JP3212107B2 - 分光測定法 - Google Patents
分光測定法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、複数のセルを使用する
分光計測に関する。
分光計測に関する。
【０００２】
【従来の技術】分光測定装置を使用してセル中のサンプ
ルを測定した時、i番目の波長での吸光度をＡiとする
と、ベール・ランベルトの法則により、 Ａi＝ai・b・c （１） となる。ここで、aiはi番目の波長の吸光係数、bはセル
長、cはサンプル濃度である。したがって、Ａi，ａi、
ｂが知られれば、サンプル濃度ｃが得られる。
ルを測定した時、i番目の波長での吸光度をＡiとする
と、ベール・ランベルトの法則により、 Ａi＝ai・b・c （１） となる。ここで、aiはi番目の波長の吸光係数、bはセル
長、cはサンプル濃度である。したがって、Ａi，ａi、
ｂが知られれば、サンプル濃度ｃが得られる。
【０００３】分光計測によって得られるデータ(吸光度)
には、各種の誤差が含まれている。したがって、各種誤
差による測定値の変動を除去しなければならない。この
誤差の原因には、サンプル温度、サンプル散乱、測定機
器温度などの変動がある。
には、各種の誤差が含まれている。したがって、各種誤
差による測定値の変動を除去しなければならない。この
誤差の原因には、サンプル温度、サンプル散乱、測定機
器温度などの変動がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】分光測定においては、
セルを交換して測定できると便利である。しかし、セル
のセル長ｂは、同じロット内でも異なり、ロットが異な
れば、大きく変化する。そこで、従来の方法では、１本
のセルを使用して検量線を作成し、未知試料の定量の際
も同じセルを使用する必要がある。そのため、試料を測
定するごとにセルを洗浄する必要があり、試料によって
は非常に手間がかかった。さらに、セルを破損した場合
は、新しいセルで検量線を作成し直す必要があった。
セルを交換して測定できると便利である。しかし、セル
のセル長ｂは、同じロット内でも異なり、ロットが異な
れば、大きく変化する。そこで、従来の方法では、１本
のセルを使用して検量線を作成し、未知試料の定量の際
も同じセルを使用する必要がある。そのため、試料を測
定するごとにセルを洗浄する必要があり、試料によって
は非常に手間がかかった。さらに、セルを破損した場合
は、新しいセルで検量線を作成し直す必要があった。
【０００５】セルを交換する場合でも、ベール・ランベ
ルトの式における吸光係数aiはサンプルに固有の値であ
るので、セルが交換されても同じサンプル濃度ｃが得ら
れるように測定値を補正すればよい。基準セルと測定セ
ルの複数のセルを用いて測定する場合、bとＡiを基準セ
ルのセル長とi番目の波長の吸光度とし、b'とＡi'を測
定セルのセル長とi番目の波長の吸光度とすると、
ルトの式における吸光係数aiはサンプルに固有の値であ
るので、セルが交換されても同じサンプル濃度ｃが得ら
れるように測定値を補正すればよい。基準セルと測定セ
ルの複数のセルを用いて測定する場合、bとＡiを基準セ
ルのセル長とi番目の波長の吸光度とし、b'とＡi'を測
定セルのセル長とi番目の波長の吸光度とすると、
【数１】 の関係がある。また、全ての波長で同じ関係が得られ
る。
る。
【０００６】分光計測によって得られるデータ(吸光度)
には、各種の誤差が含まれているので、複数のセルを用
いて測定する場合、セル長の違いによる吸光度の差違が
比較的小さい場合には、セル長の違いによる誤差が、各
種の出力変動要因により生じた誤差による吸光度の変動
に埋もれてしまうという問題がある。また、その誤差変
動の影響で、すべての波長で同じ結果が得られなくなっ
てしまう。
には、各種の誤差が含まれているので、複数のセルを用
いて測定する場合、セル長の違いによる吸光度の差違が
比較的小さい場合には、セル長の違いによる誤差が、各
種の出力変動要因により生じた誤差による吸光度の変動
に埋もれてしまうという問題がある。また、その誤差変
