JPH0294029A - 情報記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的コ （産業上の利用分野） 本発明は、たとえは光ディスクに対して情報の記録、再
生を行なう光デイスク装置等の情報記録装置に関する。

（従来の技術） 従来、たとえば追記型あるいは消去可能型の光ディスク
などの記録媒体に、光学的に情報を記録あるいは再生す
る光デイスク装置等の情報記録再生装置においては、光
源としての半導体レーザ（光出力手段）からの比較的小
さい光出力で光ディスクトの情報を読取る一方、比較的
大きい一定値以上の光出力で光デイスク上に情報を記録
するようになっている。したがって、上記一定値量」−
の光出力か発生された場合、それが記録を意図したもの
でなくても光ディスクに不定な情報を書込んでしまい、
結果的に、既に記録されている情報を破壊することにな
る。

−１−記したような光ディスクに既に記録されている情
報の破壊を防止するために、２重記録防止回路を備える
もの（特開昭５４−１．４７００６　）、記録済みフラ
グを書き込んで２重書き（破壊）を防止するようにした
もの１９が考えられており、さらに物理的な破壊の防止
という観点から、光学ヘッドが光ディスクに衝突するの
を防止するようにしたものも考えられている。

しかしながら、このような従来の光デイスク装置の情報
破壊防止策は、トラック外れ等によって１」標トラック
以外の位置に記録光が照射され、これにより既に記録さ
れている光デイスク上の情報が破壊される場合について
は特に考慮されていない。つまり、トラック外れ等が発
生したような場合には、たとえ上記のような情報破壊防
１１−策が施されていても光ディスクに記録されている
情報を破壊する恐れかあり、かかる状態を放置すると破
壊が拡大されるという問題点かあった。

（発明が解決しようとする課題） 本発明は、−に記したようにトラック外れ等かあると、
既に光記録媒体に記録されている情報を破壊する恐れか
あり、これを放置すると破壊が拡大されるという問題点
を解決するためになされたもので、トラック外れ等が発
生しても光記録媒体に記録されている情報を破壊するこ
とのない情報記録装置を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明の情報記録装置は、」二記目的を達成するために
、情報の記録単位であるブロックか複数設けられ、この
複数のブロックには各々ブロック番号等を含むアドレス
情報か記録されている光記録媒体に対して情報を記録す
る情報記録装置において、光ビームを放射する光出力手
段と、この光出力手段から放射される光ビームの光出力
を制御する制御手段と、前記光出力手段から放射された
光ビームを前記光記録媒体に連続的に照射する照射手段
と、この照射手段により照射された前記光記録媒体から
の光ビームを検出することにより、前記光記録媒体に記
録されているブロック番号を再生する処理手段と、前記
光記録媒体に情報を記録する際、前記照射手段から連続
的に光ビームか照射されることによって前記処理手段に
より検出されるブロック番号の順序の連続性を検出する
検出手段とを具備し、この検出手段による検出結果によ
り、前記処理手段で再生されたブロック番号の連続性が
なくなった場合、前記制御手段の制御により前記光出力
手段の動作を停止させることを特徴とする。

（作用） 本発明は、情報記録装置か記録動作に先立つて読取った
アドレス情報が、先に読取ったアドレス情報に連続して
いるか否かを調べ、」−記アドレス情報が連続していな
い場合はトラック外れ等が発生したものと判断して光出
力手段の発光を停止するようにしたものである。これに
より、目標位置以外の位置への記録動作は抑止され、し
たかって、既に記録媒体に記録されている情報の破壊を
防止できるものとなっている。

（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

第４図は本発明の情報記録装置たとえば光デイスク装置
の概略構成を示すものである。すなわち、光ディスク（
光記録媒体）］は、例えばガラスあるいはプラスチック
ス等で円形に形成された基板の表面に、テルルあるいは
ビスマス等の金属被膜層かドーナツ形にコーティングさ
れて成るものである。

上記光ディスク１は、スピンドルモータ２によって回転
されるようになっている。このスピンドルモータ２はモ
ータ制御回路３により駆動制御されるもので、制御回路
４からの回転指令信号Ｓ１に応じて回転の始動、停止等
が制御されるようになっている。

上記制御回路（検出手段）４は、マイクロコンピュータ
等により構成され、」二記スピンドルモタ２の回転制御
の他、装置全体の制御を司るものである。

」−配光ディスク１の下方部には、光学ヘッド（照射手
段）５か配設されている。この光学ヘッド５は光ディス
ク１に対して情報の記録あるいは再生を行なうもので、
半導体レーザ発振器６、コリメータレンズ７、ビームス
プリッタ８、対物レンズ９、集光レンズ１０、光検出器
１１、およびフォトダイオード１２等により構成されて
いる。

半導体レーザ発振器（光出力手段）６は光出力制御回路
１５からのドライブ信号ｓ２に従って発散性のレーザ光
を発生するもので、情報を光ディスク１の記録膜に書込
む記録の際は、書込むべき情報に応じてその光強度が変
調された強いレーザ光を発生し、情報を光ディスク１の
記録膜から読出す再生の際は、一定の光強度を自−する
弱いレザ光を発生するようになっている。

」二記士導体し−サ発振器６から発生された発散性のレ
ーザ光は、コリメータレンズ７によって平行光束に変換
されてビームスプリッタ８に導かれる。このビームスプ
リッタ８に導かれたレーザ光は、ビームスプリッタ８で
反射されて対物レンズ９に入射され、この対物レンズ９
によって光ディスク１の記録膜に向けて集束される。

