチ38にラッチ
され、後に行なう故障解析に供されるようになってい
る。

一方、第３図（ｄ）のB₃期間に示すように、光出力制
御回路15の何らかの故障により時刻t6において再生光上
限電圧Vbよりも高い電圧信号Veが発生されたとすると、
比較器31の出力端子にはＨレベル信号が現われ、NANDゲ
ート40の他方の入力に供給されることによりその出力に
Ｈレベルの信号を出力し、ANDゲート39の一方の入力に
供給される。この際、ANDゲート39の他方の入力端子に
は再生光出力制御信号S11がＨレベルの信号として入力
されている。したがって、ANDゲート39の出力には、第
３図（ｅ）に示すように、時刻t6で、立上がる信号S31
が出力され、この信号S31がNORゲート37を経由すること
により反転されてエラー信号S40としてORゲート46およ
び遅延素子45に供給される。以下上記と同様の動作に
て、リレー回路17の接点が開放されて電圧源Ｅが遮断さ
れる。これにより、光出力は停止し、故障による異常発
光で光ディスク１上の情報が破壊されるのを防止でき
る。また、故障要因も上記と同様の動作にてラッチ38に
ラッチされ、後に行なう故障解析に供されるようになっ
ている。

次に、記録光出力オンの状態で光出力が一定値以上の
大きさとなるモードの故障の検知について説明する。第
３図中のC₁期間は、フォトダイオード12からの電圧信号
Veが、再生光上限電圧Vbと記録光上限電圧Vbとの間にあ
り、正常に記録動作が行われている状態を示す。かかる
性能状態で、第３図（ｄ）のB₂期間に示すように、光出
力制御回路15の何らかの故障により時刻t8において記録
光上限電圧Vcよりも高い電圧信号Veが発生されたとする
と、比較器32の出力端子にはＨレベル信号が現われ、AN
Dゲート41の一方の入力に供給される。この際、ANDゲー
ト41の他方の入力端子には記録制御信号S12がＨレベル
の信号として入力されている。したがって、ANDゲート4
1の出力には、第３図（ｅ）に示すように、時刻t8で立
上がる信号S32が出力され、この信号S32がNORゲート37
を経由することにより反転されてエラー信号S40としてO
Rゲート46および遅延素子45に供給される。以下上記と
同様の動作にて、リレー回路17の接点が開放されて電圧
源Ｅが遮断される。これにより、光出力は停止し、故障
による異常発光で光ディスク１上の情報が破壊されるの
を防止できる。また、故障要因も上記と同様の動作にて
ラッチ38にラッチされ、後に行なう故障解析に供される
ようになっている。

次にスピンドルモータ２の回転停止中に光出力が一定
値以上になるというモードの故障の検知について説明す
る。一般に、光ディスクが回転していないか、あるいは
所定回転数に達していない場合にレーザ光を照射する
と、照射されるエネルギーが規定値以上の値となり記録
されている情報が破壊されるようになっている。このた
め、スピンドルモータ２が回転していないか、あるいは
所定回転数に達していない場合は、回転指定信号S1にＨ
レベルにされ、半導体レーザ発振器６の光出力は停止さ
れている。したがって、かかる状態で発光出力に基づく
電圧信号Veが存在するのは光出力制御回路15の故障によ
るものであると判断する。すなわち、光出力制御回路15
の何らかの故障により再生光下限電圧Vaより高い電圧信
号Veが発生されたとすると、比較器30の出力端子にはＨ
レベル信号が現われ、ANDゲート42の一方の入力に供給
される。この際、ANDゲート39の他方の入力端子にはス
ピンドルモータ２の回転指令信号S1がＨレベルの信号と
して入力されている。したがって、ANDゲート42の出力
にはＨレベルの信号S33が出力され、この信号S33がNOR
ゲート37を経由することにより反転されてエラー信号S4
0としてORゲート46および遅延素子45に供給される。以
下上記と同様の動作にて、リレー回路17の接点が開放さ
れて電圧源Ｅが遮断される。これにより、光出力は停止
し、故障による異常発光で光ディスク１上の情報が破壊
されるのを防止できる。また、故障要因も上記と同様の
動作にてラッチ38にラッチされ、後に行なう故障解析に
供されるようになっている。

