JPS58109837A - 検量線補正方法 - Google Patents
検量線補正方法Info
- Publication number
- JPS58109837A JPS58109837A JP56208047A JP20804781A JPS58109837A JP S58109837 A JPS58109837 A JP S58109837A JP 56208047 A JP56208047 A JP 56208047A JP 20804781 A JP20804781 A JP 20804781A JP S58109837 A JPS58109837 A JP S58109837A
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- JP
- Japan
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- calibration curve
- absorbance
- concentration
- sample
- absorbances
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検量線補正方法に関するものである。
試料中の特定成分を定量分析する方法に、比色分析、原
子吸光分析、発光分光分析、螢光分析等がある。これら
の分析法においては、分析すべき特定成分の存在艦また
は濃度Ｃ以下単に濃度という）が既知の複数の試料を測
定して、濃度と測定値との相関を表わす検量線を予じめ
作成し、この検量線に基いて未知試料の測定値からその
濃度を求めるようにしている。この場合の検量線は濃度
既知の８つの試料を測定し、これら２つの測定値を直線
で結ぶことにより近似的に作成することもできるが、高
精度の分析を行なうためには濃゛度既知の試料を８つ以
上測定し、これらの測定値をそれぞれ結ぶようにして作
成するのが好適である。
子吸光分析、発光分光分析、螢光分析等がある。これら
の分析法においては、分析すべき特定成分の存在艦また
は濃度Ｃ以下単に濃度という）が既知の複数の試料を測
定して、濃度と測定値との相関を表わす検量線を予じめ
作成し、この検量線に基いて未知試料の測定値からその
濃度を求めるようにしている。この場合の検量線は濃度
既知の８つの試料を測定し、これら２つの測定値を直線
で結ぶことにより近似的に作成することもできるが、高
精度の分析を行なうためには濃゛度既知の試料を８つ以
上測定し、これらの測定値をそれぞれ結ぶようにして作
成するのが好適である。
すなわち、生化学分析に採用される比色分析法において
は、第１図に示すように既知濃度、例えばｘｌ ’ ｘ
ｇ ｓ Ｘ３ ＋ Ｘ４の４つの試料の吸光度ｙ１＋’
／２ ａ ’／３ ＊ ｙ４を求め、これら吸光度を結
ぶことにより検量線ムを作成するのが好適である。この
ように８つ以上の既知濃度の試料を測定して検量線ムを
作成すると、検量線ムは一般に直線とならず曲線となる
。
は、第１図に示すように既知濃度、例えばｘｌ ’ ｘ
ｇ ｓ Ｘ３ ＋ Ｘ４の４つの試料の吸光度ｙ１＋’
／２ ａ ’／３ ＊ ｙ４を求め、これら吸光度を結
ぶことにより検量線ムを作成するのが好適である。この
ように８つ以上の既知濃度の試料を測定して検量線ムを
作成すると、検量線ムは一般に直線とならず曲線となる
。
一方、測定値は例えば生化学分析に採用される比色分析
法においては、試薬の変質、周囲温度の変化、試料や試
薬の経時変化等によって変化し、同一濃度の試料を測定
しても吸光度が異なる場合がある。この場合の吸光度と
濃度との関係は一般に第１図に曲１！Ｂで示すようにな
り、同一濃度の試料に対する吸光度が予しめ作成した検
蓋線ムから求まる吸光度よりも低くなる。このような場
合には検量線を曲＠Ｂのように補正する必要があるが、
従来は検量線ムを作成するときに用いた既知濃度Ｘ工、