動の影響で、すべての波長で同じ結果が得られなくなっ
てしまう。
【０００７】特開昭６４ー５３１３３号に開示された分
光光度計においては、セルの光路長の補正のため、使用
するセルと基準セルの光路長の比をあらかじめ求めてお
き補正を行う。しかし、この方法では、上に述べたよう
に、セル長の違いによる誤差が、他の各種の変動による
吸光度の変動に埋もれてしまうなどの問題がある。
光光度計においては、セルの光路長の補正のため、使用
するセルと基準セルの光路長の比をあらかじめ求めてお
き補正を行う。しかし、この方法では、上に述べたよう
に、セル長の違いによる誤差が、他の各種の変動による
吸光度の変動に埋もれてしまうなどの問題がある。
【０００８】本発明は、分光計測における定量分析にお
いて、セル長補正を行うことにより、セル長の異なる複
数のセルの使用を可能にすることを目的とする。
いて、セル長補正を行うことにより、セル長の異なる複
数のセルの使用を可能にすることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】所定の複数の波長で分光
測光する装置において、図２に示すように、（ａ）各種
出力変動原因のそれぞれについて、出力変動を各波長ご
とに測定する（ステップＳ１）。次に、（ｂ）各出力変
動データをそれぞれ測定波長数の次元の空間におけるベ
クトルと考え、これらのすべてのベクトルに直交する部
分空間を求める（ステップＳ２）。次に、（ｃ）測定対
象の物理量または化学量が異なる複数の試料を準備し、
基準とするセル(以下基準セルという)と測定に使用する
セル(以下測定セルという)に注入し、それぞれ各波長で
の測定を行い、上記の部分空間に射影されたデータに変
換する（ステップＳ３）。次に、（ｄ）各の射影された
データについて、基準セルを用いた測定値と測定セルを
用いた測定値との相関を表わす補正式を求める（ステッ
プＳ４）。そして、この測定セルを使用して、図３に示
すように、（ｅ）サンプルの各波長での測定を行い、吸
光度を求める（ステップＳ１１）。次に、（ｆ）吸光度
データを上記の部分空間に射影したデータに変換する
（ステップＳ１２）。次に、（ｇ）射影されたデータに
ついて上記の補正式を用いて、基準セルを用いて測定し
た場合の推定値を計算する（ステップＳ１３）。（ｈ）
これ以後、この計算値を使用して検量線式の計算および
未知サンプルの定量を行うことで（ステップＳ１４）、
セル長の異なる複数のセルの利用が可能となる。
測光する装置において、図２に示すように、（ａ）各種
出力変動原因のそれぞれについて、出力変動を各波長ご
とに測定する（ステップＳ１）。次に、（ｂ）各出力変
動データをそれぞれ測定波長数の次元の空間におけるベ
クトルと考え、これらのすべてのベクトルに直交する部
分空間を求める（ステップＳ２）。次に、（ｃ）測定対
象の物理量または化学量が異なる複数の試料を準備し、
基準とするセル(以下基準セルという)と測定に使用する
セル(以下測定セルという)に注入し、それぞれ各波長で
の測定を行い、上記の部分空間に射影されたデータに変
換する（ステップＳ３）。次に、（ｄ）各の射影された
データについて、基準セルを用いた測定値と測定セルを
用いた測定値との相関を表わす補正式を求める（ステッ
プＳ４）。そして、この測定セルを使用して、図３に示
すように、（ｅ）サンプルの各波長での測定を行い、吸
光度を求める（ステップＳ１１）。次に、（ｆ）吸光度
データを上記の部分空間に射影したデータに変換する
（ステップＳ１２）。次に、（ｇ）射影されたデータに
ついて上記の補正式を用いて、基準セルを用いて測定し
た場合の推定値を計算する（ステップＳ１３）。（ｈ）
これ以後、この計算値を使用して検量線式の計算および
未知サンプルの定量を行うことで（ステップＳ１４）、
セル長の異なる複数のセルの利用が可能となる。
【００１０】
【作用】所定の複数の波長で分光測定する装置を用いた
分光分析において、あらかじめ各種誤差変動要因のそれ
ぞれについての吸光度の出力変化を各波長ごとに測定
し、この出力変化をそれぞれ測定波長数の次元の空間に
