JPH0249727Y2 - - Google Patents

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JPH0249727Y2
JPH0249727Y2 JP1984128101U JP12810184U JPH0249727Y2 JP H0249727 Y2 JPH0249727 Y2 JP H0249727Y2 JP 1984128101 U JP1984128101 U JP 1984128101U JP 12810184 U JP12810184 U JP 12810184U JP H0249727 Y2 JPH0249727 Y2 JP H0249727Y2
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cap
flat package
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glass
package body
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JP1984128101U
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JPS6142845U (ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 この考案はフラツトパツケージに関し、より詳
しくはパツケージ本体とキヤツプとを低融点ガラ
スを介してシールしてなる半導体装置や水晶振動
子に好適するものである。
従来の技術 半導体装置や水晶振動子等の電子部品におい
て、半導体素子や水晶片等の素子は、湿気等によ
つて特性変動を起こすため、パツケージングされ
ている。樹脂でパツケージングするものがある
が、信頼性の点でカンケースやセラミツクパツケ
ージに封入したものに比較して劣るので、高信頼
性を要求される用途には、カンケースやセラミツ
クパツケージが用いられている。ところがカンケ
ースやセラミツクパツケージを用いるものでは、
水分の浸入はないが、実公昭40−36187号公報に
開示されているように、半田を用いてシールする
と、フラツクスの蒸気によつて素子が劣化するた
め、特公昭40−5172号公報に開示されているよう
にガラスでシールしたものが考えられている。
第4図は従来のガラスシール型セラミツクフラ
ツトパツケージの一例のキヤツプを除いた平面図
を示し、第5図は第4図の−線に対応する断
面図を示す。図において、1はパツケージ本体
で、アルミナ、ステアタイト等のセラミツクより
なる底板2と枠体3との間に、ガラス4を介して
一対の42合金(Fe;58%、Ni;42%)等よりな
るリード5,6を気密に封着したものである。7
はアルミナ、ステアタイト等のセラミツクよりな
るキヤツプで、低融点ガラス8を介して前記枠体
3に気密に封着されている。図中、二点鎖線9は
水晶片等の素子で、導電性接着剤等を介して、前
記一対のリード5,6に跨つて接続固着されてい
る。
ところで、上記の構成においては、キヤツプ7
のシール用ガラスに、リード5,6を封着するガ
ラス4より融点の低い低融点ガラス8を使用して
はいるが、低融点ガラス8の溶融のために、全体
を抵抗式加熱炉等で加熱するため、素子9が高温
になつたり、素子9を接続固着する導電性接着剤
として有機物質を含むものを用いた場合は、導電
性接着剤からガスが発生して、素子9の特性劣化
の原因になつていた。
そこで本件出願人は、別途キヤツプの下面の少
なくともパツケージ本体とのシール箇所に低融点
ガラスを被着しておき、前記キヤツプの上面にヒ
ータを押し当てて、キヤツプの伝導熱で低融点ガ
ラスを溶融させてパツケージ本体とキヤツプとを
シールする方法を提案している。
第6図はこの考案の背景となる上記シール方法
について説明するための分解断面図を示す。図に
おいて、次の点を除いては第5図と同一であるの
で、同一部分には同一参照符号を付して、その説
明を省略する。第5図との相違点は、パツケージ
本体1の底板2の下に鉄、銅、アルミニウム等の
良熱伝導体よりなる放熱板10を配置したこと
と、キヤツプ7の上面にセラミツクヒータ等のヒ
ータ11を押圧していることである。
上記の構成によれば、ヒータ11からのキヤツ
プ7の伝導熱によつて、その下面に被着されてい
る低融点ガラス8が加熱溶融されて、キヤツプ7
がパツケージ本体1の枠体3に融着シールされ
る。このとき、枠体3およびガラス4の熱抵抗に
よつて、リード5,6の温度上昇が抑止され、し
かもリード5,6の熱はガラス4および底板2を
伝導して放熱板10に放熱される。このため、リ
ード5,6の温度は低く抑えられ、素子9やこの
素子9をリード5,6に接続固着する接着剤の温
度は低く、素子9の自身の高温による劣化がない
のみならず、接着剤が有機物質を含む導電性接着
剤であつても有害なガスを発生することがなく、
素子9が発生ガスによつて劣化することもない。
上記の製法を採用する場合、底板2およびキヤ
ツプ7はアルミナ等の熱伝導率の大きいセラミツ
クで形成し、一方枠体3はフオルステライト等の
熱伝導率の小さいセラミツクで形成する方が望ま
しい。
考案が解決しようとする問題点 ところが、上記のように枠体3とキヤツプ7と
を平面同士で融着したものでは、キヤツプ7のシ
ール時に、ヒータ11で加熱されるキヤツプ7の
端面が露出しているため、この端面部からの輻射
熱に起因する端冷効果によつて、キヤツプ7の周
縁部の温度が上昇しにくくなつて、シールに比較
的長時間を要するため、リード5,6の温度上昇
の抑止にも限度があつた。もし、リード5,6の
温度をさらに低下することができれば、素子の種
類や接着剤等の選択の範囲が広がり有利である。
問題点を解決するための手段 そこで、この考案はフラツトパツケージ本体の
上面内周縁に段部を形成するとともに、その外周
縁に突部を形成し、前記キヤツプをフラツトパツ
ケージ本体よりも熱伝導率の大きいセラミツク材
料で形成し、かつ前記段部上にその上面が突部の
上面以上の高さになるようにしたことを特徴とす
るものである。
作 用 上記の手段によれば、キヤツプの上面にヒータ
を押し当ててキヤツプをシールする方法を採用し
た場合に、ヒータがキヤツプのみに当接してキヤ
ツプのみを加熱することができるし、キヤツプの
端面をフラツトパツケージ本体の突部が囲んでい
るので、端面からの輻射熱が突部で反射して再び
キヤツプ端面に返つてくるため、キヤツプ端から
の輻射熱による端冷効果が防止でき、キヤツプの
周縁部を急速に加熱することができ、その下面に
被着されている低融点ガラスを急速かつ確実に加
熱溶融してシールすることができる。また、従来
のように上面が平坦なフラツトパツケージ本体を
用いた場合は、キヤツプを加圧加熱した際に余剰
の溶融した低融点ガラスが周辺からはみ出すが、
上記手段によれば、余剰の低融点ガラスはキヤツ
プと突部との隙間に這い上つていき、ほみ出すこ
とがないし、仮にはみ出しても、キヤツプの端面
と突部の上面とで形成される部分に収まるので、
外観が良好になり、シール性が向上する。
実施例 以下、この考案の実施例を図面を参照して説明
する。
第1図はこの考案のフラツトパツケージの断面
図を示す。図において、第5図と同一部分には同
一参照符号を付している。第5図と異なる点は、
底板2とキヤツプ7とが熱伝導率の大きいアルミ
ナで形成されるとともに、枠体30が熱伝導率の
小さいフオルステライトで形成されていることで
ある。また、枠体30の上面内周縁に段部31を
形成するとともに、その外周縁に突部32を形成
して、この段部31上にキヤツプ7が低融点ガラ
ス8を介してシールされていることであり、かつ
キヤツプ7の上面が突部32の上面より高くなつ
ていることである。
第2図は上記フラツトパツケージの製造方法、
特にキヤツプ7のシール方法について説明するた
めのキヤツプシール前の断面図を示し、第6図と
同一部分には同一参照符号を付している。すなわ
ち、フラツトパツケージ本体1を放熱板10の上
に載置し、枠体30の段部31上に下面周縁部に
低融点ガラス8を被着したキヤツプ7を載置し、
このキヤツプ7の上にヒータ11が載置されてい
る。この状態では、枠体30の突部31の上面と
ヒータ11の下面との間に隙間gが形成されてい
る。またキヤツプ7の端面を突部31が取り囲ん
でいる。したがつて、ヒータ11はキヤツプ7の
みに当接してキヤツプ7のみを加熱するととも
に、端面からの輻射熱は突部31の内面で反射し
て再び端面に返つてくるので、キヤツプ7の端冷
効果が防止されて、周縁部が効果的に加熱され
る。このため、キヤツプ7の下面周縁部に被着さ
れている低融点ガラス8が急速かつ確実に溶融し
て、キヤツプ7が枠体30にシールされる。この
とき、余剰の低融点ガラス8は突部31の内面と
キヤツプ7の端面との間に形成される隙間を這い
上つていき、外部にはみ出さない。また、仮には
み出しても、第3図の要部拡大断面図に示すよう
に、突部31上に流れるのみで、従来のように周
囲から凹凸状にはみ出さないので、外観が優れて
いるのみならず、シールパスが増大する。
なお、キヤツプ7の上面を突部31の上面と同
一平面になるようにシールすることもできる。、 考案の効果 この考案によれば以上のように、キヤツプをフ
ラツトパツケージ本体に迅速かつ確実にシールす
ることができ、素子自体を熱で劣化させたり、接
着剤として有機物質を含む導電性接着剤を用いて
もこの導電性接着剤からガスを発生することがな
く、発生ガスによつて素子が劣化することもな
く、信頼性の高い電子部品が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例のフラツトパツケ
ージの断面図である。第2図は第1図のフラツト
パツケージのキヤツプシール方法について説明す
るためのキヤツプシール前の断面図である。第3
図は第1図のフラツトパツケージにおいて起り得
る状態を示した要部拡大断面図である。第4図は
従来のフラツトパツケージのキヤツプを除いた平
面図で、第5図は第4図の−線に対応する断
面図である。第6図はこの考案の背景となるキヤ
ツプシール方法について説明するためのキヤツプ
シール前の分解断面図である。 1……フラツトパツケージ本体、4……ガラ
ス、5,6……リード、7……キヤツプ、8……
低融点ガラス、30……枠体、31……段部、3
2……突部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 ガラスを介してリードが気密に封着されたセラ
    ミツク製のフラツトパツケージ本体に低融点ガラ
    スを介してキヤツプをシールしたフラツトパツケ
    ージにおいて、 前記フラツトパツケージ本体の上面内周縁に段
    部を形成するとともに、その外周縁に突部を形成
    し、前記キヤツプをフラツトパツケージ本体より
    も熱伝導率の大きいセラミツク材料で形成し、か
    つ前記段部上にその上面が突部の上面以上になる
    ようにシールしたことを特徴とするフラツトパツ
    ケージ。
JP1984128101U 1984-08-23 1984-08-23 フラツトパツケ−ジ Granted JPS6142845U (ja)

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JP1984128101U JPS6142845U (ja) 1984-08-23 1984-08-23 フラツトパツケ−ジ

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JPS6142845U JPS6142845U (ja) 1986-03-19
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5844749A (ja) * 1981-09-11 1983-03-15 Nec Corp 半導体装置用キヤツプ及びその製造方法

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JPS5844749A (ja) * 1981-09-11 1983-03-15 Nec Corp 半導体装置用キヤツプ及びその製造方法

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