JPH0257905A - Ｊリードｉｃパッケージのリード平坦度検出機 - Google Patents
Ｊリードｉｃパッケージのリード平坦度検出機Info
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- JPH0257905A JPH0257905A JP63201266A JP20126688A JPH0257905A JP H0257905 A JPH0257905 A JP H0257905A JP 63201266 A JP63201266 A JP 63201266A JP 20126688 A JP20126688 A JP 20126688A JP H0257905 A JPH0257905 A JP H0257905A
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＪリードＩＣパッケージのリード平坦度検出機
に関し、特にＩＣパッケージのプリント板への実装にあ
たり、ＪリードＩＣパッケージのリード平坦度を識別す
るリード平坦度検出機に関する。
に関し、特にＩＣパッケージのプリント板への実装にあ
たり、ＪリードＩＣパッケージのリード平坦度を識別す
るリード平坦度検出機に関する。
従来、この種のリード平坦度検出機は、ＩＣパッケージ
のＪリードの側面から画像を取り込み、パッケージ樹脂
部からＪリードの頂点までの距離を測定することにより
平坦度をチエツクしている。
のＪリードの側面から画像を取り込み、パッケージ樹脂
部からＪリードの頂点までの距離を測定することにより
平坦度をチエツクしている。
第３図は従来のかかる一例を説明するためのリード平坦
度検出機の側面図である。
度検出機の側面図である。
第３図に示すように、従来のリード平坦度検出機は５Ｏ
Ｊ−Ｉ Ｃ１を固定しＪリード５の側面より照明ユニッ
ト４と王台のビデオカメラ６を用いて撮影し、パッケー
ジ樹脂部からＪリードの頂点までの距離を測定している
。尚、７はカメラ６で撮影した画像の処理ユニットであ
り、８はカメラ６と画像処理ユニット７を接続する同軸
ケーブルである。
Ｊ−Ｉ Ｃ１を固定しＪリード５の側面より照明ユニッ
ト４と王台のビデオカメラ６を用いて撮影し、パッケー
ジ樹脂部からＪリードの頂点までの距離を測定している
。尚、７はカメラ６で撮影した画像の処理ユニットであ
り、８はカメラ６と画像処理ユニット７を接続する同軸
ケーブルである。
上述した従来のリード平坦度検出機は、ＩＣパッケージ
の側面から撮像するものであるので、ＳＯＪタイプのＩ
Ｃパッケージでは２台のビデオカメラを必要とする欠点
がある。また、−台のビデオカメラのみで撮像を行う場
合は、一方のＪリードを撮像した後、ＩＣパッケージを
１８０度回板回転、もう一方のＪリード列を撮像しなけ
ればならないという欠点がある。
の側面から撮像するものであるので、ＳＯＪタイプのＩ
Ｃパッケージでは２台のビデオカメラを必要とする欠点
がある。また、−台のビデオカメラのみで撮像を行う場
合は、一方のＪリードを撮像した後、ＩＣパッケージを
１８０度回板回転、もう一方のＪリード列を撮像しなけ
ればならないという欠点がある。
本発明の目的は、−度にＩＣパッケージのＩＣリードの
平坦度の差を取り込み、且つ高い精度で平坦度の計測を
行うことのできるＪリードＩＣパッケージのリード平坦
度検出機を提供することにある。
平坦度の差を取り込み、且つ高い精度で平坦度の計測を
行うことのできるＪリードＩＣパッケージのリード平坦
度検出機を提供することにある。
本発明のＪリードＩＣパッケージのリード平坦度検出機
は、ＩＣパッケージのＪリードを上にして載置する位置
決めブロックと、前記Ｊリードの側面を照射する照明ユ
ニットと、前記Ｊリードの影を写すためにリード間の平
坦度の差を水平方向の差に変換して拡大するための４５
度未満の傾斜角を有するスクリーンと、前記Ｊリードの
影を撮影するビデオカメラと、取込んだ画像を処理判定
する画像処理ユニットとを有して構成される。
は、ＩＣパッケージのＪリードを上にして載置する位置
決めブロックと、前記Ｊリードの側面を照射する照明ユ
ニットと、前記Ｊリードの影を写すためにリード間の平
坦度の差を水平方向の差に変換して拡大するための４５
度未満の傾斜角を有するスクリーンと、前記Ｊリードの
影を撮影するビデオカメラと、取込んだ画像を処理判定
する画像処理ユニットとを有して構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例を説明するためのリード平坦
度検出機の側面図である。
度検出機の側面図である。
第１図に示すように、この検査機は被検査ＩＣである５
ＯＪ−ＩＣＩが位置決めブロック２上に位置決めされ、
傾斜角θの斜面を有するスクリーン３が５ＯＪ−ＩＣＩ
上に置かれる。このＩＣＩの側面には照明ユニット４が
設けられ、ＩＣＩの上部に位置するビデオカメラ６から
の撮影を可能にする。すなわち、この５ＯＪ−ＩＣＩの
Ｊり一ド５の影が照明ユニット４によりスクリーン３の
