JPH02259458A - 水素ガスセンサ - Google Patents
水素ガスセンサInfo
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- JPH02259458A JPH02259458A JP1081117A JP8111789A JPH02259458A JP H02259458 A JPH02259458 A JP H02259458A JP 1081117 A JP1081117 A JP 1081117A JP 8111789 A JP8111789 A JP 8111789A JP H02259458 A JPH02259458 A JP H02259458A
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- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 112
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 62
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 62
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims abstract description 44
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 42
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 26
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 claims description 10
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 8
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 7
- 230000005679 Peltier effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims 1
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 abstract description 13
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 abstract description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 239000003973 paint Substances 0.000 abstract description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 24
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 13
- 229910000809 Alumel Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920006332 epoxy adhesive Polymers 0.000 description 3
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018487 Ni—Cr Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007084 catalytic combustion reaction Methods 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 2
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000713 I alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000914 Mn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N Protium Chemical compound [1H] YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000567 combustion gas Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 239000005001 laminate film Substances 0.000 description 1
- ATTFYOXEMHAYAX-UHFFFAOYSA-N magnesium nickel Chemical compound [Mg].[Ni] ATTFYOXEMHAYAX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- DSGIMNDXYTYOBX-UHFFFAOYSA-N manganese zirconium Chemical compound [Mn].[Zr] DSGIMNDXYTYOBX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZSJFLDUTBDIFLJ-UHFFFAOYSA-N nickel zirconium Chemical compound [Ni].[Zr] ZSJFLDUTBDIFLJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010356 wave oscillation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は水素ガスの検出を行う水素ガスセンサに関する
。
。
(ロ)従来の技術
可燃性ガス漏れ警報器やガス濃度計に用いられるガスセ
ンサとして、SnO,粉末焼結体などを用いた半導体式
ガスセンサや、白金触媒などを用いた接触燃焼式ガスセ