ｘ２．Ｘ３．ｘ４の４つの全ての試料を再び測定して吸
光度ｙ工’ ＋ ’１２’ ＋ ｙ３’ ｒ ｙ４’を
求め〜これら吸光度を結ぶことにより検量４ＩＢを作成
していた。しかし、このように予じめ測定した既知濃度
の全ての試料を再度測定することは極めて面倒であると
共に、複数の試料を測定するためにミスが生じ易ぐ、こ
のため測定結果に悪影響を及ぼす不具合がある。
法においては、試薬の変質、周囲温度の変化、試料や試
薬の経時変化等によって変化し、同一濃度の試料を測定
しても吸光度が異なる場合がある。この場合の吸光度と
濃度との関係は一般に第１図に曲１！Ｂで示すようにな
り、同一濃度の試料に対する吸光度が予しめ作成した検
蓋線ムから求まる吸光度よりも低くなる。このような場
合には検量線を曲＠Ｂのように補正する必要があるが、
従来は検量線ムを作成するときに用いた既知濃度Ｘ工、
ｘ２．Ｘ３．ｘ４の４つの全ての試料を再び測定して吸
光度ｙ工’ ＋ ’１２’ ＋ ｙ３’ ｒ ｙ４’を
求め〜これら吸光度を結ぶことにより検量４ＩＢを作成
していた。しかし、このように予じめ測定した既知濃度
の全ての試料を再度測定することは極めて面倒であると
共に、複数の試料を測定するためにミスが生じ易ぐ、こ
のため測定結果に悪影響を及ぼす不具合がある。
本発明の目的は上述した不具合を解決し、曲線状の検量
線を簡単にしかも精度良く補正できる検量線補正方法を
提供しようとするものである。
線を簡単にしかも精度良く補正できる検量線補正方法を
提供しようとするものである。
本発明は、濃度既知の８つ以上の試料の吸光度を測定し
て得た吸光度と濃度との関係を表わす曲線状の検量線を
補正するにあたり、少く共１つの濃度既知の試料の吸光
度を測定し、この測定した吸光度と予°じめ求めた検量
線から当該濃度に対して得られる吸光度とに基いて検量
線を補正することを特徴とするものである。
て得た吸光度と濃度との関係を表わす曲線状の検量線を
補正するにあたり、少く共１つの濃度既知の試料の吸光
度を測定し、この測定した吸光度と予°じめ求めた検量
線から当該濃度に対して得られる吸光度とに基いて検量
線を補正することを特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第２図は本発明の第１実施例を説明するための吸光度と
濃度との関係を示す線図である。本例では既知濃度ＸＩ
Ｉ ｘ２１・・・、 Ｘａの６つの試料を測定して得
た吸光度ｙ工、ｙ２．・・・、ｙ６から作成した検量線
ムを補正するために、先ず上記６つの試料のうちの１つ
である例えば濃ｉｘ６の試料を測定して吸光度ｙ６Ｉを
求める。次に吸光度ｙ６′と検量線ムを作成する際に用
いた濃度Ｘ６の試料に対する吸光度ｙ６との比α−ｙ６
１／ｙ６を求めると共に、このαを検量線ムにおける濃
度Ｘ５．ｘ４゜Ｘ３１ Ｘａ １ ｘｌに対する吸光度
ｙ５ ＊ Ｖ４ 、ｙ３ ＋ ｙ２ 。
濃度との関係を示す線図である。本例では既知濃度ＸＩ
Ｉ ｘ２１・・・、 Ｘａの６つの試料を測定して得
た吸光度ｙ工、ｙ２．・・・、ｙ６から作成した検量線
ムを補正するために、先ず上記６つの試料のうちの１つ
である例えば濃ｉｘ６の試料を測定して吸光度ｙ６Ｉを
求める。次に吸光度ｙ６′と検量線ムを作成する際に用
いた濃度Ｘ６の試料に対する吸光度ｙ６との比α−ｙ６
１／ｙ６を求めると共に、このαを検量線ムにおける濃
度Ｘ５．ｘ４゜Ｘ３１ Ｘａ １ ｘｌに対する吸光度
ｙ５ ＊ Ｖ４ 、ｙ３ ＋ ｙ２ 。
ｙｌにそれぞれ乗算して濃度Ｘ５１ ｘ４１ Ｘ３１
ｘ２１Ｘ工における補正された吸光度ｙ５’ ｒ ｙ４
’ ｒ ｙ３’ ＋’／ ’ ｒ ’／ｌ’をそれぞれ
求める。その後、これら吸光度’／ｌ’ ｒ ｙ２’
＋・・・、ｙ６Ｉをそれぞれ結んで補正された検量線Ｂ
を作成する。
ｘ２１Ｘ工における補正された吸光度ｙ５’ ｒ ｙ４
’ ｒ ｙ３’ ＋’／ ’ ｒ ’／ｌ’をそれぞれ
求める。その後、これら吸光度’／ｌ’ ｒ ｙ２’