おけるベクトルと考えて、これらのすべてのベクトルに
直交する部分空間を求めておく。そして基準となるセル
と測定に使用するセルについて、複数の測定対象試料の
測定を行い上記の部分空間に射影する。この射影された
データを使用して複数の基準セルと測定セルの相関を表
す補正式を求める。測定セルを用いた測定において、測
定値を補正式を用いて補正する。こうして、分光測定に
おける定量分析においては、あらかじめ各種の誤差変動
を除去した後に、測定データに対してセル長の補正を行
うことにより、基準セルとセル長の異なる他のセルの使
用を可能にする。
分光分析において、あらかじめ各種誤差変動要因のそれ
ぞれについての吸光度の出力変化を各波長ごとに測定
し、この出力変化をそれぞれ測定波長数の次元の空間に
おけるベクトルと考えて、これらのすべてのベクトルに
直交する部分空間を求めておく。そして基準となるセル
と測定に使用するセルについて、複数の測定対象試料の
測定を行い上記の部分空間に射影する。この射影された
データを使用して複数の基準セルと測定セルの相関を表
す補正式を求める。測定セルを用いた測定において、測
定値を補正式を用いて補正する。こうして、分光測定に
おける定量分析においては、あらかじめ各種の誤差変動
を除去した後に、測定データに対してセル長の補正を行
うことにより、基準セルとセル長の異なる他のセルの使
用を可能にする。
【００１１】
【実施例】以下、添付の図面を用いて、本発明の実施例
を説明する。図１に、本発明の実施に使用した透過型分
光測定装置の構成を示す。この装置において、光源１よ
り出た光は、レンズ２により干渉フィルター３に集光さ
れ分光される。ディスク４には６枚の異なった波長用の
干渉フィルター３が取りつけられ、毎秒１５回の速さで
回転する。干渉フィルター３を透過した光は、レンズ５
によりセル６に集光される。サンプル７は、セル６に注
入されている。サンプル７を透過した光はレンズ８によ
りセンサ９に集光される。センサ９は、光信号を電気信
号に変換する。データ処理部１１は、センサ９からの電
気信号を６波長の信号に分離し、ＡＤ変換によりデジタ
ル値に変換する。そして以下に説明するデータ処理を行
った後、その結果をレコーダ１２などに出力する。
を説明する。図１に、本発明の実施に使用した透過型分
光測定装置の構成を示す。この装置において、光源１よ
り出た光は、レンズ２により干渉フィルター３に集光さ
れ分光される。ディスク４には６枚の異なった波長用の
干渉フィルター３が取りつけられ、毎秒１５回の速さで
回転する。干渉フィルター３を透過した光は、レンズ５
によりセル６に集光される。サンプル７は、セル６に注
入されている。サンプル７を透過した光はレンズ８によ
りセンサ９に集光される。センサ９は、光信号を電気信
号に変換する。データ処理部１１は、センサ９からの電
気信号を６波長の信号に分離し、ＡＤ変換によりデジタ
ル値に変換する。そして以下に説明するデータ処理を行
った後、その結果をレコーダ１２などに出力する。
【００１２】分光測定においては、次の式により基準
(ブランク)データを用いて６波長の吸光度Ａi(i＝１〜
６)を求める。 Ａi＝−log(Ii／I0i) （２） ここで、IiとI0iは、i番目の波長でのサンプル透過光強
度と基準(ブランク)透過光強度である。
(ブランク)データを用いて６波長の吸光度Ａi(i＝１〜
６)を求める。 Ａi＝−log(Ii／I0i) （２） ここで、IiとI0iは、i番目の波長でのサンプル透過光強
度と基準(ブランク)透過光強度である。
【００１３】次に、各種誤差変動を避けるため、６波長
の出力値(吸光度)Ａiを、下記に示す方法で、誤差変動
の影響を受けないデータに変換する。(以下これを射影
変換と呼ぶことにする。)まず、サンプルの温度変動に
対する６波長の出力変化ΔＡ1,ΔＡ2,…,ΔＡ6を測定波
長数次元のベクトルＴとする。 Ｔ＝(ΔＡ1，ΔＡ2，…，ΔＡ6) （３） 同様に、サンプルの散乱の影響による変動と機器変動に
対する出力変化を、それぞれ、測定波長数次元のベクト
ルＳ，Ｍとする。そして、測定波長数次元の空間で３ベ