ンサが普及している。これらのセンサのガス検出原理は
半導体式ガスセンサでは半導体表面へのガス吸着現象に
よって電気抵抗や仕事関数などの物性が変化することを
利用しており、接触燃焼式ガスセンサではガスの接触燃
焼による温度変化によって電気抵抗が変化することを利
用している(例えば特開昭61−66956号公報、特
開昭61−223642号公報参照)、ところが、これ
等のガスセンサの作動温度は一般に、200〜500℃
と高温を必要とするので、その取り扱いが複雑である上
にガスセンサの経時変化が激しいなどの問題点があった
。
ンサとして、SnO,粉末焼結体などを用いた半導体式
ガスセンサや、白金触媒などを用いた接触燃焼式ガスセ
ンサが普及している。これらのセンサのガス検出原理は
半導体式ガスセンサでは半導体表面へのガス吸着現象に
よって電気抵抗や仕事関数などの物性が変化することを
利用しており、接触燃焼式ガスセンサではガスの接触燃
焼による温度変化によって電気抵抗が変化することを利
用している(例えば特開昭61−66956号公報、特
開昭61−223642号公報参照)、ところが、これ
等のガスセンサの作動温度は一般に、200〜500℃
と高温を必要とするので、その取り扱いが複雑である上
にガスセンサの経時変化が激しいなどの問題点があった
。
このような点に着目して、本特許出願人は水素ガスを選
択的に吸放出する水素吸蔵合金を水素ガスセンサに応用
することことにより前述のセンサに比べ選択的に水素を
検出でき、また作動温度も100℃以下と画期的な水素
ガスセンサを発明し、既に出願している(特願昭63−
184809号公報、特願昭63−320943号公報
)。
択的に吸放出する水素吸蔵合金を水素ガスセンサに応用
することことにより前述のセンサに比べ選択的に水素を
検出でき、また作動温度も100℃以下と画期的な水素
ガスセンサを発明し、既に出願している(特願昭63−
184809号公報、特願昭63−320943号公報
)。
一方、この水素吸蔵合金を用いた水素ガスセンサは水素
検知時に水素を吸収するので、センサ機能を再生するた
め水素検知時に吸収し、水素を加熱操作により放出する
必要があり、そのために再生方式として従来は素子外部
からガスセンサ、特に水素吸蔵合金を加熱する方式が用
いられていた。
検知時に水素を吸収するので、センサ機能を再生するた
め水素検知時に吸収し、水素を加熱操作により放出する
必要があり、そのために再生方式として従来は素子外部
からガスセンサ、特に水素吸蔵合金を加熱する方式が用
いられていた。
(ハ)発明が解決しようとする課題
然し乍ら、この外部加熱方式ではヒータから水素吸蔵合
金への熱伝導性が低いため素子の加熱に依る水素ガス放
出に時間が掛かる上に、水素ガス放出のための加熱後に
はセンサを常温に戻す必要があり、その冷却にも時間が
掛かり、センサ機能の再生には相当の時間を要するとい
う問題点があった。
金への熱伝導性が低いため素子の加熱に依る水素ガス放
出に時間が掛かる上に、水素ガス放出のための加熱後に
はセンサを常温に戻す必要があり、その冷却にも時間が
掛かり、センサ機能の再生には相当の時間を要するとい
う問題点があった。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明による水素ガスセンサは、水素ガス検出のための
水素吸蔵合金膜を加熱したり、センサそのものを冷却し
たりする温度制御手段をセンサに一体的に組み込んでい
る。
水素吸蔵合金膜を加熱したり、センサそのものを冷却し
たりする温度制御手段をセンサに一体的に組み込んでい
る。
(ホ)作用
本発明によれば、加熱機構や冷却機構がセンサと一体的
に組み込まれているので、水素吸蔵合金膜に対する熱伝
導性が向上し、加熱冷却を迅速に行うことができる。よ
って、水素吸蔵合金膜中に吸収された水素を加熱により
放出した後、水素検知温度に戻すというセンサ機能の再
生過程の所要時間を短縮出来る。
に組み込まれているので、水素吸蔵合金膜に対する熱伝
導性が向上し、加熱冷却を迅速に行うことができる。よ
って、水素吸蔵合金膜中に吸収された水素を加熱により
放出した後、水素検知温度に戻すというセンサ機能の再
生過程の所要時間を短縮出来る。
(へ)実施例
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
く第1実施例〉
第1図及び第2図は本発明水素ガスセンサ、特に歪ゲー
ジ式水素ガスセンサの概略を例示した正に 面図並び断面図である。これ等の図において、へ (1)は絶縁性基板で、例えば長さ10■、幅2゜■、
厚さ0.2■のポリイミド等の高分子膜で構成されてい
る。(2)は応力が掛かることに依って、その電気抵抗
が変化する歪素子膜で、基板(1)の−表面にCu−N
i合金、或いはNi−Cr−■合金等をスパッタ法、も
しくは蒸着法により線幅50ttm、膜厚30μm、電
気抵抗値約120Ωになるように蛇行状に被着作成され
ている。
ジ式水素ガスセンサの概略を例示した正に 面図並び断面図である。これ等の図において、へ (1)は絶縁性基板で、例えば長さ10■、幅2゜■、
厚さ0.2■のポリイミド等の高分子膜で構成されてい
る。(2)は応力が掛かることに依って、その電気抵抗
が変化する歪素子膜で、基板(1)の−表面にCu−N
i合金、或いはNi−Cr−■合金等をスパッタ法、も
しくは蒸着法により線幅50ttm、膜厚30μm、電
気抵抗値約120Ωになるように蛇行状に被着作成され
ている。
(3)は絶縁性基板(1)の歪素子膜(2)を貼付許せ
ない他面の全面に被着した水素吸蔵合金膜で、例えばL
aN1aを膜厚2.5μmでスパッタ法により膜形成し
ている。(4)は歪素子膜(2)の同縁に設けられたN
i−Cr合金から成るヒータであり線幅1■、厚10.
1111の波線状にスパッタ法などによって被着される
。(5)はこのヒータ(4)に近接して設けられたクロ
メルアルメル熱電対から成る温度センサで、形状は線幅
0.5■、厚さ0.5mでスパッタ法に依って形成され
る。
ない他面の全面に被着した水素吸蔵合金膜で、例えばL
aN1aを膜厚2.5μmでスパッタ法により膜形成し
ている。(4)は歪素子膜(2)の同縁に設けられたN
i−Cr合金から成るヒータであり線幅1■、厚10.
