JP2613360B2 - 機器／設備の診断システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、機器／設備の予防保全
に好適な診断システムに係り、特に、回転機等の大型電
気機器に好適であって、絶縁診断により余寿命推定を行
ない、定期点検時の迅速な絶縁評価の総合判定を支援す
ることができる診断システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のプラント、電気機器等の機器や設
備についての予防保全または保守点検は、現地での測定
値を基に、工場、保守点検中央センタ等での専門家によ
る、基準値との比較および経験と勘により、余寿命、故
障原因などの判定がなされていた。

【０００３】しかし、膨大なデータとの参照作業の必要
性を生じるため、判定までに時間を要し、また、専門家
以外には判定指示できなかった。

【０００４】そこで、近年、特開昭62-285200号公報に
記載のように、現地に記憶装置と入出力端末を有する保
守点検装置を持ち込み、通信回線により、工場または保
守点検中央センタのホストコンピュータに測定値を送出
し、ホストコンピュータに有する情報処理判定機器によ
りデータ処理を行ない、得られた判定結果を現地の保守
点検装置に取り込み、表示または指示を実施するシステ
ムにより、保守点検の時間短縮をはかると共に、専門家
以外にも保守管理できるようにする方法が提案されてい
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来技術
は、通信回線を通してホストコンピュータとつながらな
ければ、現地の保守点検装置は、何も判定できない。そ
のため、通信回線の存在しないような地域で使用すると
き、測定値の異常の有無、余寿命の推定などの推論を要
する状況報告は、現地で何もできないという問題があっ
た。

【０００６】このような場合、記憶装置に入力すること
によって、データを持ち帰って、ホストコンピュータに
より処理することも考えられる。しかし、データを持ち
帰って処理した後、その結果に基づいて、再び現地に赴
いて、必要な保守、修理等を行なうのでは、保守点検作
業に多大な時間と、人手を要し、効率が悪いという問題
があった。しかも、対象の状態によっては、速やかに運
転や使用を停止させて、修理を行なう必要があっても、
対応に遅れを生じるという問題があった。

【０００７】また、ホストコンピュータによる保守点検
作業については、当該機器／設備の状態診断、修理の必
要性、部品交換の必要性に関し、従来の技術では、過去
の記録との比較、基準値との比較を行なうことにより、
データの解析を行なっている。

【０００８】しかし、機器／設備の余寿命等のように、
その診断法が必ずしも確立されていない事項について
は、従来の保守点検装置では、未解決のままであって、
そのための手段が開示されていない。

【０００９】このような余寿命の予測は、機器／設備の
運転計画の設定、更新時期の検討等を行なうため、必要
とされる。特に、回転機、静止機を問わず、劣化が特性
に大きな影響を与えると共に、重大事故を誘発するおそ
れのある大型電気機器にあっては、余寿命を予測するこ
とが是非とも必要である。

【００１０】また、機器／設備の種類によっては、運転
の停止・起動が容易でなく、頻繁に点検できないものが
ある。このような機器等にあっては、定期点検時に、余
寿命を知っておくことが好ましいと考えられる。従っ
て、このための手段の開発が望まれる。

【００１１】さらに、機器／設備の種類によっては、点
検や、検査のためのデータ収集を現地において実施し、
当該設備の使用が可能であるか、あるいは、機器の運転
が可能であるかを、その場で、一応の結論を出すことが
要求される場合がある。

【００１２】例えば、山間地にある発電所において、発
電機の点検を行なう場合には、運転再開が可能であるか
どうかを、当該データを持ち帰って、ホストコンピュー
タに入力して、解析し、その結論が出てから、それに従
って、運転を再開することになる。従って、その間、発
電機の運転を止めておかなければならないこと、後日、
運転再開作業のための要員を派遣しなければならないこ
と等の問題がある。

【００１３】一方、前記結論が出る前に運転を再開した
場合には、結論が「運転不適当」であるとき、運転再開
が事故の発生につながるおそれがある。そのため、これ
は、安全性の面から採用しがたい。

【００１４】しかし、前述した従来の技術では、端末装
置は、単にデータを収集するに過ぎず、前記のような、
その場で一応の結論を出すことには対応できていなかっ
た。

【００１５】一方、保守点検装置をオンラインで使用す
ることも考えられる。しかし、この場合でも、通信回線
と接続したり、また、ホスト側での処理時間や、処理結
果の受信にも時間がかかり、必ずしも短時間で処理でき
るとは限らない。しかも、通信回線との接続を考慮する
と、保守点検装置を任意に場所、例えば、点検対象の近
傍に配置することが困難なこともある。この場合のは、
オンラインの利点は失われる。

【００１６】この他、機器／設備によっては、種々の測
定を行なうものがあり、そのための測定回路を現地で組
み立てて行なう必要がある。しかも、測定を正しく行な
う必要がある。しかし、これは、必ずしも容易なことで
はなく、未熟練者が測定を行なうと、測定に誤りを生じ
たり、必要なデータを収集できなかったりするという問
題がある。従って、従来は、熟練者がマニュアル等を参
照しつつ、測定を行なっていた。

【００１７】しかしながら、熟練者を確保することの困
難性と共に、熟練者であっても、測定ミスを皆無とする
ことは容易でない。そのため、できる限り正確に測定が
行なえて、診断の信頼性を向上することが課題の一つと
なっている。

【００１８】本発明の目的は、オフラインであっても、
現地で必要な点検や測定が行なえて、しかも、その場
で、運転可否等についての一応の診断が下せて、設備の
使用再開や、機器の運転再開の適否を示すことができる
機器／設備の診断システムを提供することにある。

