JPH0250416B2 - - Google Patents
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- JPH0250416B2 JPH0250416B2 JP56208047A JP20804781A JPH0250416B2 JP H0250416 B2 JPH0250416 B2 JP H0250416B2 JP 56208047 A JP56208047 A JP 56208047A JP 20804781 A JP20804781 A JP 20804781A JP H0250416 B2 JPH0250416 B2 JP H0250416B2
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- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 40
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000012742 biochemical analysis Methods 0.000 description 2
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- 238000001636 atomic emission spectroscopy Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検量線補正方法に関するものである。
試料中の特定成分を定量分析する方法に、比色
分析、原子吸光分析、発光分光分析、螢光分析等
がある。これらの分析法においては、分析すべき
特定成分の存在量または濃度（以下単に濃度とい
う）が既知の複数の試料を測定して、濃度と測定
値との相関を表わす検量線を予じめ作成し、この
検量線に基いて未知試料の測定値からその濃度を
求めるようにしている。この場合の検量線は濃度
既知の２つの試料を測定し、これら２つの測定値
を直線で結ぶことにより近似的に作成することも
できるが、高精度の分析を行なうためには濃度既
知の試料を３つ以上測定し、これらの測定値をそ
れぞれ結ぶようにして作成するのが好適である。
すなわち、生化学分析に採用される比色分析法に
おいては、第１図に示すように既知濃度、例えば
X1，X2，X3，X4の４つの試料の吸光度y1，y2，
y3，y4を求め、これら吸光度を結ぶことにより検
量線Ａを作成するのが好適である。このように３
つ以上の既知濃度の試料を測定して検量線Ａを作
成すると、検量線Ａは一般に直線とならず曲線と
なる。
分析、原子吸光分析、発光分光分析、螢光分析等
がある。これらの分析法においては、分析すべき
特定成分の存在量または濃度（以下単に濃度とい
う）が既知の複数の試料を測定して、濃度と測定
値との相関を表わす検量線を予じめ作成し、この
検量線に基いて未知試料の測定値からその濃度を
求めるようにしている。この場合の検量線は濃度
既知の２つの試料を測定し、これら２つの測定値
を直線で結ぶことにより近似的に作成することも
できるが、高精度の分析を行なうためには濃度既
知の試料を３つ以上測定し、これらの測定値をそ
れぞれ結ぶようにして作成するのが好適である。
すなわち、生化学分析に採用される比色分析法に
おいては、第１図に示すように既知濃度、例えば
X1，X2，X3，X4の４つの試料の吸光度y1，y2，
y3，y4を求め、これら吸光度を結ぶことにより検
量線Ａを作成するのが好適である。このように３
つ以上の既知濃度の試料を測定して検量線Ａを作
成すると、検量線Ａは一般に直線とならず曲線と
なる。
一方、測定値は例えば生化学分析に採用される
比色分析法においては、試薬の変質、周囲温度の
変化、試料や試薬の経時変化等によつて変化し、
同一濃度の試料を測定しても吸光度が異なる場合
がある。この場合の吸光度と濃度との関係は一般
に第１図に曲線Ｂで示すようになり、同一濃度の
試料に対する吸光度が予じめ作成した検量線Ａか
ら求まる吸光度よりも低くなる。このような場合
には検量線を曲線Ｂのように補正する必要がある
が、従来は検量線Ａを作成するときに用いた既知
濃度X1，X2，X3，X4の４つの全ての試料を再び
測定して吸光度y1′，y2′，y3′，y4′を求め、これら
吸光度を結ぶことにより検量線Ｂを作成してい
た。しかし、このように予じめ測定した既知濃度
の全ての試料を再度測定することは極めて面倒で
あると共に、複数の試料を測定するためにミスが
生じ易く、このため測定結果に悪影響を及ぼす不
具合がある。
比色分析法においては、試薬の変質、周囲温度の
変化、試料や試薬の経時変化等によつて変化し、
同一濃度の試料を測定しても吸光度が異なる場合
がある。この場合の吸光度と濃度との関係は一般
に第１図に曲線Ｂで示すようになり、同一濃度の
試料に対する吸光度が予じめ作成した検量線Ａか
ら求まる吸光度よりも低くなる。このような場合
