JPH02247576A - 機器／設備の診断システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、機器・設備の予防保全に好適な診断システム
に係り、特に、回転機等の大型電気機器に好適であって
、絶縁診断により余寿命推定を行ない、定期点検時の迅
速な絶縁評価の総合判定を支援することができる診断シ
ステムに関する。

［従来の技術］ 従来のプラント、電気機器等の機器や設備についての予
防保全または保守点検は、現地での測定値を基に、工場
、保守点検中央センタ等での専門家による。基準、値と
の比較および経験と勘により。

余寿命、故障原因などの判定がなされていた。

しかし、膨大なデータとの参照作業の必要性を生じるた
め１判定までに時間を要し、また、専門家以外には判定
指示できなかった。

そこで、近年、特開昭６２−２８５２００号公報に記載
のように、現地に記憶装置と入出力端末を有する保守点
検装置を持ち込み、通信回線により、工場または保守点
検中央センタのホストコンピュータに測定値を送出し、
ホストコンピュータに有する情報処理判定機器によりデ
ータ処理を行ない、得られた判定結果を現地の保守点検
装置に取り込み。

表示または指示を実施するシステムにより、保守点検の
時間短縮をはかると共に、専門基以外にも保守管理でき
るようにする方法が提案されている。

［発明が解決しようとする課題］ しかし、上記従来技術は、通信回線を通してホストコン
ピュータとつながらなければ、現地の保守点検装置は、
何も判定できない、そのため、通信回線の存在しないよ
うな地域で使用するとき、測定値の異常の有無、余寿命
の推定などの推論を要する状況報告は、現地で何もでき
ないという問題があった。

このような場合、記憶装置に入力することによって、デ
ータを持ち帰って、ホストコンピュータにより処理する
ことも考えられる。しかし、データを持ち帰って処理し
た後、その結果に基づいて、再び現地に赴いて、必要な
保守、修理等を行なうのでは、保守点検作業に多大な時
間と１人手を要し、効率が悪いという問題があった。し
かも、対象の状態によっては、速やかに運転や使用を停
止させて、修理を行なう必要があっても、対応に遅れを
生じるという問題があった。

また、ホストコンピュータによる保守点検作業について
は、当該機器・設備の状態診断、修理の必要性１部品交
換の必要性に関し、従来の技術では、過去の記録との比
較、基準値との比較を行なうことにより、データの解析
を行なっている。

しかし１機器・設備の余寿命等のように、その診断法が
必ずしも確立されていない事項については、従来の保守
点検装置では、未解決のままであって、そのための手段
が開示されていない。

このような余寿命の予測は、機器・設備の運転計画の設
定、更新時期の検討等を行なうため、必要とされる。特
に、回転機、静止機を問わず、劣化が特性に大きな影響
を与えると共に、重大事故を誘発するおそれのある大型
電気機器にあっては、余寿命を予測することが是非とも
必要である。

また１機器・設備の種類によっては、運転の停止・起動
が容易でなく、頻繁に点検できないものがある。このよ
うな機器等にあっては、定期点検時に、余寿命を知って
おくことが好ましいと考えられる。従って、このための
手段の開発が望まれる。

さらに、機器・設備の種類によっては、点検や、検査の
ためのデータ収集を現地において実施し。

当該設備の使用が可能であるか、あるいは１機器の運転
が可能であるかを、その場で、一応の結論を出すことが
要求される場合がある。

例えば、山間地にある発電所において１発電機の点検を
行なう場合には、運転再開が可能であるかどうかを、当
該データを持ち帰って、ホストコンピュータに入力して
、解析し、その結論が出てから、それに従って、運転を
再開することになる。

従って、その間１発電機の運転を止めておかなければな
らないこと、後日、運転再開作業のための要員を派遣し
なければならないこと等の問題がある。

一方、前記結論が出る前に運転を再開した場合には、結
論が「運転不適当」であるとき、運転再開が事故の発生
につながるおそれがある。そのため、これは、安全性の
面から採用しがたい。

しかし、前述した従来の技術では、端末装置は、単にデ
ータを収集するに過ぎず、前記のような、その場で一応
の結論を出すことには対応できていなかった。

一方、保守点検装置をオンラインで使用することも考え
られる。しかし、この場合でも、通信回線と接続したり
、また、ホスト側での処理時間や。

処理結果の受信にも時間がかかり、必ずしも短時間で処
理できるとは限らない。しかも１通信回線との接続を考
慮すると、保守点検装置を任意に場所、例えば、点検対
象の近傍に配置することが困難なこともある。この場合
には、オンラインの利点は失われる。

この他、機器・設備によっては、種々の測定を行なうも
のがあり、そのための測定回路を現地で組み立てて行な
う必要がある。しかも、測定を正しく行なう必要がある
。しかし、これは、必ずしも容易なことではなく、未熟
練者が測定を行なうと、測定に誤りを生じたり、必要な
データを収集できなかったりするという問題がある。従
って。

従来は、熟練者がマニュアル等を参照しつつ、測定を行
なっていた。

しかしながら、熟練者を確保することの困難性と共に、
熟練者であっても、測定ミスを皆無とすることは容易で
ない、そのため、できる限り正確に測定が行なえて、診
断の信頼性を向上することが課題の一つとなっている。

本発明の目的は、オフラインであっても、現地で必要な
点検や測定が行なえて、しかも、その場で、運転可否等
についての一応の診断が下せて、設備の使用再開や、機
器の運転再開の適否を示すことができる機器・設備の診
断システムを提供することにある。

本発明の他の目的は、機器・設備の余寿命を予測するこ
とができる機器・設備診断システムを提供することにあ
る。

本発明のさらに他の目的は、機器・設備の診断に際し１
作業者に１点検や測定の手順、８Ｉ定回路の指示、測定
値の異常等を表示して、熟練者は勿論、熟練者でなくと
も、容易に正確な点検・測定が行なえて、信頼性の高い
診断を可能とする機器・設備の診断システムを提供する
ことにある。

［課題を解決するための手段］ 前記目的を達成するため、本発明は１点検対象の機器ま
たは設備についてデータを収集する端末装置と、該端末
装置が収集したデータに基づいて、前記点検対象の機器
または設備に゛つぃて診断を行なうホスト装置とを含ん
で構成される。

前記端末装置は、予め設定した基準値と比較して入力デ
ータの異常有無を判定し、異常が予め設定した回数続い
たとき、当該データを正常値として扱うデータチェック
機能を有する、測定支援手段を備えていることが好まし
い。

また、前記端末装置は、対象からのデータ収集について
、オペレータに教示する機能を有する測定支援手段を備
えていることが好ましい。

さらに、端末装置は、余寿命を推定するための関係式お
よび収集したデータに基づいて、当該点検対象の余寿命
を推論する機能を備えることが好ましい。

また、本発明は、点検対象の機器または設備についてデ
ータを収集する端末装置と、該端末装置が収集したデー
タに基づいて、前記点検対象の機器または設備について
診断を行なうホスト装置とを含み、前記端末装置は、デ
ータの収集を支援する手段と、得られたデータおよび余
寿命を推定するための関係式に基づいて、当該点検対象
の余寿命を推論する手段とを有し、前記ホスト装置は、
当該点検対象に関する詳細な情報から余寿命推定のため
の関係式を生成すると共に、該関係式および前記端末装
置により収集されたデータに基づいて当該対象物の余寿
命を推論する手段を有し、かつ、前記端末装置とホスト
装置とは、データの授受を行なう手段を有することを特
徴とする。