」１記対物しンス９は、その光軸方向および光軸と直交
する方向にそれぞれ移動可能に支持されており、対物レ
ンズ９か所定位置に位置されることにより、この対物レ
ンズ９を通った集束性のレザ光か光ディスク１の記録膜
の表面」二に投射され、最小ビームスポットが光ディス
ク１の記録膜の表面」二に形成される。この状態におい
て、対物レンズ９は合焦状態および合トラック状態に保
たれ、情報の書込みおよび読出しが可能となる。

また、光ディスク１の記録膜がら反射された発散性のレ
ーザ光は、合焦時には対物レンズ９によって平行光束に
変換され、再びビームスプリッタ８に戻される。そして
、ビームスプリッタ８を透過して集光レンズ１０によっ
て光検出器１１上に結像される。

光検出器］１は、集光レンズ１ｏによって結像された光
を電気信号に変換する光検出セルにょって構成されてい
る。この光検出器１１で光電変換された電気信号は再生
信号として信号処理回路１３に送出される。

また、上記半導体レーザ発振器６の記録あるいは再生用
レーザ光の発光口と反対の側には、光電変換素子として
のフォトダイオード１２が設けられている。このフォト
ダイオード１２は、上記半導体レーザ発振器６からのモ
ニタ光が照射されることにより、そのモニタ光を電気信
号に変換し、半導体レーザ発振器６の光出力モニタ信号
ｓ３として光出力制御回路１５に供給するようになって
いる。

上記した光学ヘッド５は、例えばリニアモータ等によっ
て構成される移動機構（図示しない）により光ディスク
１の半径方向に移動可能になっており、この移動機構に
より記録あるいは再生の対象となる目標トラックへ移動
するようになっている。

−１−記信号処理回路（処理手段）１３は、光検出器１
１により光電変換された再生信号の増幅、２値化等の処
理を行なうものである。この信号処理回路１３で２値化
された再生信号はヘッダ分離読取回路１４に供給される
ようになっている。ヘッダ分離読取回路（処理手段）１
４は、光ディスク１から読取って２値化された再生信号
中からヘッダ部の情報とデータ部の情報とを分離し、制
御回路４へ送出するものである。

上記光出力制御回路（制御手段）１５は、半導体レーザ
発振器６が出力する光出力モニタ信号Ｓ３を入力してフ
ィードバック制御を行なうことにより半導体レーザ発振
器６の光出力を一定値に保つように制御するものであり
、詳細は後述する。

故障検知回路１６は、上記光出力制御回路１５の種々の
故障を検知するもので、検知結果は、リレー回路１７に
供給されるとともに、上記制御回路４に供給されるよう
になっている。この故障検知回路１６についても詳細は
後述する。

］０ リレー回路１７は、図示しない電源装置から供給される
電圧源Ｅ。のうち、他の回路から独立して、′１′−導
体レーザ発振器６、フォトダイオード１２、および光出
力制御回路１５のみに供給される電圧源Ｅを遮断するも
ので、上記故障検知回路１６からの故障検知信号Ｓ４に
基づいて開閉制御されるようになっている。

次に、」１記光出力制御回路］５および故障検知回路コ
ロの詳細について、第１図を参照しながら説明する。

まず、光出力制御回路１５は次のように構成される。す
なわち、電流電圧変換回路２０は、」−記フオドダイオ
ード１２で光電変換され、電流信号として取出された光
出力モニタ信号Ｓ３を入力し、フォ！・ダイオード１２
の光強度、つまり半導体レサ発振器６の光出力に応じた
電圧信号Ｖｅｏに変換するものである。この電流電圧変
換回路２０が出力する電圧信号Ｖ　ｅ　Ｏは誤差増幅器
２１に供給されるようになっている。誤差増幅器２１は
、」―配電圧信号Ｖｅｏを一方の入力とし、図示しな１
　　ｒ− い定電圧源により発生される基準電圧Ｖｓを他方の入力
として、これら両電圧ＶｅｏおよびＶｓを比較し、その
差分を増幅して誤差信号Ｓ５として出力するものである
。この誤差信号Ｓ５は切換回路２２に供給されるように
なっている。なお、上記基準電圧Ｖｓは、再生に必要な
光出力を得るための一定電圧であり、後述するように、
電圧信号ＶｅＯを基準電圧Ｖｓに近（＝１けるべくフィ
ードバック制御を行なうことにより半導体レーザ６から
一定の光出力か得られるようになっている。

上記切換回路２２は、記録あるいは再生等の動作モード
に応じて制御ループの開閉を制御するもので、第２図に
詳図するように構成されている。

すなわち、上記誤差増幅器２］が出力する誤差信号Ｓ５
は抵抗Ｒ７を介してスイッチ２５の一端側に接続され、
このスイッチ２５の他端側は抵抗Ｒ８を介して演算増幅
器２７の非反転入力端子に接続されている。このスイッ
チ２５は制御回路４か出力する制御ループ開閉信号ＳＩ
Ｏにより開閉が制御されるようになっている。また、」
−記スイッチ２５の他端側（抵抗Ｒ８の一端側）はスイ
ッチ２６を介して接地されており、このスイッチ２６は
制御回路４が出力する再生光出力制御信号Ｓｌｌにより
開閉が制御されるようになっている。

また、」−記抵抗Ｒ８の他端側、つまり、演算増幅器２
７の非反転入力端子はドライブ電圧保持コンデンサ２８
を介して接地されている。さらに、上記演算増幅器２７
はバッファとして作用するもので、その出力信号Ｓ６は
トランジスタ２３のベスに供給されるようになっている
。