次に、再生光出力オフの状態であり、かつ上記電流電
圧変換回路20からの電圧信号Veが０ボルトであるにも拘
らず、光ディスク１上の情報を破壊するようなモードの
故障の検知について説明する。つまり、上記した生成光
出力オフの状態であるにも拘らず発光出力が検知される
というモードの故障の検知回路は、電圧信号Veを生成す
る系に故障がある場合は電圧信号Veとして常に０ボルト
が得られる場合も考えられ、十分とはいい難い。このよ
うな場合は次のように動作する。すなわち、第３図中の
A₃期間は半導体レーザ発振器６が駆動されていない状態
であり、トランジスタ23はオフになっており、エミッタ
電圧信号Vfは０ボルトにい保たれているのが正常状態で
ある。かかる状態で、同図（ｄ）のA₂期間に示すよう
に、光出力制御回路15の何らかの故障により時刻t2にお
いて比較電圧Vdよりも高い電圧信号Vfが発生されたとす
ると、比較器33の出力端子にはＨレベル信号が現われ、
ANDゲート43の一方の入力に供給される。この際、ANDゲ
ート43の他方の入力端子には再生光出力制御信号S11が
インバータ36で反転され、Ｈレベルの信号として入力さ
れている。したがって、ANDゲート43の出力には、第３
図（ｅ）に示すように、時刻t2で立上がる信号S34が出
力され、この信号S34がNORゲート37を経由することによ
り反転されてエラー信号S40としてORゲート46および遅
延素子45に供給される。以下上記と同様の動作にて、リ
レー回路17の接点が開放されて電圧源Ｅが遮断される。
これにより、光出力は停止し、故障による異常発光で光
ディスク１上の情報が破壊されるのを防止できる。この
ように、異常検知を二重に行なっているので、より確実
にディスク１上の情報が破壊されるのを防止できるもの
となっている。また、故障要因も上記と同様の動作にて
ラッチ38にラッチされ、後に行なう故障解析に供される
ようになっている。

同様に、第３図中のA₄期間も半導体レーザ発振器６が
駆動されていない状態であり、したがって、トランジス
タ24はオフにされており、エミッタ電圧信号Vgは０ボル
トに保たれているのが正常状態である。かかる状態で、
同図（ｄ）のA₄期間に示すように、光出力制御回路15の
何らかの故障により時刻t3において比較電圧Vdよりも高
い電圧信号Vgが発生されたとすると、比較器34の出力端
子にはＨレベル信号が現われ、ANDゲート44の一方の入
力に供給される。この際、ANDゲート43の他方の入力端
子には記録制御信号S12がインバータ45で反転され、Ｈ
レベルの信号として入力されている。したがって、AND
ゲート44の出力には、第３図（ｅ）に示すように、時刻
t3で立上がる信号S35が出力され、この信号S35がNORゲ
ート37を経由することにより反転されてエラー信号S40
としてORゲートおよび遅延素子45に供給される。以下上
記と同様の動作にて、リレー回路17の接点が開放されて
電圧源Ｅが遮断される。これにより、光出力は停止し、
故障による異常発光で光ディスク１上の情報が破壊され
るのを防止できるものとなっている。また、故障要因も
上記と同様の動作にてラッチ38にラッチされ、後に行な
う故障解析に供されるようになっている。

次に、記録時のヘッダアドレス情報の連続性が喪失し
た場合の故障検知について第５図を参照しながら説明す
る。すなわち、記録動作を行なう場合は、まず、制御回
路４に含まれるマイクロコンピュータに、記録を行なう
光ディスク１上のヘッダアドレス情報が与えられる。こ
れにより、光学ヘッド５が目標位置へ移動し、トラッキ
ングおよびフォーカッシングが行われる。また、上記動
作と並行して、制御回路４内部に設けられたカウンタ
（図示しない）に、初期値として目標位置のブロック番
号ｉがセットされる（ステップS1）。次に、トラッキン
グおよびフォーカッシングが完了して合焦点、合トラッ
ク状態になり、光ディスク１へのアクセスが可能になる
と、ヘッダアドレス情報が読出される（ステップS2）。
そして、このヘッダアドレス情報に含まれるブロック番
号が上記カウンタの内容ｉと一致するか否かが調べられ
る（ステップS3）。そして、一致する場合はステップS4
へ進んでカウンタの内容をインクリメントし、与えられ
た情報に応じた情報信号S7を光出力制御回路15に送出す
ることにより、その情報に応じたレーザ光を発生し、記
録を行なう（ステップS5）。次いで指定された全ての記
録が完了したか否かが調べられ（ステップS6）、完了し
ていなければステップS2へ戻り、再度上記動作を繰返
す。

一方、上記ステップS3においてカウンタの内容ｉとブ
ロック番号とが一致しなければ、例えばトラック外れ等
によりヘッダアドレス情報の連続性が失われたと判定
し、Ｈレベルのレーザオフ信号S36を出力し、処理を終
了する。この信号S36は、第１図に示すように、NORゲー
ト37を経由することにより反転されてエラー信号S40と
してNORゲート46および遅延素子45に供給される。以下
上記と同様の動作にて、リレー回路17の接点が開放され
て電圧源Ｅが遮断される。これにより、光出力は停止
し、トラック外れ等に伴う光ディスク１上の情報の破壊
を防止できるものとなっている。

