JPH0680417B2 - 検量線を使用する成分分析方法 - Google Patents
検量線を使用する成分分析方法Info
- Publication number
- JPH0680417B2 JPH0680417B2 JP60139873A JP13987385A JPH0680417B2 JP H0680417 B2 JPH0680417 B2 JP H0680417B2 JP 60139873 A JP60139873 A JP 60139873A JP 13987385 A JP13987385 A JP 13987385A JP H0680417 B2 JPH0680417 B2 JP H0680417B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration curve
- photometric
- value
- calibration
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、検量線法による機器分析法及びその検量線図
に関し、特に、自動化された機器分析における検量線法
及び検量線図に関する。また、本発明は、血液、血漿、
血清、尿、その他体液及び分泌液等の検体を、自動化学
分析装置を使用して、検量線法により分析する生化学分
析方法及びその検量線図に関する。
に関し、特に、自動化された機器分析における検量線法
及び検量線図に関する。また、本発明は、血液、血漿、
血清、尿、その他体液及び分泌液等の検体を、自動化学
分析装置を使用して、検量線法により分析する生化学分
析方法及びその検量線図に関する。
（ロ）従来の技術 機器分析における例えば吸光度等の光度測定値は、目的
成分の量に比例するが、その殆んどが目的成分の量では
ないから、機器分析による目的成分の定量は、分析試料
について得られた吸光度、蛍光強度、散乱強度等の光度
測定値を、検量線又は標準物質における夫々の値と対比
して、対応する目的成分濃度を求めることによって行わ
れる。
成分の量に比例するが、その殆んどが目的成分の量では
ないから、機器分析による目的成分の定量は、分析試料
について得られた吸光度、蛍光強度、散乱強度等の光度
測定値を、検量線又は標準物質における夫々の値と対比
して、対応する目的成分濃度を求めることによって行わ
れる。
ところで、検量線を用いて目的成分の定量を行う場合、
分析試料の測定は、検量線作製のときと、試薬濃度や目
的成分濃度等が同一であると共に、同一の手順でしかも
同一の条件で定量反応及び測定が行われることを要する
が、機器による分析、特に、検体についての自動分析に
おいては、ピペッティング、温度、反応時間及び反応試
薬等の混合の条件、更に試薬の品質及び測定機器の性能
等によって影響を受けるものが多く、また、これらの分
析において使用される酵素試薬、発色試薬等の反応試薬
は、極めて不安定なものが多いので、これら試薬につい
ては、一定容量を加えたからといって、試薬濃度が一定
になるということにはならない。そこで、機器分析にお
いては、これら分析条件の一を変える毎に、濃度既知の
標準試料を立てて検量線を作製している。
分析試料の測定は、検量線作製のときと、試薬濃度や目
的成分濃度等が同一であると共に、同一の手順でしかも
同一の条件で定量反応及び測定が行われることを要する
が、機器による分析、特に、検体についての自動分析に
おいては、ピペッティング、温度、反応時間及び反応試
薬等の混合の条件、更に試薬の品質及び測定機器の性能
等によって影響を受けるものが多く、また、これらの分
析において使用される酵素試薬、発色試薬等の反応試薬
は、極めて不安定なものが多いので、これら試薬につい
ては、一定容量を加えたからといって、試薬濃度が一定
になるということにはならない。そこで、機器分析にお
いては、これら分析条件の一を変える毎に、濃度既知の
標準試料を立てて検量線を作製している。
（ハ）発明が解決しようとする問題点 しかし、検量線は、常に直線状で得られるものでなく、
定量反応の如何により、曲線又は折線状に形成される。
このような定量反応により目的成分物質を定量する場
合、その検量線は、濃度既知の複数種の標準試料につい