前記システムに用いる診断用端末装置としては、データ
を入力する入力装置と１着脱自在の記憶媒体を有する記
憶装置と、オペレータに対する指示および処理結果を表
示する出力装置とを有し、かつ、オペレータにたいして
点検すべき事項および手法を教示すると共、入力される
データの異常有無を判定する機能と、入力されたデータ
に基づいて、余寿命を推定する機能とを有するものが好
ましい。

本発明の診断システムは１点検ごとに蓄積される点検情
報と、モデル部品について寿命を解析したモデル部品デ
ータと、交換部品についての試験データである交換部品
データとを有するデータベースから、点検対象について
の非破壊試験データを検索し、該非破壊試験データに対
する残存破壊値の相関関係を示す実験式を求め、かつ、
前記データベースから、点検対象についての運転経歴デ
ータを検索し、該運転経歴データに対する残存破壊値の
相関関係を示す実験式を求め、点検時に得られたデータ
を、各々対応する前記実験式に入力して、各々残存破壊
値を求め、予め求められた残存破壊値と径時変化との相
関関係により、余寿命を求めることにより診断を行う。

本発明の典型的態様は、電気機器の絶縁診断システムで
あって、現地において、少なくとも、入力データの異常
有無をチェックする機能と、得られた測定データを、予
め与えられた余寿命推定式にあてはめて、余寿命を推定
して、余寿命を含む状況報告を行なう端末装置と、前記
得られた実験データにより１．余寿命および劣化要因を
推論して。

総合評価を行なうホスト装置とを備えて構成される。

［作用］ 本発明は、点検対象の機器または設備についてデータを
収集する端末装置と、該端末装置が収集したデータに基
づいて、前記点検対象の機器または設備について診断を
行なうホスト装置とを主要な要素として構成される。こ
のような構成によれば、大量のデータを有するデータベ
ースをホスト装置側に設けて、ホスト装置側で精密な診
断を行なうことができる。端末装置は、大量のデータを
有するデータベースを持たなくて済むと共に、このデー
タベースのデータによる大量・高速の演算も必要としな
いので、装置を小規模に構成できる。

従っ“て、端末装置を、可搬型とすること、あるし１は
、可搬型の汎用コンピュータを用いて構成することが可
能となる。

また、端末装置とホスト装置とにデータの授受を行なう
手段を設けることにより、端末装置の動作において必要
なデータ等をホスト装置から転送できる。一方、端末装
置において収集されたデータをホスト装置に供給できる
。

この場合、着脱自在の記憶媒体を用いてデータの授受を
行なうことができる。これにより１通信事情の悪い地域
にある点検対象についても、容易にデータの収集が可能
となる。

本発明では、端末装置に測定支援手段を備えることがで
きる。この手段が、データの収集方法を、オペレータに
教示する機能を持たせている場合には、未熟練者であっ
ても、熟練者と同様にデータの収集を行なうことが可能
となる。従って、得られたデータの信頼性が高くなり、
後の診断の信頼性も向上される。

測定支援に、測定データのチェック機能を持たせている
場合には、得られたデータが、測定法の悪さによる異常
か、本来の異常であるかを区別でき、前記と同様にデー
タの信頼性を向上できる。

端末装置に、余寿命演算および推論機能を設けることに
より、端末装置側で、一応の結論を得られ、これに基づ
いて状況報告を行なうことができる。これは、通信回線
を用いてホスト側に診断を求めてその結果を出力するこ
とができない場合に好適である。

すなわち、点検後に、当該機器の運転再開や、使用再開
を決断することが容易になると共に、危険な状態に陥る
心配なく運転や使用を再開でき、仮りに危険性があれば
、ホスト装置における精密な余寿命推定がなされるまで
、再開を保留することによって、事故発生を防止できる
。

また、本発明において、余寿命の推定に際して、非破壊
試験データ、および、運転経歴データにより余寿命を算
出することにより、異なる観点から余寿命を求めるため
、余寿命の信頼性が高くなる。

この場合、これらのデータは、新しいものが補充されて
いることが好ましい。

さらに、本発明は、劣化要因推論機能を備えることによ
り、ここで、類似の部品の劣化データを参照して、推論
を行なうことにより、余寿命の推定の信頼性が向上する
。

［実施例］ 以下、本発明の一実施例について図面を用いて説明する
。

第１図に、高圧回転機を対象機器とする絶縁診断システ
ムの構成図を示す。

第１図に示すシステムは、工場その他に設置されるホス
ト装置１と、現地において用いる可搬型の端末装置２と
を主構成要素として有する。

ホスト装置１は、高速で、大容量のデータ処理が可能な
コンピュータであって、内部機能として、推論部５．デ
ータベース１１、知識ベースエディタ２４およびインタ
フェース２８を有する。これらは、コンピュータのハー
ドウェアとソフトウェアによって実現されるものである
ことはいうまでもない。

前記インタフェース２８には、外部装置として。

データ、指示等を入力する入力装置２１と、記憶装置の
一例であるフロッピディスク装置８７と、処理結果、メ
ツセージ等を表示出力する出力装置１９とが接続されて
いる。また、端末装置２との間で通信線２３を介して通
信を行なう通信装置（図示せず）が必要に応じて接続さ
れる。

一方、ホスト装置１内の推論部５には、非破壊測定支援
７．目視点検結果判定８．余寿命演算９、余寿命推定１
５および劣化要因推論１４の各推論機能が用意されてい
る。これらは、各々プログラムの形で供給される０例え
ば、これらの推論機能の１または２以上を記憶媒体に記
憶させた状態で供給することができる。なお、各推論機
能の詳細については後述する。

なお、推論部５において、非破壊測定支援７および目視
点検結果判定８は、ホスト装置１に直接データ入力を行
なわない場合には、省略することができる。

データベース１１には、モデルコイルデータ１６、巻替
コイルデータ１７および実機データ１８が格納されてい
る。

モデルコイルデータ１６は、種々の形態のコイルについ
て１例えば、機種、線径、曲率、絶縁。

使用条件等について、予め解析して得られたデータであ
る０巻替コイルデータ１７は、実際に巻替が行なわれて
、取り外されたコイルについて、種々測定、分析等を行
なって得られたデータである。

また、実機データ１８は、診断対象となる機器について
の点検時に得らた点検情報３を集めたものであって、過
去から現在までに点検の都度保存されたものであり、当
該診断システムが対象とするすべての機器についてのデ
ータである。なお、モデルコイルデータ１６および巻替
コイルデータ１７についても、新たなデータを補充する
ことが好ましい。

これらのデータは、例えば、機種別、コイル形態別、絶
縁クラス別、経年数別等の種々の観点からの検索が可能
となるよう分類されている。これらのデータの検索は、
推論部の各部が必要に応じて行なう。