クトルＴ，ＳおよびＭに直交する部分空間を求める。す
なわち、 Ｐ・Ｓ＝０ Ｐ・Ｔ＝０ （４） Ｐ・Ｍ＝０ を満足するベクトルＰを求める。独立な解は３つ存在
し、それらをＰ1,Ｐ2,Ｐ3とする。次に、測定される６
波長の出力値(吸光度)Ａ1,Ａ2,…,Ａ6を上と同様に測定
波長数次元のベクトルＡとし、次の演算によりこの部分
空間に射影して、誤差変動の影響を受けないデータ
Ｘ'1,Ｘ'2,Ｘ'3に変換する。
の出力値(吸光度)Ａiを、下記に示す方法で、誤差変動
の影響を受けないデータに変換する。(以下これを射影
変換と呼ぶことにする。)まず、サンプルの温度変動に
対する６波長の出力変化ΔＡ1,ΔＡ2,…,ΔＡ6を測定波
長数次元のベクトルＴとする。 Ｔ＝(ΔＡ1，ΔＡ2，…，ΔＡ6) （３） 同様に、サンプルの散乱の影響による変動と機器変動に
対する出力変化を、それぞれ、測定波長数次元のベクト
ルＳ，Ｍとする。そして、測定波長数次元の空間で３ベ
クトルＴ，ＳおよびＭに直交する部分空間を求める。す
なわち、 Ｐ・Ｓ＝０ Ｐ・Ｔ＝０ （４） Ｐ・Ｍ＝０ を満足するベクトルＰを求める。独立な解は３つ存在
し、それらをＰ1,Ｐ2,Ｐ3とする。次に、測定される６
波長の出力値(吸光度)Ａ1,Ａ2,…,Ａ6を上と同様に測定
波長数次元のベクトルＡとし、次の演算によりこの部分
空間に射影して、誤差変動の影響を受けないデータ
Ｘ'1,Ｘ'2,Ｘ'3に変換する。
【００１４】以上の各種誤差変動を避けるためのデータ
処理は、本出願人による特願平２−４０４２号の分光測
定法において開示されていて、分光計測データ中から各
種誤差変動を効率よく除去できる手法である。この分光
測定法では、分光計測したデータ中に含まれる各種誤差
変動についてそれぞれあらかじめ各波長毎に単位当たり
の出力変動データを求めておき、次に、この各種出力変
動データを測定波長数の次元の空間でのベクトルとみな
し、これらの全ベクトルに直交するベクトルを求める。
このベクトルからなる部分空間は上記の各種誤差変動の
影響を全くうけない空間である。そして、部分空間の次
元数以上の数の既知サンプルの各波長での測光データを
ベクトルとみなし、この部分空間に射影する。すなわ
ち、測定波長数の次元の空間で座標変換を行い、各種変
動誤差の影響をうけないデータに変換する。
処理は、本出願人による特願平２−４０４２号の分光測
定法において開示されていて、分光計測データ中から各
種誤差変動を効率よく除去できる手法である。この分光
測定法では、分光計測したデータ中に含まれる各種誤差
変動についてそれぞれあらかじめ各波長毎に単位当たり
の出力変動データを求めておき、次に、この各種出力変
動データを測定波長数の次元の空間でのベクトルとみな
し、これらの全ベクトルに直交するベクトルを求める。
このベクトルからなる部分空間は上記の各種誤差変動の
影響を全くうけない空間である。そして、部分空間の次
元数以上の数の既知サンプルの各波長での測光データを
ベクトルとみなし、この部分空間に射影する。すなわ
ち、測定波長数の次元の空間で座標変換を行い、各種変
動誤差の影響をうけないデータに変換する。
【００１５】次に、上述の部分空間に射影された測定値
に対し、セル長の補正を行う。まず、基準とするセル
(以下基準セルという)と測定に使用とするセル(以下測
定セルという)を用意し、異なった複数の既知サンプル
について、上記の方法により６波長の出力値(吸光度)を
求め、そのデータを射影変換して、各種（たとえば３
種）の誤差変動の影響を除く。基準セルを使用した結果
をＸ1,Ｘ2,Ｘ3、測定セルを使用した結果をＸ'1,Ｘ'2,
Ｘ'3とし、両者の関係を求める。両者の関係式には、例
えば次式を使用する。 Ｘi＝ＶiＸ'i＋Ｗi (i＝１,２,３) （５） ここで、係数ＶおよびＷをセル長補正係数と呼ぶ。な
お、セルによる吸収がない波長を用いるので、セル６の
材質は補正には無関係である。
に対し、セル長の補正を行う。まず、基準とするセル
(以下基準セルという)と測定に使用とするセル(以下測
定セルという)を用意し、異なった複数の既知サンプル