【００１９】本発明の他の目的は、機器／設備の余寿命
を予測することができる機器／設備診断システムを提供
することにある。

【００２０】本発明のさらに他の目的は、機器／設備の
診断に際し、作業者に、点検や測定の手順、測定回路の
指示、測定値の異常等を表示して、熟練者は勿論、熟練
者でなくとも、容易に正確な点検・測定が行なえて、信
頼性の高い診断を可能とする機器／設備の診断システム
を提供することにある。

【００２１】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明の一態様によれば、データを入力する入力装
置と、オペレータに対する指示および処理結果を表示す
る出力装置と、これらの装置が接続され、診断のための
データの収集および診断を行うコンピュータとを備える
機器／設備の診断システムにおいて、前記コンピュータ
は、オペレータにたいして点検すべき事項および手法
を、出力装置を介して教示する機能を有する測定支援手
段と、前記入力データに基づいて、余寿命を推定する余
寿命推定手段と、前記余寿命を含む、機器／設備の状況
を、出力装置を介して報告する状況報告手段とを備える
ことを特徴とする機器／設備の診断システムが提供され
る。

【００２２】また、上記目的を達成するため、本発明の
他の態様によれば、点検（診断）対象の機器または設備
についてデータを収集する端末装置と、該端末装置が収
集したデータに基づいて、前記点検対象の機器または設
備について診断を行なうホスト装置とで構成される診断
システムが提供される。

【００２３】前記端末装置は、予め設定した基準値と比
較して入力データの異常有無を判定し、異常が予め設定
した回数続いたとき、当該データを正常値として扱うデ
ータチェック機能を有する、測定支援手段を備えている
ことが好ましい。

【００２４】また、前記端末装置は、対象からのデータ
収集について、オペレータに教示する機能を有する測定
支援手段を備えていることが好ましい。

【００２５】さらに、端末装置は、余寿命を推定するた
めの関係式および収集したデータに基づいて、当該点検
対象の余寿命を推論する機能を備えることが好ましい。

【００２６】また、本発明は、点検対象の機器または設
備についてデータを収集する端末装置と、該端末装置が
収集したデータに基づいて、前記点検対象の機器または
設備について診断を行なうホスト装置とを含み、前記端
末装置は、データの収集を支援する手段と、得られたデ
ータおよび余寿命を推定するための関係式に基づいて、
当該点検対象の余寿命を推論する手段とを有し、前記ホ
スト装置は、当該点検対象に関する詳細な情報から余寿
命推定のための関係式を生成すると共に、該関係式およ
び前記端末装置により収集されたデータに基づいて当該
対象物の余寿命を推論する手段を有し、かつ、前記端末
装置とホスト装置とは、データの授受を行なう手段を有
することを特徴とする。

【００２７】前記システムに用いる診断用端末装置とし
ては、データを入力する入力装置と、着脱自在の記憶媒
体を有する記憶装置と、オペレータに対する指示および
処理結果を表示する出力装置とを有し、かつ、オペレー
タにたいして点検すべき事項および手法を教示すると
共、入力されるデータの異常有無を判定する機能と、入
力されたデータに基づいて、余寿命を推定する機能とを
有するものが好ましい。

【００２８】本発明の診断システムは、点検ごとに蓄積
される点検情報と、モデル部品について寿命を解析した
モデル部品データと、交換部品についての試験データで
ある交換部品データとを有するデータベースから、点検
対象についての非破壊試験データを検索し、該非破壊試
験データに対する残存破壊値の相関関係を示す実験式を
求め、かつ、前記データベースから、点検対象について
の運転経歴データを検索し、該運転経歴データに対する
残存破壊値の相関関係を示す実験式を求め、点検時に得
られたデータを、各々対応する前記実験式に入力して、
各々残存破壊値を求め、予め求められた残存破壊値と経
時変化との相関関係により、余寿命を求めることにより
診断を行う。

【００２９】本発明の典型的態様は、電気機器の絶縁診
断システムであって、現地において、少なくとも、入力
データの異常有無をチェックする機能と、得られた測定
データを、予め与えられた余寿命推定式にあてはめて、
余寿命を推定して、余寿命を含む状況報告を行なう端末
装置と、前記得られた実験データにより、余寿命および
劣化要因を推論して、総合評価を行なうホスト装置とを
備えて構成される。

【００３０】

【作用】本発明は、点検対象の機器または設備について
データを収集する端末装置と、該端末装置が収集したデ
ータに基づいて、前記点検対象の機器または設備につい
て診断を行なうホスト装置とを主要な要素として構成さ
れる。このような構成によれば、大量のデータを有する
データベースをホスト装置側に設けて、ホスト装置側で
精密な診断を行なうことができる。端末装置は、大量の
データを有するデータベースを持たなくて済むと共に、
このデータベースのデータによる大量・高速の演算も必
要としないので、装置を小規模に構成できる。従って、
端末装置を、可搬型とすること、あるいは、可搬型の汎
用コンピュータを用いて構成することが可能となる。

【００３１】また、端末装置とホスト装置とにデータの
授受を行なう手段を設けることにより、端末装置の動作
において必要なデータ等をホスト装置から転送できる。
一方、端末装置において収集されたデータをホスト装置
に供給できる。

【００３２】この場合、着脱自在の記憶媒体を用いてデ
ータの授受を行なうことができる。これにより、通信事
情の悪い地域にある点検対象についても、容易にデータ
の収集が可能となる。

【００３３】本発明では、端末装置に測定支援手段を備
えることができる。この手段が、データの収集方法を、
オペレータに教示する機能を持たせている場合には、未
熟練者であっても、熟練者と同様にデータの収集を行な
うことが可能となる。従って、得られたデータの信頼性
が高くなり、後の診断の信頼性も向上される。

【００３４】測定支援に、測定データのチェック機能を
持たせている場合には、得られたデータが、測定法の悪
さによる異常か、本来の異常であるかを区別でき、前記
と同様にデータの信頼性を向上できる。