入力装置２１は、例えば、キーボード、マウス等により
構成される。

フロッピディスク装置８７と共に、または、それに代え
て他の１種または２種以上の記憶装置を用いることがで
きる。これらに用いられる媒体は、端末装置２とのデー
タ授受を行なう関係では、着脱自在の記憶媒体であるべ
きである０例えば、光磁気ディスク、光ディスク、磁気
テープ、ＩＣカード、光カード等が挙げられる。

前記フロッピディスク他の着脱自在の記憶媒体の主要な
用途の一つは、後述する点検情報３の抽出および搬送に
ある。この他には、データベース１１または６の内容、
推論部５または４の内容の一部の移植等にも用いること
ができる。勿論、診断結果の格納も可能である。

出力装置１９は、好ましくは力・ラー表示が可能なデイ
スプレィを有する表示装置である０表示媒体としては、
ＣＲＴ、プラズマ、液晶、エレクトロルミネッセンス等
を用いることができる。モノクローム表示であってもよ
い。

端末装置２は、大容量ではないが、小型軽量で容易に持
ち歩けるコンピュータ装置であって１例えば、ラップト
ツブ型のコンピュータを用いることができる。この端末
装置２は、内部機能として、推論部４、データベース６
およびインタフェース２９を有する。これらは、コンピ
ュータのハードウェアとソフトウェアによって実現され
るものであることはいうまでもない。

前記インタフェース２９には、外部装置として、データ
、指示等を入力する入力装置２０と、記憶装置の一例で
あるフロッピディスク装置！１３と、処理結果、メツセ
ージ等を表示出力する出力装置１２とが接続されている
。また、ホスト装置１との間で通信線２３を介して通信
を行なう通信装置（図示せず）が必要に応じて接続され
る。

一方、端末装置１内の推論部４には、非破壊測定支援７
．目視点検結果判定８．余寿命演算９および余寿命推定
１０の各推論機能が用意されている。これらは、各々プ
ログラムの形で供給される。

例えば、これらの推論機能の１または２以上を記憶媒体
に記憶させた状態で供給することができる。

なお、各推論機能の詳細については後述する。

データベース６は、当該試験対象の回転機の前回までの
点検情報３（ホスト装＊ｉの実機データ１８中に格納さ
れている）が格納される。このデータは、記憶媒体を介
してホスト装置１から受は取る。この点検情報３は、で
きる限り多くの情報があることが好ましいが、少なくと
も前回までのデータが必要である。

この過去から前回の点検までの点検情報は、今回の点検
情報と共に、時系列にグラフ化され、点検情報の径時変
化を示すことに使用される。後述する非破壊測定支援は
、この径時変化の延長線上からのずれの大小によって、
測定データの異常の有無を判定する。

フロッピディスク装置１３および出力装置１２は、各々
前述したホスト装置１に接続したものと同様の機能を有
する。従って、ここではこれらについて説明を繰り返さ
ない、もっとも、可搬型のコンピュータであることを考
慮すれば、これに適したものが用いられる０例えば、出
力装置１２には、パネル形のデイスプレィとして、プラ
ズマデイスプレィ、液晶デイスプレィ、エレクトロル＄
ネセッンスディスプレイ等が好ましく用いられる。

入力装！２０は、キーボード２２を有する他、自動測定
装置！２５を信号線２６を介して接続できるものである
ことが好ましい。

ホスト装置１と端末装置２との間で通信によりデータの
授受ができる。この場合、信号ｌｌＡ２６としては、通
常の信号伝送ケーブルの他、光信号伝送ケーブルを好ま
しく用いることができる。勿論、データの授受が可能で
あれば、これらに限らず、他の媒体を用いてもよい。

次に、本実施例の作用について説明する。

本実施例においては、保守点検対象の回転機に関する詳
細関連情報を、工場その他に設置されるホスト装置１の
データベース１１中に有する。そのうち、保守点検対象
機の前回までの点検情報３を９着脱式記憶装置の一例で
あるフロッピディスク装Ｗ１８７を用いてフロッピディ
スク（図示せず）に抽出し、現地の端末装置２のフロッ
ピディスク装置１３からデータベース６中に格納される
。なお、前述したように１点検情報３の抽出および転送
に関しては、フロッピディスク装置に限定されず、外部
記憶装置ならば、ＩＣカード、光磁気ディスク、光デイ
スク等携帯可能な媒体ならば何でもよい。

現地では、端末装置２で回転機の絶縁診断システムを起
動し、保守点検対象機の仕様、測定データを入力装置２
０により入力し、データベース６を構成するメモリ中に
格納する。

次に、推論部４において、非破壊測定支援７、目視点検
結果判定８、余寿命演算９および余寿命推定１０の各項
目の処理を実行し、出力装置１２の表示画面に、非破壊
試験データおよびその異常の有無、目視点検結果および
その判定による対策処理法、余寿命値などの状況報告を
行なう。

各推論実行時には、最終結果を出力表示するのみならず
、各推論過程において診断または判定の途中結果を、逐
次オペレータに示し、オペレータに具体的な対処方法を
指示する。これについては後述する。

一方、工場のホスト装置ｌｌでは、定期検査等により、
現地から持ち帰った保守点検対象機の各種測定データを
入力装置２１から入力し、データベース１１中に格納す
る。この場合、推論結果も併せて格納することが好まし
い。

推論部５は、余寿命演算９、余寿命推定１５および劣化
要因推論１４の各推論を実行する。前記端末袋！２の推
論部４と異なる点は、劣化要因推論１４が追加されると
共に、測定データを端末装置を介さずに入力する場合の
他、非破壊測定支援７および目視結果判定８を省略する
ことができることにある。

なお、端末装置とホスト装置との機能の差異は、必然的
なものではなく、両者が共通の機能を有していてもよい
。

前記劣化要因推論１４は、データベース１１のモデルコ
イルデータ１６１巻替コイルデータ１７、実機データ１
８中から保守点検対象機の類似コイルデータを選択し、
今回の定期点検での測定値と比較し、劣化要因を推論し
、推定余寿命値と併せて１巻替要否を決定する。

出力装置１９の表示画面には、端末装置２で出力された
結果の他に、巻替要否、劣化要因を表示し、定期点検に
おける総合報告を行なう。

なお、端末装置２の入力装置２０では、第２図に示すよ
うに、キーボード２２による手動入力と自動測定装置２
５から信号線２６を通しての自動入力が可能である。ま
た、端末装置２とホスト装置ｌｌとは、通信線２３を介
してデータのやり取りが可能であり、保守点検対象機の
前回までの点検情報３は、通信線２３を通して端末装置
２に入力可能である。一方、端末装置２に入力された今
回の点検における測定データを、通信線２３を通してホ
スト装置１に入力可能である。

さらに、ホスト装置ｌｌには、知識ペースエディタ２４
があり、推論部５の知識ベースの内容が最新のデータを
基に書き換え可能であると共に、最新の入力データによ
り、知識ベースが自動的に書き換えられる。