て、夫々、分析試料と同一手順及び同一条件で定量反応
を行い、その反応生成物について検出器で測定し、得ら
れた測定値を、縦軸に光度測定値を目盛り横軸に目的成
分物質の濃度を目盛ったグラフ上にプロットし、このプ
ロットされた複数の光度測定値を線で結び又は曲線で近
似させて作製される。しかも、このように検量線が曲線
又は折線状となる場合は、分析条件を変える毎に或は毎
日、複数の濃度既知の標準試料から検量線を作製しなけ
ればならず、分析手順が複雑となり面倒であった。しか
も、自動分析装置においては、検量線が作製されるまで
測定が停止されるので、その分、処理量が低下すること
となり問題であった。
定量反応の如何により、曲線又は折線状に形成される。
このような定量反応により目的成分物質を定量する場
合、その検量線は、濃度既知の複数種の標準試料につい
て、夫々、分析試料と同一手順及び同一条件で定量反応
を行い、その反応生成物について検出器で測定し、得ら
れた測定値を、縦軸に光度測定値を目盛り横軸に目的成
分物質の濃度を目盛ったグラフ上にプロットし、このプ
ロットされた複数の光度測定値を線で結び又は曲線で近
似させて作製される。しかも、このように検量線が曲線
又は折線状となる場合は、分析条件を変える毎に或は毎
日、複数の濃度既知の標準試料から検量線を作製しなけ
ればならず、分析手順が複雑となり面倒であった。しか
も、自動分析装置においては、検量線が作製されるまで
測定が停止されるので、その分、処理量が低下すること
となり問題であった。
本発明は、検量線が曲線又は折線状となる場合の検量線
の作製による種々の問題点を悉く解消するものである。
の作製による種々の問題点を悉く解消するものである。
（ニ）問題点を解決するための手段 本発明は、検量線が曲線又は折線状となる場合に、分析
条件が変化したときの標準試料の吸光度等の光度測定値
は、検量線の当該濃度における吸光度等の光度測定値と
比較して、総体的に略一定の関係に納るという事実にも
とづくものである。
条件が変化したときの標準試料の吸光度等の光度測定値
は、検量線の当該濃度における吸光度等の光度測定値と
比較して、総体的に略一定の関係に納るという事実にも
とづくものである。
したがって、本発明は、検量線が曲線又は折線状となる
場合に、分析条件が変化しても、検量線が直線の場合と
同様に、少くとも一個の標準化光度測定値校正用の標準
化試料について測定した光度測定値を求め、この測定し
た光度測定値と、前記標準化試料と同一濃度における検
量線の光度測定値との関係を示す標準化用の光度測定値
校正線を作成し、濃度未知の試料の光度測定値を、前記
標準化用の光度測定値校正線により補正し、この補正し
た光度測定値を検量線の光度測定値として、検量線によ
り、成分物質の濃度を求める分析方法及びこの分析方法
に使用する測定値の校正線を備える検量線図を提供する
ものである。
場合に、分析条件が変化しても、検量線が直線の場合と
同様に、少くとも一個の標準化光度測定値校正用の標準
化試料について測定した光度測定値を求め、この測定し
た光度測定値と、前記標準化試料と同一濃度における検
量線の光度測定値との関係を示す標準化用の光度測定値
校正線を作成し、濃度未知の試料の光度測定値を、前記
標準化用の光度測定値校正線により補正し、この補正し
た光度測定値を検量線の光度測定値として、検量線によ
り、成分物質の濃度を求める分析方法及びこの分析方法
に使用する測定値の校正線を備える検量線図を提供する
ものである。
すなわち、本発明は、分析試料についての分光分析にお
ける光度測定値を、当該測定される成分物質の濃度とそ
の光度測定値との関係を示す検量線と比較して、当該分
析試料の光度測定値に対応する成分物質濃度を求める成
分分析方法において、当該成分物質について濃度既知の
光度測定値校正用の標準化試料を分光分析して、その光
度測定値を求め、その光度測定値と検量線の光度測定値
との関係を示す標準化光度測定値校正線を作成し、濃度
未知の試料の分光分析により測定した光度測定値につい
て、前記標準化光度測定値校正線を介して、検量線用の
補正光度値を求め、該補正光度値を検量線の光度値と
し、前記検量線により該光度値と対応する濃度値を割出