【００３５】端末装置に、余寿命演算および推論機能を
設けることにより、端末装置側で、一応の結論を得ら
れ、これに基づいて状況報告を行なうことができる。こ
れは、通信回線を用いてホスト側に診断を求めてその結
果を出力することができない場合に好適である。

【００３６】すなわち、点検後に、当該機器の運転再開
や、使用再開を決断することが容易になると共に、危険
な状態に陥る心配なく運転や使用を再開でき、仮りに危
険性があれば、ホスト装置における精密な余寿命推定が
なされるまで、再開を保留することによって、事故発生
を防止できる。

【００３７】また、本発明において、余寿命の推定に際
して、非破壊試験データ、および、運転経歴データによ
り余寿命を算出することにより、異なる観点から余寿命
を求めるため、余寿命の信頼性が高くなる。この場合、
これらのデータは、新しいものが補充されていることが
好ましい。

【００３８】さらに、本発明は、劣化要因推論機能を備
えることにより、ここで、類似の部品の劣化データを参
照して、推論を行なうことにより、余寿命の推定の信頼
性が向上する。

【００３９】

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を用い
て説明する。

【００４０】図１に、高圧回転機を対象機器とする絶縁
診断システムの構成図を示す。

【００４１】図１に示すシステムは、工場その他に設置
されるホスト装置１と、現地において用いる可搬型の端
末装置２とを主構成要素として有する。

【００４２】ホスト装置１は、高速で、大容量のデータ
処理が可能なコンピュータであって、内部機能として、
推論部５、データベース１１、知識ベースエディタ２４
およびインタフェース２８を有する。これらは、コンピ
ュータのハードウェアとソフトウェアによって実現され
るものであることはいうまでもない。

【００４３】前記インタフェース２８には、外部装置と
して、データ、指示等を入力する入力装置２１と、記憶
装置の一例であるフロッピディスク装置８７と、処理結
果、メッセージ等を表示出力する出力装置１９とが接続
されている。また、端末装置２との間で通信線２３を介
して通信を行なう通信装置（図示せず）が必要に応じて
接続される。

【００４４】一方、ホスト装置１内の推論部５には、非
破壊測定支援７、目視点検結果判定８、余寿命演算９、
余寿命推定１５および劣化要因推論１４の各推論機能が
用意されている。これらは、各々プログラムの形で供給
される。例えば、これらの推論機能の１または２以上を
記憶媒体に記憶させた状態で供給することができる。な
お、各推論機能の詳細については後述する。

【００４５】なお、推論部５において、非破壊測定支援
７および目視点検結果判定８は、ホスト装置１に直接デ
ータ入力を行なわない場合には、省略することができ
る。

【００４６】データベース１１には、モデルコイルデー
タ１６、巻替コイルデータ１７および実機データ１８が
格納されている。

【００４７】モデルコイルデータ１６は、種々の形態の
コイルについて、例えば、機種、線径、曲率、絶縁、使
用条件等について、予め解析して得られたデータであ
る。巻替コイルデータ１７は、実際に巻替が行なわれ
て、取り外されたコイルについて、種々測定、分析等を
行なって得られたデータである。また、実機データ１８
は、診断対象となる機器についての点検時に得らた点検
情報３を集めたものであって、過去から現在までに点検
の都度保存されたものであり、当該診断システムが対象
とするすべての機器についてのデータである。なお、モ
デルコイルデータ１６および巻替コイルデータ１７につ
いても、新たなデータを補充することが好ましい。

【００４８】これらのデータは、例えば、機種別、コイ
ル形態別、絶縁クラス別、経年数別等の種々の観点から
の検索が可能となるよう分類されている。これらのデー
タの検索は、推論部の各部が必要に応じて行なう。

【００４９】入力装置２１は、例えば、キーボード、マ
ウス等により構成される。

【００５０】フロッピディスク装置８７と共に、また
は、それに代えて他の１種または２種以上の記憶装置を
用いることができる。これらに用いられる媒体は、端末
装置２とのデータ授受を行なう関係では、着脱自在の記
憶媒体であるべきである。例えば、光磁気ディスク、光
ディスク、磁気テープ、ＩＣカード、光カード等が挙げ
られる。

【００５１】前記フロッピディスク等の着脱自在の記憶
媒体の主要な用途の一つは、後述する点検情報３の抽出
および搬送にある。この他には、データベース１１また
は６の内容、推論部５または４の内容の一部の移植等に
も用いることができる。勿論、診断結果の格納も可能で
ある。

【００５２】出力装置１９は、好ましくはカラー表示が
可能なディスプレイを有する表示装置である。表示媒体
としては、ＣＲＴ、プラズマ、液晶、エレクトロルミネ
ッセンス等を用いることができる。モノクローム表示で
あってもよい。

【００５３】端末装置２は、大容量ではないが、小型軽
量で容易に持ち歩けるコンピュータ装置であって、例え
ば、ラップトップ型のコンピュータを用いることができ
る。この端末装置２は、内部機能として、推論部４、デ
ータベース６およびインタフェース２９を有する。これ
らは、コンピュータのハードウェアとソフトウェアによ
って実現されるものであることはいうまでもない。

【００５４】前記インタフェース２９には、外部装置と
して、データ、指示等を入力する入力装置２０と、記憶
装置の一例であるフロッピディスク装置１３と、処理結
果、メッセージ等を表示出力する出力装置１２とが接続
されている。また、ホスト装置１との間で通信線２３を
介して通信を行なう通信装置（図示せず）が必要に応じ
て接続される。

【００５５】一方、端末装置２内の推論部４には、非破
壊測定支援７、目視点検結果判定８、余寿命演算９およ
び余寿命推定１０の各推論機能が用意されている。これ
らは、各々プログラムの形で供給される。例えば、これ
らの推論機能の１または２以上を記憶媒体に記憶させた
状態で供給することができる。なお、各推論機能の詳細
については後述する。