次に、非破壊測定支援７の一例について、第３図を用い
て説明する。

この非破壊測定支援７は、測定データの異常有無の判定
機能と、測定方法の指示機能とを有する。

測定値である非破壊試験データの、外部ノイズによる異
常、または、測定法の間違いによる異常のチェックは、
第３図に示すような手順で行なわれる。

すなわち、入力装置２０より測定値と測定回数が入力さ
れると（ブロック２７ａ）、推論部２７で基準値または
パターンとの比較がなされ（ブロック２７　ｂ）、正常
または異常が判定される。この時、測定回数も参照され
（ブロック２７ｄ）、例えば、２回までの異常に対して
は、異常として再測定を指示する（ブロック２７ｅ）、
Ｌかし、３回以上の測定に対しては、コメント付正常（
例えば、基準値より大きいまたはパターンが異なるなど
）として、次の推論処理を行なう（ブロック２７ｃ）、
この例では、正常・異常の判定は、３回までの再測定に
よることになる。勿論、本発明はこの回数に限定される
ものではないが、発明者の経験によれば、３回で十分と
考えられる。

次に、この試験データのチェックの一例について、第１
３Ａ図〜第１３Ｇ図を参照して説明する。

本実施例の診断対象である回転機を例として、非破壊測
定支援７のデータ正誤判定および評価に関し、測定項目
である絶縁抵抗（Ｒ）、成極指数（ＰＩ）、誘電正接（
ｔａｎδ、）、誘電正接変化率（Δｔａｎδ３）、第１
電流急増点（ｐｉｘ）を第２電流急増点（ｐｉｉＬ交流
電流増加率（Δ工）、誘電正接−電圧特性の傾向、最大
放電電荷（Ｑｍａｘ）について、第１３Ａ図〜第１３Ｇ
図のフローチャートを用いて説明する。なお、データ異
常の有無の判定は測定値の大小および測定値のパターン
により判定する。

第１３Ａ図に絶縁抵抗（Ｒ）のデータチェックのフロー
チャートを示す。

入力データ１２５は、大小判定でＲ≦ａＭΩ。

ａＭΩ＜Ｒ＜ｂＭΩ、Ｒ≧ｂＭΩの３つの場合に判別さ
れる（ステップ１２６）。

ａＭΩ＜Ｒ＜ｂＭΩの場合には、「測定値異常無」と判
定表示されると共に、通常の経年劣化の範囲内と評価さ
れる（ステップ１２７）。

一方、Ｒ≧ｂＭΩの場合には、「測定値異常有配線チェ
ック」が判定表示される（ステップ１２８）、ここで、
オペレータが測定回路の配線チェックを行ない、異常有
りの場合には、再配線後再測定を行ない（ステップ１２
９）、データ再入力を行なう、また、配線チェックを行
ない、異常が無い場合には、「配線異常無し」を入力し
くステップ１３０）、「測定値異常無し」が判定される
（ステップ１２７）。

さらに、Ｒ≦ａＭΩの場合には、［測定値異常コイルエ
ンド部汚損の可能性有清掃後再測定」を表示する（ステ
ップ１３１）。

第１３Ｂ図に成極指数（ＰＩ）のデータチェックのフロ
ーチャートを示す。

入力データ１３２は、大小判定でＰＩ≦ｄ、ｄ＜ＰＩ＜
ｃ、ＰＩ≧Ｃの３通りに区別される（ステップ１３３）
。

ｄ　＜　Ｐ　Ｉ　＜　ｃの場合には、「測定値異常無」
と表示される（ステップ１３４）。

ＰＩ≦ｄの場合には、測定値異常有りと判断し、吸湿し
ている可能性が有ると考えられるので、「乾燥後再測定
」と表示される（ステップ１３６）。

また、ＰＩ≧Ｃの場合には、測定値異常有りと判断し、
「スロット内コイルとコア間接触不良、スロット内点検
後再測定」と表示される（ステップ１３５）。

第１３Ｃ図に誘電正接（ｔａｎδ。）のデータチェック
のフローチャートを示す。

入力データ１３７は、大小判定で、　ｔａｎδ。６ｇ。

ｇ（ｔａｎδ。＜　ｆ　、　ｔａｎδ。≧ｆの３通りに
区別される（ステップ１３８）。

ｇ＜ｔａｎδ、＜ｆの場合には、「測定値異常無」と表
示される（ステップ１３９）。

一方、ｔａｎδ、６ｇの場合には、測定値異常有りと判
断し、「回路チェック後再測定」が指示される（ステッ
プ１４０）。

また、　ｔａｎδ。≧ｆの場合には、測定温度（Ｔ）の
高低を判定する（ステップ１４１）、これにより、Ｔ２
Ｔ１℃の場合には、「冷却後再測定」を指示する（ステ
ップ１４２）。

Ｔ＜Ｔ１℃の場合には、湿度の高低を判定する（ステッ
プ１４３）、これにより、湿度〉８％の場合には、「コ
イルエンド表面吸湿の可能性有、乾燥後再測定」を指示
する（ステップｌ　４４）。

また、湿度〈８％の場合には、測定値異常と判断し、「
異常放電の可能性有、配線チェック後再測定」を指示す
る（ステップ１４５）。

次に、第１３Ｄ図に誘電正接−電圧特性の傾向のデータ
評価のフローチャートを示す。

入力データ１４６は、パターン形状、例えば、正のカー
ブか負のカーブかによって、「測定値異常無」と、「吸
湿による異常放電の可能性有」に区別して表示される（
ステップ１４７〜１４９）。

次に、第１３Ｅ図に誘電正接変化率（Δｔａｎ　６　、
　）のデータ評価のフローチャートを示す。

入力データ１５０は、大小の判定で２通りに区別され（
ステップ１５１）、Δｔａｎδ、（ｅの場合には、「測
定値異常無」と表示され（ステップ１５２）、Δｔａｎ
δ１≧ｅの場合には、「老化が進んでいる可能性大」と
表示される（ステップ１５３）。

次に、第１３Ｆ図に電流増加率ΔＩのデータ評価のフロ
ーチャートを示す。

入力データ１５４は、Δ工の大小判定で２通りに区別さ
れ（ステップ１５５）、ΔＩＮＫの場合には、［測定値
異常無」と表示され（ステップ１５６）、ΔＩ２：にの
場合には、「老化の可能性有り」が表示される（ステッ
プ１５７）。

次に、第１３Ｇ図に最大放電電荷（Ｑ■ａｘ）のデータ
チェックのフローチャートを示す。

入力データ１５８として、Ｑ、（ＯＫＶのときの放電電
荷量）、Ｑ、（２ＫＶのときの放電電荷量）およびＱ、
（３ＫＶのときの放電電荷量）と、　Ｑｍａｘとが、同
時に入力される。　ＱｍａｘとＱ、、Ｑ、およびＱｌと
が比較により（ステップ１５９）、まず、Ｑｍａｘ 区別される。Ｑ、、Ｑ、、Ｑ、＞　　　の場合には、α 測定値異常と判断し、「ノイズレベル大、再測定」を指
示する（ステップ１　ｅ　ｏ　＞−Ｑ−Ｑｍ　、Ｑ−≦
Ｑｍａｘの場合には、さらに、Ｑ２とＱ３の比較をしα （ステップ１６１）、Ｑ、＜Ｑ３の場合には、「ノイズ
レベルに電圧特性有、再測定」を指示しくステップ１６
２）、Ｑよ≧Ｑ３の場合には、「測定値異常無」を表示
する（ステップ１６３）。

