JPS61157115A - 「シユートスルー」電流抑制手段を具備したcmos - Google Patents

「シユートスルー」電流抑制手段を具備したcmos

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JPS61157115A
JPS61157115A JP60289522A JP28952285A JPS61157115A JP S61157115 A JPS61157115 A JP S61157115A JP 60289522 A JP60289522 A JP 60289522A JP 28952285 A JP28952285 A JP 28952285A JP S61157115 A JPS61157115 A JP S61157115A
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JP
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cmos
transistor
driver
voltage
transistors
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JP60289522A
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マーブレイ・リー・ロジヤーズ,ジユニア
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General Electric Co
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General Electric Co
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0008Arrangements for reducing power consumption
    • H03K19/0013Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/0944Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
    • H03K19/0948Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET using CMOS or complementary insulated gate field-effect transistors

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、0MOSトランジスタの切換え時に流れる寄
生電流が低減または排除されるような0MO3)−ラン
ジス、夕回路に関するものである。
相補形金属/酸化膜/半導体(0MO3)素子において
は、半導体基板上にn形チャネルトランジスタとp形チ
ャネルトランジスタとが互いに隣接して配置されている
。かかるCMOSトランジスタの個々のチャネルには絶
縁ゲート電極が付随している。p形チャネルおよびn形
チャネルトランジスタはゲート電極に加わる電圧の極性
に応じて交互に導通状態となる。すなわち、ゲート電圧
が負の場合にはp形チャネルMO3が導通状態となって
正の出力電圧を生じ、逆にゲート電圧が正の場合にはn
形MO3が導通状態となって負の出力電圧を生じる。し
かるに、CMOS回路は「シュートスルー(shoot
−through) 」として知られる現象を示す。こ
の現象は相補的なn形チャネルおよびp形チャネルトラ
ンジスタが交互に導通状態となる場合に起こるものであ
る。すなわち、切換え用のゲート電圧が正から負に変わ
る場合、あるいはそれと逆の場合に、導通状態にあった
トランジスタがまだオフ状態にならないのに非導通状態
にあったトランジスタが導電を開始するようなゲート電
圧の値が存在する。その結果として電流の一部は、一方
のトランジスタを通って負荷に流れる代りに、正の供給
リード線から両方のトランジスタを通って負の供給リー
ド線へと流れてしまう。
このように2個のトランジスタを打抜いて(つまり、「
シュートスルー」して)流れる部分の電流は、負荷を迂
回するために何の役にも立たない寄生電流となる。それ
は何の役にも立たないばかりでなく、余分の電源容量を
要求しかつ余分の熱を発生するという望ましくない結果
をも生じる。
かかる寄生電流の問題は全てのCMOS素子において存
在するが、VLS Iチップおよび多重ゲートアレイに
おいて使用されるような大電流かつ高速の出力ドライバ