【００５６】データベース６は、当該試験対象の回転機
の前回までの点検情報３（ホスト装置１の実機データ１
８中に格納されている）が格納される。このデータは、
記憶媒体を介してホスト装置１から受け取る。この点検
情報３は、できる限り多くの情報があることが好ましい
が、少なくとも前回までのデータが必要である。

【００５７】この過去から前回の点検までの点検情報
は、今回の点検情報と共に、時系列にグラフ化され、点
検情報の経時変化を示すことに使用される。後述する非
破壊測定支援は、この経時変化の延長線上からのずれの
大小によって、測定データの異常の有無を判定する。

【００５８】フロッピディスク装置１３および出力装置
１２は、各々前述したホスト装置１に接続したものと同
様の機能を有する。従って、ここではこれらについて説
明を繰り返さない。もっとも、可搬型のコンピュータで
あることを考慮すれば、これに適したものが用いられ
る。例えば、出力装置１２には、パネル形のディスプレ
イとして、プラズマディスプレイ、液晶ディスプレイ、
エレクトロルミネセッンスディスプレイ等が好ましく用
いられる。

【００５９】入力装置２０は、キーボード２２を有する
他、自動測定装置２５を信号線２６を介して接続できる
ものであることが好ましい。

【００６０】ホスト装置１と端末装置２との間で通信に
よりデータの授受ができる。この場合、信号線２６とし
ては、通常の信号伝送ケーブルの他、光信号伝送ケーブ
ルを好ましく用いることができる。勿論、データの授受
が可能であれば、これらに限らず、他の媒体を用いても
よい。

【００６１】次に、本実施例の作用について説明する。

【００６２】本実施例においては、保守点検対象の回転
機に関する詳細関連情報を、工場その他に設置されるホ
スト装置１のデータベース１１中に有する。そのうち、
保守点検対象機の前回までの点検情報３を、着脱式記憶
装置の一例であるフロッピディスク装置８７を用いてフ
ロッピディスク（図示せず）に抽出し、現地の端末装置
２のフロッピディスク装置１３からデータベース６中に
格納される。なお、前述したように、点検情報３の抽出
および転送に関しては、フロッピディスク装置に限定さ
れず、外部記憶装置ならば、ＩＣカード、光磁気ディス
ク、光ディスク等携帯可能な媒体ならば何でもよい。

【００６３】現地では、端末装置２で回転機の絶縁診断
システムを起動し、保守点検対象機の仕様、測定データ
を入力装置２０により入力し、データベース６を構成す
るメモリ中に格納する。

【００６４】次に、推論部４において、非破壊測定支援
７、目視点検結果判定８、余寿命演算９および余寿命推
定１０の各項目の処理を実行し、出力装置１２の表示画
面に、非破壊試験データおよびその異常の有無、目視点
検結果およびその判定による対策処理法、余寿命値など
の状況報告を行なう。

【００６５】各推論実行時には、最終結果を出力表示す
るのみならず、各推論過程において診断または判定の途
中結果を、逐次オペレータに示し、オペレータに具体的
な対処方法を指示する。これについては後述する。

【００６６】一方、工場のホスト装置１では、定期検査
等により、現地から持ち帰った保守点検対象機の各種測
定データを入力装置２１から入力し、データベース１１
中に格納する。この場合、推論結果も併せて格納するこ
とが好ましい。

【００６７】推論部５は、余寿命演算９、余寿命推定１
５および劣化要因推論１４の各推論を実行する。前記端
末装置２の推論部４と異なる点は、劣化要因推論１４が
追加されると共に、測定データを端末装置を介さずに入
力する場合の他、非破壊測定支援７および目視結果判定
８を省略することができることにある。

【００６８】なお、端末装置とホスト装置との機能の差
異は、必然的なものではなく、両者が共通の機能を有し
ていてもよい。

【００６９】前記劣化要因推論１４は、データベース１
１のモデルコイルデータ１６、巻替コイルデータ１７、
実機データ１８中から保守点検対象機の類似コイルデー
タを選択し、今回の定期点検での測定値と比較し、劣化
要因を推論し、推定余寿命値と併せて、巻替要否を決定
する。

【００７０】出力装置１９の表示画面には、端末装置２
で出力された結果の他に、巻替要否、劣化要因を表示
し、定期点検における総合報告を行なう。

【００７１】なお、端末装置２の入力装置２０では、図
２に示すように、キーボード２２による手動入力と自動
測定装置２５から信号線２６を通しての自動入力が可能
である。また、端末装置２とホスト装置１とは、通信線
２３を介してデータのやり取りが可能であり、保守点検
対象機の前回までの点検情報３は、通信線２３を通して
端末装置２に入力可能である。一方、端末装置２に入力
された今回の点検における測定データを、通信線２３を
通してホスト装置１に入力可能である。

【００７２】さらに、ホスト装置１には、知識ベースエ
ディタ２４があり、推論部５の知識ベースの内容が最新
のデータを基に書き換え可能であると共に、最新の入力
データにより、知識ベースが自動的に書き換えられる。

【００７３】次に、非破壊測定支援７の一例について、
図３を用いて説明する。この非破壊測定支援７は、測定
データの異常有無の判定機能と、測定方法の指示機能と
を有する。

【００７４】測定値である非破壊試験データの、外部ノ
イズによる異常、または、測定法の間違いによる異常の
チェックは、図３に示すような手順で行なわれる。

【００７５】すなわち、入力装置２０より測定値と測定
回数が入力されると（ブロック２７ａ)、推論部２７で
基準値またはパターンとの比較がなされ（ブロック２７
ｂ)、正常または異常が判定される。この時、測定回数
も参照され（ブロック２７ｄ)、例えば、２回までの異
常に対しては、異常として再測定を指示する（ブロック
２７ｅ)。しかし、３回以上の測定に対しては、コメン
ト付正常（例えば、基準値より大きいまたはパターンが
異なるなど）として、次の推論処理を行なう（ブロック
２７ｃ)。この例では、正常・異常の判定は、３回まで
の再測定によることになる。勿論、本発明はこの回数に
限定されるものではないが、発明者の経験によれば、３
回で十分と考えられる。