1111の波線状にスパッタ法などによって被着される
。(5)はこのヒータ(4)に近接して設けられたクロ
メルアルメル熱電対から成る温度センサで、形状は線幅
0.5■、厚さ0.5mでスパッタ法に依って形成され
る。
尚、これ等のヒータ(4)及び温度センサ(5)として
は、既存のものをエポキシ系の接着剤で貼付することに
より、歪素子膜(2)の温度制御を行えるように配置さ
せても良い。
は、既存のものをエポキシ系の接着剤で貼付することに
より、歪素子膜(2)の温度制御を行えるように配置さ
せても良い。
更に、く6)は表面保護層で、歪素子膜(2)とヒータ
(4)及び温度センサ(5)を保護するため、歪素子膜
(2)とヒータ(3〉及び温度センサ(5)の上面全面
にラミネートフィルムを貼付あるいは耐熱性の塗料を塗
布して形成される。(7)はこの表面保護層(6)の上
面に貼付或いはスパッタ法により形成された電子冷却素
子でMl流を流すことに依って冷却及び加熱現象が起こ
るペルチェ効果を利用したペルチェ素子から成っている
。
(4)及び温度センサ(5)を保護するため、歪素子膜
(2)とヒータ(3〉及び温度センサ(5)の上面全面
にラミネートフィルムを貼付あるいは耐熱性の塗料を塗
布して形成される。(7)はこの表面保護層(6)の上
面に貼付或いはスパッタ法により形成された電子冷却素
子でMl流を流すことに依って冷却及び加熱現象が起こ
るペルチェ効果を利用したペルチェ素子から成っている
。
次に、このように構成きれたセンサの動作について説明
する。
する。
水素検知原理は水素吸蔵合金膜(3)が水素を吸収して
膨張した際の歪変化による歪素子膜(2)の抵抗変化を
ホイーストンブリッジを用いて電圧変化として検出する
ことにより水素ガスを検知するものである。従って、第
1図、第2図に示した水素ガスセンサをヒータ(4)、
温度センサ(5)及びその他外部の温度調節器などによ
り、例えば5゜°Cの一定に保ち、被検ガスとして水素
と空気の混合ガス(HIIVOI%)を全圧fat−の
条件で水素検知を行ったところ、水素吸蔵合金膜く3)
が水素を吸収して膨張し、歪素子膜く2)の歪変化が1
70μsと値をパした。
膨張した際の歪変化による歪素子膜(2)の抵抗変化を
ホイーストンブリッジを用いて電圧変化として検出する
ことにより水素ガスを検知するものである。従って、第
1図、第2図に示した水素ガスセンサをヒータ(4)、
温度センサ(5)及びその他外部の温度調節器などによ
り、例えば5゜°Cの一定に保ち、被検ガスとして水素
と空気の混合ガス(HIIVOI%)を全圧fat−の
条件で水素検知を行ったところ、水素吸蔵合金膜く3)
が水素を吸収して膨張し、歪素子膜く2)の歪変化が1
70μsと値をパした。
次に、センサ機能再生のため空気中においてヒータ(4
)に通電して昇温時間30秒で水素ガスセンサ、特に水
素を吸収した水素吸蔵合金1!X(3>を200℃まで
昇温させ、ヒータ〈4)と温度センサ(5)及びその他
の温度調節器を用いて200 ”Cのまま3分間保持し
、その後加熱を止め電子冷却素子(7)を作動させて水
素ガスセンサを水素検知温度50℃まで冷却した。この
場合の冷却時間は2分30秒であった。これら一連の操
作から歪量の値は170μεから初期値の0に戻りセン
サ機能の再生が完了し、その再生に要した時間は合計6
分であった。
)に通電して昇温時間30秒で水素ガスセンサ、特に水
素を吸収した水素吸蔵合金1!X(3>を200℃まで
昇温させ、ヒータ〈4)と温度センサ(5)及びその他
の温度調節器を用いて200 ”Cのまま3分間保持し
、その後加熱を止め電子冷却素子(7)を作動させて水
素ガスセンサを水素検知温度50℃まで冷却した。この
場合の冷却時間は2分30秒であった。これら一連の操
作から歪量の値は170μεから初期値の0に戻りセン
サ機能の再生が完了し、その再生に要した時間は合計6
分であった。
又、従来例として素子内部のヒータのない場合内径15
m、外径23−の円筒状ステンレス容器中に封入された
水素ガスセンサを上記と同条件で水素検知試験後、容器
内を空気置換し電熱コイル型出力100Wの外部ヒータ
を用いて容器内の素子を200℃昇温するのに約20分
要し、その後200°Cのまま3分間保持し、ブロワ−
にて外部より送風冷却し、50°Cまで容器内部の素子
を冷却するのに約40分要した。このために従来例では
センサ機能の再生が完了するのに約60分以上時間が必
要であった。
m、外径23−の円筒状ステンレス容器中に封入された
水素ガスセンサを上記と同条件で水素検知試験後、容器
内を空気置換し電熱コイル型出力100Wの外部ヒータ
を用いて容器内の素子を200℃昇温するのに約20分
要し、その後200°Cのまま3分間保持し、ブロワ−
にて外部より送風冷却し、50°Cまで容器内部の素子