以上説明したように、記録動作を行なう際は、記録動
作に先立って行なうヘッダアドレス情報の読取時に、そ
のアドレスの連続性を調べ、この際、連続性がないこと
が判断されるとリレー回路17を開放し、半導体レーザ６
の発光を抑止するようにしたので、トラック外れ等によ
り目標位置以外の位置にレーザ光が照射されることがな
く、したがって、既に記録されている情報を破壊するこ
ともないものとなっている。

また、光出力制御回路15の種々の不具合を故障検知回
路16で検出し、異常を検知した際、半導体レーザ６、フ
ォトダイオード12、および光出力制御回路15に供給する
電源を遮断し、半導体レーザの発光を確実に停止するよ
うにしたので、光ディスク１に記録されている情報を破
壊から確実に防止できるものとなっている。また、上記
不具合の要因はラッチ38に記憶しておき、後に行なう故
障解析に供するようにしたので、故障報知が容易とな
り、また故障原因の解明も容易にできるものとなってい
る。

さらに、光出力制御回路15の所定箇所から故障検知を
行なうためのモニタ信号を取出すに際し、高抵抗値を持
つ抵抗R3、R4、R5を介して行なうようにしたので、故障
検知回路16を設けたことによる光出力制御回路への悪影
響もなく、信頼性の低下を防止できるようになってい
る。

［発明の効果］以上詳述したように本発明によれば、トラック外れが
発生しても記録媒体にすでに記録されている情報を破壊
することのないようにでき、さらにブロック番号の非連
続的な変化の一定時間（情報の破壊を許容できる時間）
以内の検出に対しては、光出力制御回路への電源供給を
遮断しないようにすることができる情報記録装置を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示すもので、第１図は光ディス
ク装置の電気回路の概略構成を示すブロック図、第２図
は切換回路のブロック図、第３図は故障検知動作を説明
するためのタイミングチャート、第４図は光ディスク装
置の概略構成図、第５図は記録動作時の故障検知を説明
するためのフローチャートである。１……光ディスク（記録媒体）、２……スピンドルモー
タ、３……モータ制御回路、４……制御回路（検出手
段）、５……光学ヘッド、６……半導体レーザ発振器
（光出力手段）、11……光検知器、12……フォトダイオ
ード、13……信号処理回路、14……ヘッダ分離読取回
路、15……光出力制御回路（光出力制御手段）16……故
障検知回路（出力手段）、17……リレー（遮断手段）、
38……ラッチ（ラッチ手段）、R3、R4、R5……抵抗。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】ブロック番号が記録されているヘッダ領域
と情報が記録されているデータ領域とからなり、連続し
たブロックに連続したブロック番号が記録されている多
数のブロックからなる情報記録トラックが形成されてい
る記録媒体に情報を光学的に記録する情報記録装置にお
いて、上記記録媒体へ照射するレーザ光を発生する光出力手段
とこの光出力手段を光出力制御回路とを有し、上記記録
媒体のデータ領域に情報を記録する記録手段と、上記記録媒体のヘッダ領域からブロック番号を読取る読
取手段と、上記記録手段による記録動作に先立って、上記読取手段
によりヘッダ領域から読取ったブロック番号が連続的に
変化しているか否かを検出する検出手段と、この検出手段によりブロック番号の非連続的な変化が一
定時間以上検出された際に、故障検知信号を出力する出
力手段と、この出力手段により出力される故障検知信号が供給され
た際に、上記記録手段の光出力制御回路への電源供給を
遮断する遮断手段と、を具備したことを特徴とする情報記録装置。
【請求項２】上記検出手段が、記録指令に含まれている記録開始ブロックのブロック番
号が初期値として設定され、１ブロックの記録ごとに値
がインクリメントされる計数手段と、上記記録手段による記録動作に先立って、上記読取手段
によりヘッダ領域から読取ったブロック番号と上記計数
手段による計数値とを比較し、不一致の場合に、非連続
的な変化を検出する検出手段と、により構成されていることを特徴とする特許請求の範囲
第１項に記載の情報記録装置。
【請求項３】上記出力手段が、上記検出手段によるブロ
ック番号の非連続的な変化の検出をラッチするラッチ手
段を設け、このラッチ手段にラッチされた内容により、
故障原因の解析、表示等に使用されることを特徴とする
特許請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。