JPH0282714A - 低雑音出力バツフア回路 - Google Patents
低雑音出力バツフア回路Info
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- JPH0282714A JPH0282714A JP1192805A JP19280589A JPH0282714A JP H0282714 A JPH0282714 A JP H0282714A JP 1192805 A JP1192805 A JP 1192805A JP 19280589 A JP19280589 A JP 19280589A JP H0282714 A JPH0282714 A JP H0282714A
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims abstract description 33
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 15
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 25
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 12
- 238000011176 pooling Methods 0.000 claims 5
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 7
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 6
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 3
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001374 Invar Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000002301 combined effect Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000012636 effector Substances 0.000 description 1
- ZINJLDJMHCUBIP-UHFFFAOYSA-N ethametsulfuron-methyl Chemical compound CCOC1=NC(NC)=NC(NC(=O)NS(=O)(=O)C=2C(=CC=CC=2)C(=O)OC)=N1 ZINJLDJMHCUBIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002028 premature Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/09425—Multistate logic
- H03K19/09429—Multistate logic one of the states being the high impedance or floating state
-
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00346—Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
- H03K19/00361—Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔業業上の利用分野〕
この発明は2値信号を緩衝する電子回路に関し。
特に装置の電源電圧及び接地線におけるヌイッチング・
ノイズ・スフ9イクを抑制してCMO8集積回路装置の
出力パッドを有効にドライブするバッファ回路に関する
。
ノイズ・スフ9イクを抑制してCMO8集積回路装置の
出力パッドを有効にドライブするバッファ回路に関する
。
現在の集積回路技術はロジック電界効果トランジスタの
ヌイッチング速度が接地及び電源ラインの分布インダク
タンスにより相当大きな電圧スル4イクを発生させる程
速くなるよう開発されてきた。
ヌイッチング速度が接地及び電源ラインの分布インダク
タンスにより相当大きな電圧スル4イクを発生させる程
速くなるよう開発されてきた。
装置面積及び動作電圧の減少によシ、更に集積回路のロ
ジック回路は電圧ス/Pイクに対しより敏感になってき
た。そのため、接地線及び電源線両方において大きな電
圧スパイクを発生しないスイッチング遷移を供給するこ
とができる従来通シの電流値を取扱い可能な集積回路ロ
ジック・スイッチング回路の必要性が高まってきた。
ジック回路は電圧ス/Pイクに対しより敏感になってき
た。そのため、接地線及び電源線両方において大きな電
圧スパイクを発生しないスイッチング遷移を供給するこ
とができる従来通シの電流値を取扱い可能な集積回路ロ
ジック・スイッチング回路の必要性が高まってきた。
今まで、スイッチング遷移を制御しうる多数の方式が考
えられてきた。そのうちの1つとして米国特許第4,1
29,792号がある。その並列ドライバ・トランジス
タは固定した時間遅延で出力電流値を連続して徐々に高
めることができる。又、米国特許第4,628,218
号の発明は出力ラインに対し、高くした電流値を一時的
に供給するよう電源線の代りに補助キヤ/母シタから電
流を流す並列トランジスタを使用している。並列接続ト
ランジスタの連続可能化は、又カスケード接続CMOS
インバーpRの前後に使用される米国特許第4,638
,187号の発明の中心的存在でもある。米国特許第4
,727,266号は出力の電流変化の割合は最終イン
バータ段の人カッ−げにおける容量性負荷に対する入力
段ドライバを小さくすることによって制限することがテ
キる。スイッチング・ノイズを小さくするようにした出
力波形の制御は米国特許第4.731,553号の主題
であシ、それは連続ドライバ段が個々に使用するための
多重電源の改良を含む。入力増幅段で使用しうる電源電
圧の時間制限するための電流シンクの使用は米国特許第
4,739,193号の主題である。出力ノイズを制御
するためのブレドライバ段の寸法及びマツチ特性イ/ピ
ーダンスは1988年4月発行のIEEE Journ
al of 5olid−8taleCircuits
