JPH0266727A - 電子機器装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、ＣＤ−ＲＯＭや光磁気ディスクなどの円環状
記録媒体から、光学ヘッドにより情報の再生を行う電子
機器装置に関する。

（従来の技術） コンピュータやワードプロセッサに代表される情報処理
装置などの外部記憶手段を備えた電子機器装置では、外
部記憶手段としてＣＩ）−ＲＯＭや光磁気ディスクなど
の円環状記録媒体（以下、光ディスクと称す）を用い、
光学ヘッドにより情報の記録・再生を行う情報記録再生
部を備えた電子機器装置がある。

このタイプの電子機器装置は、非接触であるため耐久性
に優れ、アクセス時間が短く、記録容量が大きいなどの
利点を有している。このため、記録媒体として磁気ディ
スク用い、磁気ヘッドにより情報の記録・再生を行う情
報記録再生部を備えた電子機器装置に代って、画像処理
、ＣＡＤ／ＣＡＭ、電子出版など幅広い分野で利用され
始めている。

光ディスクは、その再生または記録方式により、反射ピ
ット方式、相変化方式、光熱磁気方式などに大別される
か、いずれの光ディスクを用いた電子機器装置でも、光
学ヘッドで受光した光ディスりからの反射光を情報記録
再生部て光電変換して電気信号を生成し、この電気信号
を情報処理部で処理して情報の再生を行っている。

このようなタイプの電子機器装置では、光学ヘッドがひ
どく汚れると、光学ヘッドにおける受光量が減少して情
報記録再生部からの出力が低下するため、エラーレート
が増加したり、光ディスクの検出やアクセス動作ができ
なくなるなど、電子機器装置が正常に作動しなくなると
いう問題を生じる。

そしてこのような問題は、強制通風装置により装置内部
を冷却して、通電に伴う温度上昇による性能および信頼
性の低下を抑止している電子機器装置であって、光学ヘ
ッドもこの強制通風装置の影響を受けている電子機器装
置において特に頻繁に生じる。

これは、強制通風装置により外気中に含まれる塵埃も装
置内部に取込まれて、塵埃が光学ヘッド上に堆積するた
めである。そしてこの光学ヘッド上への塵埃の堆積は、
光学ヘッドが強制通風装置の影響を受けていない場合に
比べて著しく早く進行するためである。

このような問題に対処するため、従来は定期的に光学ヘ
ッドを掃除するか、エラーレートが増加したとき、ある
いはディスクの検出やアクセス動作なとができなくなっ
たときに光学ヘッドを掃除していた。

しかしなから光学ヘッドの汚れは、装置の使用時間や外
気中に含まれる塵埃の量など、装置の使用環境に左右さ
れるため、定期的な掃除では不経済であるという難点が
あった。また、エラーレトの増加の原因あるいはディス
クの検出やアクセス動作などができなくなった原因が、
光学ヘッドの汚れにあるのか否かの判断は利用者には難
しいため、適切な保守管理を行うことが困難であるとい
う難点があった。

そしてこのような難点は、光学ヘッドにより情報の記録
・再生を行う情報記録再生部を備えた電子機器装置であ
って、強制通風装置により装置内を冷却している電子機
器装置において特に問題となっていた。

（発明が解決しようとする課題） このように、記録媒体として光ディスクを用い、この光
ディスクに対して光学ヘッドにより情報の記録・再生を
行う電子機器装置は、非接触であるため耐久性に優れ、
アクセス時間か短く、記録容量か大きいなどの利点を有
しているが、光学ヘッドの汚れがひとくなると、正常に
作動しなくなる。そして光学ヘッドの汚れは、装置の使
用環境に左右されるものであり、また、正常に作動しな
くなった原因か光学ヘッドの汚れにあるか否かの判断は
利用者には難しいため、光学ヘッドにより情報の記録再
生を行う情報記録再生部を備えた電子機器装置、特に強
制通風装置により装置内を冷却している電子機器装置で
は、その保守管理を効率よく行うことは困難であるとい
う問題があった。