を冷却するのに約40分要した。このために従来例では
センサ機能の再生が完了するのに約60分以上時間が必
要であった。
従って、本発明の水素ガスセンサは従来例のそれと比べ
再生時間は約1/10と短縮されることが判った。
再生時間は約1/10と短縮されることが判った。
く第2実施例〉
第3図は本発明の第2の実施例を示しており、弾性表面
波式水素ガスセンサを例示したものである。
波式水素ガスセンサを例示したものである。
この図において、(8)はガスセンサの主要部を成す圧
電体基板で、例えば長諮10■、幅21、厚さ0.11
11のLiNb0.から構成されている。
電体基板で、例えば長諮10■、幅21、厚さ0.11
11のLiNb0.から構成されている。
(9)はこの基板(8)表面の一側に設けられた弾性表
面波(10)を励振する櫛型励振電極、(11)はこの
櫛型励振電極(9)に対向して圧電体基板(8)の表面
の他側に設けられた櫛型受信電極であり、櫛型励振電極
(9〉から圧電体基板(8)の表面を伝播して来る弾性
表面波(10)を受信して電気信号に変換する働きを為
す、これらの櫛型電極(9)、(11)は電極間隔5■
、対数50対、電極間隔5μm1交差長1m、厚さ10
00人のアルミニウム膜にて構成され、マグネトロンス
パッタ法にて作成される。 (12)は内電極(9)、
<11)間の圧電体基板(8)の表面を被覆した水素吸
蔵合金膜で長さ41、幅1.81、膜厚1μmのl、a
NLの合金材料を用いた高周波スパッタ法により形成さ
れている。そして、(13〉はヒータで、線幅0.21
、厚き2μmのNi−Cr合金から蛇行状に高周波スパ
ッタ法により形成される。 (14)は水素吸蔵合金膜
(12)上に被着した温度センサで、クロメルアルメル
熱電対の線幅Q、11111.厚さ2μmで高周波スパ
ッタ法により形成される。
面波(10)を励振する櫛型励振電極、(11)はこの
櫛型励振電極(9)に対向して圧電体基板(8)の表面
の他側に設けられた櫛型受信電極であり、櫛型励振電極
(9〉から圧電体基板(8)の表面を伝播して来る弾性
表面波(10)を受信して電気信号に変換する働きを為
す、これらの櫛型電極(9)、(11)は電極間隔5■
、対数50対、電極間隔5μm1交差長1m、厚さ10
00人のアルミニウム膜にて構成され、マグネトロンス
パッタ法にて作成される。 (12)は内電極(9)、
<11)間の圧電体基板(8)の表面を被覆した水素吸
蔵合金膜で長さ41、幅1.81、膜厚1μmのl、a
NLの合金材料を用いた高周波スパッタ法により形成さ
れている。そして、(13〉はヒータで、線幅0.21
、厚き2μmのNi−Cr合金から蛇行状に高周波スパ
ッタ法により形成される。 (14)は水素吸蔵合金膜
(12)上に被着した温度センサで、クロメルアルメル
熱電対の線幅Q、11111.厚さ2μmで高周波スパ
ッタ法により形成される。
更に、(15)は絶縁膜で、水素吸蔵合金膜(12)と
ヒータ(13)、水素吸蔵合金膜(12)と温度センサ
(14)の間に絶縁性が保てる様、ヒータ(13)及び
温度センサ(14)を作成する前にヒータ(13)、温
度センサ(14)の形状より若干大きく、線幅0.25
1111、厚さ05′mでアルミナ等のセラミックスを
用いて高周波スパッタ法により形成した。さらに圧電体
基板(8)の裏面全面に既存のペルチェ素子である電子
冷却素子(16)をエポキシ系接着剤により貼付する。
ヒータ(13)、水素吸蔵合金膜(12)と温度センサ
(14)の間に絶縁性が保てる様、ヒータ(13)及び
温度センサ(14)を作成する前にヒータ(13)、温
度センサ(14)の形状より若干大きく、線幅0.25
1111、厚さ05′mでアルミナ等のセラミックスを
用いて高周波スパッタ法により形成した。さらに圧電体
基板(8)の裏面全面に既存のペルチェ素子である電子
冷却素子(16)をエポキシ系接着剤により貼付する。
このように形成された櫛型励振電極(9)と櫛型受信電
極(11)との間に接続した帰還増幅器(17)により
弾性表面波発振回路を構成し、横型受信電極(11)で
受信した信号を帰還増幅器(17)で増幅して再び櫛型
励振電極(9)に帰還することにより発振動作を行う。
極(11)との間に接続した帰還増幅器(17)により
弾性表面波発振回路を構成し、横型受信電極(11)で
受信した信号を帰還増幅器(17)で増幅して再び櫛型
励振電極(9)に帰還することにより発振動作を行う。
次に、このような構成の水素ガスセンサの動作について
説明する。被検ガス中の水素ガスが水素吸蔵合金膜(1
2)と反応して発熱し、弾性表面波(10)の伝播速度
が変化し、又位相条件と発振回路の発振条件が変化する
ので発振周波数も変わり水素ガスのセンシング動作が行
われる。このセンシング動作を実験例に基づいて説明す