には検量線を曲線Ｂのように補正する必要がある
が、従来は検量線Ａを作成するときに用いた既知
濃度X1，X2，X3，X4の４つの全ての試料を再び
測定して吸光度y1′，y2′，y3′，y4′を求め、これら
吸光度を結ぶことにより検量線Ｂを作成してい
た。しかし、このように予じめ測定した既知濃度
の全ての試料を再度測定することは極めて面倒で
あると共に、複数の試料を測定するためにミスが
生じ易く、このため測定結果に悪影響を及ぼす不
具合がある。
本発明の目的は上述した不具合を解決し、曲線
状の検量線を簡単にしかも精度良く補正できる検
量線補正方法を提供しようとするものである。
状の検量線を簡単にしかも精度良く補正できる検
量線補正方法を提供しようとするものである。
本発明は濃度既知の３つ以上の試料の吸光度を
測定して得た吸光度と濃度との関係を表わす曲線
状の検量線を補正するにあたり、１つの既知濃度
Xoの試料の吸光度yo′を測定して、この測定した
吸光度yo′および当該既知濃度Xoに対して前記検
量線から得られる吸光度yoの差と当該既知濃度
Xoとの比β＝（yo−Yo′）／Xoを求め、この比β
を前記検量線における任意の複数の濃度に乗算
し、これら乗算した値を当該格濃度に対して前記
検量線から得られる吸光度から減算して当該検量
線を補正することを特徴とするものである。
測定して得た吸光度と濃度との関係を表わす曲線
状の検量線を補正するにあたり、１つの既知濃度
Xoの試料の吸光度yo′を測定して、この測定した
吸光度yo′および当該既知濃度Xoに対して前記検
量線から得られる吸光度yoの差と当該既知濃度
Xoとの比β＝（yo−Yo′）／Xoを求め、この比β
を前記検量線における任意の複数の濃度に乗算
し、これら乗算した値を当該格濃度に対して前記
検量線から得られる吸光度から減算して当該検量
線を補正することを特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第２図は本発明の一実施例を説明するための吸
光度と濃度との関係を示す線図である。本例では
予じめ作成した検量線Ａを補正するために、先ず
既知濃度Xoの試料を測定して吸光度yo′を求め
る。次に吸光度yo′および検量線Ａから求められ
る濃度Xoの試料に対する吸光度yoの差（yo−
yo′）と濃度Xoとの比β＝（yo−yo′）／Xoを求
め、このβを任意の複数の濃度X1，…，Xo-1に
乗算し、これら乗算した値を各濃度に対して検量
線Ａから得られる吸光度y1，…，yo-1から減算す
ることにより、各濃度に対する適正された吸光度
y1′，…，y′o-1を求める。この後、これら吸光度
y1′，…，y′o-1，yo′をそれぞれ結んで補正された
検量線Ｂを作成する。
光度と濃度との関係を示す線図である。本例では
予じめ作成した検量線Ａを補正するために、先ず
既知濃度Xoの試料を測定して吸光度yo′を求め
る。次に吸光度yo′および検量線Ａから求められ
る濃度Xoの試料に対する吸光度yoの差（yo−
yo′）と濃度Xoとの比β＝（yo−yo′）／Xoを求
め、このβを任意の複数の濃度X1，…，Xo-1に
乗算し、これら乗算した値を各濃度に対して検量
線Ａから得られる吸光度y1，…，yo-1から減算す
ることにより、各濃度に対する適正された吸光度
y1′，…，y′o-1を求める。この後、これら吸光度
y1′，…，y′o-1，yo′をそれぞれ結んで補正された
検量線Ｂを作成する。
なお、第２図において、検量線Ｂを作成するた
めの隣接する濃度間Ｇを更に細分化し、細分化し
た各濃度とβとの積から補正された吸光度を求め
ることにより、より高精度の検量線Ｂを作成する
ことができる。この場合の隣接する濃度間Ｇの細
分化は、例えばＧをg1，g2，…，gp-1，gpのよう
に細分化したときは、g1＝g2＝…＝gp-1＝gpのよ
うに等分とすることもできるし、g1＞g2＞…＞
gp-1＞gpやg1＜g2＜…＜gp-1＞gpのように不等分
とすることもできる。
めの隣接する濃度間Ｇを更に細分化し、細分化し
た各濃度とβとの積から補正された吸光度を求め
ることにより、より高精度の検量線Ｂを作成する
ことができる。この場合の隣接する濃度間Ｇの細
分化は、例えばＧをg1，g2，…，gp-1，gpのよう
に細分化したときは、g1＝g2＝…＝gp-1＝gpのよ
うに等分とすることもできるし、g1＞g2＞…＞
gp-1＞gpやg1＜g2＜…＜gp-1＞gpのように不等分
とすることもできる。
第３図は本発明の検量線補正方法を実施する測
光装置の一例の構成を示す線図である。この測光
装置は種々の試料をフローセル１に導いて比色測
定するもので、光源ランプ２からの光をレンズ３
および干渉フイルタ４を経てフローセル１に導
き、その透過光を受光する光電変換素子５の出力
をプリアンプ６を経てログアンプ７に供給するこ
とにより吸光度を求め、これをＡ／Ｄコンバータ
８によりデジタル値に変換してデコーダラツチ回