トランジスタ２３は、再生光として弱光度の一定値のレ
ーザ光を発生ずるために、そのベースに供給される信号
Ｓ６に応じて半導体レーザ発振器８を駆動するものであ
る。このトランジスタ２３のエミッタは抵抗Ｒ１を介し
て接地されている。

トランジスタ２４は、記録光として記録データに応じた
強光度のレーザ光を発生ずるために、そのベースに供給
される記録信号Ｓ７に応じて半導体レーザ発振器６を駆
動するものである。このトランジスタ２４のエミッタは
抵抗Ｒ２を介して接地］−３ されている。

次に、上記のように構成される光出力制御回路１５の動
作について説明する。まず、制御回路４から出力される
制御ループ開閉信号Ｓ１０は、光ディスク１に記録され
ている情報を再生する時にのみ高レベル（以下、「Ｈレ
ベル」という。）に、これ以外のスタンバイ時あるいは
情報の記録時は低レベル（以下、「Ｌレベル」という。

）になるように制御される。この制御ループ開閉信号Ｓ
ＩＯがＨレベルにされることによりスイッチ２５かオン
にされて制御ループが閉じられる。

方、再生光出力制御信号３１．１は、スタンバイ時はＬ
レベルに、情報の再生時および記録時はＨレベルになる
ように制御される。上記スイッチ２６は再生光出力制御
信号ＳｌｌかＬレベルにあるときにオンにされ、Ｈレベ
ルにあるときにオフにされる。

すなわち、スタンバイ時は、制御ループ開閉信号Ｓ　］
、　Ｏおよび再生光出力制御信号Ｓｌｌは共にＬレベル
にあり、したがって、スイッチ２５はオ］４ フ、スイッチ２６はオンにされている。これにより演算
増幅器２７の非反転入力端子は接地された状態となり、
その出力信号Ｓ６はＯボルトとなる。

したがって、トランジスタ２３はオフとなり、半導体レ
ーザ発振器６からレーザ光は発生されない。

この際、もちろん、記録信号Ｓ７は供給されておらず、
したがって、トランジスタ２４もオフの状態にある。

再生時は、制御ループ開閉信号５１０および再生光出力
制御信号Ｓｌｌは、制御回路４により共にＨレベルにさ
れ、したかって、スイッチ２５はオン、スイッチ２６は
オフにされる。これにより切換回路１５は、人力された
誤差信号Ｓ５に応じた信号Ｓ６を出力し、制御ループが
閉じられた状態になる。すなわち、誤差増幅器２］から
出力された誤差１５号Ｓ５か切換回路２２を経由してト
ランジスタ２３のベースに供給されることによりトラン
ジスタ２３のコレクタにドライブ信号Ｓ２が流れ、これ
により半導体レーザ発振器６か発光する。この半導体レ
ーザ発振器６の光出力はフォト］　５ ダイオード１２で光電変換されて光出力モニタ信号Ｓ３
として電流電圧変換回路２０に供給される。

電流電圧変換回路２０ては、−１−紀元出力モニタ信号
Ｓ３を電圧信号■ｅｏに変換し、誤差増幅器２］に供給
する。誤差増幅器２］では、予め設定されている基準゛
電圧Ｖｓと」１記電圧信号Ｖｅ（、とを比較し、その誤
差分を誤差信号Ｓ５として出力する。この誤差信号Ｓ５
は、上記電圧信号ＶｅＯか基準信号Ｖｓより大きければ
半導体ループ発振器６の光出力を小さくし、上記電圧信
号Ｖｅ□が基準信号Ｖｓより小さければ半導体レーザ発
振器６の光出力を大きくする信号であり、かかるワイド
バンク制御により」１記基準電圧Ｖｓと電圧信号Ｖｅ（
１とが等しくなるように作用し、これにより半導体ルー
プ発振器６の光出力か一定に保たれるようになっている
。

記録時は、制御ループ開閉信号５１０はＬレベル、再生
光出力制御信号ＳｌｌはＨレベルにされ、したかって、
スイッチ２５および２６は共にオフにされる。この状態
では、ドライブ電圧保持コンデンザ２８には再生時に演
算増幅器２７の非反転入力端子に供給していた電圧か保
持されており、記録に先たって行なうヘッダ情報の再生
時は、この保持された電圧によりトランジスタ２３を駆
動し、＋１生先を得るようになっている。かかる状態で
記録すべき情報に応じた記録（ａ号Ｓ７をトランジスタ
２４のベースに供給することによりこのトランジスタ２
４のコレクタにドライブ信号Ｓ２を流し、これにより半
導体レーザ６を発光させて光ディスク］に情報を記録す
る。

次に、故障検知回路１６は以下のように構成される。ま
ず、光出力制御回路１５内部のモニタする箇所は、電流
電圧変換回路２０の出力端子、トランジスタ２３のエミ
ッタ端子、およびトランジスタ２４のエミッタ端子であ
る。電流電圧変換回路２０の出力端子に現われる電圧信
号Ｖｅ（１は、その出力抵抗より十分大きな値の抵抗Ｒ
３を介して電圧信号Ｖｅとして取出されるようになって
いる。また、トランジスタ２３のエミッタ端子に現われ
る電圧信号は、そのエミッタ抵抗Ｒ１より＋分大きな値
の抵抗Ｒ４を介して電圧信号Ｖｆとして取出され、トラ
ンジスタ２４のエミッタ端子に現われる電圧信号は、そ
のエミッタ抵抗Ｒ２より十分大きな値の抵抗Ｒ５を介し
て電圧信号Ｖｇとして取出されるようになっている。ま
た、上記抵抗Ｒ３、Ｒ４、およびＲ５は、それぞれ電流
電圧変換回路２０の出力端子、トランジスタ２３のエミ
ッタ端子、およびトランジスタ２４のエミッタ端子の近
傍に配設されるようになっている。このように、光出力
制御回路１５の所定箇所から信号を取出すに際し、信号
源の近傍に設けた十分大きな抵抗を介在させることによ
り、故障検知回路］６を付加したことに伴う光出力制御
回路１５への影響を最少限に抑え、光出力制御回路１５
の信頼性の低下を防止できるようになっている。