回路の場合には特に厄介となることがある。かかる問題
は二重の意味で重要である。第一に、出力ドライバ回路
自体が大形であって、大きな電流を流すために寄生電流
もかなり大きなものとなることがある。また第二に、多
数の(たとえば16以上もの)かかるドライバ回路が並
列で使用されるゲートアレイにおいては、総合寄生電流
はなお一層大きなものとなる。
このたび本発明者は、出力ドライバCMO8用のゲート
信号を制御するCMOSスイッチング回路中に、導電的
にバイアスされたCMOSトランジスタかべ成る回路網
を組込むことにより、CMO8回路の切換動作時におけ
る寄生的な「シュートスルー」電流を実質的に低減また
は完全に排除し得ることを見出した。切換動作時にこれ
らのトランジスタの主端子間に生じる電圧降下は、非導
通状態にあるトランジスタのゲート回路に印加され、そ
れにより導通状態にあるトランジスタが完全にターンオ
フするか、あるいは極めて低いレベルの導通状態に達す
るまで他方のトランジスタのターンオンを遅らせる。そ
の結果、かかる他方のトランジスタのターンオンが開始
する時点では、両方のトランジスタを流れる電流は小さ
く、従って寄生的な「シュートスルー」電流は完全に排
除または実質的に低減されることになる。
このように本発明の主たる目的は、寄生的な「シュート
スルー」電流が低減または排除されるようなCMOS回
路を提供することにある。
また、切換動作時において一方のCMOSトランジスタ
のターンオフが継続している間は他方のCMOSトラン
ジスタのターンオンを遅らせることによって寄生的な「
シュートスルー」電流を低減させる手段を提供すること
も本発明の目的の1つである。
本発明のその他の利点および目的は、説明の進行に伴っ
て自ら明らかとなろう。
本発明の様々な目的および利点は、背中合せに接続され
かつ導電的にバイアスされた1対のC、MOSトランジ
スタから成るターンオン遅延回路網を含むCMOSスイ
ッチング回路を用いて大電流のドライバCMO8への入
力ゲート信号が制御されるような大電流かつ高速のCM
OSドライバ回路において実現される。
CMOSスイッチング回路のゲート電極にスイッチング
信号が印加されると、導通状態にあったトランジスタは
ターンオフを開始し、そしてそれのドレイン電極におけ
る出力電圧はドライバCMOS中の導通状態にあるトラ
ンジスタのターンオフを開始させるような方向に変化す
る。スイッチング回路中のn形チャネルおよびp形チャ
ネルトランジスタの間に接続されかつ導電的にバイアス
されたCMOSトランジスタに電流が流れることにより
、ドライバCMo8中の導通状態にあるトランジスタの
ターンオンを遅らせるような極性の電圧が発生する。そ
の結果、導通状態にあったトランジスタ中の電流レベル
が極めて低くなって初めて非導通状態にあるトランジス
タのターンオンが開始し、それにより「シュートスルー
」電流の量が低減されるのである。
本発明に固有のものと信じられるその他の特徴は、前記
特許請求の範囲中に詳細に記載されている。とは言え、
本発明それ自体並びに本発明のその他の目的や利点は添
付の図面を参照しながら以下の説明を読むことによって
最も良く理解されよう。
従来のCMOSドライバ回路を図示する第1図中には、
スイッチング信号の印加される入力端子11を有するC
MOSスイッチング回路10が示されている。スイッチ
ング回路10中のトラフジ6スタのドレイン電極からの
出力線路12は、大電流かつ高速のドライバCMOS1
3のゲート電極に接続されている。入力端子11からの
スイッチング信号は、p形チャネルトランジスタ14お
よびn形チャネルトランジスタ15の酸化物絶縁ゲート
電極16および17に印加される。スイ・ンチング回路
10中のp形チャネルトランジスタ14およびn形チャ
ネルトランジスタ15のドレイン電極は、ドライバ0M
O313中のp形チャネルトランジスタ20およびn形
チャネルトランジスタ21のゲート電極19および18
に接続されている。これらのトランジスタ20および2
1のドレイン電極は、ドライバ出力端子23に接続され
ている。各々のCMOS中のp形チャネルトランジスタ
およびn形チャネルトランジスタのソース電極は、正の
電源端子24および負の電源端子に接続されている。
かかる従来のCMOSドライバ回路においては、入力端
子11に負の入力信号が印加されるとp形チャネルトラ
ンジスタ14が導通状態となり、その結果としてそれの
ドレイン電極および出力線路12における電圧が正とな
る。この正電圧がドライバCMOS13のゲート電極1
8および19に印加される結果、n形チャネルトランジ
スタ21は導通状態となり、そして出力端子23におけ