＋・・・、ｙ６Ｉをそれぞれ結んで補正された検量線Ｂ
を作成する。
第８図は本発明の第２実施例を説明するための吸光度と
濃度との関係を示す線図である。本例では予しめ作成し
た検量線ムを補正するために、先ず既知濃度ｘｎの試料
を測定して吸光度ｙｎ′を求める。次に吸光度ｙｎ／お
よび検量線ムから求められる濃度Ｘｎの試料に対する吸
光度ｙｎの差（ｙｎ−ｙｎｌ）と濃度Ｘｎとの比β−（
ｙｎ−ｙｎ’ ） ／ ｘｎを求め、このβを任意の複
数の濃度Ｘ工、・・・ｒ Ｘｎ−Ｌ Ｌ乗算することに
より各濃度に対する補正された吸光度ｙ４’＋・・・ｒ
’ｊ’Ｈ−４を求める。その後、これら吸光度Ｖ１’＋
・・・ｓ ’／ ’ｎ−０＋ ｙｎ’をそれぞれ結んで
補正された検量ｉＩＢを作成する。
濃度との関係を示す線図である。本例では予しめ作成し
た検量線ムを補正するために、先ず既知濃度ｘｎの試料
を測定して吸光度ｙｎ′を求める。次に吸光度ｙｎ／お
よび検量線ムから求められる濃度Ｘｎの試料に対する吸
光度ｙｎの差（ｙｎ−ｙｎｌ）と濃度Ｘｎとの比β−（
ｙｎ−ｙｎ’ ） ／ ｘｎを求め、このβを任意の複
数の濃度Ｘ工、・・・ｒ Ｘｎ−Ｌ Ｌ乗算することに
より各濃度に対する補正された吸光度ｙ４’＋・・・ｒ
’ｊ’Ｈ−４を求める。その後、これら吸光度Ｖ１’＋
・・・ｓ ’／ ’ｎ−０＋ ｙｎ’をそれぞれ結んで
補正された検量ｉＩＢを作成する。
なお、第２図および第８図において、検量線Ｂを作成す
るための隣接する濃度間Ｇを更に細分化し、この細分化
した各濃度に対して検量線ムから得られる吸光度とαと
の積（第２図の場合）、或いは細分化した各濃度とβと
の積（第８図の場合”）から補正された吸光度を求める
ことにより、より高精度の検１１１．ＮＩＢを作成する
ことができる。この場合の隣接する濃度間Ｇの細分化は
、例えＧｆ Ｇをｇ工１ｇ２ ｌ ・・・＃ ｇｐ−１
＋ ｇｐのように細分イヒしたときは、ｇニーｇ、−・
・・−ｇｐ−０−ｇｐのように等分とすることもできる
し、ｇ工〉ｇ２〉・・・＞ｇｐ−０〉りやｇ工＜ｇ２＜
・・・＜ ｇｐ−０＜ ｇｐのように不尋分とすること
もできる。また、第２ＦＩ４および第８図で説明した補
正方法を組合わせて検量線を補正することもできる。更
に第８図では検量線を補正するために、検量線ムを作成
するときに用いた既知濃度の試料を測定したが、検量線
Ａの作成の際に用いなかった他の濃度既知の試料を用い
て検量線Ｂを得ることもできる。
るための隣接する濃度間Ｇを更に細分化し、この細分化
した各濃度に対して検量線ムから得られる吸光度とαと
の積（第２図の場合）、或いは細分化した各濃度とβと
の積（第８図の場合”）から補正された吸光度を求める
ことにより、より高精度の検１１１．ＮＩＢを作成する
ことができる。この場合の隣接する濃度間Ｇの細分化は
、例えＧｆ Ｇをｇ工１ｇ２ ｌ ・・・＃ ｇｐ−１
＋ ｇｐのように細分イヒしたときは、ｇニーｇ、−・
・・−ｇｐ−０−ｇｐのように等分とすることもできる
し、ｇ工〉ｇ２〉・・・＞ｇｐ−０〉りやｇ工＜ｇ２＜
・・・＜ ｇｐ−０＜ ｇｐのように不尋分とすること
もできる。また、第２ＦＩ４および第８図で説明した補
正方法を組合わせて検量線を補正することもできる。更
に第８図では検量線を補正するために、検量線ムを作成
するときに用いた既知濃度の試料を測定したが、検量線
Ａの作成の際に用いなかった他の濃度既知の試料を用い
て検量線Ｂを得ることもできる。
第４図は本発明の検量線補正方法を実施する測光装置の
一例の構成を示すＳａである。この測光装置は種々の試
料を７０−セル１に導いて比色測定するもので、光源ラ
ンプ２からの光をレンズ８および干渉フィルターを経て
７１：Ｉ−セルｌに導き、その透過光を受光する光電変
換素子５の出力をプリアンプ６を経てｐグアンプフに供
給−することにより吸光度を求め、これをム／Ｄコンバ
ータ８によりデジタル値に変換してデコーダラッチ回路