この他、第１電流急増点（Ｐｉｔ）および第２電流急増
点（Ｐｉｇ）についても、値の大小により、異常、正常
が判定され表示される。

以上の測定値に異常が有った場合には、前述したように
、３回まで再測定指示を行なう、それ以降は、測定は正
常として動作する。

前述の測定データチェックが済むと、本実施例のシステ
ムは１例えば、第１４図に示すように、入力測定データ
を出力装置１２（ホスト装置では１９）により一覧表と
して示す、勿論、同図に示す数値は１例示に過ぎないも
のであって、測定によって、また、対象によって種々の
値となるものである。

なお、測定データの入力は、前述した測定支援７を介さ
ず、直接入力する４とも可能である。その場合には、同
図に示すように、入力すべき項目の番号および値を、入
力装置１２０　（ホスト装Ｗ１では２１）により入力す
ればよい。

本実施例の非破壊測定支援７は、前述したように、測定
方法の指示等の機能をも有している。この機能について
、ｔａｎδの測定を例として説明する。第１６図は、出
力装置１２（ホスト族！！１では１９）により表示され
る画像の一例である。

同図には、ｔａｎδの測定回路と共に、測定上の注意事
項が示されている。オペレータは、この画面を参照しつ
つ、測定回路を組むことができ、しかも、例えば、配線
をシールド線とすべき旨の注意事項があるので、誤差に
対する配慮もなし得る。

熟練者でなくとも、熟練者と同等に誤差の少ない測定が
確実に行ない得る。これは、また、オペレータによる測
定データの偏りが少なくできることにつながり、過去の
測定値の蓄積を用いて余寿命等の推定を行なう場合に、
高い精度を期待できて、好ましい。

また、本実施例の非破壊測定支援７は、例えば、ｔａｎ
δの測定の場合、どのようなパターンになるかの標準パ
ターンを、例えば、第１５図に示すように２表示する機
能を有している。

さらに、測定のフローチャートに従い、測定が完了する
と、ｔａｎδの測定結果パターンが、第１７図の如く表
示され、同時に、ｔａｎδ測定結果より推定される劣化
に対するコメントが表示される。

なお、他のパラメータも同様に表示される。

次に、目視点検結果判定８について説明する。

目視点検は、オペレータが検査対象機について、その各
部を目視によりチェックし、異常の有無を判定し、その
データを入力することにより行なわれる。従来は、オペ
レータがマニュアルの指示を読みながら、必要箇所の状
態をチェックしていたが、本実施例では、出力装置１２
（ホスト族Ｗ１１では１９）の表示に従って１点検を実
施できる。

ここでは、発電機固定子コア端部を例として、説明する
。

出力装置１２（ホスト装置１では１９）の画面に、第２
０図に示すような点検対象部の構造図が示される。この
例では、点検対象部位の名称を併記しているが、これを
後述する質問番号としてもよく、さらに、番号をも併記
してもよい、また、画面のレイアウトによっては、省略
してもよく、あるいは、余白部にリストとして示す構成
としてもよい。

また、この画面には、第２０図では図示していないが、
点検事項が質問形式で表示される。この質問は、例えば
、 ■コア締付ボルトのゆるみは有りますか。

■コアに発錆がありますか。

■コイル端部は汚損していますか。

等のように画面に表示される。

この場合質問は、１項目ずつ順を追って表示する形式で
あっても、また、−覧形式で表示してもよい。

また、前述した点検部位の名称に代えて、質問を表示す
るようにしてもよい。

この他、点検部位や、点検内容を、その手順と共に表示
することができる。その好ましい例として、次の手段が
ある。

この手段は、第２０図に示すように、構造図中の点検部
位を、点検の順に従って、明暗反転するものである。第
２０図では、コア締付ボルトについて、斜線を付して示
すように、明暗反転を行なって、現在は、この部位につ
いて点検すべきことを示している。この場合、部位名称
についても明暗反転を行なってもよい、また、部位名称
についてのみ明暗反転を行なってもよい。

これに対して、オペレータがデータを入力すると、次の
質問事項に移り、この部位の明暗反転は解除され１次の
部位について明暗反転が行なわれる。なお、既に点検を
終えた部位については、例えば、輝度を異ならせる等に
より、未点検部位と区別できるようにしてもよい。

なお、この実施例では、明暗反転を用いたが、出力装置
の表示能力に合わせて、輝度変化、色変化、フリッカま
たはこれらの組み合わせにより。

表示してもよい。

このような画面表示に対して、オペレータが、（ＹＥＳ
、Ｎｏ）、または、程度を表わす符号、例えば、１，２
．３・・・、あるいは、Ａ、Ｂ、Ｃ・・・を入力すると
、この目視点検結果判定８は、各項目に対する判定と対
策内容を表示する。この場合、例えば、異常部位を、そ
の程度にｌじて、色表示、輝度表示等によって明示する
構成としてもよい。

なお、質問に対するオペレータの入力は、キーボードに
よる入力の他、マウスを用いる構成としてもよい。

（以下余白） 次に、余寿命演算９の一例について、第４図。

第５図を用いて説明する。

余寿命演算９では、２通りの方法で１点検対象機の工場
出荷時の初期破壊電圧に対する現在の破壊電圧の残存割
合を示す残存破壊電圧を求める。

その方法として、非破壊試験データに基づく方法（以下
Ｄマツプ法と称する）と、運転経歴データに基づく方法
（以下ＮＹマツプ法と称する）とを用いる。

まず、Ｄマツプ法では、コイルの残存破ＩＩ！電圧ＶＤ
が、最大放電電荷量（Ｑｍａｘ）と、（交流電流増加率
（Δ工）十誘電正接変化率（Δｔａｎδ２））とに依存
していることを利用する。すなわち、この方法では、第
４図のような残存破壊電圧■。のカーブを多くの実験デ
ータを基にして描き、例えば、第（１）式の如く実験式
を求め、知識ベース化しておく。

余寿命演算実行時には１点検対象機の定期点検時の非破
壊試験データであるＱｍａｘと（Δ工＋Δｔａｎδ３）
の値を、第（１）式に入力し、ＶＤを求める。また、試
験データを、第４図上にプロットして出力装置１２（ホ
スト装置１では１９）に表示される。なお、Ｄマツプと
それに対応する式は、機種または絶縁種別にそれぞれ用
意されるものとする。

次に、ＮＹマツプ法とは、残存破壊電圧Ｖ□が、累積運
転年数Ｙと累積起動停止回数Ｎとに依存していることを
利用する。すなわち、この方法は、第５図のような残存
破壊電圧Ｖ□のカーブを多くの実験データを基にして描
き１例えば、第（２）式の如く実験式を求め知識ベース
化しておく。

Ｖ、ｖ＝１００（１−６ｘｌＯ’Ｎ）（１−７ｘｌＯ−
３Ｙ）　　・（２）余寿命演算実行時には、ＮおよびＹ
の値を、（２）式に入力しｅ　Ｖ　Ｎ　ｖを求めると共
に、第５図上にプロットして表示する。なお、ＮＹマツ
プ法の場合にも、Ｄマツプ法の場合と同様に１図面と計
算式は１機種または絶縁種別ごとにそれぞれ用意される
ものとする。