る出力電圧は負の電源電圧と本質的に等しくなる。
入力端子11における入力電圧が負から正に切換わると
、p形チャネルトランジスタ14がターンオフすると共
にn形チャネルトランジスタ15がターンオンし、従っ
て出力線路12上の電圧は負となる9こうしてゲート電
極18および19への入力電圧が負になると、n形チャ
ネルトランジスタ21がターンオフすると共にp形チャ
ネルトランジスタ20がターンオンする。
ところで、入力端子11への入力信号は瞬間的に負から
正に切換わるわけではない。スイッチング信号の前縁お
よび後縁はある程度の勾配を持っている。かかる切換期
間の長さは5〜10ナノセ力ンド程度という短いもので
ある。しかしながら、このような切換期間が存在するた
め、大電力のドライバ0MO313中のトランジスタも
切換わるのに有限の時間を必要とするのである。
n形チャネルトランジスタ21のゲート電極における電
圧がそれのソース電極に印加された負の電源電圧より高
いある閾値に降下するまでは、n形チャネルトランジス
タ21は導通状態を呆つ6すなわち、代表的な5ボルト
電源系統においては、n形チャネルトランジスタのゲー
ト電極における電圧が負の電源電圧より約1ボルトだけ
高い値に降下するまではn形チャネルトランジスタがあ
る程度の導通゛状態を保つのである。他方、p形チャネ
ルトランジスタはそれのゲート電極における電圧が正の
電源電圧より低いある閾値に達するや否や導通状態とな
り始める。すなわち、ゲート電圧19における電圧が4
ボルト(つまり、正の電源電圧より1ボルトだけ低い値
)に降下するや否やトランジスタ20が導通状態になり
始めるのである。このように、ゲート電圧18および1
9における電圧が+4〜+1ボルトの範囲内にある期間
においては両方のトランジスタが導通状態となるわけで
ある。両方のトランジスタが導通状態にあると、電流の
一部は正の電源端子24がらp形チャネルトランジスタ
20およびn形チャネルトランジスタ21を通って負の
電源端子25に流れる。
かかる部分の電流は出力線路を完全に迂回するから、有
用な仕事を全く行わない寄生電流を成すわけである。
このような「シュートスルー」電流は望ましくない結果
をもたらす。すなわち、それは余分の無益な電流を要求
することによって電源容量を増大させ、それはまた不要
の熱を発生させ、しかも5μ、3μまたは1μの間隔を
有するような超大規模集積回路(VLS I )におい
ては電流密度の増大は半導体素子間を接続する導電路に
対して悪影響を及ぼすことがある。
第2図には、導通状態にあるトランジスタ中の電流レベ
ルが極めて低い値またはゼロに降下するまで非導通状態
にあるトランジスタのターンオンを遅らせることによっ
て寄生的な「シュートスルー」電流が低減または排除さ
れるような大電流かつ高速のCMOSドライバ回路が示
されている。
第2図の回路においては、背中合せに接続された追加の
CMOSターンオン遅延回路網がCMOSスイッチング
回路中のn形チャネルトランジスタとp形チャネルトラ
ンジスタとの間に設置されている。かかる追加のCMO
S回路網中の両トランジスタのゲート電圧は、それらの
トランジスタが常に導通状態となるようにバイアスする
ものである。CMOSスイッチング回路中のトランジス
タが定常状態にある場合、ターンオン遅延回路網中のト
ランジスタは導電的にバイアスされてはいても電流を流
すことはない。なぜなら、それらのドレイン電極および
ソース電極における電圧は同じだからである。しかるに
切換期間においては、いずれか一方のトランジスタの主
端子間に電圧降下が発生する。かかる電圧降下は、大電
流のドライバCMOS中の導通状態にあるトランジスタ
中を流れる電流が低いレベルまたはゼロになるまで非導
通状態にあるトランジスタのターンオンを遅らせるよう
な極性を有するものであって、それにより寄生的な「シ
ュートスルー」電流が低減されることになる。
第2図に示される通り、CMOSスイッチング回路30
の出力線路は出力ドライバCMOS31に接続されてい
て、それにより大電流の出力ドライバCMOSは入力端
子32に印加されたスイッチング信号に応答して選択的
に切換えられる。入力側のCMOSスイッチング回路3
0は相補的なp形チャネルトランジスタ33とn形チャ
ネルトランジスタ34とから成っていて、それらのドレ
イン電極同士はCMOSターンオン遅延回路網35を介
して相互に接続されている。ががるCMOSターンオン
遅延回路35は、背中合せに接続されたp形チャネルト
ランジスタ36およびn形チャネルトランジスタ37が
ら成っている。
トランジスタ36および37は、それらのゲート電極3
8および39をそれぞれ負の電源端子40および正の電