上記抵抗Ｒ３を介して取出された電圧信号Ｖｅは、比較
器３０および３２の非反転入力（＋端子）に供給される
とともに、比較器３１の反転入力端子（一端子）に供給
されるようになっている。

上記比較器３０の反転入力端ｒには、図示しない定電圧
源から供給される再生光下限電圧Ｖａか入力されるよう
になっている。そして、電圧信号Ｖｅが再生光下限電圧
Ｖａより小さい時はＬレベルの信号が、電圧信号Ｖｅか
再生光下限電圧Ｖａより大きい時はＨレベルの信号か出
力されるようになっている。

上記比較器３］の非反転入力端子には、図示しない定電
圧源から供給される再生光上限電圧ｖｂが入力されるよ
うになっている。そして、電圧信号Ｖｅが再生光」二限
電圧ｖｂより大きい時はＬレベルの信号が、信号Ｖｅが
再生光上限電圧ｖｂより小さい時はＨレベルの信号が出
力されるようになっている。

また、１−記比較器３２の反転入力端子には、図示しな
い定電圧源から供給される記録光り陽電圧Ｖｃが入力さ
れるようになっている。そして、電圧信号Ｖｅが記録光
」−陽電圧Ｖｃより小さい時はＬレベルの信号が、電圧
信号Ｖｅが記録光上限電圧Ｖｃより大きい時はＨレベル
の信号が出力されるようになっている。

」−記比較器３０の出力は、ＡＮＤゲート３５の一方の
入力に供給されるようになっており、このＡＮＤＮＯＲ
−ト３７方の入力には、再生光出力制御信号Ｓ　］コを
インバータ３６で反転した信号が入力されるようになっ
ている。そして、ＡＮＤゲート３５で論理積がとられた
信号Ｓ３０はＮＯＲケート３７とラッチ３８に供給され
るようになっている。

また、ＡＮＤゲート３９の一方の入力には再生光出力制
御信号Ｓｌｌが、他方の入力には上記比較器３０および
３１の出力信号をＮＡＮＤゲート４０で論理積をとって
反転した信号が入力されるようになっている。そして、
このＡＮＤゲート３９で論理積がとられた信号Ｓ３１は
ＮＯＲゲト３７とラッチ３８に供給されるようになって
いる。

また、ＡＮＤゲート４１の一方の入力には上記比較器３
２の出力信号か、他方の入力には制御回路４から供給さ
れる記録制御信号Ｓ１２が入力されるようになっている
。そして、このＡＮＤゲ一ト３２で論理積がとられた出
力信号Ｓ３２はＮＯＲゲート３７とラッチ３８に供給さ
れるようになっている。

さらに、ＡＮＤゲート４２の一方の人力には」二記比較
器３０の出力信号が、他方の入力には、制御回路４から
供給される回転指令信号Ｓ１が入力されるようになって
いる。そして、ＡＮＤゲート４２で論理積がとられた信
号Ｓ３３はＮＯＲゲト３７とラッチ３８に供給されるよ
うになっている。なお、上記回転指令信号Ｓ１は、スピ
ンドルモータ２の回転を指示しているときにＬレベル、
停止を指示しているときにＨレベルとして出力されるも
のである。

比較器３３および３４の反転入力端子には、図示しない
定電圧源から供給される比較電圧Ｖｄが人力されるよう
になっている。この比較電圧Ｖｄは、トランジスタ２３
および２４のエミッタ電流の有無を検知するための比較
的低い電圧である。

」二記比較器３３の非反転入力端子には、トランジスタ
２３のエミッタから取出した電圧か抵抗Ｒ４２］ を介してエミッタ電圧信号Ｖｆとして入力されるように
なっている。この比較器３３の出力はＡＮＤゲート４３
の一方の入力に供給され、このＡＮＤゲート４３の他方
の人力には上記比較器３０の出力が供給されるようにな
っている。そして、ＡＮＤゲート４３で論理積がとられ
た出力信号Ｓ３４はＮＯＲゲート３７とラッチ３８に供
給されるようになっている。

また、比較器３４の非反転入力端子には、トランジスタ
２４のエミッタから取出した電圧が抵抗Ｒ５を介してエ
ミッタ電圧信号Ｖｇとして入力されるようになっている
。そして、比較器３４の出力はＡＮＤゲート４４の一方
の入力に供給されるようになっており、このＡＮＤゲー
ト４４の他方の入力には記録制御信号Ｓ１２をインバー
タ４５で反転した信号が入力されるようになっている。