【００７６】次に、この試験データのチェックの一例に
ついて、図１３〜図１９を参照して説明する。

【００７７】本実施例の診断対象である回転機を例とし
て、非破壊測定支援７のデータ正誤判定および評価に関
し、測定項目である絶縁抵抗（Ｒ)，成極指数（ＰＩ)，
誘電正接（tanδ₀)，誘電正接変化率（Δtanδ₂)，第１
電流急増点（Ｐｉ₁)，第２電流急増点（Ｐｉ₂)，交流電
流増加率（ΔＩ)，誘電正接−電圧特性の傾向，最大放
電電荷（Ｑmax）について、図１３〜図１９のフローチ
ャートを用いて説明する。なお、データ異常の有無の判
定は測定値の大小および測定値のパターンにより判定す
る。

【００７８】図１３に絶縁抵抗（Ｒ）のデータチェック
のフローチャートを示す。

【００７９】入力データ１２５は、大小判定でＲ≦ａＭ
Ω，ａＭΩ＜Ｒ＜ｂＭΩ，Ｒ≧ｂＭΩの３つの場合に判
別される（ステップ１２６)。

【００８０】ａＭΩ＜Ｒ＜ｂＭΩの場合には、「測定値
異常無」と判定表示されると共に、通常の経年劣化の範
囲内と評価される（ステップ１２７)。

【００８１】一方、Ｒ≧ｂＭΩの場合には、「測定値異
常 有配線チェック」が判定表示される（ステップ１２
８)。ここで、オペレータが測定回路の配線チェックを
行ない、異常有りの場合には、再配線後再測定を行ない
（ステップ１２９)、データ再入力を行なう。また、配
線チェックを行ない、異常が無い場合には、「配線異常
無し」を入力し（ステップ１３０)、「測定値異常無
し」が判定される（ステップ１２７)。

【００８２】さらに、Ｒ≦ａＭΩの場合には、「測定値
異常コイルエンド部汚損の可能性有清掃後再測定」を表
示する（ステップ１３１)。

【００８３】図１４に成極指数（ＰＩ）のデータチェッ
クのフローチャートを示す。

【００８４】入力データ１３２は、大小判定でＰＩ≦
ｄ，ｄ＜ＰＩ＜ｃ，ＰＩ≧ｃの３通りに区別される（ス
テップ１３３)。

【００８５】ｄ＜ＰＩ＜ｃの場合には、「測定値異常
無」と表示される（ステップ１３４)。

【００８６】ＰＩ≦ｄの場合には、測定値異常有りと判
断し、吸湿している可能性が有ると考えられるので、
「乾燥後再測定」と表示される(ステップ１３６)。ま
た、ＰＩ≧ｃの場合には、測定値異常有りと判断し、
「スロット内コイルとコア間接触不良、スロット内点検
後再測定」と表示される（ステップ１３５)。

【００８７】図１５に誘電正接（tanδ₀）のデータチェ
ックのフローチャートを示す。

【００８８】入力データ１３７は、大小判定で、tanδ₀
≦ｇ，ｇ＜tanδ₀＜ｆ，tanδ₀≧ｆの３通りに区別され
る（ステップ１３８)。

【００８９】ｇ＜tanδ₀＜ｆの場合には、「測定値異常
無」と表示される（ステップ１３９)。一方、tanδ₀≦
ｇの場合には、測定値異常有りと判断し、「回路チェッ
ク後再測定」が指示される（ステップ１４０)。また、t
anδ₀≧ｆの場合には、測定温度（Ｔ）の高低を判定す
る（ステップ１４１)。これにより、Ｔ≧Ｔ１℃の場合
には、「冷却後再測定」を指示する（ステップ１４
２)。

【００９０】Ｔ＜Ｔ１℃の場合には、湿度の高低を判定
する（ステップ１４３)。これにより、湿度＞Ｓ％の場
合には、「コイルエンド表面吸湿の可能性有、乾燥後再
測定」を指示する（ステップ１４４)。また、湿度＜Ｓ
％の場合には、測定値異常と判断し、「異常放電の可能
性有、配線チェック後再測定」を指示する（ステップ１
４５)。

【００９１】次に、図１６に誘電正接−電圧特性の傾向
のデータ評価のフローチャートを示す。

【００９２】入力データ１４６は、パターン形状、例え
ば、正のカーブか負のカーブかによって、「測定値異常
無」と、「吸湿による異常放電の可能性有」に区別して
表示される（ステップ１４７〜１４９)。

【００９３】次に、図１７に誘電正接変化率（Δtan
δ₂）のデータ評価のフローチャートを示す。

【００９４】入力データ１５０は、大小の判定で２通り
に区別され（ステップ１５１)、Δtanδ₂＜ｅの場合に
は、「測定値異常無」と表示され（ステップ１５２)、
Δtanδ₂≧ｅの場合には、「老化が進んでいる可能性
大」と表示される（ステップ１５３)。

【００９５】次に、図１８に電流増加率ΔＩのデータ評
価のフローチャートを示す。

【００９６】入力データ１５４は、ΔＩの大小判定で２
通りに区別され（ステップ１５５)、ΔＩ＜Ｋの場合に
は、「測定値異常無」と表示され（ステップ１５６)、
ΔＩ≧Ｋの場合には、「老化の可能性有り」が表示され
る（ステップ１５７)。