に掲載されたKnight、Jr、ほかによる”ASe
lf−T@rminating Low−Voltag
e Swing CMO8Output Driver
”の主題である。IEEE1988Custom In
tegrated C1rcuits Confere
nceの発行議事録、5.51〜5.54頁のLeun
gによる論文″Controlled Slow Ra
te 0utput Buffer”は前述の共に出願
したものに類似の特徴技術を示している。又、潜在的興
味は米国特許第4,719,369号及び4,408,
135号の主題であるスイッチング・ノイズ・サルッサ
である。
えられてきた。そのうちの1つとして米国特許第4,1
29,792号がある。その並列ドライバ・トランジス
タは固定した時間遅延で出力電流値を連続して徐々に高
めることができる。又、米国特許第4,628,218
号の発明は出力ラインに対し、高くした電流値を一時的
に供給するよう電源線の代りに補助キヤ/母シタから電
流を流す並列トランジスタを使用している。並列接続ト
ランジスタの連続可能化は、又カスケード接続CMOS
インバーpRの前後に使用される米国特許第4,638
,187号の発明の中心的存在でもある。米国特許第4
,727,266号は出力の電流変化の割合は最終イン
バータ段の人カッ−げにおける容量性負荷に対する入力
段ドライバを小さくすることによって制限することがテ
キる。スイッチング・ノイズを小さくするようにした出
力波形の制御は米国特許第4.731,553号の主題
であシ、それは連続ドライバ段が個々に使用するための
多重電源の改良を含む。入力増幅段で使用しうる電源電
圧の時間制限するための電流シンクの使用は米国特許第
4,739,193号の主題である。出力ノイズを制御
するためのブレドライバ段の寸法及びマツチ特性イ/ピ
ーダンスは1988年4月発行のIEEE Journ
al of 5olid−8taleCircuits
に掲載されたKnight、Jr、ほかによる”ASe
lf−T@rminating Low−Voltag
e Swing CMO8Output Driver
”の主題である。IEEE1988Custom In
tegrated C1rcuits Confere
nceの発行議事録、5.51〜5.54頁のLeun
gによる論文″Controlled Slow Ra
te 0utput Buffer”は前述の共に出願
したものに類似の特徴技術を示している。又、潜在的興
味は米国特許第4,719,369号及び4,408,
135号の主題であるスイッチング・ノイズ・サルッサ
である。
共通基板に形成された電界効果トランジスタの動作特性
に関するボディ効果の概念は当業者にとりて比較的周知
である。例えば、 Westeほかによって書かれ、1
985年の著作権を有するAddison−We s
l e yによって発行されたCMO8VLSI De
signの原理というテキストの第2.1.5章に説明
されている。
に関するボディ効果の概念は当業者にとりて比較的周知
である。例えば、 Westeほかによって書かれ、1
985年の著作権を有するAddison−We s
l e yによって発行されたCMO8VLSI De
signの原理というテキストの第2.1.5章に説明
されている。
出力バッファの特性を制御するTTL/CMOSインタ
フェーヌ回路は米国特許第4,437,024号の主題
である。そこで、並列接続されたトランジスタの種種の
幅は規定のしきい値及びロジック・バンド内にターミナ
ル電位を制限するものとなる。
フェーヌ回路は米国特許第4,437,024号の主題
である。そこで、並列接続されたトランジスタの種種の
幅は規定のしきい値及びロジック・バンド内にターミナ
ル電位を制限するものとなる。
〔発明が解決しようとする問題点3
以上の先行技術は出力ドライバ・トランジスタ又はイン
バータ対の制御によるものであるが、電源線及び接地線
のスパイクの問題を解決するものではなく、その問題が
依然として残されたままである。
バータ対の制御によるものであるが、電源線及び接地線
のスパイクの問題を解決するものではなく、その問題が
依然として残されたままである。
集積回路チップの接地線及び電源線に現われ。
CMOSロジック・スイッチング遷移に発生する電圧ス
パイクはこの発明によるスイッチング電界効果トランジ
スタのゲート電極における電圧変化の割合を制御する回
路を使用して大きく減少することができる。出力トラン
ジスタをドライブするに使用される電圧のスロープは、
インバータ対の相補トランジスタが入力信号によって直
接ドライブされ、プルダウン・・トランジスタ・デート
電極のノード容量に対するドライブ電流を漸増するよう
調節することによって制御される。
パイクはこの発明によるスイッチング電界効果トランジ
スタのゲート電極における電圧変化の割合を制御する回
路を使用して大きく減少することができる。出力トラン
ジスタをドライブするに使用される電圧のスロープは、
インバータ対の相補トランジスタが入力信号によって直
接ドライブされ、プルダウン・・トランジスタ・デート
電極のノード容量に対するドライブ電流を漸増するよう
調節することによって制御される。
好ましい実施例によると、ゲート電極ノードに供給され
る電圧は3つの異なる動作状態からなる。
る電圧は3つの異なる動作状態からなる。
第1の状態はしきい値損失及びボディ効果電流制限を受
けるが大きな電流導通能力を有するトランジスタを使用
して、ノードに入力信号方向の電流を供給したときに発
生する。出力トランジスタのゲート電極ノードとして初
期の飽和動作そ−ドからカットオフ・モードに第1の電
流遷移の漸増を行うトランジスタは0からほぼ電流電圧
の半分まで移動する。その後、第2の動作状態に入シ、
第lの電界効果トランジスタに対して相補の第2の電界
効果トランジスタは相当低い電流の割合でノードを充電
し続ける。出力トランジスタ・ゲート電極のノード電圧
が電源電圧に近づいたとき、第3の状態に入り、相当大
きな電流導通態力の第3の電界効果トランジスタを通し
て、ノードに補助電流源を供給する。その第3のトラン
ジスタは複合増幅器の出力ノードからのフィードバック
信号に応答する。第3の状態中、電流が供給された結果
、プルダウン出力トランジスタのゲート電極ノードは電
源の最大電圧までひき上げられる。
けるが大きな電流導通能力を有するトランジスタを使用
して、ノードに入力信号方向の電流を供給したときに発