なお、Ｄマツプ法およびＮＹマツプ法のいずれについて
も、当該機種のデータのみならず、他機種について得ら
れたデータであっても、利用可能である。また、データ
ベースのデータをどのように検索してもよく、それによ
って、異なる関係式が得られる可能性がある。

以上ＤマツプおよびＮＹマツプの結果は、表示画面との
対話指示により表示出力される。

なお、前述したＤマツプ法およびＮＹマツプ法の各関係
式は、多くの実験データに基づいて求められるが、この
基本になったデータ、例えば実機データが定期点検等で
新たに得られたならば、このデータを含めて、再度カー
ブを求めなおすことが、余寿命推定の精度を向上させる
ために好適である。もっとも、この作業は、装置に負担
がかかるので、特に、端末装置の場合、省略してもよい
。

その場合、関係式は固定される。

次に、余寿命推定１０（ホスト装置１では１５）では、
余寿命演算９で得られた残存破壊電圧■。。

Ｖ）ＩＴを基にして、余寿命値Ｙｍを求める。以下、第
６図のフローチャートおよび第７図により、余寿命値Ｙ
１を求める方法の一例について説明する。

まず、機種選定３０で機種および仕様を入力し。

その機種に対応するＤマツプとＮＹマツプの残存破壊電
圧計算を行なう（ブロック３１）、そこで得られた残存
破壊電圧ＶＤ、■□を基にして、ＤマツプとＮＹマツプ
とを、機種により重み付判定を行ない（ブロック３２）
、ＶＤとＶ□のどちらかを点検対象機の残存破壊電圧Ｖ
ｍとして決定し。

その根拠表示を次に行なう（ブロック３３）。

次に決定した残存破壊電圧ｖｌより、その時間特性（Ｖ
、−ｔ　）特性を求める（ブロック３４）。

さらに、第７図に示す如く、ｖｌＩの誤差Ｓを考慮した
ｖｌの最小値の時間特性（ｖｍ−ｓ）−を特性を求める
（ブロック３５）、これにより、残存破壊電圧がα％に
達するときの時間ｔ、と定検のときの時間ｔ１との差よ
り、余寿命値Ｙｌを、Ｙ夙＝１．−１．機 として求める（ブロック３６）。

以上に述べた推論部の各機能は、基本的には、端末装置
２の推論部４と、ホスト装Ｗ１１の推論部５とで、同一
に機能するものを設けることが好ましい、もっとも、端
末装置２とホスト装置１とで役割分担する構成としても
よい。

例えば、前述したように、非破壊測定支援７および目視
点検結果判定８は、主として、現地においてオペレータ
が点検作業や測定等を実行して、データを収集すること
に寄与するので、端末装置２側に設けることが必要な機
能である。

また、余寿命演算９および余寿命推定１０についても、
現地にて一応の結論が出せるようにするため、端末装置
２側にも必要である。ただし、これらの機能は、正確さ
を求めると、多くのデータと演算とを要し、可搬型の端
末装置２の場合、処理容量が足りないことも考えられる
ので、現地で簡易に実行でき、ホスト装置１側で精密に
行なうよう役割分担することが好ましい、この場合には
、端末装置２側では、例えば、前述した（１）、　（２
）式を固定的に備えて、演算を実行する簡易なものでよ
い。

特に、データベース中のモデルコイルのデータを用いて
推論を行なう場合には、大容量のデータベースを必要と
するため、現地用の可搬型の端末装置２には負担が大き
くなるので、本実施例では、そのような機能は、ホスト
装置１の余寿命推定１５に設けている。

さらに、劣化要因推論１４は、主としてホスト装！！１
側に備えているが、端末装置２側にも設けることができ
る。

本実施例では、端末袋［２側には、非破壊測定支援７お
よび余寿命推定１０に、各事項毎に、劣化要因の推論を
行なう機能を有する。

次に、劣化要因推論部１４での、推論法の一例を第８図
により説明する。

データベース１１に格納された今回の定期点検時に得ら
れた非破壊試験データは、非破壊試験データの基準値ま
たは基準パターンとの比較を行ない（ブロック４１）、
比較結果の組み合わせによる劣化−健全判定により（ブ
ロック４２）、種々の劣化要因を列挙するかまたは健全
と結論される。

一方、今回の定期点検時に得られた非破壊試験データは
、同時にデータベース１１中のモデルコイルデータ１６
、巻替コイルデータ１７、実機データ１８などの中の類
似コイルの非破壊試験データとの比較も行なわれる（ブ
ロック４３）、データベース１１中から選び出された複
数の類似コイルの中から最もデータの近い類似コイルの
選定が実施され（ブロック４４）、工ないし２の類似コ
イルが選定される。このとき類似コイルに劣化があれば
、劣化要因抽出が行なわれる（ブロック４５）。

以上のように、非破壊試験データの基準値または基準パ
ターンとの比較（ブロック４１）により。

得られた劣化−健全の結論と、類似コイルの非破壊試験
データとの比較（ブロック４３）により得られた劣化−
健全の結論とより、総合劣化要因判定が決定される（ブ
ロック４６）、ここで、判定の結論が両者で異なる場合
には、厳しい判定の方を優先し、表示する。もう一方は
、参考結論として表示される。

第８図は非破壊試験データのみを用いた劣化要因推論で
あったが、通常の場合には、さらに目視点検結果に対し
ても同様の判定を行ない、両者を総合した劣化要因判定
が下される。

また、劣化要因は、結論が表示されると共に、結論に至
る根拠・過程も表示画面との対話により出力表示できる
ものとすることが好ましい。

前述したように、本実施例は、ホスト装置１の推論部５
に、残存破壊値を求める場合、予め設定した相関演算式
を用いる場合と、メニュー選択により、類似機を機種ま
たは仕様から選ぶことによりデータベース中のデータに
より各種パラメータと残存破壊値間の相関関数を求め用
いる場合とを設けている。

欣に、残存破壊値をデータベースから求める方法の一実
施例を示す。

ホスト装置１では、例えば絶縁種別、電圧階級、容量な
どから一つ以上の類似様検索パラメータを入力し、ホス
ト装置１のコンピュータは、所定の類似判定機能により
、データベース中を検索し。

該当する残存破壊値とパラメータ値のデータを呼び出す
、そして、これらの値を、第１８図の如く、画面上にプ
ロット表示すると共に、例えば、最小二乗法により、相
関関数を求める。

さらに、求めた相関関数により、残存破壊値の推定値を
パラメータの実測データに対して計算し、第１９図のよ
うな残存破壊値と推定値の相関図を表示すると共に、９
５％信頼区間を計算して、表示する。

オペレータは、類似様検索のパラメータを変更すること
により、複数の第１９図の如き相関図を得る。さらに、
そのうち、最も９５％信頼区間の幅が狭い、すなわち、
信頼度の高い相関関数に。

定期検査時に得たデータを入力することにより、最も信
頼度の高い残存破壊値を得ることができる。

なお、相関関数は、予め係数を除いた相関形を決めてお
いてもよい。

以上説明した本実施例の診断システムのメニュー画面の
一例を第１２図に示す。

同図では、シス、テムを起動すると、まず、当該システ
ムの名称を表示すると共に、推論を開始するか、終了す
るかの選択部（１００１および１００２）が表示される
（ブロック１０００）。