【００９７】次に、図１９に最大放電電荷（Ｑmax）の
データチェックのフローチャートを示す。

【００９８】入力データ１５８として、Ｑ₀（０ＫＶの
ときの放電電荷量)、Ｑ₂（２ＫＶのときの放電電荷量）
およびＱ₃(３ＫＶのときの放電電荷量)と、Ｑmaxとが、
同時に入力される。ＱmaxとＱ₀，Ｑ₂およびＱ₃とが比較
により（ステップ１５９)、まず、区別される。Ｑ₀，Ｑ
₂，Ｑ₃＞（Ｑmax／α）の場合には、測定値異常と判断
し、「ノイズレベル大、再測定」を指示する（ステップ
１６０)。Ｑ₀，Ｑ₂，Ｑ₃≦（Ｑmax／α）の場合には、
さらに、Ｑ₂とＱ₃の比較をし（ステップ１６１)、Ｑ₂＜
Ｑ₃の場合には、「ノイズレベルに電圧特性有、再測
定」を指示し（ステップ１６２)、Ｑ₂≧Ｑ₃の場合に
は、「測定値異常無」を表示する（ステップ１６３)。

【００９９】この他、第１電流急増点（Ｐｉ₁）および
第２電流急増点（Ｐｉ₂）についても、値の大小によ
り、異常、正常が判定され表示される。

【０１００】以上の測定値に異常が有った場合には、前
述したように、３回まで再測定指示を行なう。それ以降
は、測定は正常として動作する。

【０１０１】前述の測定データチェックが済むと、本実
施例のシステムは、例えば、図２０に示すように、入力
測定データを出力装置１２（ホスト装置では１９）によ
り一覧表として示す。勿論、同図に示す数値は、例示に
過ぎないものであって、測定によって、また、対象によ
って種々の値となるものである。

【０１０２】なお、測定データの入力は、前述した測定
支援７を介さず、直接入力することも可能である。その
場合には、同図に示すように、入力すべき項目の番号お
よび値を、入力装置２０（ホスト装置１では２１）によ
り入力すればよい。

【０１０３】本実施例の非破壊測定支援７は、前述した
ように、測定方法の指示等の機能をも有している。この
機能について、tanδの測定を例として説明する。図２
２は、出力装置１２（ホスト装置１では１９）により表
示される画像の一例である。

【０１０４】同図には、tanδの測定回路と共に、測定
上の注意事項が示されている。オペレータは、この画面
を参照しつつ、測定回路を組むことができ、しかも、例
えば、配線をシールド線とすべき旨の注意事項があるの
で、誤差に対する配慮もなし得る。熟練者でなくとも、
熟練者と同等に誤差の少ない測定が確実に行ない得る。
これは、また、オペレータによる測定データの偏りが少
なくできることにつながり、過去の測定値の蓄積を用い
て余寿命等の推定を行なう場合に、高い精度を期待でき
て、好ましい。

【０１０５】また、本実施例の非破壊測定支援７は、例
えば、tanδの測定の場合、どのようなパターンになる
かの標準パターンを、例えば、図２１に示すように、表
示する機能を有している。

【０１０６】さらに、測定のフローチャートに従い、測
定が完了すると、tanδの測定結果パターンが、図２３
の如く表示され、同時に、tanδ測定結果より推定され
る劣化に対するコメントが表示される。なお、他のパラ
メータも同様に表示される。

【０１０７】次に、目視点検結果判定８について説明す
る。目視点検は、オペレータが検査対象機について、そ
の各部を目視によりチェックし、異常の有無を判定し、
そのデータを入力することにより行なわれる。従来は、
オペレータがマニュアルの指示を読みながら、必要箇所
の状態をチェックしていたが、本実施例では、出力装置
１２（ホスト装置１では１９）の表示に従って、点検を
実施できる。ここでは、発電機固定子コア端部を例とし
て、説明する。

【０１０８】出力装置１２（ホスト装置１では１９）の
画面に、図２６に示すような点検対象部の構造図が示さ
れる。この例では、点検対象部位の名称を併記している
が、これを後述する質問番号としてもよく、さらに、番
号をも併記してもよい。また、画面のレイアウトによっ
ては、省略してもよく、あるいは、余白部にリストとし
て示す構成としてもよい。

【０１０９】また、この画面には、図２６では図示して
いないが、点検事項が質問形式で表示される。この質問
は、例えば、 コア締付ボルトのゆるみは有りますか。

【０１１０】コアに発錆がありますか。

【０１１１】コイル端部は汚損していますか。

【０１１２】等のように画面に表示される。

【０１１３】この場合質問は、１項目ずつ順を追って表
示する形式であっても、また、一覧形式で表示してもよ
い。

【０１１４】また、前述した点検部位の名称に代えて、
質問を表示するようにしてもよい。

【０１１５】この他、点検部位や、点検内容を、その手
順と共に表示することができる。その好ましい例とし
て、次の手段がある。

【０１１６】この手段は、図２６に示すように、構造図
中の点検部位を、点検の順に従って、明暗反転するもの
である。図２６では、コア締付ボルトについて、斜線を
付して示すように、明暗反転を行なって、現在は、この
部位について点検すべきことを示している。この場合、
部位名称についても明暗反転を行なってもよい。また、
部位名称についてのみ明暗反転を行なってもよい。

【０１１７】これに対して、オペレータがデータを入力
すると、次の質問事項に移り、この部位の明暗反転は解
除され、次の部位について明暗反転が行なわれる。な
お、既に点検を終えた部位については、例えば、輝度を
異ならせる等により、未点検部位と区別できるようにし
てもよい。

【０１１８】なお、この実施例では、明暗反転を用いた
が、出力装置の表示能力に合わせて、輝度変化、色変
化、フリッカまたはこれらの組み合わせにより、表示し
てもよい。

【０１１９】このような画面表示に対して、オペレータ
が、（ＹＥＳ，ＮＯ)、または、程度を表わす符号、例
えば、１，２，３…、あるいは、Ａ，Ｂ，Ｃ…を入力す
ると、この目視点検結果判定８は、各項目に対する判定
と対策内容を表示する。この場合、例えば、異常部位
を、その程度に応じて、色表示、輝度表示等によって明
示する構成としてもよい。