そして、ＡＮＤゲート４４で論理積がとられた信号Ｓ３
５はＮＯＲゲート３７およびラッチ３８に供給されるよ
うになっている。

ｌ−記ＡＮＤゲート３５．３９．４１．４２、４３．４
４の出力信号８３０〜Ｓ３５、および制御回路４から直
接出力される信号８３６（詳細は後述）は、ＮＯＲゲー
ト３７で論理和がとられるとともに反転されて、エラー
信号５４０として遅延素子４５およびＯＲゲート４６の
一方の人力に供給されるようになっている。遅延素子４
５は、人力したエラー信号Ｓ４０を一定時間Ｔｄたけ遅
らせて出力するもので、この遅延された信号Ｓ４］は上
記ＯＲアゲ−・４６の他方の人力およびラッチ３８に供
給されるようになっている。そして、ＯＲゲート４６で
論理和がとられた信号は抵抗Ｒ９を介してトランジスタ
４７のベースに供給されるようになっている。トランジ
スタ４７は上記ＯＲゲート４６からの信号によりオン・
オフが制御され、そのコレクタに流れる故障検知信号Ｓ
４によりリレー回路１７の接点を接続または開放するよ
うになっている。

上記一定時間Ｔｄは、光デイスク１上に記録された情報
の破壊を許容できる時間であり、さらに詳しくは、情報
記録再生装置に備えられたエラー訂正回路によるバース
トエラーを訂正できる限界の時間である。すなわち、万
一、光デジスフ１上の情報が破壊された場合であっても
、エラー訂正回路により訂正が行われて正しい情報を得
ることのできる量に相当する時間を限界値とし、それ以
内の時間で決定されるようになっている。

ラッチ３８は、上記遅延素子４５が発生する信号Ｓ４１
をラッチタイミング信号として、」−記ＡＮＤ　　ゲ　
−　ト　３５　、　３９　、　４１　、　４２　、　４
３．４４の各出力信号８３０〜Ｓ３５をラッチするもの
である。このラッチ３８の出力は制御回路４に送出され
、故障原因の解析、表示等に使用される。

次に、上記のように構成される故障検知回路１６の動作
について、第３図のタイミングチャートを参照しながら
説明する。

この装置の動作状態は大きく３種類に別けられ、制御回
路４が出力する制御ループ開閉信号５ＩＯ１再生光出力
制御信号Ｓ１１、および記録制御信号Ｓ１２によりそれ
ぞれ規定される。すなわち、第３図に示すように、第１
の状態Ａは、スタンバイ時などの再生光および記録光出
力がオフにされている期間で、制御ループ開閉信号Ｓ１
０、再生光出力制御信号Ｓｌｌ、記録制御信号Ｓ１２が
全てＬレベルの状態である。第２の状態Ｂは、再生時で
再生光出力がオン、記録光出力がオフにされ、信号再生
に必要な小さい光出力を発生する期間で、制御ループ開
閉信号Ｓ１０および再生光出力制御信号ＳｌｌはＨレベ
ル、記録制御信号Ｓ１２はＬレベルの状態にある。第３
の状態Ｃは、記録時で再生光出力がオン、記録光出力が
オンにされ、記録に必要な大きい光出力を発光する期間
で、制御ループ開閉信号ＳＩＯはＬレベル、再生光出力
制御信号ＳｌｌはＨレベル、記録制御信号Ｓ１２はＨレ
ベルの状態にある。以下、これら各状態における故障検
知動作について説明する。

まず、再生光出力オフの状態であるにも拘らず発光出力
が検知されるというモードの故障検知について説明する
。第３図中のＡ１期間は半導体レーザ発振器６が駆動さ
れていない状態であり、したかって、フォトダイオード
１２からの光電変換出力もなく、電圧信号ＶｅはＯボル
トに保たれているのが正常状態である。しかしながら、
同図（ｄ）に示すように、光出力制御回路１５の何らか
の故障によりＡ２期間の時刻ｔ１において再生光下限電
圧Ｖａよりも高い電圧信号Ｖｅが発生されたとすると、
比較器３０の出力端子にはＨレベル信号が現われ、ＡＮ
Ｄゲート３５の一方の入力に供給される。この際、ＡＮ
Ｄゲート３５の他方の入力端子には再生光出力制御信号
Ｓｌｌがインバータ３６で反転され、Ｈレベルの信号と
して入力されている。したがって、ＡＮＤゲート３５の
出力には、第３図（ｅ）に示すように、時刻ｔ１で立上
がる信号Ｓ３０が出力され、この信号Ｓ３０がＮＯＲゲ
ート３７を経由することにより反転されてエラー信号Ｓ
４０としてＯＲゲート４６および遅延素子３８に供給さ
れる。そして、一定時間Ｔｄの間に信号Ｓ３０がＬレベ
ルに戻らなけれはＯＲゲート４６の出力にはＬレベルの
信号が出力され、抵抗Ｒ９を介してトランジスタ４７の
ベースに供給される。これによりトランジスタ４７のコ
レクタにｉＡされる故障検知信号Ｓ４が遮断されてリレ
ー回路］７の接点が開放され、゛（（導体レーザ発振器
６、フォトタイオート］２、および光出力制御回路１５
に供給される電圧源Ｅか遮断される。これにより、半導
体レーザ６の発光出力は停止し、故障による発光で光デ
ィスク１」二の情報が破壊されるのを防止できる。一方
、ＡＮＤＮＯＲ−ト３７力信号Ｓ３０は、故障要因とし
て上記遅延索子４５から出力される信号Ｓ４１の立下が
りのタイミングでラッチ３８にラッチされる。このラッ
チ３８からの信号は制御回路４に供給されるようになっ
ており、制御回路４で解析され、異常ランプの点灯、ブ
ザーの鳴動、あるいはメツセージの表示等の異常報知に
使用される。