斜面上に写されるので、これをビデオカメラ６によりス
クリーン３の斜面上のリードの影の像を取り込む。また
、ビデオカメラ６で撮影された斜面上の影画像は同軸ケ
ーブル８により画像処理ユニット７に送られ、Ｊリード
影画像の処理が行われる。
ＯＪ−ＩＣＩが位置決めブロック２上に位置決めされ、
傾斜角θの斜面を有するスクリーン３が５ＯＪ−ＩＣＩ
上に置かれる。このＩＣＩの側面には照明ユニット４が
設けられ、ＩＣＩの上部に位置するビデオカメラ６から
の撮影を可能にする。すなわち、この５ＯＪ−ＩＣＩの
Ｊり一ド５の影が照明ユニット４によりスクリーン３の
斜面上に写されるので、これをビデオカメラ６によりス
クリーン３の斜面上のリードの影の像を取り込む。また
、ビデオカメラ６で撮影された斜面上の影画像は同軸ケ
ーブル８により画像処理ユニット７に送られ、Ｊリード
影画像の処理が行われる。
第２図は第１図におけるカメラによる平面画像のモニタ
図である。
図である。
第２図に示すように、取込んだＪリード５の影の像のう
ち２各々のリード列について最長の像９と最短の像１０
の差Ｃ，，Ｃ２を求め、画像処理ユニット７で平坦度の
規準値と比較しＧｏ／ＮＧの判定を行う。
ち２各々のリード列について最長の像９と最短の像１０
の差Ｃ，，Ｃ２を求め、画像処理ユニット７で平坦度の
規準値と比較しＧｏ／ＮＧの判定を行う。
このように、本実施例によればＳＯＪタイプのＩＣパッ
ケージに対し一台のビデオカメラで両ラインのリードの
影の像を取り込むことができ、またリード間の平坦度の
差を拡大することができるので撮像の分解能の点で有利
になる。
ケージに対し一台のビデオカメラで両ラインのリードの
影の像を取り込むことができ、またリード間の平坦度の
差を拡大することができるので撮像の分解能の点で有利
になる。
以上説明したように、本発明のリード平坦度検出機は、
各リード列のリード間の平坦の差を斜面上の距離の差に
拡大変換することにより、−台のビデオカメラで一度に
全リードの平坦度の差を取込むことができるという効果
がある。また、本発明は平坦度の差を拡大することによ
り（平坦の差が０．１ｍｍのとき、１５°の斜面上のリ
ードの像の水平方向は０．１ｍｍ／１ａｎ１５°＝０．
３７ｍｍ）、従来よりも高い精度で平坦度の計測ができ
るという効果がある。
各リード列のリード間の平坦の差を斜面上の距離の差に
拡大変換することにより、−台のビデオカメラで一度に
全リードの平坦度の差を取込むことができるという効果
がある。また、本発明は平坦度の差を拡大することによ
り（平坦の差が０．１ｍｍのとき、１５°の斜面上のリ
ードの像の水平方向は０．１ｍｍ／１ａｎ１５°＝０．
３７ｍｍ）、従来よりも高い精度で平坦度の計測ができ
るという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を説明するためのリード平坦
度検出機の側面図、第２図は第１図に示すカメラによる
平面画像のモニタ図、第３図は従来の一例を説明するた
めのリード平坦度検出機の側面図である。 １・・・５ＯＪ−ＩＣ１２・・・位置決めブロック、３
・・・スクリーン、４・・・照明ユニット、５・・・Ｊ
り一ド、６・・・ビデオカメラ、７・・・画像処理ユニ
ット、８・・・同軸ケーブル、９・・・リードの影の最
長像、１０・・・リードの影の最短像。
度検出機の側面図、第２図は第１図に示すカメラによる
平面画像のモニタ図、第３図は従来の一例を説明するた
めのリード平坦度検出機の側面図である。 １・・・５ＯＪ−ＩＣ１２・・・位置決めブロック、３
・・・スクリーン、４・・・照明ユニット、５・・・Ｊ
り一ド、６・・・ビデオカメラ、７・・・画像処理ユニ
ット、８・・・同軸ケーブル、９・・・リードの影の最
長像、１０・・・リードの影の最短像。
Claims (1)
- ＩＣパッケージのＪリードを上にして載置する位置決
めブロックと、前記Ｊリードの側面を照射する照明ユニ
ットと、前記Ｊリードの影を写すためにリード間の平坦
度の差を水平方向の差に変換して拡大するための４５度
未満の傾斜角を有するスクリーンと、前記Ｊリードの影
を撮影するビデオカメラと、取込んだ画像を処理判定す
る画像処理ユニットとを有することを特徴とするＪリー
ドＩＣパッケージのリード平坦度検出機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63201266A JP2680847B2 (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Ｊリードｉｃパッケージのリード平坦度検出機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63201266A JP2680847B2 (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Ｊリードｉｃパッケージのリード平坦度検出機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0257905A true JPH0257905A (ja) | 1990-02-27 |
| JP2680847B2 JP2680847B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=16438104
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63201266A Expired - Lifetime JP2680847B2 (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Ｊリードｉｃパッケージのリード平坦度検出機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2680847B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0429007A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-01-31 | Juki Corp | 光学検査装置 |
| JPH0475359A (ja) * | 1990-07-17 | 1992-03-10 | Nec Corp | コプラナリティ測定方法及びその装置 |
| JPH04356939A (ja) * | 1991-06-03 | 1992-12-10 | Just:Kk | 電子部品のリード形状検査装置 |
| JPH0861931A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-03-08 | Hitachi Ltd | Ｊベンド型半導体パッケージの外観検査方法及びその装置 |
| US20230051313A1 (en) * | 2021-08-11 | 2023-02-16 | FootPrintKu Inc. | Method and system for analyzing specification parameter of electronic component, computer program product with stored program, and computer readable medium with stored program |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS645029A (en) * | 1987-06-29 | 1989-01-10 | Matsushita Electronics Corp | Appearance inspection equipment |
-
1988
- 1988-08-12 JP JP63201266A patent/JP2680847B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS645029A (en) * | 1987-06-29 | 1989-01-10 | Matsushita Electronics Corp | Appearance inspection equipment |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0429007A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-01-31 | Juki Corp | 光学検査装置 |
| JPH0475359A (ja) * | 1990-07-17 | 1992-03-10 | Nec Corp | コプラナリティ測定方法及びその装置 |
| JPH04356939A (ja) * | 1991-06-03 | 1992-12-10 | Just:Kk | 電子部品のリード形状検査装置 |
| JPH0861931A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-03-08 | Hitachi Ltd | Ｊベンド型半導体パッケージの外観検査方法及びその装置 |
| US20230051313A1 (en) * | 2021-08-11 | 2023-02-16 | FootPrintKu Inc. | Method and system for analyzing specification parameter of electronic component, computer program product with stored program, and computer readable medium with stored program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2680847B2 (ja) | 1997-11-19 |
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