源端子41に永久的に接続することによって導電的にバ
イアスされている。すなわち、p形チャネルトランジス
タ36のゲート電圧は常に負であり、またn形チャネル
トランジスタ37のゲート電圧は常に正となっている。
ところで、CMOSスイッチング回路およびドライバC
MOSが定常状態にある場合、トランジスタ36および
37のソースおよびドレイン電圧くこれらはまたドライ
バCMOSトランジスタのゲート電圧である)は本質的
に等しく、そのためトランジスタ36および37の主端
子間における電圧差はゼロである。CM’OSスイッチ
ング回路の出力電圧は、ドライバCMO831中のn形
チャネルトランジスタ42およびp形チャネルトランジ
スタ43のゲート電極にそれぞれ印加される。また、ト
ランジスタ42および43のドレイン電極は出力端子4
4に接続されている。
入力端子32への入力信号が負でありかつp形チャネル
トランジスタ33が完全な導通状態にある場合、(正の
電源端子41における電圧にほぼ等しい)それのドレイ
ン電極における正の電圧はp形チャネルトランジスタ3
6を通してゲート電極に印加され、そしてn形チャネル
トランジスタ42を導通状態にする。同様に、入力電圧
が正でありかつn形チャネルトランジスタ34が完全な
導通状態にある場合、そのトランジスタのドレイン電極
における負の電圧はターンオン遅延回路網35中のn形
すへ・ネルトランジスタ37を通してゲート電極に印加
され、そしてトランジスタ43を導通状態にする。この
ようにして定常状態に到達すると、ドライバCMOSト
ランジスタ42および43のゲート電極における電圧は
CMOSスイッチング回路中の導通状態にあるトランジ
スタのドレイン電極における電圧と本質的に等しくなり
、従ってターンオン遅延回路網35中のトランジスタを
流れる電流は消失する。すなわち、ドライバCMOSト
ランジスタのゲート電極、金属酸化物絶縁体および基板
によって構成されたコンデンサがCMOSスイッチング
回路のドレイン電圧に対して十分に充電されると、もは
や電流は流れなくなり、そしてターンオン遅延回路網中
のトランジスタ36および37は「透明」になる(つま
り、それらはいかなる効果も及ぼさなくなる)のである
入力端子32におけるスイッチング電圧がたとえば負か
ら正に変わる遷移期間においては、p形チャネルトラン
ジスタ33のターンオフが開始すると共にn形チャネル
トランジスタ34のターンオンが開始する。その結果、
トランジスタ36および37の主端子間には電圧差が発
生し、従ってn形チャネルトランジスタ37中を電流が
流れる。
また、トランジスタ42のゲート電極からn形チャネル
トランジスタ34を通って電流が流れるため、ゲート電
圧は負の電源端子40における電圧に向かって降下し始
める。n形チャネルトランジスタ37の主端子間におけ
る電圧降下のため、p形チャネルトランジスタ43のゲ
ート電極における電圧はn形チャネルトランジスタ42
のゲート電極における電圧よりも常に正となるから、p
形チャネルトランジスタ4.3のターンオンは遅らされ
、そしてn形チャネルトランジスタ42の導電性がゼロ
または極めて低いレベルに達するまでp形チャネルトラ
ンジスタ43が導通状態になることは防止される。
同様に、入力端子32におけるスイッチング電圧が正か
ら負に変わる遷移期間においては、導通状態にあるn形
チャネルトランジスタ34のターンオフが開始すると共
にp形チャネルトランジスタ33のターンオンが開始す
る。その結果、ターンオン遅延回路網中のトランジスタ
36および37の主端子間における電圧差は増大する。
ターンオン遅延回路網中のトランジスタ36の主端子間
における電圧降下のため、ドライバCMOS31中のn
形チャネルトランジスタ42のゲート電極における電圧
はトランジスタ43のゲート電極における電圧よりも負
となるから、p形チャネルトランジスタ43の導電性が
極めて低いレベルにまで低下した後にトランジスタ42
のターンオンが起こることになる。なお、トランジスタ
43のゲート電極とトランジスタ42のゲート電極との
間における電圧差の極性は常に同じである。また、トラ
ンジスタ43のゲート電圧はトランジスタ42のゲート
電圧に等しいか、あるいはそれよりも正である。このよ
うな関係は全ての動作段階において成り立っている。
このようにして、導通状態にあるトランジスタ中の電流
が実質的に低減するまでは非導通状態にあるトランジス
タによる導電の開始を遅らせることにより、両方のトラ
ンジスタが導通状態にある期間内において流れる寄生電
流が低減または排除されることがわかる。これは、両方
のトランジスタが導通状態にある期間をできるだけ短縮
すると共に、この期間内においてターンオフされるトラ