次に、再生光出力オンの状態で光出力か一定範囲外の大
きさとなるモードの故障の検知について説明する。第３
図中のＢ１期間は、フォトタイオド１２からの電圧信号
Ｖｅが、再生光下限電圧Ｖａと１１ｆ生光上限電圧ｖｂ
との間にあり、正常に運転されている状態を示す。かか
る正常状態で、第３図（ｄ）のＢ２期間に示すように、
光出力制御回路］５の何らかの故障により時刻ｔ５にお
いて再生光下限電圧Ｖａよりも低い電圧信号Ｖｅか発生
されたとすると、比較器′３０の出力端子にはＬレベル
信号か現われ、ＮＡＮＤゲート４０の一力の入力に供給
されることによりその出力はＨレベルとなり、これがＡ
ＮＤケ−１・３つの一方の入力に供給される。この際、
ＡＮＤゲート３つの他方の入力端子には再生光出力制御
信号ＳｌｌかＨレベルの信号として入力されている。し
たかって、ＡＮＤゲート３９の出力には、第３図（ｅ）
に示すように、時刻ｔ５て立上かる信号Ｓ３１が出力さ
れ、この信号Ｓ３１かＮＯＲケート３７を経由すること
により反転されてエラー４８号Ｓ４０としてＯＲゲート
４６および遅延素子３８に供給される。以下上記と同様
の動作にて、リレー回路１７の接点か開放されて電圧源
Ｅか遮断される。ここで、！′、記電配電号Ｖｅか０ボ
ルトであるにも拘らず電圧源Ｅの供給を停止１−するよ
うにしたのは、制御ループ開閉信号ＳＩＯおよび再生光
出力制御信号Ｓ１１が共にＨレベルで再生光出力が指令
されているにも拘らず電圧信号Ｖｅか【〕ボポルである
と、誤差増幅器２１は基準電圧Ｖｓに対して最大ドライ
ブを行なうように作用し、半導体レーザ発振器６が過大
発光を生じる恐れがあるからである。

これにより、フォトダイオード］２から電流電圧変換回
路２０に至る系の万一の故障をも検知し、故障による異
常発光で光ディスク１」−の情報か破壊されるのを防止
できる。また、故障要因も」二記と同様の動作にてラッ
チ３８にラッチされ、後に行なう故障解析に供されるよ
うになっている。

一方、第３図（ｄ）のＢ３期間に示すように、光出力制
御回路］５の何らかの故障により時刻ｔ６において再生
光−１，陽電圧ｖｂよりも高い電圧信号Ｖｅか発生され
たとすると、比較器３１の出力端子にはＨレベル信号か
現われ、ＮＡＮＤケト４０の他方の入力に供給されるこ
とによりその出力にＨレベルの信号を出力し、ＡＮＤゲ
−１・３９の一方の入力に供給される。この際、ＡＮＤ
ゲート３９の他方の入力端子には再生光出力制御信号Ｓ
ｌｌがＨレベルの信号として人力されている。したがっ
て、ＡＮＤケ−１・３９の出力には、第３図（ｅ）に示
すように、時刻ｔ６で立−１ユかる信号Ｓ３］か出力さ
れ、この信号Ｓ３１かＮＯＲゲート３７を経由すること
により反転されてエラー信号Ｓ４０としてＯＲケート４
６および遅延素子３８に供給される。以下上記と同様の
動作にて、リレー回路］７の接点か開放されて電圧源Ｅ
か遮断される。これにより、光出力は停止し、故障によ
る異常発光で光ディスク］」二の情報か破壊されるのを
防止できる。また、故障要因も上記と同様の動作にてラ
ンチ３８にラッチされ、後に行なう故障解析に供される
ようになっている。

次に、記録光出力オンの状態で光出力が一定値以上の大
きさとなるモードの故障の検知について説明する。第３
図中の０１期間は、フォトダイオド１２からの電圧信号
Ｖｅか、再生光」ユ限電圧ｖｂと記録光上限電圧ｖｂと
の間にあり、正常に記録動作が行われている状態を示す
。かかる性能状態で、第３図（ｄ）のＢ２期間に示すよ
うに、光出力制御回路１５の何らかの故障により時刻ｔ
８において記録光」二限電圧Ｖｃよりも高い′トヒ圧信
号Ｖｅか発生されたとすると、比較器３２の出力端子に
はＨレベル信号が現われ、ＡＮＤゲート４１の一方の入
力に供給される。この際、ＡＮＤケ−１・４１の他方の
入力端子には記録制御信号Ｓ　］、　２かＨレベルの信
号として人力されている。

したがって、ＡＮＤゲート４］の出力には、第３図（ｅ
）に示すように、時刻ｔ８で立上がる信号Ｓ３２が出力
され、この信号Ｓ３２かＮＯＲケト３７を経由すること
により反転されてエラー信号Ｓ４０としてＯＲケ−１・
４６および遅延素子３８に供給される。以下−１−記と
同様の動作にて、リレー回路〕７の接点が開放されて電
圧源Ｅか遮断される。これにより、光出力は停止１−シ
、故障による異常発光で光デイスク１上の情報が破壊さ
れるのを防止できる。また、故障要因も」−記と同様の
動作にてラッチ３８にラッチされ、後に行なう故障解析
に供されるようになっている。