すことを特徴とする分光分析による成分分析方法にあ
り、また本発明は、検量線用の光度測定値を目盛る座標
軸と、この座標軸に直交する線上においてその交点から
一方に延びて検量線用の濃度値を目盛る座標軸と、この
濃度値を目盛る座標軸と同一線上にあって前記交点から
前記濃度値を目盛る座標軸とは反対方向に延びて標準化
光度測定値校正用の濃度既知の標準化試料の光度測定値
を目盛る座標軸と、検量線用の光度測定値を目盛る座標
軸及び検量線用の濃度値を目盛る座標軸の間に位置する
検量線用の領域と、検量線用の光度測定値を目盛る座標
軸及び前記標準化試料の光度測定値を目盛る座標軸の間
に位置する標準化光度測定値校正線用の領域とを有して
おり、前記標準化光度測定値校正線用の領域に、前記標
準化試料の光度測定値を目盛る座標軸上の、標準化試料
について測定された光度測定値からの垂直線と、検量線
用の光度測定値を目盛る座標軸上の、該標準化試料の濃
度に対応する光度測定値からの垂直線との交点を原点と
結んで標準化用の光度測定値校正線が作成されているこ
とを特徴とする分光分析による成分分析用検量線図にあ
る。
ける光度測定値を、当該測定される成分物質の濃度とそ
の光度測定値との関係を示す検量線と比較して、当該分
析試料の光度測定値に対応する成分物質濃度を求める成
分分析方法において、当該成分物質について濃度既知の
光度測定値校正用の標準化試料を分光分析して、その光
度測定値を求め、その光度測定値と検量線の光度測定値
との関係を示す標準化光度測定値校正線を作成し、濃度
未知の試料の分光分析により測定した光度測定値につい
て、前記標準化光度測定値校正線を介して、検量線用の
補正光度値を求め、該補正光度値を検量線の光度値と
し、前記検量線により該光度値と対応する濃度値を割出
すことを特徴とする分光分析による成分分析方法にあ
り、また本発明は、検量線用の光度測定値を目盛る座標
軸と、この座標軸に直交する線上においてその交点から
一方に延びて検量線用の濃度値を目盛る座標軸と、この
濃度値を目盛る座標軸と同一線上にあって前記交点から
前記濃度値を目盛る座標軸とは反対方向に延びて標準化
光度測定値校正用の濃度既知の標準化試料の光度測定値
を目盛る座標軸と、検量線用の光度測定値を目盛る座標
軸及び検量線用の濃度値を目盛る座標軸の間に位置する
検量線用の領域と、検量線用の光度測定値を目盛る座標
軸及び前記標準化試料の光度測定値を目盛る座標軸の間
に位置する標準化光度測定値校正線用の領域とを有して
おり、前記標準化光度測定値校正線用の領域に、前記標
準化試料の光度測定値を目盛る座標軸上の、標準化試料
について測定された光度測定値からの垂直線と、検量線
用の光度測定値を目盛る座標軸上の、該標準化試料の濃
度に対応する光度測定値からの垂直線との交点を原点と
結んで標準化用の光度測定値校正線が作成されているこ
とを特徴とする分光分析による成分分析用検量線図にあ
る。
本発明において、曲線又は折線状の検量線に対応する光
度測定値の標準化、つまり曲線又は折線状の検量線に対
応する光度測定値の校正は、少くとも一個、好ましくは
一個の光度測定値校正用の濃度既知の標準化試料につい
て、検体等の分析試料の分析の場合と同一手順及び同一
条件で定量反応を行い、反応生成物の濃度を測定し、こ
の測定により得られる光度測定値と、検量線における同
一濃度の光度測定値との関係を示す標準化用の光度測定
値校正線を作成して、検体等の分析試料について測定さ
れた光度測定値を補正することにより行われる。この場
合、予め複数の標準化試料を設けて、所定の分析手順及
び分析条件と同一の手順及び同一の条件で定量反応を行
って測定し、この測定により得られた光度測定値と、夫
々、検量線における同一濃度の光度測定値との関係を示
す標準化用の光度測定値校正線を、基本的な近似式によ
り求めておくようにするのが好ましい。このような検量
線に対する光度測定値の標準化は、例えば、横軸に標準
化試料の光度測定値用の目盛りを目盛り、縦軸に検量線
における光度測定値用の目盛を目盛ったグラフに、例え
ば、一個の標準化用標準試料について得られた光度測定
値を縦軸にとり、この測定された標準試料と同一の濃度
における検量線の測定値を横軸にとって、夫々の軸から