９に一時格納して演算処理回路１０に供給することによ
り、予しめ定められたプログラムに従って演算処理する
。この演算処理回路ｌＯには各種操作部（図示せず）に
接続されたデコーダラッチ１１からインターフェイスア
ドレスデコーダ１２を介して、またデコーダラッチ１８
から入力スイッチ群１４を介して各種入力情報が入力さ
れる０この各柚入力情報とは、測定者が検量線ムを得た
後、少く共１つの濃度既知の試料を測定して求めた吸光
度を用いて検量線Ｂを得るための各種設定を予しめ指定
した方法に基いて任意に選択できるものであり、例えば
デコーダラッチ１１には、■ 演算指定α１第１実施例
の補正方法により検［１１Ｂを得るための指定。
一例の構成を示すＳａである。この測光装置は種々の試
料を７０−セル１に導いて比色測定するもので、光源ラ
ンプ２からの光をレンズ８および干渉フィルターを経て
７１：Ｉ−セルｌに導き、その透過光を受光する光電変
換素子５の出力をプリアンプ６を経てｐグアンプフに供
給−することにより吸光度を求め、これをム／Ｄコンバ
ータ８によりデジタル値に変換してデコーダラッチ回路
９に一時格納して演算処理回路１０に供給することによ
り、予しめ定められたプログラムに従って演算処理する
。この演算処理回路ｌＯには各種操作部（図示せず）に
接続されたデコーダラッチ１１からインターフェイスア
ドレスデコーダ１２を介して、またデコーダラッチ１８
から入力スイッチ群１４を介して各種入力情報が入力さ
れる０この各柚入力情報とは、測定者が検量線ムを得た
後、少く共１つの濃度既知の試料を測定して求めた吸光
度を用いて検量線Ｂを得るための各種設定を予しめ指定
した方法に基いて任意に選択できるものであり、例えば
デコーダラッチ１１には、■ 演算指定α１第１実施例
の補正方法により検［１１Ｂを得るための指定。
■ 演算指定β蓼第２実施例の補正方法により検量線Ｂ
を得るための指定。
を得るための指定。
■ α、βの組合わせによる演算指定夢例えば上記指定
■で処理し、次に上記指定■で処理して検量線のチェッ
クを行なう。また指定■で行ないつ一遂時指定■で追従
させてチェックをする。またはこの逆の処理等の指定を
任意に組込む。
■で処理し、次に上記指定■で処理して検量線のチェッ
クを行なう。また指定■で行ないつ一遂時指定■で追従
させてチェックをする。またはこの逆の処理等の指定を
任意に組込む。
■ 演算間隔の指定蓼例えば上述した隣接する濃度間Ｇ
の細分化ｇ工〉ｇ２〉・・・＞ ｇ、−１＞ｇｐ ＊
ｇ１″ｇ、、 −”’ −ｇＰ−１−ｇｐまた番まｇ工
〈ｇ２＜・・・＜ ｇｐ−０＜ ｇｐの指定０等の各種
情報を選択的に入力し得るようにし、またデコーダラッ
チ１８には、 ■ モード指定〔マニアル）Ｉ上述の入力情報のうちで
、係数α又はβを自動的に読込ませ′るのではなく、個
々の濃度に対してマニアル入力するときに用いる。又、
係数α又はβに対して適宜に別の係数をマニアルで加え
て、これを液止係数として自動的に処理させる等が考え
られる。
の細分化ｇ工〉ｇ２〉・・・＞ ｇ、−１＞ｇｐ ＊
ｇ１″ｇ、、 −”’ −ｇＰ−１−ｇｐまた番まｇ工
〈ｇ２＜・・・＜ ｇｐ−０＜ ｇｐの指定０等の各種
情報を選択的に入力し得るようにし、またデコーダラッ
チ１８には、 ■ モード指定〔マニアル）Ｉ上述の入力情報のうちで
、係数α又はβを自動的に読込ませ′るのではなく、個
々の濃度に対してマニアル入力するときに用いる。又、
係数α又はβに対して適宜に別の係数をマニアルで加え
て、これを液止係数として自動的に処理させる等が考え
られる。
■ モード指定（オート）Ｉ係数α又はβをメモリして
順次自動的に処理をする。
順次自動的に処理をする。
■ 比の設定１上紀モード指定■に関連して、係数α又
はβを固定的に設定人力したり、係数〔α±ｒ’）（ｒ
は補正値の追加）や〔β±６〕ＣＩは補正値の追加）Ｉ
Ｉの可変の係゛数を設定入力する。