３］ 次に、スピンドルモータ２の回転停止中に光出力か一定
値以りになるというモードの故障の検知について説明す
る。一般に、光ディスクか回転していないか、あるいは
所定回転数に達していない場合にレーザ光を照射すると
、照射されるエネルギーが規定値以上の値となり記録さ
れている情報が破壊されるようになっている。このため
、スピンドルモータ２か回転していないか、あるいは所
定回転数に達していない場合は、回転指定信号Ｓ１がＨ
レベルにされ、半導体レーザ発振器６の光出力は停止さ
れている。したかって、かかる状態で発光出力に基づく
電圧信号Ｖｅか存在するのは光出力制御回路１５の故障
によるものであると判断する。すなわち、光出力制御回
路１５の何らかの故障により再生光下限電圧Ｖａより高
い電圧（Ａ号Ｖｅか発生されたとすると、比較器３０の
出力端子にはＨレベル信号か現われ、ＡＮＤゲート４２
の一方の人力に供給される。この際、ＡＮＤＮＯゲート
３７方の入力端子にはスピンドルモタ２の回転指令（２
号Ｓ１かＨレベルの信号として人力されている。したか
って、ＡＮＤゲート４２の出力にはＨレベルの信号Ｓ　
’３３か出力され、この信号Ｓ　３３がＮＯＲゲート３
７を経由することにより反転されてエラー信号Ｓ４０と
してＯＲゲ−Ｉ−４６および遅延素子３８に供給される
。以下」二記と同様の動作にて、リレー回路１７の接点
が開放されて電圧源Ｅが遮断される。これにより、光出
力は停止し、故障による異常発光で光ディスク］」二の
情報か破壊されるを防止できる。また、故障要因も上記
と同様の動作にてラッチ３８にラッチされ、後に行なう
故障解析に供されるようになっている。

次に、再生光出力オフの状態であり、かつ」二記電流電
圧変換回路２０からの電圧信号ＶｅがＯボルトであるに
も拘らず、光デイスク１上の情報を破壊するようなモー
ドの故障の検知について説明する。つまり、上記した生
成光出力オフの状態であるにも拘らず発光出力が検知さ
れるというモードの故障の検知回路は、電圧信号Ｖｅを
生成する系に故障かある場合は電圧信号Ｖｅとして常に
０ボルトか得られる場合も考えられ、十分とはいい難い
。このような場合は次のように動作する。すなわち、第
３図中のＡ３期間は半導体レーザ発振器６が駆動されて
いない状態であり、トランジスタ２３はオフになってお
り、エミッタ電圧信号Ｖｆは０ボルトに保たれているの
が正常状態である。かかる状態で、同図（ｄ）のＡ２期
間に示すように、光出力制御回路１５の何らかの故障に
より時刻ｔ２において比較電圧Ｖｄよりも高い電圧信号
Ｖｆか発生されたとすると、比較器３３の出力端子には
Ｈレベル信号が現われ、ＡＮＤケート４３の一方の入力
に供給される。この際、ＡＮＤゲート４３の他方の入力
端子には再生光出力制御信号Ｓｌｌかインバータ３６で
反転され、Ｈレベルの信号として人力されている。した
かって、ＡＮＤゲート４３の出力には、第３図（ｅ）に
示すように、時刻ｔ２で立上かる（４号Ｓ３４が出力さ
れ、この信号Ｓ３４かＮＯＲゲート３７を経由すること
により反転されてエラー信号Ｓ４０としてＯＲゲート４
６および遅延素子３８に供給される。以下上記と同様の
動作にて、リレー回路１７の接点が開放されて電圧源Ｅ
が遮断される。これにより、光出力は停止し、故障によ
る異常発光で光ディスク１−．１−の情報か破壊される
のを防止できる。このように、異常検知を二重に行なっ
ているので、より確実にディスク１上の情報が破壊され
るのを防止できるものとなっている。また、故障要因も
」―記と同様の動作にてラッチ３８にラッチされ、後に
行なう故障解析に供されるようになっている。

同様に、第３図中のＡ−ｉ期間も半導体レーザ発振器６
が駆動されていない状態であり、したがって、トランジ
スタ２４はオフにされており、エミッタ電圧信号Ｖｇは
Ｏボルトに保たれているのが正常状態である。かかる状
態で、同図（ｄ）のＡ４期間に示すように、光出力制御
回路１゛５の何らかの故障により時刻ｔ３において比較
電圧Ｖｄよりも高い電圧信号Ｖｇが発生されたとすると
、比較器３４の出力端子にはＨレベル信号が現われ、Ａ
ＮＤゲート４４の一方の人力に供給される。この際、Ａ
ＮＤゲート４３の他方の入力端子には記録制御信号Ｓ１
２がインバータ４５て反転され、Ｈレベルの信号として
入力されている。したがって、ＡＮＤゲート４４の出力
には、第３図（ｅ）に示すように、時刻ｔ３で立上がる
信号Ｓ３５が出力され、この信号Ｓ３５がＮＯＲゲート
３７を経由することにより反転されてエラー信号Ｓ４０
としてＯＲゲートおよび遅延素子３８に供給される。以
下−Ｉ−記と同様の動作にて、リレー回路１７の接点が
開放されて電圧源Ｅが遮断される。これにより、光出力
は停止し、故障による異常発光で光ディスク１」−の情
報が破壊されるのを防止できるものとなっている。また
、故障要因も」１記と同様の動作にてラッチ３８にラッ
チされ、後に行なう故障解析に供されるようになってい
る。