の垂直線の交点を原点と線で結んで、標準化用の校正線
を作製して行うこともできる。
度測定値の標準化、つまり曲線又は折線状の検量線に対
応する光度測定値の校正は、少くとも一個、好ましくは
一個の光度測定値校正用の濃度既知の標準化試料につい
て、検体等の分析試料の分析の場合と同一手順及び同一
条件で定量反応を行い、反応生成物の濃度を測定し、こ
の測定により得られる光度測定値と、検量線における同
一濃度の光度測定値との関係を示す標準化用の光度測定
値校正線を作成して、検体等の分析試料について測定さ
れた光度測定値を補正することにより行われる。この場
合、予め複数の標準化試料を設けて、所定の分析手順及
び分析条件と同一の手順及び同一の条件で定量反応を行
って測定し、この測定により得られた光度測定値と、夫
々、検量線における同一濃度の光度測定値との関係を示
す標準化用の光度測定値校正線を、基本的な近似式によ
り求めておくようにするのが好ましい。このような検量
線に対する光度測定値の標準化は、例えば、横軸に標準
化試料の光度測定値用の目盛りを目盛り、縦軸に検量線
における光度測定値用の目盛を目盛ったグラフに、例え
ば、一個の標準化用標準試料について得られた光度測定
値を縦軸にとり、この測定された標準試料と同一の濃度
における検量線の測定値を横軸にとって、夫々の軸から
の垂直線の交点を原点と線で結んで、標準化用の校正線
を作製して行うこともできる。
このような測定値の標準化用校正線図は、検量線図と並
べて作成するのが、使用し易いので好ましい。この場
合、検量線における測定値用の目盛を目盛った座標軸
を、両図に共用するように配置するのが好ましい。
べて作成するのが、使用し易いので好ましい。この場
合、検量線における測定値用の目盛を目盛った座標軸
を、両図に共用するように配置するのが好ましい。
（ホ）作用 本発明においては、曲線又は折線状の検量線に対応する
光度測定値の標準化が、少くとも一個の濃度既知の光度
測定値校正用の標準化試料を、所定の手順及び条件と同
一の手順及び条件で測定し、その測定した光度測定値と
検量線の当該濃度の測定値との関係を示す標準化用の光
度測定値校正線を作成して、濃度未知の試料の光度測定
値を、前記標準化用の光度測定値校正線により、補正し
て検量線を使用して、成分濃度を求めるものであり、分
析条件が変って、検量線の標準化を要するときに、検量
線が曲線又は折線状となる分析の場合でも、一個の標準
化試料の測定によって、標準化用の光度測定値校正線を
作成して、濃度未知の試料について測定された光度測定
値を校正することにより、検量線を標準化した場合と同
様に分析を行うことができる。
光度測定値の標準化が、少くとも一個の濃度既知の光度
測定値校正用の標準化試料を、所定の手順及び条件と同
一の手順及び条件で測定し、その測定した光度測定値と
検量線の当該濃度の測定値との関係を示す標準化用の光
度測定値校正線を作成して、濃度未知の試料の光度測定
値を、前記標準化用の光度測定値校正線により、補正し
て検量線を使用して、成分濃度を求めるものであり、分
析条件が変って、検量線の標準化を要するときに、検量
線が曲線又は折線状となる分析の場合でも、一個の標準
化試料の測定によって、標準化用の光度測定値校正線を
作成して、濃度未知の試料について測定された光度測定
値を校正することにより、検量線を標準化した場合と同
様に分析を行うことができる。
（ヘ）実施例 以下、添付の図面を参照して、本発明の実施の態様の一
例を説明するが、本発明は、この説明及び例示により何
ら限定されるものではない。
例を説明するが、本発明は、この説明及び例示により何
ら限定されるものではない。
図は、本発明の一実施例を示す光度測定値校正について
の説明図である。
の説明図である。
図において、縦軸１は、検量線用の吸光度を目盛る軸で
ある。また、原点０から右側の横軸２は、検量線用の濃
度を目盛る軸であり、原点０から左側の横軸３は、測定
値校正用の標準化試料について測定した吸光度を目盛る
軸である。軸１と軸２に挟まる面４に検量線５が作製さ
れ、軸１と軸３に挟まれる面６に校正線７が作製されて
いる。
ある。また、原点０から右側の横軸２は、検量線用の濃
度を目盛る軸であり、原点０から左側の横軸３は、測定