ここで、推論開始１００１を選択すると、ジＪブ選択画
面１１００が表示され、この中に、本システムにおいて
実行可能なメニューが示される。

なお、選択は、マウスまたはキーボードにより行なうこ
とができる。

終了以外のメニューを選択すると、それに対応して、各
々の詳細が表示される。そして、各ブロック１１１０〜
１１４０の各々において、さらに選択可能な画面が表示
され、必要事項の入力等の処理が実行される構成となっ
ている。

以上説明した本実施例の診断システムのメニュー画面の
一例を第１２図に示す。

第１２図に示すメニューは、端末装置２とホスト装置１
のいずれにも用いることができる。ただし、搭載してい
ない機能については、当該項目をマスクして選択不能と
して表示すればよい、このようにすれば１診断システム
のいずれかの要素によって、当該項目が処理可能である
ことを知ることができて便利である。

また１本実施例の端末装置２は、１台のホスト装置１に
対して複数台用意することができ、この場合、各端末装
置！２毎に診断対象機を異ならせてもよい、このように
すると、端末装置２毎に、搭載機能が異なることがあり
得るため、メニュー画面の表示状態も変化する。

さらに１本実施例は１回転機絶縁診断エキスパートシス
テムとしてまとめられているので、同様の診断を他機種
に適用する場合、測定支援、目視点検結果判断、実機デ
ータ等に当該機種のものを用意することにより、そのま
ま適用できる。また、回転機に限らず、静止機について
も同様である。

勿論、他の機器、設備等についても、また、異なる試験
内容についても、当該機器等の試験すべき項目に対する
データベースおよび知識ベースを与えることにより、本
実施例のエキスパートシステムと同様のシステムが構築
できる。

この場合、データベースの内容は、対象に応じたものと
なる０例えば、モデルコイルデータは、当該機器または
設備に用いられる部品等の構成要素についてのモデルデ
ータとなり１巻替コイルデータは、同様に、交換されて
外された部品等の構成要素についての試験データとなる
。

次に、測定値の異常の有無または劣化度の推論において
、ファジー推論を用いる場合の一実施例について、第９
図〜第１１図により説明する。

第９図を用いてファジー推論の一例を説明する。

測定値の劣化および健全の程度を、連続のメンバーシッ
プ関数９１で与える。横軸に測定値、縦軸に劣化度およ
び健全度を、０〜・１の値（グレード）でとり、測定値
に対するあいまい度を各々のメンバーシップ関数で与え
る。さらに、測定値の劣化または健全に対し、余寿命値
または残存破壊値の信頼度を各々連続の関数で与える。

Ｗ定値ｘ１゜に対し、劣化および健全度のとる値（グレ
ード）を、余寿命値側の信頼度として与え、それぞれに
対し、ハツチングを施した領域（本明細書では信頼度分
布領域と称する）を重力合わせて、その面積の重心の値
を余寿命または残存破壊値ｙとして求める。

これを−膜化した式で表わすと、グレードをω４．測定
値をＸ　ｌ　ｅ事象をＡ　１　ｙ余寿命値を１１　＋事
象をＢｉとすると、 ω１　＝　Ａ　１１　（ｘ　、　＠　）ただし、ｙ、二
重心のｙ座標 第１０図は、劣化のメンバーシップ関数が劣化度に応じ
て複数に存在する場合の例である。

測定値ｘ２゜は、劣化中と劣化小の２つの事象に属し、
各々の信頼度に対する余寿命の信頼度の面積の和の重心
のｙ座標ｙ、。が得られる。

本例は、１つの測定パラメータに対する例であるが、複
数のパラメータが存在する場合には、各々に対して対応
する信頼度領域分布を求め、平均的な値を推定したい場
合は、各々の信頼度領域分布の和集合をとり、重心の余
寿命座標値を得る。

また、危険度を重視したい場合には、和集合をとらずに
、最も余寿命値の小さなパラメータの場合の値を用いれ
ばよい。

さらに、メンバーシップ関数としては、連続型のみなら
ず、第１１図の如く離散型でもよい。

ファジー推論を行なわせる場合には、通常のディジタル
コンピュータで行なわせてもよいが、推論が遅くなるの
で１本絶縁診断システムでは、ファジー推論専用の集積
回路を端末装置およびホスト装置に搭載してもよい。

専用集積回路としては、アナログ回路を用い、ファジー
推論実行時のみ、コンピュータ内でファジー専用回路を
動作させ、残りの処理は１通常のディジタル処理回路で
行なわせる。

ファジー推論専用集積回路を用いることにより、高速推
論が可能となる。

前述したファジー推論による診断は、前述した回転機を
含む機器や設備の診断に好適である他、各種の診断に広
く適用できる０例えば、医療診断、経営診断等に用いる
ことができる。

本発明は、前述した実施例に限らず、種々の変形が可能
である。以下、その例を示す。

出力装置１２としては、前述したように、フルカラーデ
イスプレィが使用できる。デイスプレィとしては、例え
ば、液晶型のフルカラーデイスプレィを用いればよい、
これにより、ホスト装置と同じ表示法が使用可能となる
。

また、出力装置１２および出力装置１９では、端末装置
２およびホスト装置１の内部に、絶縁診断システム専用
の音声ＲＯＭまたは音声合成ＬＳＩを内蔵させて、推論
の回答およびその他指示を、音声で出力させる構成とし
てもよい、音声出力により、多人数が同時に絶縁診断状
況を見ている場合に、デイスプレィが判読不能な人にも
。

判定の内容が把握できると共に、デイスプレィの内容の
誤解読がなくなる。

回転機の絶縁診断システムのその他の実施例として、端
末装置、例えば、可搬型コンピュータ内に書き換え可能
な大容量光ディスクを内蔵させる構成とすることができ
る。

記憶容量の大容量化に伴い、今までホスト装置１のコン
ピュータのデータベースに収納していた。

点検対象機の詳細関連情報を、すべて可搬型コンピュー
タのデータベース中に記憶させると共に、推論知識ベー
スをすべて可搬型コンピュータに移すことができる。こ
れにより、現地で可搬型コンピュータ単独で状況報告か
ら総合判定までの推論がすべて行なえるようになる。

もっとも、端末装置とホスト装置とを通信手段で接続し
、オンライン処理を行なえば、端末装置側にホスト装置
のすべての情報を移転しなくとも、前述したと同様に実
行できる。

ところで１本発明の診断システムは、端末装置とホスト
装置との組み合わせで構成されるが、少なくとも端末装
置を、点検対象機器または設備の専用点検装置として付
属させることもできる。この場合、ホスト装置は、汎用
装置を用いてもよく、また、専用装置としてもよい、ま
た、複数の点検対象について共通のホスト装置としても
よい。

このような構成とすることにより、診断機能付の機器ま
たは設備を構築することができる。特に、測定値を自動
入力でき、かつ、データをオンライン転送できれば、よ
り好ましい。