について、上記の方法により６波長の出力値(吸光度)を
求め、そのデータを射影変換して、各種（たとえば３
種）の誤差変動の影響を除く。基準セルを使用した結果
をＸ1,Ｘ2,Ｘ3、測定セルを使用した結果をＸ'1,Ｘ'2,
Ｘ'3とし、両者の関係を求める。両者の関係式には、例
えば次式を使用する。 Ｘi＝ＶiＸ'i＋Ｗi (i＝１,２,３) （５） ここで、係数ＶおよびＷをセル長補正係数と呼ぶ。な
お、セルによる吸収がない波長を用いるので、セル６の
材質は補正には無関係である。
【００１６】そして、このＸ1,Ｘ2,Ｘ3を基に、測定対
象の物理量または化学量、たとえば、サンプル濃度cに
対する検量線式の係数Ｕiを求める。検量線式は、例え
ば次式を使用する。 c＝Ｕ1Ｘ1＋Ｕ2Ｘ2＋Ｕ3Ｘ3＋Ｕ0 （６）
象の物理量または化学量、たとえば、サンプル濃度cに
対する検量線式の係数Ｕiを求める。検量線式は、例え
ば次式を使用する。 c＝Ｕ1Ｘ1＋Ｕ2Ｘ2＋Ｕ3Ｘ3＋Ｕ0 （６）
【００１７】次に、未知サンプルを定量する。図１の測
定装置を使用して６波長における出力値(吸光度)Ａi(i
＝１〜６)を求め、そのデータを射影変換を用いてＸ'i
に変換し、セル長補正係数Ｖi，Ｗiにより補正して、セ
ル長の影響を受けない値Ｘiを求める。そして、検量線
式（６）により、その濃度cを計算する。
定装置を使用して６波長における出力値(吸光度)Ａi(i
＝１〜６)を求め、そのデータを射影変換を用いてＸ'i
に変換し、セル長補正係数Ｖi，Ｗiにより補正して、セ
ル長の影響を受けない値Ｘiを求める。そして、検量線
式（６）により、その濃度cを計算する。
【００１８】以下に食用油のヨウ素価定量に適用した例
を示す。測定波長には、１０００nm付近の６波長（１０
２０，１１８０，１２１０，１３００，１３３０，１４
８０ｎｍ）を使用した。まず、代表的な食用油につい
て、温度を２０℃から７０℃まで変化させた時の吸光度
の変化を求め、温度による誤差変動ベクトルを求めた。 Ｔ＝(０.００３８，０.００２７，０.００１９，０.０３１，０.００１９， ０.００８４) （７） また、機器変動は波長依存性がないものとし、誤差変動
ベクトルを Ｍ＝(１，１，１，１，１，１) （８） とした。なお、サンプルの散乱による変動は考慮しなか
った。
を示す。測定波長には、１０００nm付近の６波長（１０
２０，１１８０，１２１０，１３００，１３３０，１４
８０ｎｍ）を使用した。まず、代表的な食用油につい
て、温度を２０℃から７０℃まで変化させた時の吸光度
の変化を求め、温度による誤差変動ベクトルを求めた。 Ｔ＝(０.００３８，０.００２７，０.００１９，０.０３１，０.００１９， ０.００８４) （７） また、機器変動は波長依存性がないものとし、誤差変動
ベクトルを Ｍ＝(１，１，１，１，１，１) （８） とした。なお、サンプルの散乱による変動は考慮しなか
った。
【００１９】この２つのベクトルＴ,Ｍに直交する４個
のベクトルＰj（ｊ＝１，２，３，４）を求めた。射影
する部分空間は、これらの４つのベクトルで表される。 Ｐ1＝(−０.７６, ０.６２, ０， ０, ０, ０.１４) Ｐ2＝(−０.１７,−０.４１,−０.２７, ０, ０, ０.８５) Ｐ3＝(−０.１７,−０.２４, ０.８１,−０.５, ０, ０.１１) Ｐ4＝(−０.３２,−０.３３,−０.０６, ０.１２, ０.８４,−０.２４) （９） ６波長の測定データＡi(i＝１〜６)を吸光度ベクトル Ａ＝(Ａ1，Ａ2，Ａ3，Ａ4，Ａ5，Ａ6) （１０） とすると、部分空間に射影されたデータＸj(j＝１〜４)
は、 Ｘj＝Ｐj・Ａ (j＝１〜４) （１１） となる。
のベクトルＰj（ｊ＝１，２，３，４）を求めた。射影
する部分空間は、これらの４つのベクトルで表される。 Ｐ1＝(−０.７６, ０.６２, ０， ０, ０, ０.１４) Ｐ2＝(−０.１７,−０.４１,−０.２７, ０, ０, ０.８５) Ｐ3＝(−０.１７,−０.２４, ０.８１,−０.５, ０, ０.１１) Ｐ4＝(−０.３２,−０.３３,−０.０６, ０.１２, ０.８４,−０.２４) （９） ６波長の測定データＡi(i＝１〜６)を吸光度ベクトル Ａ＝(Ａ1，Ａ2，Ａ3，Ａ4，Ａ5，Ａ6) （１０） とすると、部分空間に射影されたデータＸj(j＝１〜４)