値校正用の標準化試料について測定した吸光度を目盛る
軸である。軸１と軸２に挟まる面４に検量線５が作製さ
れ、軸１と軸３に挟まれる面６に校正線７が作製されて
いる。
検量線５は、濃度a1、a2、a3、a4及びa5の５個の標準化
試料について、検体についての分析の場合と同一の手順
及び同一の条件で定量反応を行い、反応生成物について
吸光度A1、A2、A3、A4及びA5を測定して、面４に点8,9,
10,11及び12をプロットし、これらの点8,9,10,11及び12
を順次原点０から連ねて結び、折線状に作製される。
試料について、検体についての分析の場合と同一の手順
及び同一の条件で定量反応を行い、反応生成物について
吸光度A1、A2、A3、A4及びA5を測定して、面４に点8,9,
10,11及び12をプロットし、これらの点8,9,10,11及び12
を順次原点０から連ねて結び、折線状に作製される。
本例の検量線図により検体の分析を行う場合に、分析条
件が変った可能性があり検量線の校正が必要なとき、例
えば、検量線を作製して数日後に検体分析を行うときに
は、例えば、濃度a2の標準試料を標準化試料として、検
体と一緒に分析を行って、その吸光度Ｂを測定する。こ
の測定された吸光度Ｂは、検量線５における吸光度A2に
対応するものであるから、夫々の点からの垂直線の交点
13を原点０と結んで校正線７を作製する。
件が変った可能性があり検量線の校正が必要なとき、例
えば、検量線を作製して数日後に検体分析を行うときに
は、例えば、濃度a2の標準試料を標準化試料として、検
体と一緒に分析を行って、その吸光度Ｂを測定する。こ
の測定された吸光度Ｂは、検量線５における吸光度A2に
対応するものであるから、夫々の点からの垂直線の交点
13を原点０と結んで校正線７を作製する。
今、検体分析において、吸光度Ｃが得られた場合には、
まず、軸３のＣ点からの垂直線と校正線７の交点14を求
め、この交点14から軸１に垂直線を引いて吸光度A1を求
める。この吸光度A1が、検量線５に対応する校正された
吸光度である。このように測定された吸光度Ｃが校正さ
れないと、検量線５から対応する濃度はＣ′となり、校
正された濃度a1と差Ｃ′−a1が誤差となる。
まず、軸３のＣ点からの垂直線と校正線７の交点14を求
め、この交点14から軸１に垂直線を引いて吸光度A1を求
める。この吸光度A1が、検量線５に対応する校正された
吸光度である。このように測定された吸光度Ｃが校正さ
れないと、検量線５から対応する濃度はＣ′となり、校
正された濃度a1と差Ｃ′−a1が誤差となる。
本例において、測定された吸光度が校正を要しないとき
は、濃度a2の標準化試料について吸光度A2が測定される
こととなり、交点15と原点０を結ぶ１対１の比率の線16
が得られる。
は、濃度a2の標準化試料について吸光度A2が測定される
こととなり、交点15と原点０を結ぶ１対１の比率の線16
が得られる。
本例においては、直線を用いたが、例えば、A2/Bの比を
求めてもよい。また、２次或は３次の近似式を予め求め
ておいて、校正された吸光度を求めるようにしてもよ
い。
求めてもよい。また、２次或は３次の近似式を予め求め
ておいて、校正された吸光度を求めるようにしてもよ
い。
（ト）発明の効果 本発明において、分析条件が変っても、予め作製した検
量線に則して定量できるように、光度測定値を校正する
ものであり、このように校正対象を検量線でなく測定値
とすることによって、検量線が曲線状であるか折線状で
あるか等に関係なく、一個の濃度既知の光度測定値校正
用の標準化試料を測定して、標準化用の光度測定値校正
線を求めて、正確な分光分析ができるような光度測定値
の補正が可能となった。
量線に則して定量できるように、光度測定値を校正する
ものであり、このように校正対象を検量線でなく測定値
とすることによって、検量線が曲線状であるか折線状で
あるか等に関係なく、一個の濃度既知の光度測定値校正
用の標準化試料を測定して、標準化用の光度測定値校正
線を求めて、正確な分光分析ができるような光度測定値
の補正が可能となった。
従って、本発明によると、一旦作製した検量線は、その
侭、変えることなく使用することが可能となり、従来の