路９に一時格納して演算処理回路１０に供給する
ことにより、予じめ定められたプログラムに従つ
て演算処理する。この演算処理回路１０には各種
操作部（図示せず）に接続されたデコーダラツチ
１１からインターフエイスアドレスデコーダ１２
を介して、またデコーダラツチ１３から入力スイ
ツチ群１４を介して各種入力情報が入力される。
この各種入力情報とは、測定者が検量線Ａを得た
後、少く共１つの濃度既知の試料を測定して求め
た吸光度を用いて検量線Ｂを得るための各種設定
を予じめ指定した方法に基いて任意に選択できる
ものであり、例えばデコーダラツチ１１には、 演算指定β；実施例の補正方法により検量線
Ｂを得るための指定。
光装置の一例の構成を示す線図である。この測光
装置は種々の試料をフローセル１に導いて比色測
定するもので、光源ランプ２からの光をレンズ３
および干渉フイルタ４を経てフローセル１に導
き、その透過光を受光する光電変換素子５の出力
をプリアンプ６を経てログアンプ７に供給するこ
とにより吸光度を求め、これをＡ／Ｄコンバータ
８によりデジタル値に変換してデコーダラツチ回
路９に一時格納して演算処理回路１０に供給する
ことにより、予じめ定められたプログラムに従つ
て演算処理する。この演算処理回路１０には各種
操作部（図示せず）に接続されたデコーダラツチ
１１からインターフエイスアドレスデコーダ１２
を介して、またデコーダラツチ１３から入力スイ
ツチ群１４を介して各種入力情報が入力される。
この各種入力情報とは、測定者が検量線Ａを得た
後、少く共１つの濃度既知の試料を測定して求め
た吸光度を用いて検量線Ｂを得るための各種設定
を予じめ指定した方法に基いて任意に選択できる
ものであり、例えばデコーダラツチ１１には、 演算指定β；実施例の補正方法により検量線
Ｂを得るための指定。
演算間隔の指定；例えば上述した隣接する濃
度間Ｇの細分化g1＞g2＞…＞gp-1＞gp，g1＝g2
＝…＝gp-1＝gpまたはg1＜g2＜…gp-1＜gpの指
定。
度間Ｇの細分化g1＞g2＞…＞gp-1＞gp，g1＝g2
＝…＝gp-1＝gpまたはg1＜g2＜…gp-1＜gpの指
定。
等の各種情報を選択的に入力し得るようにし、ま
たデコーダラツチ１３には モード指定（マニアル）；上述の入力情報の
うちで、係数βを自動的に読込ませるのではな
く、個々の濃度に対してマニアル入力するとき
に用いる。又、係数βに対して適宜に別の係数
マニアルで加えて、これを補正係数として自動
的に処理させる等が考えられる。
たデコーダラツチ１３には モード指定（マニアル）；上述の入力情報の
うちで、係数βを自動的に読込ませるのではな
く、個々の濃度に対してマニアル入力するとき
に用いる。又、係数βに対して適宜に別の係数
マニアルで加えて、これを補正係数として自動
的に処理させる等が考えられる。
モード指定（オート）；係数βをメモリして
順次自動的に処理をする。
順次自動的に処理をする。
比の設定；上記モード指定に関連して、係
数βを固定的に設定入力したり、係数〔β±
ε〕（εは補正値の追加〕等の可変の係数を設
定入力する。
数βを固定的に設定入力したり、係数〔β±
ε〕（εは補正値の追加〕等の可変の係数を設
定入力する。
等の各種情報を選択的に入力し得るようにする。
また、演算処理回路１０にはドライブ回路１５
を介して表示回路１６を接続すると共に、プリン
タドライブ回路１７を介してプリンタ１８を接続
して各種情報を出力表示する。
を介して表示回路１６を接続すると共に、プリン
タドライブ回路１７を介してプリンタ１８を接続
して各種情報を出力表示する。
以上実施例で説明した本発明の検量線補正方法
によれば、１つの吸光度を求めることにより検量
線を精度良く補正することができるから、測定者
の作業効率を向上することができると共に、多数
測定により混入するミスを防止でき、測定精度を
向上することができる。また、試薬等の変質等に
より検量線を補正するに際して、上述の様に種々
の情報を入力することにより、広範囲な対応がで
きる。更に、試薬変動を数値化して設定すること
もできるから、求める検量線Ｂの上限、下限又は
適宜な範囲の検量線を仮想的に得ることができ、
試薬変化に対して検量線の推測が可能となる。
によれば、１つの吸光度を求めることにより検量
線を精度良く補正することができるから、測定者
の作業効率を向上することができると共に、多数
測定により混入するミスを防止でき、測定精度を
向上することができる。また、試薬等の変質等に
より検量線を補正するに際して、上述の様に種々
の情報を入力することにより、広範囲な対応がで
きる。更に、試薬変動を数値化して設定すること
もできるから、求める検量線Ｂの上限、下限又は
適宜な範囲の検量線を仮想的に得ることができ、
試薬変化に対して検量線の推測が可能となる。
第１図は従来の検量線補正方法を説明するため
の線図、第２図は本発明の一実施例を説明するた
めの吸光度と濃度との関係を示す線図、第３図は
本発明の検量線補正方法を実施する測光装置の一