は、 Ｘj＝Ｐj・Ａ (j＝１〜４) （１１） となる。
【００２０】ヨウ素価が６０〜１８０の食用油を６０サ
ンプルを使用して、吸光度を測定し、検量線式を求め
た。ただし、セル長補正の効果を示すため、基準セルの
みを使用して測定を行った。使用した検量線式のモデル
を次に示す。 ｃ＝Ｕ1Ｘ1＋Ｕ2Ｘ2＋Ｕ3Ｘ3＋Ｕ4Ｘ4＋Ｕ0 （１２） ここで、cはヨウ素価、Ｕi(i＝１〜４)は係数である。
なお、検量線の作成に使用した食用油のヨウ素価は、油
脂検査協会規定の分析方法により求めた。
ンプルを使用して、吸光度を測定し、検量線式を求め
た。ただし、セル長補正の効果を示すため、基準セルの
みを使用して測定を行った。使用した検量線式のモデル
を次に示す。 ｃ＝Ｕ1Ｘ1＋Ｕ2Ｘ2＋Ｕ3Ｘ3＋Ｕ4Ｘ4＋Ｕ0 （１２） ここで、cはヨウ素価、Ｕi(i＝１〜４)は係数である。
なお、検量線の作成に使用した食用油のヨウ素価は、油
脂検査協会規定の分析方法により求めた。
【００２１】セル長補正係数Ｖi，Ｗiは、以下の方法で
求めた。ヨウ素価が６０と１５０の２つの食用油ＡとＢ
を準備し、標準セルと測定セルに注入して吸光度を測定
し、上記部分空間に射影したデータを求めた。基準セル
と測定セルの関係を表すモデルを Ｘi＝ＶiＸ'i＋Ｗi (i＝１〜４) （１３） とし、次式によりＶi,Ｗiを得た。ただし、ＸAi,ＸBiは
それぞれ食用油ＡとＢを基準セルで測定した結果、Ｘ'
Ai，Ｘ'Biはそれぞれ食用油ＡとＢを測定セルで測定し
た結果である。 Ｖi＝(ＸAi−ＸBi)／(Ｘ'Ai−Ｘ'Bi) （１４） Ｗi＝ＸAi−ＶiＸ'Ai （１５）
求めた。ヨウ素価が６０と１５０の２つの食用油ＡとＢ
を準備し、標準セルと測定セルに注入して吸光度を測定
し、上記部分空間に射影したデータを求めた。基準セル
と測定セルの関係を表すモデルを Ｘi＝ＶiＸ'i＋Ｗi (i＝１〜４) （１３） とし、次式によりＶi,Ｗiを得た。ただし、ＸAi,ＸBiは
それぞれ食用油ＡとＢを基準セルで測定した結果、Ｘ'
Ai，Ｘ'Biはそれぞれ食用油ＡとＢを測定セルで測定し
た結果である。 Ｖi＝(ＸAi−ＸBi)／(Ｘ'Ai−Ｘ'Bi) （１４） Ｗi＝ＸAi−ＶiＸ'Ai （１５）
【００２２】表１に７個の各測定セルについて得られた
セル長補正係数ＶiとＷiを示す。使用した７個のセルの
セル長の公称値は１０ｍｍである。
セル長補正係数ＶiとＷiを示す。使用した７個のセルの
セル長の公称値は１０ｍｍである。
【表１】
【００２３】表２に、測定セルにヨウ素価が未知の食用
油を注入して吸光度を測定し、部分空間に射影した後、
セル長補正を行い、上記検量線式によってヨウ素価を求
めた結果を示す。なお、表における基準値は、基準セル
を使用して測定した場合の結果である。使用したセル
は、基準セルと測定セル１，２が石英ガラスセルであ
り、測定セル３〜７がガラスセルである。
油を注入して吸光度を測定し、部分空間に射影した後、
セル長補正を行い、上記検量線式によってヨウ素価を求
めた結果を示す。なお、表における基準値は、基準セル
を使用して測定した場合の結果である。使用したセル
は、基準セルと測定セル１，２が石英ガラスセルであ
り、測定セル３〜７がガラスセルである。
【表２】
【００２４】また、表３に、比較のためセル長補正を行
わなかった場合の結果を示す。表２と表３を比較すれ
ば、本発明によるセル長補正により明らかに測定精度の
向上していることがわかる。
わなかった場合の結果を示す。表２と表３を比較すれ
ば、本発明によるセル長補正により明らかに測定精度の
向上していることがわかる。
【表３】
【００２５】
【発明の効果】基準セルの使用をセル長補正の時のみに
制限できるため、破損事故の可能性を減らすことができ
る。また、使い捨てできるセルを使用すれば、洗浄の手
間を省くことができる。
制限できるため、破損事故の可能性を減らすことができ