次に、記録時のヘッダアドレス情報の連続性が喪失した
場合の故障検知について第５図を参照しながら説明する
。すなわち、記録動作を行なう場合は、まず、制御回路
４に含まれるマイクロコンピュータに、記録を行なう光
ディスク１」二のヘラダアドレス情報が与えられる。こ
れにより、光学ヘッド５が目標位置へ移動し、トラッキ
ングおよびフォー力ッシングが行われる。また、上記動
作と並行して、制御回路４内部に設けられたカウンタ（
図示しない）に、初期値として１」標位置のブロック番
号ｉがセットされる（ステップＳｌ）。

次に、トラッキングおよびフォーカッシングが完了して
合焦点、合トラック状態になり、光ディスク１へのアク
セスが可能になると、ヘッダアドレス情報が読出される
（ステップＳ２）。そして、このヘッダアドレス情報に
含まれるブロック番号が上記カウンタの内容ｉと一致す
るが否がか調べられる（ステップＳ３）。そして、一致
する場合はステップＳ４へ進んでカウンタの内容をイン
クリメントシ、与えられた情報に応じた記録信号Ｓ７を
光出力制御回路］５に送出することにより、その情報に
応じたレーザ光を発生し、記録を行なう（ステップＳ５
）。次いで指定された全ての記録が完了したか否かが調
べられ（ステップＳ６）、完了していなければステップ
Ｓ２へ戻り、再度上記動作を繰返す。

一方、上記ステップＳ３においてカウンタの内容ｉとブ
ロック番号とが一致しなければ、例えばトラック外れ等
によりヘッダアドレス情報の連続性が失われたと判定し
、Ｈレベルのレーザオフ信号Ｓ３６を出力し、処理を終
了する。この信号Ｓ３６は、第１図に示すように、ＮＯ
Ｒゲート３７を経由することにより反転されてエラー信
号Ｓ４０としてＯＲゲート４６および遅延素子３８に供
給される。以下」−記と同様の動作にて、リレー回路１
７の接点が開放されて電圧源Ｅが遮断される。これによ
り、光出力は停止し、トラック外れ等に伴う光ディスク
］」二の情報の破壊を防止できるものとなっている。

以上説明したように、記録動作を行なう際は、記録動作
に先立って行なうヘッダアドレス情報の読取時に、その
アドレスの連続性を調べ、この際、連続性がないことが
判断されるとリレー回路１７を開放し、半導体レーザ６
の発光を抑止するようにしたので、トラック外れ等によ
り目標位置以外の位［Ｎにレーザ光が照射されることが
なく、したかって、既に記録されている情報を破壊する
こともないものとなっている。

また、光出力制御回路１５の種々の不具合を故障検知回
路１６で検出し、異常を検知した際、゛）６導体レーザ
６、フォトダイオード１２、および光出力制御回路１５
に供給する電源を遮断し、半導体レーザの発光を確実に
停止するようにしまたので、光ディスク１に記録されて
いる情報を破壊から確実に防止できるものとなっている
。また、上記不具合の要因はラッチ３８に記憶しておき
、後に行なう故障解析に供するようにしたので、故障報
知が容易となり、また故障原因の解明も容易にできるも
のとなっている。

さらに、光出力制御回路１５の所定箇所から故障検知を
行なうためのモニタ信号を取出すに際し、高抵抗値を持
つ抵抗Ｒ３、Ｒ４、Ｒ５を介して行なうようにしたので
、故障検知回路１６を設けたことによる光出力制御回路
への悪影響もなく、信頼性の低下を防止できるようにな
っている。

［発明の効果］ 以−１−詳述したように本発明によれば、光記録媒体に
記録されている情報を破壊することのない情報記録装置
を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示すもので、第１図は光デイス
ク装置の電気回路の概略構成を示すブロック図、第２図
は切換回路のブロック図、第３図は故障検知動作を説明
するためのタイミングチャート、第４図は光デイスク装
置の概略構成図、第５図は記録動作時の故障検知を説明
するだめのフローチャートである。 １・・光ディスク（光記録媒体）、２・・・スピンドル
モータ、３・・・モータ制御回路、４・・・制御回路（
検出手段）、５・・・光学ヘッド（照射手段）、６・・
・半導体レーザ発振器（光出力手段）、１１・・・光検
知器、１２・・フォトダイオード、１３・・・信号処理
回路（処理手段）、１４・・ヘッダ分離読取回路（処理
手段）　１５・・・光出力制御回路（制御手段）　１６
・・・故障検知回路、１７・リレ３８・・ラッチ、Ｒ３
、Ｒ４、Ｒ５・・・抵抗。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 ４　］ 第 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 情報の記録単位であるブロックが複数設けられ、この複
   数のブロックには各々ブロック番号等を含むアドレス情
   報が記録されている光記録媒体に対して情報を記録する
   情報記録装置において、光ビームを放射する光出力手段
   と、 この光出力手段から放射される光ビームの光出力を制御
   する制御手段と、 前記光出力手段から放射された光ビームを前記光記録媒
   体に連続的に照射する照射手段と、この照射手段により
   照射された前記光記録媒体からの光ビームを検出するこ
   とにより、前記光記録媒体に記録されているブロック番
   号を再生する処理手段と、 前記光記録媒体に情報を記録する際、前記照射手段から
   連続的に光ビームが照射されることによって前記処理手
   段により検出されるブロック番号の順序の連続性を検出
   する検出手段とを具備し、この検出手段による検出結果
   により、前記処理手段で再生されたブロック番号の連続
   性がなくなった場合、前記制御手段の制御により前記光
   出力手段の動作を停止させることを特徴とする情報記録
   装置。