ると、ヒータ(13)、温度センサ(14)及び外部温
度調節器などにより50℃に水素ガスセンサを保持する
。その時の空気中では発振回路の発振周波数は170M
I(Zであった。そこで、同温度で水素1v01%、空
気99vo1%の被検ガス中に゛水素ガスセンサを置く
ことに依って水素吸蔵合金膜(12)が水素を吸収して
該合金膜(12)が発熱し、櫛型電極(9)、(11)
との間の弾性表面波(10)の伝播条件が変化し、その
結果センサ出力として発振回路の発振周波数が約200
Hz変化したことを確認した。
説明する。被検ガス中の水素ガスが水素吸蔵合金膜(1
2)と反応して発熱し、弾性表面波(10)の伝播速度
が変化し、又位相条件と発振回路の発振条件が変化する
ので発振周波数も変わり水素ガスのセンシング動作が行
われる。このセンシング動作を実験例に基づいて説明す
ると、ヒータ(13)、温度センサ(14)及び外部温
度調節器などにより50℃に水素ガスセンサを保持する
。その時の空気中では発振回路の発振周波数は170M
I(Zであった。そこで、同温度で水素1v01%、空
気99vo1%の被検ガス中に゛水素ガスセンサを置く
ことに依って水素吸蔵合金膜(12)が水素を吸収して
該合金膜(12)が発熱し、櫛型電極(9)、(11)
との間の弾性表面波(10)の伝播条件が変化し、その
結果センサ出力として発振回路の発振周波数が約200
Hz変化したことを確認した。
水素ガス検知後センサ機能の再生のために空気中でヒー
タ(13)により、昇温時間30秒で200°Cまで昇
温させ、温度センサ〈14)と温度調節器を用いて20
0 ’Cで3分間保持し、水素吸蔵合金膜(12)が吸
収した水素を放出せしめ、その後加熱を止め電子冷却素
子(16)により、50°Cの初期温度まで冷却させた
。この場合の冷却時間は3分30秒であった。
タ(13)により、昇温時間30秒で200°Cまで昇
温させ、温度センサ〈14)と温度調節器を用いて20
0 ’Cで3分間保持し、水素吸蔵合金膜(12)が吸
収した水素を放出せしめ、その後加熱を止め電子冷却素
子(16)により、50°Cの初期温度まで冷却させた
。この場合の冷却時間は3分30秒であった。
この一連の操作により出力周波数は水素ガス検知前の値
に戻りセンサ機能の再生が完了した。これらの再生完了
に要したのは合計7分であった。
に戻りセンサ機能の再生が完了した。これらの再生完了
に要したのは合計7分であった。
また、従来例として水素ガスセンサの外部から加熱冷却
してセンサ機能再生を行う場合、第1実施例の場合と同
様に約60分以上の時間を費やした。従って、本発明例
の水素ガスセンサは従来例のそれと比べ、再生時間は約
178以上短縮きれることが判った。
してセンサ機能再生を行う場合、第1実施例の場合と同
様に約60分以上の時間を費やした。従って、本発明例
の水素ガスセンサは従来例のそれと比べ、再生時間は約
178以上短縮きれることが判った。
〈第3実施例〉
第4図及び第5図は本発明の第3の実施例の正面図並び
に断面図で、電気抵抗変化検出型水素ガスセンサを例示
したものである。
に断面図で、電気抵抗変化検出型水素ガスセンサを例示
したものである。
これらの図において、(18)はガスセンサの主要部を
成す絶縁性基板で、例えば長さ20111.幅30■、
厚さ2■のガラスセラミックス或いは高分子膜より構成
されている。 (19)は、この絶縁性基板(1B)上
に被着された水素吸蔵合金膜で、幅11、膜厚0.1μ
m、電気抵抗値8.OkΩのLaNtmの合金材料より
高周波スパッタ法にて蛇行して形成される。 (20)
は、こ、の水素吸蔵合金膜(19)に近接して設けられ
たヒータで、幅1m、膜厚50μmのNi−Cr合金に
より櫛型状に高周波スパッタ法を用いて形成される。き
らに、 (21)はこのヒータ(20)に約0.11の
間隔で設けたクロメルアルメル熱電対から成る温度セン
サで、高周波スパッタ法により形成される。また、(2
2)は絶縁性基板(18)の裏側の底全面に既存のペル
チェ素子である電子冷却素子で、エポキシ系接着剤によ
り貼付する。
成す絶縁性基板で、例えば長さ20111.幅30■、
厚さ2■のガラスセラミックス或いは高分子膜より構成
されている。 (19)は、この絶縁性基板(1B)上
に被着された水素吸蔵合金膜で、幅11、膜厚0.1μ
m、電気抵抗値8.OkΩのLaNtmの合金材料より
高周波スパッタ法にて蛇行して形成される。 (20)
は、こ、の水素吸蔵合金膜(19)に近接して設けられ
たヒータで、幅1m、膜厚50μmのNi−Cr合金に
より櫛型状に高周波スパッタ法を用いて形成される。き
らに、 (21)はこのヒータ(20)に約0.11の
間隔で設けたクロメルアルメル熱電対から成る温度セン