生する。出力トランジスタのゲート電極ノードとして初
期の飽和動作そ−ドからカットオフ・モードに第1の電
流遷移の漸増を行うトランジスタは0からほぼ電流電圧
の半分まで移動する。その後、第2の動作状態に入シ、
第lの電界効果トランジスタに対して相補の第2の電界
効果トランジスタは相当低い電流の割合でノードを充電
し続ける。出力トランジスタ・ゲート電極のノード電圧
が電源電圧に近づいたとき、第3の状態に入り、相当大
きな電流導通態力の第3の電界効果トランジスタを通し
て、ノードに補助電流源を供給する。その第3のトラン
ジスタは複合増幅器の出力ノードからのフィードバック
信号に応答する。第3の状態中、電流が供給された結果
、プルダウン出力トランジスタのゲート電極ノードは電
源の最大電圧までひき上げられる。
出力トランジスタのスイッチング遷移に伴う接地及び電
源線のスノfイクは出カッ−げにおける安定状態の電流
ドライブを劣化させず、切換えられる電圧の上昇又は下
降時間の遅延もなく相当抑制することができる。
源線のスノfイクは出カッ−げにおける安定状態の電流
ドライブを劣化させず、切換えられる電圧の上昇又は下
降時間の遅延もなく相当抑制することができる。
この発明回路はトライ−ステート構造に実施することが
でき、そのため出力ドライブの選択的可能化に最適であ
る。トライ−ステー小型は出力インバータ対のプルアッ
プ・トランジスタを制御する際における可能化信号と入
力信号とを組合わせるロジックを使用する。ゾルダウン
・トランジスタのゲート電極ノードに対して制御された
電流を供給するトランジスタを選択的に可能化するロジ
ックを使用する。トライ−ステート状態の能力を4える
際の更に潜在的な改良としては、プルダウン・トランジ
スタのゲート電極における2値情報と、早すぎる可能化
を避けるためのインバータの出力ノードの2値状態とを
、出力がフロート、fリチャージ又は外部バイアス電圧
状態を受けるときに組合わせるようにしたロジック回路
を使用することができる。
でき、そのため出力ドライブの選択的可能化に最適であ
る。トライ−ステー小型は出力インバータ対のプルアッ
プ・トランジスタを制御する際における可能化信号と入
力信号とを組合わせるロジックを使用する。ゾルダウン
・トランジスタのゲート電極ノードに対して制御された
電流を供給するトランジスタを選択的に可能化するロジ
ックを使用する。トライ−ステート状態の能力を4える
際の更に潜在的な改良としては、プルダウン・トランジ
スタのゲート電極における2値情報と、早すぎる可能化
を避けるためのインバータの出力ノードの2値状態とを
、出力がフロート、fリチャージ又は外部バイアス電圧
状態を受けるときに組合わせるようにしたロジック回路
を使用することができる。
第1図は接地基板に0MO8電界効果トランジスタを使
用したこの発明の代表的実施例の回路1と表わす図であ
る。その増幅器は集積回路チップの出力パッドをドライ
ブするバッファとして構成される。入力線2に供給され
る信号はデイジット形式第1図の回路は初期の6・・イ
”状態から結果のロー”状態に遷移する入力信号の接地
線電圧ス・やイクの抑制を行うよう設計される。この入
力電圧の遷移のため、出力パッド・ノード3も低い電圧
値忙引っばられる。出力電圧の10−− ハイ”遷移に
対する電源線電圧スパイクの抑制のための相補回路構成
はこの発明の作用を理解することにより簡単に実行する
ことができる。従って。
用したこの発明の代表的実施例の回路1と表わす図であ
る。その増幅器は集積回路チップの出力パッドをドライ
ブするバッファとして構成される。入力線2に供給され
る信号はデイジット形式第1図の回路は初期の6・・イ
”状態から結果のロー”状態に遷移する入力信号の接地
線電圧ス・やイクの抑制を行うよう設計される。この入
力電圧の遷移のため、出力パッド・ノード3も低い電圧
値忙引っばられる。出力電圧の10−− ハイ”遷移に
対する電源線電圧スパイクの抑制のための相補回路構成
はこの発明の作用を理解することにより簡単に実行する
ことができる。従って。
この構成の詳細な説明は行わない。
第1図の出力パッド増幅器/バッファ回路は出力パッド
・ノード31&ニドライブするため相当大きな電流容量
の電界効果トランジスタ7.8を使用する。これらトラ
ンジスタは電源線ノード4と接地線ノード6との間に直
列に接続されたインバータ対として構成される。ノード
4,6は、電圧値が実際に設定される夫々の・fラド5
,10とノード4,5との間の誘導及び抵抗特性をそれ
ら自体表わす内部パスに対する単なる中間接続である。
・ノード31&ニドライブするため相当大きな電流容量
の電界効果トランジスタ7.8を使用する。これらトラ
ンジスタは電源線ノード4と接地線ノード6との間に直
列に接続されたインバータ対として構成される。ノード
4,6は、電圧値が実際に設定される夫々の・fラド5
,10とノード4,5との間の誘導及び抵抗特性をそれ
ら自体表わす内部パスに対する単なる中間接続である。
出力パッド・ノード3はシチャンネル電界効果ト2ンジ
ヌタとnチャンネル・トランジスタ8との間に置かれる
。トランジスタ7のゲート電極9はそのインバータ構造
と共通であるが、トランジスタ8のr−上電極11とは
共通でない。プルアップ・トランジスタ7はインバータ
増幅器12による線2の入力信号に応答して直接直ちに
ドライブされる。それに対し、プルダウン・トランジス
タ8は、 ハイ”−ロー”遷移中は漸増的に可能化され
るが入力信号の”ロー −・・イ”遷移中は直接ドライ
ブされる。上記の”ハイ”−口”遷移中のプルダウン・
トランジスタ8の導通割合はトランジスタ8のゲート電
極11に共通な容量的にロードされたノード13の電圧
の変化の割合を制御することによって調節することがで
きる。
ヌタとnチャンネル・トランジスタ8との間に置かれる
。トランジスタ7のゲート電極9はそのインバータ構造
と共通であるが、トランジスタ8のr−上電極11とは
共通でない。プルアップ・トランジスタ7はインバータ
増幅器12による線2の入力信号に応答して直接直ちに
ドライブされる。それに対し、プルダウン・トランジス
タ8は、 ハイ”−ロー”遷移中は漸増的に可能化され
るが入力信号の”ロー −・・イ”遷移中は直接ドライ
ブされる。上記の”ハイ”−口”遷移中のプルダウン・
トランジスタ8の導通割合はトランジスタ8のゲート電
極11に共通な容量的にロードされたノード13の電圧