ンジスタ中の電流の強さを低下させることによって達成
されるのである。
CMOS素子中の相補的なトランジスタを背中合せに接
続して成るターンオン遅延能動回路網を用いた本発明の
実施例が第2図に示されているが、ただ1個のかかるト
ランジスタを用いて本発明を実施することもできる。そ
の場合、第2図に示されるように接続された2個のトラ
ンジスタを用いる場合に比べて寄生電流の低減の程度は
やや低い。
以上、特定の実施の態様に関連して本発明を記載したが
、本発明は決してそれにのみ限定されるわけではない。
なぜなら、構成および使用手段に関して数多くの変更態
様が可能だからである。前記特許請求の範囲によれば、
本発明の精神および範囲から逸脱しない限り、かかる変
更態様の全てを包括することが意図されている。
【図面の簡単な説明】
第1図は先行技術に基づく大電流かつ高速のCMOS出
力ドライバ回路の回路図であり、また第2図は本発明に
基づく大電流かつ高速のCMOSドライバ回路の回路図
である。 図中、30はCMOSスイッチング回路、31はドライ
バCMOS,32は入力端子、33および34はCMO
Sスイッチング回路中のトランジスタ、35はCMOS
ターンオン遅延回路網、36および37はCMOSター
ンオン遅延回路網中のトランジスタ、38および39は
ゲート電極、40および41は電源端子、42および4
3はドライバ0MO8中のトランジスタ、そして44は
出力端子を表わす。 ■

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、(a)スイッチング回路中の両トランジスタのゲー
    ト電極に接続されてスイッチング信号を印加するために
    役立つ入力端子を有するCMOSスイッチング回路、(
    b)ドライバCMOS、(c)前記スイッチング信号に
    応答して前記ドライバCMOS中のトランジスタの導通
    状態を切換えるため前記CMOSスイッチング回路中の
    トランジスタのドレイン電極を前記ドライバCMOS中
    のトランジスタのゲート電極に接続する手段、並びに(
    d)(1)前記CMOSスイッチング回路中の相補的な
    トランジスタの間に接続されて前記ドライバCMOS中
    の非導通状態にあるトランジスタのターンオンを遅らせ
    るような極性の遅延電圧を切換期間中に発生させるため
    の手段および(2)前記遅延電圧を前記ドライバCMO
    S中のトランジスタのゲート電極に接続する手段の両者
    を含むことにより、切換えに際して前記ドライバCMO
    S中の導通状態にあるトランジスタの導電性が十分に低
    下するまで非導通状態にあるトランジスタのターンオン
    を遅らせるための手段から成ることを特徴とするCMO
    Sドライバ回路。 2、前記遅延電圧を発生させるための前記手段がソース
    /ドレイン導電路を前記CMOSスイッチング回路中の
    トランジスタのドレイン電極間に接続した少なくとも1
    個のMOSトランジスタを含み、かつ前記MOSトラン
    ジスタのゲート電極がそれを導電的にバイアスするよう
    な極性の電圧源に接続されている結果、切換えに際して
    前記MOSトランジスタの主端子間に電圧降下が発生す
    るが定常状態ではかかる電圧降下が発生しない特許請求
    の範囲第1項記載のCMOSドライバ回路。 3、前記遅延電圧を発生させるための前記手段がそれぞ
    れのドレインおよびソース電極同士を相互に接続したp
    形MOSトランジスタおよびn形MOSトランジスタを
    含む特許請求の範囲第2項記載のCMOSドライバ回路
    。 4、前記p形MOSトランジスタのドレイン電極と前記
    n形MOSトランジスタのソース電極との接続点が前記
    ドライバCMOS中のn形MOSトランジスタのゲート
    電極に接続され、かつ前記p形MOSトランジスタのソ
    ース電極と前記n形MOSトランジスタのドレイン電極
    との接続点が前記ドライバCMOS中のp形MOSトラ
    ンジスタのゲート電極に接続されている特許請求の範囲
    第3項記載のCMOSドライバ回路。
JP60289522A 1984-12-24 1985-12-24 「シユートスルー」電流抑制手段を具備したcmos Pending JPS61157115A (ja)

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US685515 1984-12-24

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