サで、高周波スパッタ法により形成される。また、(2
2)は絶縁性基板(18)の裏側の底全面に既存のペル
チェ素子である電子冷却素子で、エポキシ系接着剤によ
り貼付する。
次に、この電気抵抗変化型水素ガスセンサの動作につい
て説明する。被検ガス中の水素ガスが水素吸蔵合金膜(
19)に吸収されることにより、その水素吸蔵合金膜(
19)の電気伝導率が変化する。この電気抵抗変化をホ
イーストンプリッジ回路を用いて電圧出力として取り出
すものである。
て説明する。被検ガス中の水素ガスが水素吸蔵合金膜(
19)に吸収されることにより、その水素吸蔵合金膜(
19)の電気伝導率が変化する。この電気抵抗変化をホ
イーストンプリッジ回路を用いて電圧出力として取り出
すものである。
このガスセンサの実験例に基づいて説明すると、ヒータ
(20)、温度センサ(21)及び外部温度調節器など
により50℃にガスセンサを保持しながら水素1 vo
1%、空気99vo1%の混合ガスである被検ガスに対
し水素の検知を行ったところ、温度センサ(21)の電
気抵抗値が8.OkΩから7 、9 kΩと変化し、約
1%減少することが確認された。
(20)、温度センサ(21)及び外部温度調節器など
により50℃にガスセンサを保持しながら水素1 vo
1%、空気99vo1%の混合ガスである被検ガスに対
し水素の検知を行ったところ、温度センサ(21)の電
気抵抗値が8.OkΩから7 、9 kΩと変化し、約
1%減少することが確認された。
次に、センサ機能の再生のために空気中にヒータ(20
)と温度調節器を用いて、200″Cで3分間保持し続
け、その後加熱を止め50″Cの初期温度まで電子冷却
素子(22〉により冷却させた。その冷却時間は3分で
あった。
)と温度調節器を用いて、200″Cで3分間保持し続
け、その後加熱を止め50″Cの初期温度まで電子冷却
素子(22〉により冷却させた。その冷却時間は3分で
あった。
この一連の操作により水素吸蔵合金膜(19)の電気抵
抗値が8にΩの初期値に戻り、センサ機能の再生が完了
した。これらの再生完了に要したのは合計約7分であっ
た。又、従来例として水素ガスセンサの外部から加熱冷
却してセンサ機能再生を行う場合、第1、第2実施例と
同様に約70分以上の時間を費やした。
抗値が8にΩの初期値に戻り、センサ機能の再生が完了
した。これらの再生完了に要したのは合計約7分であっ
た。又、従来例として水素ガスセンサの外部から加熱冷
却してセンサ機能再生を行う場合、第1、第2実施例と
同様に約70分以上の時間を費やした。
従って、本発明例の水素ガスセンサは従来例のそれと比
べ再生時間は約1/10に短縮きれることが判った。
べ再生時間は約1/10に短縮きれることが判った。
以上のことから、第1.2.3実施例及び従来例のセン
サの機能再生時間の比較を第6図の表図にまをめた。こ
の第6図から、本発明例のガスセンサが従来例のそれよ
りも迅速に再生が可能であることが理解できるであろう
。
サの機能再生時間の比較を第6図の表図にまをめた。こ
の第6図から、本発明例のガスセンサが従来例のそれよ
りも迅速に再生が可能であることが理解できるであろう
。
尚、ヒータ、温度センサ、電子冷却素子及び水素吸蔵合
金膜の形成方法としてスパッタ法以外にも蒸着法、フラ
ッシュ蒸着法、イオンプレーディング法、CVD法など
も利用可能であり、また水素吸蔵合金のl、aNii以
外の水素吸蔵合金として、希土類−ニッケル系合金、チ
タニウム基合金、ジルコニウム−ニッケル系合金、ジル
コニウム−マンガン系合金、マグネシウム−ニッケル系
合金などを利用することが可能である。
金膜の形成方法としてスパッタ法以外にも蒸着法、フラ
ッシュ蒸着法、イオンプレーディング法、CVD法など
も利用可能であり、また水素吸蔵合金のl、aNii以
外の水素吸蔵合金として、希土類−ニッケル系合金、チ
タニウム基合金、ジルコニウム−ニッケル系合金、ジル
コニウム−マンガン系合金、マグネシウム−ニッケル系
合金などを利用することが可能である。
(ト)発明の効果
以上の様に本発明によれば、水素吸蔵合金膜を直接加熱
冷却する温度制御手段をセンサ内に一体的に組み込んで
いるので、水素吸蔵合金膜の中に吸収された水素を加熱
により放出した後、水素検知温度に戻すというセンサ機
能の再生過程の所要時間を短縮出来る。
冷却する温度制御手段をセンサ内に一体的に組み込んで
いるので、水素吸蔵合金膜の中に吸収された水素を加熱
により放出した後、水素検知温度に戻すというセンサ機
能の再生過程の所要時間を短縮出来る。
の正面図並びに断面図、第3図は弾性表面波式水素ガス
センサの斜視図、第4図及び第5図は電気抵抗変化検出
型水素ガスセンサの正面図並びに断(3)、 (4)、 (5)、 (7)、 (12)、 (13)、 (14)、 (16)、 り19)・・・水素吸蔵合金膜、 (20〉・・・ヒータ、 (21)・・・温度センサ、 (22)・・・電子冷却素子。