ように分析条件が変わる度毎に検量線を作製し直すよう
な煩わしさから解放される。
侭、変えることなく使用することが可能となり、従来の
ように分析条件が変わる度毎に検量線を作製し直すよう
な煩わしさから解放される。
このように本発明によると、検量線の作製に時間が割か
れないので、分析時間が効率よく使用でき、自動分析装
置においても検体処理量の増加等をはかることができ
て、その与える影響は大きいものがある。
れないので、分析時間が効率よく使用でき、自動分析装
置においても検体処理量の増加等をはかることができ
て、その与える影響は大きいものがある。
図は、本発明の一実施例を示す光度測定値の校正につい
ての説明図である。 図において、1,2及び３は軸、５は検量線、７は校正
線、A1〜A5,B及びＣは吸光度、a1〜a5及びＣ′は濃度で
ある。
ての説明図である。 図において、1,2及び３は軸、５は検量線、７は校正
線、A1〜A5,B及びＣは吸光度、a1〜a5及びＣ′は濃度で
ある。
Claims (1)
- 【請求項１】分析試料についての分光分析における光度
測定値を、当該測定される成分物質の濃度とその光度測
定値との関係を示す検量線と比較して、当該分析試料の
光度測定値に対応する成分物質濃度を求める成分分析方
法において、当該成分物質について濃度既知の光度測定
値校正用の標準化試料を分光分析して、その標準化試料
光度測定値を求め、その標準化試料光度測定値と検量線
の前記標準化試料の濃度と同一濃度の光度測定値との対
応関係を示す標準化光度測定値校正線を作成し、濃度未
知の試料の分光分析により測定した光度測定値につい
て、前記標準化光度測定値校正線を介して、濃度未知の
試料の光度測定値に対応する検量線用の補正光度値を求
め、該補正光度値を検量線の光度値とし、前記検量線に
より該光度値と対応する濃度値を求めることを特徴とす
る検量線を使用する成分分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60139873A JPH0680417B2 (ja) | 1985-06-26 | 1985-06-26 | 検量線を使用する成分分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60139873A JPH0680417B2 (ja) | 1985-06-26 | 1985-06-26 | 検量線を使用する成分分析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62842A JPS62842A (ja) | 1987-01-06 |
| JPH0680417B2 true JPH0680417B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=15255547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60139873A Expired - Lifetime JPH0680417B2 (ja) | 1985-06-26 | 1985-06-26 | 検量線を使用する成分分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680417B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0690208B2 (ja) * | 1987-04-01 | 1994-11-14 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
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-
1985
- 1985-06-26 JP JP60139873A patent/JPH0680417B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62842A (ja) | 1987-01-06 |
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