例の構成を示す線図である。 １……フローセル、２……光源ランプ、３……
レンズ、４……干渉フイルタ、５……光電変換素
子、６……プリアンプ、７……ログアンプ、８…
…Ａ／Ｄコンバータ、９……デコーダラツチ回
路、１０……演算処理回路、１１，１３……デコ
ーダラツチ、１２……インターフエイスアドレス
デコーダ、１４……入力スイツチ群、１５……ド
ライブ回路、１６……表示回路、１７……プリン
タドライブ回路、１８……プリンタ。
の線図、第２図は本発明の一実施例を説明するた
めの吸光度と濃度との関係を示す線図、第３図は
本発明の検量線補正方法を実施する測光装置の一
例の構成を示す線図である。 １……フローセル、２……光源ランプ、３……
レンズ、４……干渉フイルタ、５……光電変換素
子、６……プリアンプ、７……ログアンプ、８…
…Ａ／Ｄコンバータ、９……デコーダラツチ回
路、１０……演算処理回路、１１，１３……デコ
ーダラツチ、１２……インターフエイスアドレス
デコーダ、１４……入力スイツチ群、１５……ド
ライブ回路、１６……表示回路、１７……プリン
タドライブ回路、１８……プリンタ。
Claims (1)
- １ 濃度既知の３つ以上の試料の吸光度を測定し
て得た吸光度と濃度との関係を表わす曲線状の検
量線を補正するにあたり、１つの既知濃度Xoの
試料の吸光度yo′を測定して、この測定した吸光
度yo′および当該既知濃度Xoに対して前記検量線
から得られる吸光度yoの差と当該既知濃度Xoと
の比β＝（yo−yo′）／Xoを求め、この比βを前
記検量線における任意の複数の濃度に乗算し、こ
れら乗算した値を当該各濃度に対して前記検量線
から得られる吸光度から減算して当該検量線を補
正することを特徴とする検量線補正方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208047A JPS58109837A (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 検量線補正方法 |
| US06/451,419 US4587624A (en) | 1981-12-24 | 1982-12-20 | Method and apparatus for correcting a curve relating an absorbance to a concentration |
| DE19823247807 DE3247807A1 (de) | 1981-12-24 | 1982-12-23 | Verfahren zum aufnehmen einer extinktion/konzentrations-kurve und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208047A JPS58109837A (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 検量線補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58109837A JPS58109837A (ja) | 1983-06-30 |
| JPH0250416B2 true JPH0250416B2 (ja) | 1990-11-02 |
Family
ID=16549758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56208047A Granted JPS58109837A (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 検量線補正方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4587624A (ja) |
| JP (1) | JPS58109837A (ja) |
| DE (1) | DE3247807A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60154161A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定に使用する検量線の作成方法 |
| US4627014A (en) * | 1984-04-09 | 1986-12-02 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for determination of an analyte and method of calibrating such apparatus |
| JPH0680417B2 (ja) * | 1985-06-26 | 1994-10-12 | 株式会社島津製作所 | 検量線を使用する成分分析方法 |
| JPH0629852B2 (ja) * | 1985-08-26 | 1994-04-20 | 富士写真フイルム株式会社 | 偏倚乾式分析要素を用いた液体試料中の被検物質の定量分析方法 |