の変化の割合を制御することによって調節することがで
きる。
第1図のように、 ハイ”−ロー”遷移中のプルダウン
・トランジスタ8の可能化は複合回路1の要素の3つの
作用的グループ化によって個々に左右される3つの相対
的に独立の動作間隔で達成される。ノルダウン・トラン
ジスタ8の制N サれた可能化の第1の動作間隔はノー
ド13の有効容量25をチャージするべく流れる相当大
きな電流と、ノードの電圧が内部電源電圧vDDの約半
分に近づくまで延びる期間とによって制御される。
・トランジスタ8の可能化は複合回路1の要素の3つの
作用的グループ化によって個々に左右される3つの相対
的に独立の動作間隔で達成される。ノルダウン・トラン
ジスタ8の制N サれた可能化の第1の動作間隔はノー
ド13の有効容量25をチャージするべく流れる相当大
きな電流と、ノードの電圧が内部電源電圧vDDの約半
分に近づくまで延びる期間とによって制御される。
ノード13の電圧が電源電圧の半分に近づいたとき、流
れる電流の大きさは比較的一定ではあるが相当低い第2
の動作間隔を規定する第2の割合に非線形に減少する。
れる電流の大きさは比較的一定ではあるが相当低い第2
の動作間隔を規定する第2の割合に非線形に減少する。
これら2つの第1の期間中。
電界効果トランジスタ8のy−計電極11と共通なノー
ド13の電圧はトランジスタ8を徐々に導通可能にし、
ノード・3を接地電位の方に引っばる。
ド13の電圧はトランジスタ8を徐々に導通可能にし、
ノード・3を接地電位の方に引っばる。
直列接続のプルアップ・トランジスタ7F1線20入力
信号の下方遷移に続き直ちに非導通となる。
信号の下方遷移に続き直ちに非導通となる。
ノード3の出力/fラッド圧が接地電位に近づくと。
ノード13は相当顕著な割合で電流が流れる第3の期間
が与えられ、ノード13を完全にゾルアップして、トラ
ンジスタ8のプルダウン動作を完全に可能化する・ 上記の動作シーケンスの効果は第2図の典型的な1組の
波形を考察して理解することができる。
が与えられ、ノード13を完全にゾルアップして、トラ
ンジスタ8のプルダウン動作を完全に可能化する・ 上記の動作シーケンスの効果は第2図の典型的な1組の
波形を考察して理解することができる。
波形は市販のソフトウェア5PICEi使用したシミー
レーションの結果である。点線は匹敵する出力能力の旧
バッファ設計によシ発生した電圧を表わす。旧設針の出
力パッド電圧遷移割合はわずかに早かったが、接地線電
圧スパイクは顕著に大きいものであった。よシ高い電圧
スパイク・レベルは敏感なロジック装置又は集積回路装
置のノイズ・マージンの最小の重大な劣化において不用
意にトリガするに十分である。その上、はぼ複数ロード
されたパッド・ドライバの同時スイッチングは明らかに
接地線の累積効果を生じさせる。
レーションの結果である。点線は匹敵する出力能力の旧
バッファ設計によシ発生した電圧を表わす。旧設針の出
力パッド電圧遷移割合はわずかに早かったが、接地線電
圧スパイクは顕著に大きいものであった。よシ高い電圧
スパイク・レベルは敏感なロジック装置又は集積回路装
置のノイズ・マージンの最小の重大な劣化において不用
意にトリガするに十分である。その上、はぼ複数ロード
されたパッド・ドライバの同時スイッチングは明らかに
接地線の累積効果を生じさせる。
他方、この回路1(第1図)はピーク16゜17で左右
されるより変化割合が制御された対応するよシ低い接地
線電圧スフ4イク・パターンを表わす出力ノヤツド電圧
遷移波形15を発生する。ノード13をその電位にする
時間区分電位の効果及びプルダウン・トランジスタ8の
ゲート電極11は第2図の線20で表わす。5.25
+t”ルトから接地電位に対する入力信号電圧の6・・
イ”−60−遷移に続き、波形20は約電源電圧の半分
に対するノード13の電圧の急速な初期上昇を示す。約
3ナノ秒において、ノード13電圧の上昇割合は大きく
減じられ、その後約14ナノ秒経過まで相当なだらかに
続行する。その後、電圧は再び急激に上昇し、5.25
yj=’ルトの電源電圧に達する。第1図の直ちにスイ
ッチングするゾルアップ・トランジスタ7の組合わせ効
果は、ゾルダウン・トランジスタ8のゲート電極11に
供給された電圧変化の割合を選択的に制御するが、出力
パッド電圧の下降時における公称3ナノ秒遅延である。
されるより変化割合が制御された対応するよシ低い接地
線電圧スフ4イク・パターンを表わす出力ノヤツド電圧
遷移波形15を発生する。ノード13をその電位にする
時間区分電位の効果及びプルダウン・トランジスタ8の
ゲート電極11は第2図の線20で表わす。5.25
+t”ルトから接地電位に対する入力信号電圧の6・・
イ”−60−遷移に続き、波形20は約電源電圧の半分
に対するノード13の電圧の急速な初期上昇を示す。約
3ナノ秒において、ノード13電圧の上昇割合は大きく
減じられ、その後約14ナノ秒経過まで相当なだらかに
続行する。その後、電圧は再び急激に上昇し、5.25
yj=’ルトの電源電圧に達する。第1図の直ちにスイ
ッチングするゾルアップ・トランジスタ7の組合わせ効
果は、ゾルダウン・トランジスタ8のゲート電極11に
供給された電圧変化の割合を選択的に制御するが、出力
パッド電圧の下降時における公称3ナノ秒遅延である。
しかし、接地線の電圧スz?イク16.17は抑制され
て、電界効果又はバイポーラ・トランジスタ・ロジック
回路を意図せずに可能化したであろう相当下のレベルに
留まるであろう。
て、電界効果又はバイポーラ・トランジスタ・ロジック
回路を意図せずに可能化したであろう相当下のレベルに
留まるであろう。
再び1区分された可能化に寄与する構造要素及び接地線
電圧ス/fイクの抑制について第1図と共に考察する。
電圧ス/fイクの抑制について第1図と共に考察する。
第1図の回路の非対称動作は2つの入力信号の遷移の個
々の効果を考察することKよって理解することができる
。初期の60−”レベルからその後の”ハイ”レベル電
圧への入力信号の遷移のとき、出力パッドノード3はゾ
ルダウン・トランジスタ8が非導通となシ、プルアップ
・トランジスタ7が導通となるようにするであろう。
々の効果を考察することKよって理解することができる
。初期の60−”レベルからその後の”ハイ”レベル電
圧への入力信号の遷移のとき、出力パッドノード3はゾ
ルダウン・トランジスタ8が非導通となシ、プルアップ
・トランジスタ7が導通となるようにするであろう。