センサの斜視図、第4図及び第5図は電気抵抗変化検出
型水素ガスセンサの正面図並びに断(3)、 (4)、 (5)、 (7)、 (12)、 (13)、 (14)、 (16)、 り19)・・・水素吸蔵合金膜、 (20〉・・・ヒータ、 (21)・・・温度センサ、 (22)・・・電子冷却素子。
出順人 三洋1!機株式会社
Claims (16)
- (1)応力を掛けることによってその電気抵抗値が変化
する歪素子膜と、その素子膜に機械的に関連付けられた
水素吸蔵合金膜と、を同一基板上に被着して成り、少な
くとも上記水素吸蔵合金膜を直接加熱する加熱機構を一
体的に組み込んだ水素ガスセンサ。 - (2)上記加熱機構は電気ヒータであることを特徴とし
た請求項第1項記載の水素ガスセンサ。 - (3)請求項第1項、または第2項記載の水素ガスセン
サにおいて、該センサを冷却する冷却機構を一体的に組
み込んだ水素ガスセンサ。 - (4)上記冷却機構はペルチェ効果を利用したペルチェ
素子であることを特徴とした請求項第3項記載の水素ガ
スセンサ。 - (5)上記歪素子膜は基板の一表面に被着され、上記水
素吸蔵合金膜は基板の他表面に被着されて成り、上記歪
素子膜周縁に電気ヒータを配置すると同時に、該歪素子
膜と電気ヒータを保護する表面保護層を形成し、その保
護膜上に上記ペルチェ素子を設けたことを特徴とする請
求項第4項記載の水素ガスセンサ。 - (6)弾性表面波を伝播させる圧電体基板上に、弾性表
面波を励振する櫛型励振電極と、その電極から圧電体基
板表面を伝播して来る弾性表面波を受信する櫛型受信電
極とを設けると共に、これ等両電極間の基板表面に水素
吸蔵合金膜を被覆し、この水素吸蔵合金膜を直接加熱す
る加熱機構を一体的に形成して成る水素ガスセンサ。 - (7)上記加熱機構は電気ヒータであることを特徴とし
た請求項第6項記載の水素ガスセンサ。 - (8)請求項第6項、または第7項記載の水素ガスセン
サにおいて、該センサを冷却する冷却機構を一体的に組
み込んだ水素ガスセンサ。 - (9)上記冷却機構はペルチェ効果を利用したペルチェ
素子であることを特徴とした請求項第8項記載の水素ガ
スセンサ。 - (10)上記櫛型励振電極及び櫛型受信電極は基板の一
表面に被着され、上記水素吸蔵合金膜は該両電極間の基
板の表面を被覆して成り、該水素吸蔵合金膜上に電気ヒ
ータを配置し、上記基板の他表面には上記ペルチェ素子
を設けたことを特徴とする請求項第9項記載の水素ガス
センサ。 - (11)上記櫛型励振電極と櫛型受信電極との間に帰還
増幅回路を接続して発振回路を構成させたことを特徴と
する請求項第6、第7、第8、第9または第10項記載
の水素ガスセンサ。 - (12)基板上に水素を吸収することに依って電気抵抗
が変化する水素吸蔵合金膜を設けて成り、その水素吸蔵
合金膜を直接加熱する加熱機構を一体的に組み込んだ水
素ガスセンサ。 - (13)上記加熱機構は電気ヒータであることを特徴と
した請求項第12項記載の水素ガスセンサ。 - (14)請求項第12項、または第13項記載の水素ガ
スセンサにおいて、該センサを冷却する冷却機構を一体
的に組み込んだ水素ガスセンサ。 - (15)上記冷却機構はペルチェ効果を利用したペルチ
ェ素子であることを特徴とした請求項第14項記載の水
素ガスセンサ。 - (16)上記水素吸蔵合金膜は基板の一表面に被着され
、該水素吸蔵合金膜周縁に電気ヒータを配置させ、基板
の他表面にペルチェ素子を設けたことを特徴とする請求
項第15項記載の水素ガスセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1081117A JP2604228B2 (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | 水素ガスセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1081117A JP2604228B2 (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | 水素ガスセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02259458A true JPH02259458A (ja) | 1990-10-22 |
JP2604228B2 JP2604228B2 (ja) | 1997-04-30 |
Family