はβを固定的に設定人力したり、係数〔α±ｒ’）（ｒ
は補正値の追加）や〔β±６〕ＣＩは補正値の追加）Ｉ
Ｉの可変の係゛数を設定入力する。
等の各種情報を選択的に入力し得るようにする。
また、演算処理回路ｌＯにはドライブ回路１５を介して
表示回路１６を接続すると共に、プリンタドライブ回路
１フを介してプリンタ１８を接続して各種情報を出力表
示する。
表示回路１６を接続すると共に、プリンタドライブ回路
１フを介してプリンタ１８を接続して各種情報を出力表
示する。
以上実施例で説明した本発明の検量線補正方法によれば
、少く共１つの吸光度を求めることにより検量線を補正
することができるから、測定者の作業効率を向上するこ
とができると共に、多数測定によ・り混入するミスを防
止できるから測定精度を向上することができる。また、
試薬等の変質等により検量線を補正するに際して、上述
の様に種々の情報を入力することにより、広範囲な対応
ができる。更に、試薬変動を数値化して設定することも
できるから、求める検量線Ｂの上限、下限又は適宜な範
囲の検量線を仮想的に得ることができ、試薬貧化に対し
て検量線の推測が可能となる。更にまた、上記第１およ
び第２の実施例による補正方法を適宜に組合わせること
により、検量線を高精度で補正することができる。
、少く共１つの吸光度を求めることにより検量線を補正
することができるから、測定者の作業効率を向上するこ
とができると共に、多数測定によ・り混入するミスを防
止できるから測定精度を向上することができる。また、
試薬等の変質等により検量線を補正するに際して、上述
の様に種々の情報を入力することにより、広範囲な対応
ができる。更に、試薬変動を数値化して設定することも
できるから、求める検量線Ｂの上限、下限又は適宜な範
囲の検量線を仮想的に得ることができ、試薬貧化に対し
て検量線の推測が可能となる。更にまた、上記第１およ
び第２の実施例による補正方法を適宜に組合わせること
により、検量線を高精度で補正することができる。
第１図は従来の検量線補正方法を説明するための線図、
第８図および第８図はそれぞれ本発明の第１および第８
の実施例を説明するための吸光度とＩＩＩＩＫとの関係
を示す線図、 第４図は本発明の検量線補正方法を実施する測光装置の
一例の構成を示す線図である。 １・・・７０−セル、 ２・・・光源ランプ、８・
・・レンズ、 ４・・−干渉フィルタ、６・
・・光電変換素子、 ６・・・プリアンプ、７・・・
ｐグアンプ、 ８・・・ム／Ｄフンバータ、９・
・・デコーダラッチ回路、 １０・・・演算処理回路、 １１．１８・・・デコーダ
ラッチ、 １２・・・インターフェイ
スアドレスデコーダ、 １４・・・入力スイッチ群
、１１ｉ・・・ドライブ回路、 １６・・・表示回路
、１フ・・・プリンタドライブ回路、 １８・・・プリンタ。 第１図 第２図 第３図
の実施例を説明するための吸光度とＩＩＩＩＫとの関係
を示す線図、 第４図は本発明の検量線補正方法を実施する測光装置の
一例の構成を示す線図である。 １・・・７０−セル、 ２・・・光源ランプ、８・
・・レンズ、 ４・・−干渉フィルタ、６・
・・光電変換素子、 ６・・・プリアンプ、７・・・
ｐグアンプ、 ８・・・ム／Ｄフンバータ、９・
・・デコーダラッチ回路、 １０・・・演算処理回路、 １１．１８・・・デコーダ
ラッチ、 １２・・・インターフェイ
スアドレスデコーダ、 １４・・・入力スイッチ群
、１１ｉ・・・ドライブ回路、 １６・・・表示回路
、１フ・・・プリンタドライブ回路、 １８・・・プリンタ。 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- １・ 濃度既知の８つ以上の試料の吸光度を測定して得
た吸光度と濃度との関係を表わす曲線状の検量線を補正
するにあたり、少く共１つの濃度既知の試料の吸光度を
測定し、この測定した吸光度と予じめ求めた検量線から
当該濃度に対して得られる吸光度に基いて検量線を補正