本発明は係る従来技術の課題を解決すべくなされたもの
で、保守管理を効率よく行うことができる電子機器装置
を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） すなわぢ本発明の電子機器装置は、情報の所定の処理を
行う情報処理部と、この情報処理部において用いられる
情報を光ディスクから再生する光学ヘッドと、この光学
ヘッドに入射した受光量に応答した信号と予め設定され
た基準値とを比較する比較手段と、この比較手段による
比較結果に基づいて光学ヘッドにおける受光量の変化を
報知する報知手段とを具備したものである。

（作　用） 本発明の電子機器装置では、光学ヘッドにおける受光量
か低下してこの光学ヘッドからの出力が基準値を下回る
と、報知手段により光学ヘッドにおける受光量の変化か
報知される。

このため利用者は、光学ヘッドの汚れにより電子機器装
置が正常に作動しなくなる前に、光学へラドが汚れたこ
とを察知することかできる。

したがって、利用者は報知手段による報知かあったとき
に光学ヘッドを掃除すればよく、これにより電子機器装
置の保守管理を効率よく行うことができる。

（実施例） 以下、本発明の実施例について、図面を用いて説明する
。

第１図は、本発明に係る電子機器装置の特徴部分の一実
施例を示すブロック図である。

同図に示すように、本実施例では、光学ヘッドであるレ
ーザピックアップ１で受光した反射光に基づいて情報記
録再生部を構成する電気信号生成回路２で生成された電
気信号の信号強度を、信号強度検出回路３により検出す
る。そして、この検出結果と、予め設定しておいたこの
電気信号の信号強度の基準値４との大小関係を、比較回
路５により比較する。

比較回路５による比較の結果、電気信号生成回路２で生
成された電気信号の信号強度が基準値４より小さかった
場合、すなわちレーザピックアップ１における受光量が
少なすぎた場合には、比較回路５からシステムコントロ
ーラ６に所定の信号が送られる。この比較回路５からの
信号を受けたシステムコントローラ６は、所定の信号を
報知部７に送り、この信号により報知部７が作動して、
レーザピックアップ１における受光量の低下を報知する
。

なお第１図に示したブロック図では、信号強度検出回路
３と比較回路５とで比較手段８を構成しており、システ
ムコントローラ６と報知部７とで報知手段９を構成して
いる。また、比較手段８と報知手段９とは、情報処理部
に設けられている。

したがって、報知手段９による報知があったときに光学
ヘッドを掃除して、光学ヘッド上の汚れを除去すること
により、光学ヘッドにおける受光量の低下に起因する電
子機器装置の誤作動や、電子機器装置が作動不能に陥る
ことを防止することができる。

なお基準値は、比較対象とする電気信号について電子機
器装置が正常に動作するために必要とする下限値以上の
値とする。

本実施例における電気信号としては、レーザピックアッ
プ１からの、情報信号（ＲＦ倍信号、フォーカスエラー
信号、およびトラッキングエラ信号を用いることができ
る。また、レーザピックアップ１が３ビ一ム方式である
場合には、サブビーム信号、メインビームの全反射レベ
ル、あるいはサブビームの全反射レベルを用いてもよい
。

以下、本発明に係る電子機器装置の主要部について、電
気信号としてＲＦ倍信号用いた場合を例にとり、さらに
詳細に説明する。

第２図は、電気信号としてＲＦ倍信号用いた場合の電気
信号生成回路、比較手段および報知手段の一実施例を示
す回路図である。

第２図に示すように、レーザピックアップにより受光さ
れた光ディスクからの反射光は、４分割ディテクタを構
成する　４個のフォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２、ＰＤ
３、ＰＤ４により光電変換されて電気信号となる。各フ
ォトダイオードからの電気信号は、増幅器と帰還抵抗に
より構成される差動増幅回路１０．１１．１２．１３に
よりそれぞれ電流−電圧変換される。電圧変換された各
型気信号は、それぞれ抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４を介
した後に加算され、加算された電気信号は、増幅器と帰
還抵抗により構成される差動増幅回路１４で増幅されて
ＲＦ倍信号なる。

そしてこのＲＦ倍信号、コンデンサＣ１と抵抗Ｒ５とか
ら構成される微分回路１５により直流分を除去されて、
微分波形の電気信号となる。この後、ダイオードＤ１抵
抗Ｒ６およびコンデンサＣ２から構成される振幅検波回
路１６により、直流レベル信号に変換される。

得られた直流レベル信号は、コンパレータ１７において
、ＲＦ倍信号基準電圧Ｅと比較される。

そして、振幅検波回路１６で得られた直流レベル信号が
基準電圧Ｅより小さかった場合には、コンパレータ１７
が反転して所定の信号がシステムコントローラ１８に送
られる。

コンパレータ１７からの信号を受けたシステムコントロ
ーラ１８は、所定の信号を報知部であるＣＲＴモニタ１
９に送り、この信号によりＣＲＴモニタ１９上に所定の
メツセージが表示されて、レーザピックアップにおける
受光量の低下が報知される。

なお第２図に示した回路では、フォトダイオドＰＤＩ、
ＰＤ２、ＰＤ３、ＰＤ４、差動増幅回路］０．１１．１
２．１３、抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４、および差動増
幅回路１４により電気信号生成回路か、また、微分回路
１５と振幅検波回路１６により信号強度検出回路が構成
されており、コンパレータ１７か比較回路にあたる。そ
して、システムコントローラ１８とＣＲＴモニタ１９と
で報知手段を構成している。

ここで、基準電圧Ｅの設定の仕方について、第３図およ
び第４図に示すグラフを用いて説明する。

まず、あるピット信号を読取ったときの正規のＲＦ倍信
号振幅波形を第３図中に実線Ａで示す。

また、同じピット信号を読取ったときに、電子機器装置
が正常に作動するのに必要とする下限のＲＦ倍信号振幅
波形を第３図中に一点鎖線Ｂで示す。

これらのＲＦ倍信号微分回路１５によりそれぞれ波形変
換した場合、各信号は第４図中に実線ａおよび−点鎖線
すで示す波形の電気信号となる。

さらに、これらの電気信号を振幅検波回路１６によりそ
れぞれ波形変換すると、正規のＲＦ倍信号第４図中に破
線Ｃで示す直流レベル信号に、また、下限のＲＦ　（−
４号は第４図中に点線りで示す直流レベル信号になる。

したがって、実際に電気信号生成回路で生成されたＲＦ
倍信号直流レベル信号が、第４図中に破線Ｃおよび点線
りで示した直流レベルの間にあれば、電子機器装置は正
常に作動する。

よって基準電圧Ｅは、第４図中に破線Ｃで示した直流レ
ベル信号の値と、第４図中に点線りで示した直流レベル
信号の値との間の値に設定する。

このような第２図に例示した回路を用いて、ＲＦ倍信号
信号強度の低下、すなわち、レーザピックアップにおけ
る受光量の低下を利用者に報知することにより、電子機
器装置の保守管理を効率よく行うことが可能となる。

また前述したように、ＲＦ倍信号代えてフォカスエラー
信号、トラッキングエラー信号、しザピックアップ１が
３ビ一ム方式である場合のサブビーム信号、あるいはメ
インビームの全反射レベルおよびサブビームの全反射レ
ベルを用いてもよい。

フォーカスエラー信号は、レーザピックアップがたとえ
ば第５図に示すように、４個のフォトダイオードＰＤａ
　、ＰＤｂ　、ＰＤｃ　５ＰＤｄから構成される４割デ
ィテクタ２０と、サブビーム用の２個のフォトダイオー
ドＰＤ８、ＰＤｆとを備えた３ビ一ム方式であった場合
、たとえば第６図に示す電気信号生成回路により生成す
る。

すなわち、ＰＤａとＰＤｃとを並列接続とし、またＰＤ
ｂとＰＤｄとを並列接続とし、ＰＤａとＰＤｃとからの
加算信号と、ＰＤｂとＰＤｄとからの加算信号とを、差
動増幅器３０により増福することによりフォーカスエラ
ー信号ＦＥを得る。