| JP2795403B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1998-09-10 | 株式会社 シノテスト | 免疫的測定方法及び装置 |
| JPH0692969B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1994-11-16 | 株式会社シノテスト | 免疫的測定方法 |
| JPS6382360A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Agency Of Ind Science & Technol | 陶石の化学組成による耐火度測定法 |
| US5014216A (en) * | 1988-07-19 | 1991-05-07 | Beckman Instruments, Inc. | Concentration determination with multiple wavelength flash photometers |
| JPH0823559B2 (ja) * | 1990-03-13 | 1996-03-06 | 三共株式会社 | 酵素免疫測定装置における検量線の設定方法 |
| US5459677A (en) * | 1990-10-09 | 1995-10-17 | Board Of Regents Of The University Of Washington | Calibration transfer for analytical instruments |
| US5559728A (en) * | 1990-10-09 | 1996-09-24 | University Of Washington | Calibration transfer for second order analytical instruments |
| US5214593A (en) * | 1990-11-07 | 1993-05-25 | Rainin Instrument Co., Inc. | Method and apparatus for extending the linear dynamic range of absorbance detectors including multi-lightpath flow cells |
| US5257212A (en) * | 1991-03-21 | 1993-10-26 | Eastman Kodak Company | Normalizing analyzer systems to a standard analyzer |
| DE4310204A1 (de) * | 1993-03-29 | 1994-10-06 | Siemens Ag | Verfahren zum Justieren eines Meßgerätes, insbesondere eines IR-Absorptions-Photometers |
| US5710713A (en) * | 1995-03-20 | 1998-01-20 | The Dow Chemical Company | Method of creating standardized spectral libraries for enhanced library searching |
| US5525521A (en) * | 1995-06-15 | 1996-06-11 | Borrego Analytical, Inc. | Cystic fibrosis tester |
| DE19832837A1 (de) * | 1998-07-21 | 2000-01-27 | Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt | Verfahren zur Bereitstellung der Absorptionskoeffizienten zur Ermittlung von Gasphasenspektren |
| JP2005069969A (ja) * | 2003-08-27 | 2005-03-17 | Amano:Kk | 消毒液の濃度測定方法とその装置 |
| CN102331412B (zh) * | 2011-10-08 | 2013-12-11 | 左峰 | 多功能分析仪装置 |
| JP6082329B2 (ja) * | 2013-08-07 | 2017-02-15 | 倉敷紡績株式会社 | 濃度測定装置及び濃度測定方法 |
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| JPS58109837A (ja) | 1983-06-30 |
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