【０１２０】なお、質問に対するオペレータの入力は、
キーボードによる入力の他、マウスを用いる構成として
もよい。

【０１２１】次に、余寿命演算９の一例について、図
４，図５を用いて説明する。

【０１２２】余寿命演算９では、２通りの方法で、点検
対象機の工場出荷時の初期破壊電圧に対する現在の破壊
電圧の残存割合を示す残存破壊電圧を求める。すなわ
ち、その方法として、非破壊試験データに基づく方法
（以下Ｄマップ法と称する）と、運転経歴データに基づ
く方法（以下ＮＹマップ法と称する）とを用いる。

【０１２３】まず、Ｄマップ法では、コイルの残存破壊
電圧Ｖ_Dが、最大放電電荷量（Ｑmax）と、（交流電流増
加率（ΔＩ）＋誘電正接変化率（Δtanδ₂)）とに依存
していることを利用する。すなわち、この方法では、図
４のような残存破壊電圧Ｖ_Dのカーブを多くの実験デー
タを基にして描き、例えば、第(1)式の如く実験式を求
め、知識ベース化しておく。

【０１２４】

【数１】

【０１２５】余寿命演算実行時には、点検対象機の定期
点検時の非破壊試験データであるＱmaxと（ΔＩ＋Δtan
δ₂）の値を、第(1)式に入力し、Ｖ_Dを求める。また、
試験データを、図４上にプロットして出力装置１２（ホ
スト装置１では１９）に表示される。なお、Ｄマップと
それに対応する式は、機種または絶縁種別にそれぞれ用
意されるものとする。

【０１２６】次に、ＮＹマップ法とは、残存破壊電圧Ｖ
_NYが、累積運転年数Ｙと累積起動停止回数Ｎとに依存し
ていることを利用する。すなわち、この方法は、図５の
ような残存破壊電圧Ｖ_NYのカーブを多くの実験データを
基にして描き、例えば、第(2)式の如く実験式を求め知
識ベース化しておく。

【０１２７】

【数２】

【０１２８】余寿命演算実行時には、ＮおよびＹの値
を、(2)式に入力し、Ｖ_NYを求めると共に、図５上にプ
ロットして表示する。なお、ＮＹマップ法の場合にも、
Ｄマップ法の場合と同様に、図面と計算式は、機種また
は絶縁種別ごとにそれぞれ用意されるものとする。

【０１２９】なお、Ｄマップ法およびＮＹマップ法のい
ずれについても、当該機種のデータのみならず、他機種
について得られたデータであっても、利用可能である。
また、データベースのデータをどのように検索してもよ
く、それによって、異なる関係式が得られる可能性があ
る。

【０１３０】以上ＤマップおよびＮＹマップの結果は、
表示画面との対話指示により表示出力される。

【０１３１】なお、前述したＤマップ法およびＮＹマッ
プ法の各関係式は、多くの実験データに基づいて求めら
れるが、この基本になったデータ、例えば、実機データ
が定期点検等で新たに得られたならば、このデータを含
めて、再度カーブを求めなおすことが、余寿命推定の精
度を向上させるために好適である。もっとも、この作業
は、装置に負担がかかるので、特に、端末装置の場合、
省略してもよい。その場合、関係式は固定される。

【０１３２】次に、余寿命推定１０（ホスト装置１では
１５）では、余寿命演算９で得られた残存破壊電圧
Ｖ_D，Ｖ_NYを基にして、余寿命値Ｙ_Rを求める。以下、図
６のフローチャートおよび図７により、余寿命値Ｙ_Rを
求める方法の一例について説明する。

【０１３３】まず、機種選定３０で機種および仕様を入
力し、その機種に対応するＤマップとＮＹマップの残存
破壊電圧計算を行なう（ブロック３１)。そこで得られ
た残存破壊電圧Ｖ_D，Ｖ_NYを基にして、ＤマップとＮＹ
マップとを、機種により重み付判定を行ない（ブロック
３２)、Ｖ_DとＶ_NYのどちらかを点検対象機の残存破壊電
圧Ｖ_Rとして決定し、その根拠表示を次に行なう（ブロ
ック３３)。

【０１３４】次に決定した残存破壊電圧Ｖ_Rより、その
時間特性（Ｖ_R−ｔ）特性を求める（ブロック３４)。さ
らに、図７に示す如く、Ｖ_Rの誤差Ｓを考慮したＶ_Rの最
小値の時間特性｛（Ｖ_R−Ｓ）−ｔ｝特性を求める（ブ
ロック３５)。これにより、残存破壊電圧がα％に達す
るときの時間ｔ_αと定検のときの時間ｔ_riとの差より、
余寿命値Ｙ_Rを、

【０１３５】

【数３】

【０１３６】として求める（ブロック３６)。

【０１３７】以上に述べた推論部の各機能は、基本的に
は、端末装置２の推論部４と、ホスト装置１の推論部５
とで、同一に機能するものを設けることが好ましい。も
っとも、端末装置２とホスト装置１とで役割分担する構
成としてもよい。

【０１３８】例えば、前述したように、非破壊測定支援
７および目視点検結果判定８は、主として、現地におい
てオペレータが点検作業や測定等を実行して、データを
収集することに寄与するので、端末装置２側に設けるこ
とが必要な機能である。

【０１３９】また、余寿命演算９および余寿命推定１０
についても、現地にて一応の結論が出せるようにするた
め、端末装置２側にも必要である。ただし、これらの機
能は、正確さを求めると、多くのデータと演算とを要
し、可搬型の端末装置２の場合、処理容量が足りないこ
とも考えられるので、現地で簡易に実行でき、ホスト装
置１側で精密に行なうよう役割分担することが好まし
い。この場合には、端末装置２側では、例えば、前述し
た(1)，(2)式を固定的に備えて、演算を実行する簡易な
ものでよい。