ロー −・・イ”遷移に対しては変化割合の制御がない
ということはnチャンネル・トランジスタ14のゲート
電極に対して入力線2の直接接続から証明され、トラン
ジスタ14が直ちにノード13を接地にひっばり、出力
パッド・プルダウン・トランジスタ8をディセーブルす
る。増幅器12は”ロー −ハイ”遷移入力信号を同時
に反転し、出力/4’ツド・ゾルアップ・トランジスタ
7を可能化する。出力パッド・ノード3はそれによって
電圧スパイクの補償なしに”ハイ”にひっばられる。
ということはnチャンネル・トランジスタ14のゲート
電極に対して入力線2の直接接続から証明され、トラン
ジスタ14が直ちにノード13を接地にひっばり、出力
パッド・プルダウン・トランジスタ8をディセーブルす
る。増幅器12は”ロー −ハイ”遷移入力信号を同時
に反転し、出力/4’ツド・ゾルアップ・トランジスタ
7を可能化する。出力パッド・ノード3はそれによって
電圧スパイクの補償なしに”ハイ”にひっばられる。
それに対し、及びこの発明の特徴と一致して。
線2の入力電圧の”ハイ”−ロー”遷移は出力・ぞラド
・ノード3の電圧に影響するようなプルダウン・トラン
ジスタ8の電流導通特性に制御された割合の変化を生ぜ
しめる。 ハイ°゛から”ローレベルへの入力線電圧の
遷移は直ちに増幅器16で反転され、ひき続きnチャン
ネル・トランジスタ】7の可能化に使用される。トラン
ジスタ17は同時に可能化された並列接続のpチャンネ
ル・トランジスタ18に比べて比較的大きな電流を導通
するよう設計される。pチャンネル・トランジスタ19
は中程度の“・・イ”電流導通性能を有し。
・ノード3の電圧に影響するようなプルダウン・トラン
ジスタ8の電流導通特性に制御された割合の変化を生ぜ
しめる。 ハイ°゛から”ローレベルへの入力線電圧の
遷移は直ちに増幅器16で反転され、ひき続きnチャン
ネル・トランジスタ】7の可能化に使用される。トラン
ジスタ17は同時に可能化された並列接続のpチャンネ
ル・トランジスタ18に比べて比較的大きな電流を導通
するよう設計される。pチャンネル・トランジスタ19
は中程度の“・・イ”電流導通性能を有し。
入力線2の6ノ・イ”−ロー”遷移と同時に可能化され
る。しかし、フィードノー、11 ツク・インノぐ一タ
増幅器21.22を通して行う出力/母ツド・ノード3
の一時的且つ残留0・・イ”電圧状態は、直列接続pチ
ャンネル・トランジスタ23をディセーブルすることに
よって、トランジスタ19を通る電流を防止する。
る。しかし、フィードノー、11 ツク・インノぐ一タ
増幅器21.22を通して行う出力/母ツド・ノード3
の一時的且つ残留0・・イ”電圧状態は、直列接続pチ
ャンネル・トランジスタ23をディセーブルすることに
よって、トランジスタ19を通る電流を防止する。
第2図の波形20の3期間を規定する第1図の回路の3
つのセグメントは点線ブロック24゜26.27によっ
て表わすものである。ブロック24のトランジスタ17
はノード13の電圧が電源電圧vDDの半分に達するま
で飽和導通電流によって7−ド13における初期の高い
割合の電圧変化を発生する。その後、ブロック26の導
通割合が制限されたトランジスタ18によりて比較的割
合が低い変化時間が規定される。その結果化じたノード
13の急速な増加はブロック270回路によって形成さ
れる。出力バンド・ノード3の電圧が低い2値レベルに
達すると、トランジスタ23は可能化され、前もって可
能化されたトランジスタ191r、通し、ノード13を
vDDに完全にひっばるよう比較的高い割合で導通する
。
つのセグメントは点線ブロック24゜26.27によっ
て表わすものである。ブロック24のトランジスタ17
はノード13の電圧が電源電圧vDDの半分に達するま
で飽和導通電流によって7−ド13における初期の高い
割合の電圧変化を発生する。その後、ブロック26の導
通割合が制限されたトランジスタ18によりて比較的割
合が低い変化時間が規定される。その結果化じたノード
13の急速な増加はブロック270回路によって形成さ
れる。出力バンド・ノード3の電圧が低い2値レベルに
達すると、トランジスタ23は可能化され、前もって可
能化されたトランジスタ191r、通し、ノード13を
vDDに完全にひっばるよう比較的高い割合で導通する
。
顕著且つユニークな作用ブロック24,26゜27の相
互作用はブロック24のトランジスタ17のしきい値損
失及びボディ効果電流制限に寄与スる。トランジスタ1
7はエンノ・ンスメント型nチャンネル装置で、初期的
に可能化されたとき。
互作用はブロック24のトランジスタ17のしきい値損
失及びボディ効果電流制限に寄与スる。トランジスタ1
7はエンノ・ンスメント型nチャンネル装置で、初期的
に可能化されたとき。
ノード13が接地近くにあり、飽和モードで動作する。
相当大きな幅/長さチャンネル寸法のトランジスタ17
はノード13に分布容量25をチャージするよう顕著な
飽和モード電流を供給する。
はノード13に分布容量25をチャージするよう顕著な
飽和モード電流を供給する。
トランジスタ17のソース電極が接地電位ではなくノー
ド13に接続されるので、トランジスタ17の導通特性
はノー・ド13の電圧によっても影響される。故に、ノ
ード13の電圧が接地以上に増加し、電源電圧vDDの
5.25 yj?ルトの約半分に近づくと、トランジス
タ17のしきい値損失及びボディ効果電流制限は導通の
割合を増加する。トランジスタ17は、ノード13が電
源電圧の約半分に近ずくと、直線性動作領域に近づくよ
う設計される。ノード13の電位が電源電圧の約半分に
上昇すると、トランジスタ17はカットオフされる。
そo後、ノード13の電圧変化の割合は、可能化される
が比較的小さな電流容量のトランジスタ18で実施する
よう構成される第2の作用ブロック26によってゆるや
かにされる。
ド13に接続されるので、トランジスタ17の導通特性
はノー・ド13の電圧によっても影響される。故に、ノ
ード13の電圧が接地以上に増加し、電源電圧vDDの
5.25 yj?ルトの約半分に近づくと、トランジス
タ17のしきい値損失及びボディ効果電流制限は導通の
割合を増加する。トランジスタ17は、ノード13が電
源電圧の約半分に近ずくと、直線性動作領域に近づくよ
う設計される。ノード13の電位が電源電圧の約半分に
上昇すると、トランジスタ17はカットオフされる。
そo後、ノード13の電圧変化の割合は、可能化される