することを特徴とする検量線補正方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208047A JPS58109837A (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 検量線補正方法 |
| US06/451,419 US4587624A (en) | 1981-12-24 | 1982-12-20 | Method and apparatus for correcting a curve relating an absorbance to a concentration |
| DE19823247807 DE3247807A1 (de) | 1981-12-24 | 1982-12-23 | Verfahren zum aufnehmen einer extinktion/konzentrations-kurve und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208047A JPS58109837A (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 検量線補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58109837A true JPS58109837A (ja) | 1983-06-30 |
| JPH0250416B2 JPH0250416B2 (ja) | 1990-11-02 |
Family
ID=16549758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56208047A Granted JPS58109837A (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 検量線補正方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4587624A (ja) |
| JP (1) | JPS58109837A (ja) |
| DE (1) | DE3247807A1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60154161A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Shimadzu Corp | 免疫反応測定に使用する検量線の作成方法 |
| JPS62842A (ja) * | 1985-06-26 | 1987-01-06 | Shimadzu Corp | 検量線を使用する成分分析方法 |
| JPS6382360A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Agency Of Ind Science & Technol | 陶石の化学組成による耐火度測定法 |
| JPS63145959A (ja) * | 1986-07-30 | 1988-06-18 | Shinotesuto Kenkyusho:Kk | 免疫的測定方法及び免疫的測定用キット |
| JPH08101198A (ja) * | 1986-07-30 | 1996-04-16 | Shinotesuto:Kk | 免疫的測定方法及び装置 |
| JP2015031676A (ja) * | 2013-08-07 | 2015-02-16 | 倉敷紡績株式会社 | 濃度測定装置及び濃度測定方法 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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