また、１のホスト装置に、複数の端末装置を備えて、複
数の対象機器や設備の保守点検を管理する保守点検シス
テムを構築することができる。

この他、複数台のホスト装置を通信回線で結び、診断の
ネットワークシステムを構築することができる。このよ
うにすると、多数の点検情報を相互に利用することがで
き、余寿命の推定等の信頼度をより向上することができ
る。

なお、前述した実施例において、非破壊測定支援は、−
例であって、本発明は、非破壊測定に限らず、測定一般
の支援が可能である。

［発明の効果］ 本発明によれば、現地で定期点検時の測定値の異常の有
無が判定できるので、定期点検が迅速かつ正確に行なえ
る。

また、本発明によれば、状況報告も現地でなし得るため
、不具合点に対する迅速な対応が可能となる。さらに、
工場等におけるホスト装置での絶縁診断では、膨大なデ
ータベースを用い、類似コイルとの比較により劣化に対
する詳細な診断ができるので、劣化要因、巻替要否など
の回転機絶縁診断の総合判定結果の信頼性向上の効果が
ある。

さらに１本発明によれば、定期点検での測定法を未熟練
者にも教示することができ、専門家以外にも、測定デー
タのチェック、総合判定が迅速に行なえる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のシステム構成を示すブロッ
ク図、第２図は入力装置の構成例を示すブロック図、第
３図はデータチェック法のフローの一例を示すフローチ
ャート、第４図および第５図は余寿命演算法の例を示す
グラフ、第６図は余寿命推定のフローチャート、第７図
は余寿命値を示すグラフ、第８図は劣化要因推論法の一
例を表わすフローチャート、第９図〜第１１図は各々フ
ァジー推論におけるメンバーシップ関数の連続と離散の
場合の例を示すグラフ、第１２図は本発明の診断システ
ムのメニュー画面の一例を示すブロック図、第１３Ａ図
〜第１３Ｇ図は本発明の非破壊測定支援のデータチェッ
クの各機能の手順の一実施例を示すフローチャート、第
１４図は非破壊試験入力データを一覧表示する画面の一
実施例を示す説明図、第１５図はｔａｎδ測定における
標準パターンを表示する画面の一実施例を示す説明図。 第１６図は非破壊測定支援の測定方法指示画面の一実施
例を示す説明図、第１７図はｔａｎδ測定結果を表示す
る画面の一実施例を示す説明図、第１８図および第１９
図はデータベースを用いて残存破壊値を求める手法を示
すグラフ、第２０図は目視点検結果判定において点検部
位を指示するための画面の一実施例を示す説明図である
。 １・・・ホスト装置、２・・・端末装置、４，５・・・
推論部、６．１１・・・データベース、２０．２１・・
・入力装置、１２．１９・・・出力装置、１３．８７・
・・フロッピディスク装置、７・・・非破壊データチェ
ック、８・・・目視点検結果判定、９・・・余寿命演算
、１０゜１５・・・余寿命推定、 １４・・・劣化要因推論、 ２４・・・ 知識ベースエディタ。 出願人　株式会社　日　立　製　作所

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、点検対象の機器または設備についてデータを収集す
   る端末装置と、該端末装置が収集したデータに基づいて
   、前記点検対象の機器または設備について診断を行なう
   ホスト装置とを含み、前記端末装置は、予め設定した基
   準値と比較して入力データの異常有無を判定し、異常が
   予め設定した回数続いたとき、当該データを正常値とし
   て扱うデータチェック機能を有する、測定支援手段を備
   えたことを特徴とする機器／設備の診断システム。 ２、点検対象の機器または設備についてデータを収集す
   る端末装置と、該端末装置が収集したデータに基づいて
   、前記点検対象の機器または設備について診断を行なう
   ホスト装置とを含み、前記端末装置は、対象からのデー
   タ収集について、オペレータに教示する機能を有する測
   定支援手段を備えたことを特徴とする機器／設備の診断
   システム。 ３、点検対象の機器または設備についてデータを収集す
   る端末装置と、該端末装置が収集したデータに基づいて
   、前記点検対象の機器または設備について診断を行なう
   ホスト装置とを含み、前記端末装置は、余寿命を推定す
   るための関係式および収集したデータに基づいて、当該
   点検対象の余寿命を推論する機能を備えることを特徴と
   する機器／設備の診断システム。 ４、点検対象の機器または設備についてデータを収集す
   る端末装置と、該端末装置が収集したデータに基づいて
   、前記点検対象の機器または設備について診断を行なう
   ホスト装置とを含み、前記端末装置は、データの収集を
   支援する手段と、得られたデータおよび余寿命を推定す
   るための関係式に基づいて、当該点検対象の余寿命を推
   論する手段とを有し、 前記ホスト装置は、当該点検対象に関する詳細な情報か
   ら余寿命推定のための関係式を生成すると共に、該関係
   式および前記端末装置により収集されたデータに基づい
   て当該対象物の余寿命を推論する手段を有し、 かつ、前記端末装置とホスト装置とは、データの授受を
   行なう手段を有することを特徴とする機器／設備の診断
   システム。 ５、データを入力する入力装置と、着脱自在の記憶媒体
   を有する記憶装置と、オペレータに対する指示および処
   理結果を表示する出力装置とを有し、 かつ、オペレータにたいして点検すべき事項および手法
   を教示すると共、入力されるデータの異常有無を判定す
   る機能と、入力されたデータに基づいて、余寿命を推定
   する機能とを有する、診断用端末装置。 ６、点検ごとに蓄積される点検情報と、モデル部品につ
   いて寿命を解析したモデル部品データと、交換部品につ
   いての試験データである交換部品データとを有するデー
   タベースと、 前記データベースから、点検対象についての非破壊試験
   データを検索し、該非破壊試験データに対する残存破壊
   値の相関関係を示す実験式を求め、かつ、前記データベ
   ースから、点検対象についての運転経歴データを検索し
   、該運転経歴データに対する残存破壊値の相関関係を示
   す実験式を求める手段と、 点検時に得られたデータを、各々対応する前記実験式に
   入力して、各々残存破壊値を求める手段と、 予め求められた残存破壊値と径時変化との相関関係によ
   り、余寿命を求める手段とを備えたことを特徴とする診
   断システム。 ７、電気機器の絶縁診断システムであって、現地におい
   て、少なくとも、入力データの異常有無をチェックする
   機能と、得られた測定データを、予め与えられた余寿命
   推定式にあてはめて、余寿命を推定して、余寿命を含む
   状況報告を行なう端末装置と、 前記得られた実験データにより、余寿命および劣化要因
   を推論して、総合評価を行なうホスト装置とを備えた電
   気機の診断システム。 ８、測定値の異常の有無、劣化の要因の判定等の推論に
   おいて、判定条件を連続または離散のメンバーシップ関
   数の形で与え、推論をファジー推論により実施すること
   を特徴とする診断システム。 ９、複数の機器のデータを蓄積するデータベースから、
   診断すべき機器に類似する機器のデータを検索し、該類
   似機器に劣化があれば、その劣化要因を、診断すべき機
   器の劣化要因と判定することを特徴診断システムの劣化
   要因判定方法。 １０、電気機器の診断システムであつて、余寿命をＤマ
   ップ法とＮＹマップ法とで推論することを特徴とする診
   断システム。