トラッキングエラー信号ＴＥは、たとえば第７図に示す
ように、ＰＤｅからの電気信号とＰＤｆからの電気信号
とを、差動増幅器４０により増福することにより得るこ
とかできる。また、サブビムの全反射レベルは、第７図
に示すように、ＰＤｅからの電気信号とＰＤｆからの電
気信号とを増幅器４１により増福して加算信号ＳＵＢを
得、この加算信号ＳＵＢを、たえば第２図に示した振幅
検波回路］６で処理することにより得ることができる。

メインビームの全反射レベルも同様にして得ることがで
きる。

そして、これらいずれの電気信号を用いた場合でも、比
較手段および報知手段によりレーザピックアップにおけ
る受光量の低下を報知することができる。

次に、本発明に係る電子機器装置の特徴部分の他の実施
例について、図面を用いて説明する。

第８図は他の実施例を示すブロック図である。

同図に示すように、この実施例ではＲＦ倍信号エラーレ
−１・をエラーレート検出回路５０により検出し、この
検出結果と基準値５］とを比較回路５２で比較する。比
較回路５２ての比較の結果、信号のエラーレートが基準
値を超えていた場合には、比較回路５２からシステムコ
ントローラ５３へ所定の信号が送られる。この信号を受
けたシステムコントローラ５３は、報知部５４に所定の
信号を送り、この信号により報知部５４が作動して、光
学ヘッドにおける受光量の低下を報知する。

第８図では、エラーレート検出回５０と比較回路５２と
が比較手段５５を構成しており、システムコントローラ
５３と報知部５４とが報知手段５６を構成している。ま
た、比較手段５５と報知手段５６とは、情報処理部に設
けられている。

したがって、報知手段５６による報知があったときに光
学ヘッドを掃除して、光学ヘッド上の汚れを除去するこ
とにより、光学ヘッドにおける受光量の低下に起因する
電子機器装置の誤作動や、電子機器装置が作動不能に陥
ることを防止することかできる。

なお以上説明した本発明の電子機器装置では、光学ヘッ
ドにおける受光量の変化を確認するには、報知部による
報知の有無を、たとえばディスク装着時に１度確認すれ
ばよい。

また本発明における比較手段および報知手段は、以上説
明した実施例に例示した手段に限定されるものではない
。たとえば報知手段を構成する報知部は、ＣＲＴモニタ
に限らず液晶パネルやランプあるいはブサーなど、同様
の効果を得ることができるものであればいかなるもので
あってもよい。

なお、比較レベルを多数設けることにより、あるいはＡ
／Ｄコンバータ検出などを行うことにより、より詳細に
劣化情報を検出することができる。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明の電子機器装置では、光学
ヘッドの汚れにより電子機器装置が正常に作動しなくな
る前に、光学ヘッドが汚れたことが報知される。

したかって、本発明を用いることにより、保守管理を効
率よく行うことができる電子機器装置を得ることができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る電子機器装置の特徴部分の一実施
例を示すブロック図、第２図は電気信号としてＲＦ倍信
号用いた場合の特徴部分の一実施例を示す回路図、第３
図および第４図は基準値の設定の仕方を説明するための
図、第５図は３ビム方式のレーザピックアップにおける
４分割ディテクタとサブビーム用のフォトダイオードを
示す図、第６図はフォーカスエラー信号を生成する電気
信号生成回路の一例を示す回路図、第７図はトラッキン
グエラー信号およびサブビームの加算信号を生成する電
気信号生成回路の一例を示す回路図、第８図は本発明に
係る電子機器装置の特徴部分の他の実施例を示すブロッ
ク図である。 １・・・レーザピックアップ、　２・・・電気信号生成
回路、　３・・・信号強度検出回路、　４．５１・・・
基準値、　５．５２・・・比較回路、　６．５３・・・
システムコントローラ、　７．５４・・・報知部、　８
．５５・・・比較手段、　９．５６・・・報知手段。 出願人　　　　　株式会社　東芝

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 情報の所定の処理を行う情報処理部と、 この情報処理部において用いられる前記情報を光ディス
   クから再生する光学ヘッドと、 この光学ヘッドに入射した受光量に応答した信号と予め
   設定された基準値とを比較する比較手段と、 この比較手段による比較結果に基づき前記光学ヘッドに
   おける受光量の変化を報知する報知手段と を備えたことを特徴とする電子機器装置。