が比較的小さな電流容量のトランジスタ18で実施する
よう構成される第2の作用ブロック26によってゆるや
かにされる。
ノード13の電圧変化が遅い割合の期間はトランジスタ
18によって供給される限られた電流の効果によってゆ
るやかにされ、トランジスタ8がノード13を低い2値
状態しきい値として規定された電圧値以下にひっばるこ
とができるようになるまで続けられる。そのとき、イン
ノぐ一夕21はハイ”レベルにヌイツチL、続いテイン
ノ々−タ22を“ロー”レベルにスイッチする。緩やか
な電流導通特性の直列接続トランジスタ19.23は両
方共可能化され、ノード13ヲ電源電圧vDDの5.2
5ボルトまで急速にひっばる電流を供給する。
18によって供給される限られた電流の効果によってゆ
るやかにされ、トランジスタ8がノード13を低い2値
状態しきい値として規定された電圧値以下にひっばるこ
とができるようになるまで続けられる。そのとき、イン
ノぐ一夕21はハイ”レベルにヌイツチL、続いテイン
ノ々−タ22を“ロー”レベルにスイッチする。緩やか
な電流導通特性の直列接続トランジスタ19.23は両
方共可能化され、ノード13ヲ電源電圧vDDの5.2
5ボルトまで急速にひっばる電流を供給する。
この作用群27は線2の適尚な入力電圧及び出力パッド
・ノード3の適当なロードに影響された電圧レベルの組
合わせによるフィードパンク応答である。
・ノード3の適当なロードに影響された電圧レベルの組
合わせによるフィードパンク応答である。
ゲート電圧がトランジスタ8全通して電流導通の大きさ
を設定するようにしたトランジスタ8のケ゛−ト11の
電圧は上記3つのブロックの複合且つ組合わせ作用の結
果である。第1の作用ブロック24は電源電圧の約半分
でカットオフされる。
を設定するようにしたトランジスタ8のケ゛−ト11の
電圧は上記3つのブロックの複合且つ組合わせ作用の結
果である。第1の作用ブロック24は電源電圧の約半分
でカットオフされる。
第2の作用ブロック26は中間の期間中電圧変化の割合
を制限する限定電流を供給する。最後に。
を制限する限定電流を供給する。最後に。
最後の作用ブロック27は、ノード3が規定した2値状
態レベルに達した後、トランジスタ8を完全可能化する
・ 第1図の回路1はゾルアンゾ動作中電源電圧線の電圧ス
パイクを抑制せず、プルダウン動作中接地線電圧スパイ
クを抑制する。ノルアノグ・トラ/−)スタフを制御す
る同様なしかし相補の回路を電源線ス・母イクの抑制に
供することができる。ブロック24,26.27の装置
に対する作用的に相補な回路要素はプルアップ・トラン
ジスタ7の同様な制御のために構成され接続される。
態レベルに達した後、トランジスタ8を完全可能化する
・ 第1図の回路1はゾルアンゾ動作中電源電圧線の電圧ス
パイクを抑制せず、プルダウン動作中接地線電圧スパイ
クを抑制する。ノルアノグ・トラ/−)スタフを制御す
る同様なしかし相補の回路を電源線ス・母イクの抑制に
供することができる。ブロック24,26.27の装置
に対する作用的に相補な回路要素はプルアップ・トラン
ジスタ7の同様な制御のために構成され接続される。
トランジスタ17.18及びl 9/23の大きさは、
予想されるロードを有するプルダウン・トランジスタ8
の相互作用を考慮して、ノーP13の有効寄生及び分布
容量にマツチするよう最良の性能となるよう選ばれる。
予想されるロードを有するプルダウン・トランジスタ8
の相互作用を考慮して、ノーP13の有効寄生及び分布
容量にマツチするよう最良の性能となるよう選ばれる。
例えば、ノード13の容量が比較的小さく、トランジス
タ8が比較的大きいと、ノード13の電圧の立上シレー
ト及びトランジスタ8を通る電流の関連割合は予想よシ
大きな接地線電圧ス・母イクを発生することができる。
タ8が比較的大きいと、ノード13の電圧の立上シレー
ト及びトランジスタ8を通る電流の関連割合は予想よシ
大きな接地線電圧ス・母イクを発生することができる。
普通の設計において、容t25は1.6μFであシ。
トランジスタ8.17は約0.8がルトのしきい値電圧
を持つ。トランジスタ17.18及び19/230代表
的な相対的チャンネル幅/長さ比は公称4.5:1:9
の範囲にアシ、公称n及びpチャ/ネル・トランジスタ
を通る9:1:9の相対的電流比に換算することができ
る。
を持つ。トランジスタ17.18及び19/230代表
的な相対的チャンネル幅/長さ比は公称4.5:1:9
の範囲にアシ、公称n及びpチャ/ネル・トランジスタ
を通る9:1:9の相対的電流比に換算することができ
る。
nチャンネル電界効果トランジスタ17のしきい値損失
及びボディ効果電流制限は本質的にトランジスタ17に
設計されたしきい値電圧の大きさに従って調節可能であ
る。第2図の波形2oの形はトランジスタ17の0.8
カルトしきい値を使用したシミュレーションによる。し
きい値電圧を上げると、波形20の破壊点を公称2.5
ボルトから更に下げるであろう。その代シ、ト2ンジス
タ17のしきい値電圧を下げると、破壊点の発生レベル
を上昇させる。
及びボディ効果電流制限は本質的にトランジスタ17に
設計されたしきい値電圧の大きさに従って調節可能であ
る。第2図の波形2oの形はトランジスタ17の0.8
カルトしきい値を使用したシミュレーションによる。し
きい値電圧を上げると、波形20の破壊点を公称2.5
ボルトから更に下げるであろう。その代シ、ト2ンジス
タ17のしきい値電圧を下げると、破壊点の発生レベル
を上昇させる。
現今の出力パッド・ドライバ回路はトライ・ステート動
作特性を提供するよう要求されることが多い。そのトラ
イ・ステートは70−ティング又はハイ・インピーダン
ス分離比カッ母ツド・ノード3である。従来、これはC
MOSインバータのプルアップ及びグルダウン・トラン
ジスタ両方をディセーブルすることによって達成される
。この発明の代表的なトライ・ステートの実施例は第3
図に示す。第3図の回路は第1図の要素に更に点線28
゜37で区画した領域内の装置及びロジックを加える。
作特性を提供するよう要求されることが多い。そのトラ
イ・ステートは70−ティング又はハイ・インピーダン
ス分離比カッ母ツド・ノード3である。従来、これはC
MOSインバータのプルアップ及びグルダウン・トラン
ジスタ両方をディセーブルすることによって達成される
。この発明の代表的なトライ・ステートの実施例は第3
図に示す。第3図の回路は第1図の要素に更に点線28