ID=13737435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1081117A Expired - Fee Related JP2604228B2 (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | 水素ガスセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2604228B2 (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03272444A (ja) * | 1990-03-20 | 1991-12-04 | Sanyo Electric Co Ltd | 水素ガスセンサ |
JPH04282446A (ja) * | 1991-03-11 | 1992-10-07 | New Cosmos Electric Corp | ガス濃度検出方法及び検知素子並びに検出装置 |
JPH05172795A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-07-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 圧電型ガスセンサ及びその製造方法 |
US7134317B2 (en) * | 2003-09-30 | 2006-11-14 | Honda Motor Co., Ltd. | Method of detecting a hydrogen concentration and apparatus for detecting hydrogen |
JP2007024567A (ja) * | 2005-07-13 | 2007-02-01 | Toppan Printing Co Ltd | 水素センサ,燃料電池およびそれらを備える車輌 |
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US7174768B2 (en) * | 2003-12-26 | 2007-02-13 | Alps Electric Co., Ltd. | Hydrogen sensor, apparatus for measuring hydrogen concentration, and method for measuring hydrogen concentration |
JP2008078125A (ja) * | 2001-10-02 | 2008-04-03 | Sony Corp | 燃料流体用継ぎ手 |
JP2008518201A (ja) * | 2004-10-22 | 2008-05-29 | サエス ゲッタース ソチエタ ペル アツィオニ | 感知ゲッター層を有する表面弾性波ガスセンサーおよびその製造のためのプロセス |
JP2016017741A (ja) * | 2014-07-04 | 2016-02-01 | 富士電機株式会社 | ガス検出装置およびガス検出方法 |
JP2017215170A (ja) * | 2016-05-30 | 2017-12-07 | 株式会社東芝 | ガス検出装置 |
-
1989
- 1989-03-30 JP JP1081117A patent/JP2604228B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007024568A (ja) * | 2005-07-13 | 2007-02-01 | Toppan Printing Co Ltd | 水素センサ,燃料電池およびそれらを備える車輌 |
JP2007024566A (ja) * | 2005-07-13 | 2007-02-01 | Toppan Printing Co Ltd | 水素センサ,燃料電池およびそれらを備える車輌 |
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JP2016017741A (ja) * | 2014-07-04 | 2016-02-01 | 富士電機株式会社 | ガス検出装置およびガス検出方法 |
JP2017215170A (ja) * | 2016-05-30 | 2017-12-07 | 株式会社東芝 | ガス検出装置 |
US10794886B2 (en) | 2016-05-30 | 2020-10-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Gas detection device |
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JP2604228B2 (ja) | 1997-04-30 |
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |