JPH0240727A - 誤り検出・訂正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は誤り検出・訂正装置に関するものである。

（従来の技術） コンピュータのデータ転送を行う場合、データに誤りが
生じてしまう場合が少なくない。そのためにＥ　ＣＣ（
Ｅｒｒｏｒ　Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ　Ｃｏｄｅｓ誤り訂
正コード）を利用してデータの誤り検出および訂正を行
う能力を持った誤り検出および訂正回路（以下ｒＥＣＣ
回路」という）が利用されている。

以下、このＥＣＣ回路が搭載されている誤り検出・訂正
装置について説明する。

第２図は、従来の誤り検出・訂正装置の構成を示すブロ
ック図である。同図に示されるようにこの誤り検出Φ訂
正装置はＥＣＣ回路１とメモリアレイ３とからなる。

ＥＣＣ回路１はデータ線路５から入力されるデ−タから
シンドロームを生成し、このシンドロームをシンドロー
ム線路７を介してメモリアレイ３のシンドローム部３ａ
に送り、このデータをデータ線路６を介してメモリアレ
イ３のデータ部３ｂに送る。シンドロームはデータに誤
りがある場合、データのどこに誤りが生じたか等の情報
を示す。

メモリアレイ３のシンドローム部３ａはシンドロームを
記憶し、また、記憶したシンドロームをシンドローム線
路７を介してＥＣＣ回路１に送る。

メモリアレイ３のデータ部３ｂはデータを記憶し、また
、記憶したデータ５をデータ線路６を介してＥＣＣ回路
１に送る。

さらに前述したＥＣＣ回路１はメモリアレイ３から送ら
れてくるデータとシンドロームについて、このデータに
誤りがある場合、このシンドロームにより、データのど
こに誤りがあるかを読取りこのデータの誤りを訂正して
データ線路５を介して外部に出力する。

ところで、ＥＣＣ回路１の利用に際して、ＥＣＣ回路１
の動作が正常か否かを確認するためのテスト（以下単に
「動作テスト」という）が行われる。この動作テストで
は、種々の誤りパターンのデータやシンドロームをＥＣ
Ｃ回路１に入力することによって、その動作が試される
。

しかしながら、人為的にビットを変更させることにより
種々の誤りパターンのデータやシンドロームを発生させ
ることには多大な労力を要する。

さらに、このような方法では、誤り検出・訂正装置の立
ち上げ時に、自動的にＥＣＣ回路１の動作テストを行う
ことはできない。

（発明が解決しようとする課題） このように従来の誤り検出・訂正装置では、その動作テ
ストにおいて、人為的にビットを変更させることにより
種々の誤りパターンのデータやシンドロームを発生する
ことに多大な労力を要し、さらに、誤り検出・訂正装置
の立ち上げ時に、自動的にＥＣＣ回路の動作テストを行
うことはできないという問題があった。

本発明はこのような問題に鑑みてなされたもので、その
目的とするところは、簡単にＥＣＣ回路の動作テストが
行え、さらに、誤り検出・訂正装置の立ち上げ時にも、
自動的にＥＣＣ回路の動作テストを行うことができる誤
り検出・訂正装置を提供することにある。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 前記目的を達成するために本発明は、第１のデ゛−夕が
入力されると当該第１のデータに基づいた第１のシンド
ロームを生成し、第２のデータと第２のシンドロームが
入力されると当該第２のシンドロームに基づいて当該第
２のデータの誤りを訂正するＥＣＣ回路と、所定のプロ
グラムに基づいて生成されたテスト用シンドロームを記
憶するシンドロームレジスタと、データとシンドローム
とを記憶する記憶手段と、前記第１のシンドロームと前
記テスト用シンドロームのいずれか一方を選択して前記
記憶手段に入力せしめ、前記テスト用シンドロームと前
記記憶手段に記憶されたシンドロームのいずれか一方を
選°択して前記ＥＣＣ回路に入力せしめるシンドローム
セレクタとを具備することを特徴とするものである。

（作　用） 本発明では、所定のプログラムによって発生させたテス
ト用シンドロームは一旦シンドロームレジスタによって
記憶される。そしてシンドロームセレクタによって、こ
のテスト用シンドロームはＥＣＣ回路に送られる。

したがって、所定のプログラムによって自動的に種々の
誤りパターンのデータやシンドロームを発生させ、それ
らについてＥＣＣ回路の動作テストを行えるので、労力
を軽減でき、さらに、誤り検出・訂正装置の立ちあげ時
に、自動的にＥＣＣ回路の動作テストを行うことができ
る。

（実施例） 以下、図面に基づいて本発明の一実施例を詳細に説明す
る。

第１図は本実施例の誤り検出・訂正装置の構成を示すブ
ロック図である。

同図に示されるようにこの誤り検出・訂正装置は、シン
ドロームレジスタ１１、ＥＣＣ回路１３、シンドローム
セレクタ１５、記憶手段たるメモリアレイ１７からなる
。

シンドロームレジスタ１１は、所定のプログラムに基づ
いて生成されシンドローム線路１９から入力される動作
テストに必要なテスト用シンドロームを記憶して、テス
ト時にこのテスト用シンドロームをシンドローム線路２
０を介してシンドロームセレクタ１５に送る。

ＥＣＣ回路１３は通常時には外部からデータ線路２１を
介して入力される第１のデータから第１のシンドローム
（生成シンドローム）を生成し、このデータをメモリア
レイ１７のデータ部に、生成シンドロームをシンドロー
ムセレクタ１５にそれぞれデータ線路２２、シンドロー
ム線路２３を介して送る。

また、誤り訂正を行う場合、シンドロームセレクタ１５
からシンドローム線路２５を介して送られる第２のシン
ドロームにより、メモリアレイ１７からデータ線路２２
を介して送られる第２のデータを訂正してデータ線路２
１から外部に出力する。

メモリアレイ１７は、シンドロームセレクタ１５からシ
ンドローム線路２６を介して送られるシンドロームをシ
ンドローム部１７ａに記憶し、ＥＣＣ回路１３からデー
タ線路２２を介して送られるデータをデータ部１７ｂに
記憶する。

シンドロームセレクタ１５は、シンドローム線路２３か
ら入力される生成シンドロームとシンドローム線路２０
から入力されるテスト用シンドロームのいずれか一方を
選択して、シンドローム線路２６を介してメモリアレイ
１７のシンドローム部１７ａに送り、また、シンドロー
ム線路２０から入力されるテスト用シンドロームとシン
ドローム線路２６から人力されるシンドローム部１７ａ
に記憶されたシンドロームのいずれか一方を選択して、
シンドローム線路２５を介してＥＣＣ回路１３に送る。

次に、本実施例の動作テスト時の動作を第１図に示すコ
ースＡ・コースＢに分けて説明する。

コースＡの動作について説明する。

まず、動作テストに必要なテスト用シンドロームがシン
ドロームレジスタ１１に書込まれる。

次に、データ線路２２からメモリアレイ１７のデータ部
１７ｂにデータが書込まれる際に、シンドロームセレク
タ１５は、このデータに基づいてＥＣＣ回路１３で生成
された生成シンドロームに代り、テスト用シンドローム
をメモリアレイ１７のシンドローム部１７ａに送り、こ
のテスト用シンドロームがシンドローム部１７ａに書込
まれる。

次に、シンドロームセレクタ１５はシンドローム部１７
ａのテスト用シンドロームをＥＣＣ回路１３に送るよう
に切替わり、メモリアレイ１７のシンドローム部１７ａ
からテスト用シンドロームがシンドロームセレクタ１５
を介してＥＣＣ回路１３に人力され、また、メモリアレ
イ１７のデータ部１７ｂからデータがＥＣＣ回路１３に
入力される。すなわちＥＣＣ回路１３に動作テストの対
象となるテスト用シンドロームとデータとが入力され、
ＥＣＣ回路の動作テストが行われる。

ただし、この方法ではメモリアレイ１７のシンドローム
部１７ａに先に書込まれていた生成シンドロームが、テ
スト用シンドロームに書替えられてしまうので、メモリ
アレイ１７のシンドローム部１７ａの内容を変更せずに
動作テストを行うこともできる。

これはコースＢによって実現できる。

まず、動作テストに必要なテスト用シンドロームがシン
ドロームレジスタ１１に書込まれる。また、データがメ
モリアレイ１７のデータ部１７ｂに書込まれ、このデー
タに基づいてＥＣＣ回路１３で生成された生成シンドロ
ームがメモリアレイ１７のシンドローム部１７ａに書込
まれる。

次に、シンドロームセレクタ１５はシンドローム部１７
ａから送られる生成シンドロームの代りにシンドローム
レジスタ１１から送られるテスト用シンドロームを選択
するように切替わり、テスト用シンドロームをＥＣＣ回
路１３に送り、また、データをＥＣＣ回路１３に入力送
る。すなわちＥＣＣ回路１３に動作テストの対象となる
テスト用シンドロームとデータとが入力され、ＥＣＣ回
路の動作テストが行われる。

したがって、コースＢの動作テストでは、メモリアレイ
１７に書込まれていたシンドロームがテスト用シンドロ
ームに書替えられることはない。

なお、コースＡの動作テストは、コースＢではテストで
きないシンドロームセレクタ１５とメモリアレイ１７の
間のシンドロームの転送の際に生じる可能性のあるシン
ドロームの誤りに関するテストに関して特に有効である
。

かくして本実施例によれば、動作テストにおいて、所定
のプログラムによって自動的に種々の誤りパターンのデ
ータ・生成シンドロームを発生させることにより労力を
軽減し、さらに、誤り検出・訂正装置の立ち上げ時に、
自動的にＥＣＣ回路の動作テストを行うことが可能な誤
−り検出・訂正装置を提供することができる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれば、簡単にＥＣＣ回路
の動作テストが行え、さらに、誤り検出・訂正装置の立
ち上げ時にも、自動的にＥＣＣ回路の動作テストを行う
ことが可能な誤り検出・訂正装置を提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】 第１図は本実施例の誤り検出・訂正装置の構成を示すブ
ロック図、第２図は従来の誤り検出・訂正装置の構成を
示すブロック図である。 １１・・・シンドロームレジスタ、１３・・・ＥＣＣ回
路、１５・・・シンドロームセレクタ、１７・・・メモ
リアレイ 出願人　　　　　　株式会社　東芝

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 第１のデータが入力されると当該第１のデータに基づい
   た第１のシンドロームを生成し、第２のデータと第２の
   シンドロームが入力されると当該第２のシンドロームに
   基づいて当該第２のデータの誤りを訂正するＥＣＣ回路
   と、 所定のプログラムに基づいて生成されたテスト用シンド
   ロームを記憶するシンドロームレジスタと、 データとシンドロームとを記憶する記憶手段と、前記第
   １のシンドロームと前記テスト用シンドロームのいずれ
   か一方を選択して前記記憶手段に入力せしめ、前記テス
   ト用シンドロームと前記記憶手段に記憶されたシンドロ
   ームのいずれか一方を選択して前記ＥＣＣ回路に入力せ
   しめるシンドロームセレクタと、 を具備することを特徴とする誤り検出・訂正装置。