゜37で区画した領域内の装置及びロジックを加える。
トライ・ステート・エネーブル線29のハイ・レベル電
圧信号は、入力線2の信号レベルに無関係にプルアップ
・トランジスタ7及びプルダウン・トランジスタダ8を
同時にディセーブルする。例えば、トライ・ステート・
エネーブル線29が”ハイ″であると、ノア・ゲート3
1の出力は出力線2の信号に関係なく60−”である。
圧信号は、入力線2の信号レベルに無関係にプルアップ
・トランジスタ7及びプルダウン・トランジスタダ8を
同時にディセーブルする。例えば、トライ・ステート・
エネーブル線29が”ハイ″であると、ノア・ゲート3
1の出力は出力線2の信号に関係なく60−”である。
トランジスタ17は継続ディセーブルされる。トランジ
スタ32はトライ・ステート・エネーブル線29に直接
可能化され、ノード13が60−”に強制され。
スタ32はトライ・ステート・エネーブル線29に直接
可能化され、ノード13が60−”に強制され。
プルダウン・トランジスタ8をディセーブルすることを
保証する。ノード13の残留又は漏洩チャージは、そこ
で浪費される。 ハイ”電圧レベルのトライ・ステート
・エネーブル線29はトランジスタ33t−ディセーブ
ルして、ノード13に供給する残りのトランジスタ18
,19,23の組合わせに対する電流源を有効に遮断す
る。その結果、トライ・ステート・エネーブル線29が
1ハイ”状態にあるときはいつでも出力パッド・グルダ
ウン・トランジスタ8はディセーブルされる。
保証する。ノード13の残留又は漏洩チャージは、そこ
で浪費される。 ハイ”電圧レベルのトライ・ステート
・エネーブル線29はトランジスタ33t−ディセーブ
ルして、ノード13に供給する残りのトランジスタ18
,19,23の組合わせに対する電流源を有効に遮断す
る。その結果、トライ・ステート・エネーブル線29が
1ハイ”状態にあるときはいつでも出力パッド・グルダ
ウン・トランジスタ8はディセーブルされる。
同様にして、fルアラグ・トランジスタ7のターンオン
の割合が制御されない(この実施例では)ため簡単な方
式で実施されるトランジスタ7のディセーブルが行われ
る。トライ・ステート・エネーブル線29の”ハイ”電
圧レベル信号の存在は増幅器34によるその後の反転で
ナンド・ゲート36に”ロー”入力を発生する。それ故
、ナンド・ゲート36の出力は線2からの入力信号に無
関係に”ハイ”レベルとなる。従って、出力・ぐンド・
プルアップ・トランジスタ7はディセーブルに維持され
る。
の割合が制御されない(この実施例では)ため簡単な方
式で実施されるトランジスタ7のディセーブルが行われ
る。トライ・ステート・エネーブル線29の”ハイ”電
圧レベル信号の存在は増幅器34によるその後の反転で
ナンド・ゲート36に”ロー”入力を発生する。それ故
、ナンド・ゲート36の出力は線2からの入力信号に無
関係に”ハイ”レベルとなる。従って、出力・ぐンド・
プルアップ・トランジスタ7はディセーブルに維持され
る。
トライ・ステート・エネーブル線29が”ローのときに
おける種々のロジック・ブロック及び作用装置内の状態
を分析すると、その動作は第1図の回路に対して逆であ
ることがわかる。
おける種々のロジック・ブロック及び作用装置内の状態
を分析すると、その動作は第1図の回路に対して逆であ
ることがわかる。
第3図の実施例は第3図のロジックによって詳細に表わ
された回路を含む。ゲート38はトランジスタ23の早
すぎる可能化を防止する。ロジック・ゲート38にはな
かったが、トランジスタ23の直ちの希望しない可能化
は直ちにトライ・ステート・エネーブル信号の除去?ひ
きおこす。
された回路を含む。ゲート38はトランジスタ23の早
すぎる可能化を防止する。ロジック・ゲート38にはな
かったが、トランジスタ23の直ちの希望しない可能化
は直ちにトライ・ステート・エネーブル信号の除去?ひ
きおこす。
ナンド・ゲート38は出力パッド・ノード3及びノルダ
ウン・トランジスタ8のf−)を極ノード13の両方か
らロジック信号を受信する。ロジック・ケ゛−ト38は
、ノード3の“ロー”レベル電圧がトランジスタ23を
可能化する前にノード13の電圧が”・・イ″レベルと
なることを要求する。
ウン・トランジスタ8のf−)を極ノード13の両方か
らロジック信号を受信する。ロジック・ケ゛−ト38は
、ノード3の“ロー”レベル電圧がトランジスタ23を
可能化する前にノード13の電圧が”・・イ″レベルと
なることを要求する。
第3図のトライ・ステート・オにラブル回路はノード1
3の電圧の立上シ割合を制御し、トランジスタ8を通る
電流を制限して、傍地線電圧スパイクを抑制する。同様
に、制御された可能化割合のプルアップ・トランジスタ
7′fc提供するインバータ34及びア/ド・ゲート3
6の代りに相補回路を構成することは容易である。電源
線電圧スパイクの抑制はトライ・ステート構造で実行す
る仁とができる。各種装置の相対的大きさはp型トラン
ジスタの低い移動性を補償するよう調節することができ
る。
3の電圧の立上シ割合を制御し、トランジスタ8を通る
電流を制限して、傍地線電圧スパイクを抑制する。同様
に、制御された可能化割合のプルアップ・トランジスタ
7′fc提供するインバータ34及びア/ド・ゲート3
6の代りに相補回路を構成することは容易である。電源
線電圧スパイクの抑制はトライ・ステート構造で実行す
る仁とができる。各種装置の相対的大きさはp型トラン
ジスタの低い移動性を補償するよう調節することができ
る。
第1図はこの発明の特徴を実施した基本回路を表わす図
。 第2図は先行技術の実行性能とこの発明の実行性能とを
比較する代表的電圧波形を表わす図。 第3図はこの発明により改良したトライ−ステート実施
例を表わす図である。 図中、1・・・出力パッド増幅器/バッフ7回路。 2・・・入力線、3・・・出力パッド・ノード、4・・
・電源線ノード、5.10・・・電源、接地パッド、6
・・・接地線ノーr、7.s・・・電界効果トランジス
タ、9゜11・・・ゲート電極、16,21.22・・
・増幅器。 14.17.18,19.23・・・トランジスタ。 29・・・トライ・ステート・エネーブル線。 出願代理人 斉 藤 勲
。 第2図は先行技術の実行性能とこの発明の実行性能とを
比較する代表的電圧波形を表わす図。 第3図はこの発明により改良したトライ−ステート実施
例を表わす図である。 図中、1・・・出力パッド増幅器/バッフ7回路。 2・・・入力線、3・・・出力パッド・ノード、4・・