る。また、使い捨てできるセルを使用すれば、洗浄の手
間を省くことができる。
【図１】 透過型分光測定装置の図である。
【図２】 分光測定のセル補正の補正式の決定のフロー
チャートである。
チャートである。
【図３】 分光測定における測定データ補正のフローチ
ャートである。
ャートである。
３…干渉フィルタ、６…セル、 ９…センサ、１１
…データ処理装置。
…データ処理装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭64−35265（ＪＰ，Ａ) 特表 平６−502492（ＪＰ，Ａ) 特表 平６−502247（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01J 300 - 3/52 G01N 21/00 - 21/61 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (1)
- 【請求項１】 所定の複数の波長で分光測定する装置に
おいて、 あらかじめ各種誤差変動要因のそれぞれについての吸光
度の出力変化を各波長ごとに測定し、この出力変化をそ
れぞれ測定波長数の次元の空間におけるベクトルとみな
し、この全ベクトルに直交する部分空間を求め、 基準となるセルと測定に使用するセルについて、複数の
測定対象試料の吸光度を求め、上記の部分空間に射影
し、 この射影された吸光度データを使用して、基準セルを用
いた測定値と測定セルを用いた測定値の相関を表す吸光
度補正値を求め、測定セルを用いた測定値をこの吸光度
補正式を用いて補正することを特徴とする分光測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16808291A JP3212107B2 (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | 分光測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16808291A JP3212107B2 (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | 分光測定法 |
Publications (2)
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|---|---|
| JPH0518823A JPH0518823A (ja) | 1993-01-26 |
| JP3212107B2 true JP3212107B2 (ja) | 2001-09-25 |
Family
ID=15861515
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16808291A Expired - Fee Related JP3212107B2 (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | 分光測定法 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3212107B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO2006125470A1 (en) * | 2005-05-24 | 2006-11-30 | Agilent Technologies, Inc. | Multi-path flow cell correction |
| JP5955661B2 (ja) | 2011-07-06 | 2016-07-20 | アークレイ株式会社 | 分光測定装置、分光測定用具、分光測定方法およびプログラム |
-
1991
- 1991-07-09 JP JP16808291A patent/JP3212107B2/ja not_active Expired - Fee Related
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