・電源線ノード、5.10・・・電源、接地パッド、6
・・・接地線ノーr、7.s・・・電界効果トランジス
タ、9゜11・・・ゲート電極、16,21.22・・
・増幅器。 14.17.18,19.23・・・トランジスタ。 29・・・トライ・ステート・エネーブル線。 出願代理人 斉 藤 勲
Claims (9)
- (1)共通電源ノード及び接地ノードから作動可能であ
り、入力ノードの入力電圧に応答して出力ノードに遷移
レートが制御された出力電圧を供給するCMOS回路で
あって、 ソース/ドレインの一方が前記電源ノードに接続された
第1のトランジスタと、ソース/ドレインの一方が前記
接地ノードに接続された第2のトランジスタと、残りの
ソース及びドレインが前記出力ノードを構成するように
した共通接続とが電気的に直列に接続された夫々第1及
び第2の不純物型の第1及び第2の電界効果トランジス
タと、前記電源ノードに接続された第1のソース/ドレ
インと、前記第2のトランジスタのゲート電極に接続さ
れた第2のソース/ドレインとを含み、そのゲート電極
は入力ノード電圧ベース信号を受信するよう接続され、
第2のソース/ドレイン電圧が電源ノード電圧の所定の
ふらつきに達したときにカットオフされるようにした第
2の不純物型の第3の電界効果トランジスタと、 前記電源ノードと前記第2のトランジスタのゲート電極
との間に接続され、入力ノード電圧ベース信号を受信す
るよう接続されたゲート電極を含み、前記第3のトラン
ジスタより低い電流導通能力を有する第1の不純物型の
第4の電界効果トランジスタと、 前記接地ノード電圧に近づいた出力ノード電圧に応答し
て前記第2のトランジスタの前記ゲート電極を前記電源
ノード電圧に引きつけるプーリング手段と、 入力ノード電圧ベース信号に応答して前記第2の電界効
果トランジスタの導通状態に対し反対の導通状態に前記
第1の電界効果トランジスタを可能化するエネーブル手
段とを含むCMOS回路。 - (2)前記入力ノード電圧及びトライステート・エネー
ブル・ノード電圧を受信するよう接続され、トライ・ス
テート状態が形成されたとき前記第1及び第2の電界効
果トランジスタを選択的にディセーブルするようにした
第1のロジック手段を含む特許請求の範囲第1項記載の
回路。 - (3)前記出力ノード電圧及び前記第2の電界効果トラ
ンジスタのゲート電極電圧に接続され、トライス・テー
ド・エネーブル・ノード電圧の存在中、前記第2のトラ
ンジスタのゲート電極を引きつけるプーリング手段を選
択的にディセーブルする第2のロジック手段を含む特許
請求の範囲第1項記載の回路。 - (4)前記ゲート電極の入力ノード電圧に応答して前記
第2のトランジスタのゲート電極と前記接地ノードとの
間を導通するよう接続された第5の電界効果トランジス
タを含む特許請求の範囲第1項記載の回路。 - (5)前記第3の電界効果トランジスタは飽和動作モー
ドからの遷移においてしきい値損失及びボディ効果を表
わし、前記第2のトランジスタの前記ゲート電極の電圧
が前記電源ノード電圧の半分に達したときにカットオフ
されるようにしたエンハンスメント動作モード装置であ
る特許請求の範囲第4項記載の回路。 - (6)前記第3、第4及び第5のトランジスタの相対的
チャンネル幅/長さ比は約4.5:1:9である特許請
求の範囲第5項記載の回路。 - (7)入力ノード電圧を受信して変化率を制御した出力
ノード電圧を発生するバッファ回路であって、 電源電圧と接地との間に直列に接続された第1及び第2
の電界効果トランジスタを有し、前記トランジスタ間の
電気接続に共通な出力ノードを有するインバータ段と、 前記第2の電界効果トランジスタをドライブし、前記第
2の電界効果トランジスタの前記ゲート電極に対し0ボ
ルトと前記電源電圧の約半分との間で高い電圧変化率を
与えるに適した第1の電流を発生する手段と、 前記第2の電界効果トランジスタをドライブし、前記第
2の電界効果トランジスタのゲート電極に対し前記電源
電圧の残り半分ほとんどについて低い電圧変化率を与え
るに適した第2の電流を発生する手段と、 前記第2の電界効果トランジスタの前記ゲート電極を前
記電源電圧の完全電圧に引っぱるプーリング手段と、 前記第2の電界効果トランジスタを可能化する前に前記
第1の電界効果トランジスタを選択的にディセーブルす
る手段とを含むバッファ回路。 - (8)前記第1の電流を発生する手段は前記第2の電界
効果トランジスタの前記ゲート電極の電圧に応答してし
きい値損失及びボディ効果電流カットオフを受ける高電
流電界効果トランジスタである特許請求の範囲第7項記
載のバッファ回路。 - (9)前記第2の電流を発生する手段は前記第1の電流
を発生する手段と電気的に並列接続された低電流電界効
果トランジスタである特許請求の範囲第8項記載のバッ
ファ回路。(10)前記電源電圧の完全電圧に前記第2
の電界効果トランジスタのゲート電極を引っぱるプーリ
ング手段は前記出力ノードの電圧の大きさに応答して可
能化される高電流電界効果トランジスタである特許請求
の範囲第9項記載のバッファ回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/233,506 US4880997A (en) | 1988-08-18 | 1988-08-18 | Low noise output buffer circuit |
US233,506 | 1988-08-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0282714A true JPH0282714A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=22877525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1192805A Pending JPH0282714A (ja) | 1988-08-18 | 1989-07-27 | 低雑音出力バツフア回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4880997A (ja) |
JP (1) | JPH0282714A (ja) |
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