【０１４０】特に、データベース中のモデルコイルのデ
ータを用いて推論を行なう場合には、大容量のデータベ
ースを必要とするため、現地用の可搬型の端末装置２に
は負担が大きくなるので、本実施例では、そのような機
能は、ホスト装置１の余寿命推定１５に設けている。

【０１４１】さらに、劣化要因推論１４は、主としてホ
スト装置１側に備えているが、端末装置２側にも設ける
ことができる。

【０１４２】本実施例では、端末装置２側には、非破壊
測定支援７および余寿命推定１０に、各事項毎に、劣化
要因の推論を行なう機能を有する。

【０１４３】次に、劣化要因推論部１４での、推論法の
一例を図８により説明する。

【０１４４】データベース１１に格納された今回の定期
点検時に得られた非破壊試験データは、非破壊試験デー
タの基準値または基準パターンとの比較を行ない（ブロ
ック４１)、比較結果の組み合わせによる劣化−健全判
定により（ブロック４２)、種々の劣化要因を列挙する
かまたは健全と結論される。

【０１４５】一方、今回の定期点検時に得られた非破壊
試験データは、同時にデータベース１１中のモデルコイ
ルデータ１６、巻替コイルデータ１７、実機データ１８
などの中の類似コイルの非破壊試験データとの比較も行
なわれる（ブロック４３)。データベース１１中から選
び出された複数の類似コイルの中から最もデータの近い
類似コイルの選定が実施され（ブロック４４)、１ない
し２の類似コイルが選定される。このとき類似コイルに
劣化があれば、劣化要因抽出が行なわれる（ブロック４
５)。

【０１４６】以上のように、非破壊試験データの基準値
または基準パターンとの比較（ブロック４１）により、
得られた劣化−健全の結論と、類似コイルの非破壊試験
データとの比較（ブロック４３）により得られた劣化−
健全の結論とより、総合劣化要因判定が決定される（ブ
ロック４６)。ここで、判定の結論が両者で異なる場合
には、厳しい判定の方を優先し、表示する。もう一方
は、参考結論として表示される。

【０１４７】図８は非破壊試験データのみを用いた劣化
要因推論であったが、通常の場合には、さらに目視点検
結果に対しても同様の判定を行ない、両者を総合した劣
化要因判定が下される。また、劣化要因は、結論が表示
されると共に、結論に至る根拠・過程も表示画面との対
話により出力表示できるものとすることが好ましい。

【０１４８】前述したように、本実施例は、ホスト装置
１の推論部５に、残存破壊値を求める場合、予め設定し
た相関演算式を用いる場合と、メニュー選択により、類
似機を機種または仕様から選ぶことによりデータベース
中のデータにより各種パラメータと残存破壊値間の相関
関数を求め用いる場合とを設けている。

【０１４９】次に、残存破壊値をデータベースから求め
る方法の一実施例を示す。

【０１５０】ホスト装置１では、例えば絶縁種別、電圧
階級、容量などから一つ以上の類似機検索パラメータを
入力し、ホスト装置１のコンピュータは、所定の類似判
定機能により、データベース中を検索し、該当する残存
破壊値とパラメータ値のデータを呼び出す。そして、こ
れらの値を、図２４の如く、画面上にプロット表示する
と共に、例えば、最小二乗法により、相関関数を求め
る。

【０１５１】さらに、求めた相関関数により、残存破壊
値の推定値をパラメータの実測データに対して計算し、
図２５のような残存破壊値と推定値の相関図を表示する
と共に、９５％信頼区間を計算して、表示する。

【０１５２】オペレータは、類似機検索のパラメータを
変更することにより、複数の図２５の如き相関図を得
る。さらに、そのうち、最も９５％信頼区間の幅が狭
い、すなわち、信頼度の高い相関関数に、定期検査時に
得たデータを入力することにより、最も信頼度の高い残
存破壊値を得ることができる。なお、相関関数は、予め
係数を除いた相関形を決めておいてもよい。

【０１５３】以上説明した本実施例の診断システムのメ
ニュー画面の一例を図１２に示す。

【０１５４】同図では、システムを起動すると、まず、
当該システムの名称を表示すると共に、推論を開始する
か、終了するかの選択部（１００１および１００２）が
表示される（ブロック１０００)。

【０１５５】ここで、推論開始１００１を選択すると、
ジョブ選択画面１１００が表示され、この中に、本シス
テムにおいて実行可能なメニューが示される。なお、選
択は、マウスまたはキーボードにより行なうことができ
る。

【０１５６】終了以外のメニューを選択すると、それに
対応して、各々の詳細が表示される。そして、各ブロッ
ク１１１０〜１１４０の各々において、さらに選択可能
な画面が表示され、必要事項の入力等の処理が実行され
る構成となっている。

【０１５７】以上説明した本実施例の診断システムのメ
ニュー画面の一例を図１２に示す。図１２に示すメニュ
ーは、端末装置２とホスト装置１のいずれにも用いるこ
とができる。ただし、搭載していない機能については、
当該項目をマスクして選択不能として表示すればよい。
このようにすれば、診断システムのいずれかの要素によ
って、当該項目が処理可能であることを知ることができ
て便利である。

【０１５８】また、本実施例の端末装置２は、１台のホ
スト装置１に対して複数台用意することができ、この場
合、各端末装置２毎に診断対象機を異ならせてもよい。
このようにすると、端末装置２毎に、搭載機能が異なる
ことがあり得るため、メニュー画面の表示状態も変化す
る。

【０１５９】さらに、本実施例は、回転機絶縁診断エキ
スパートシステムとしてまとめられているので、同様の
診断を他機種に適用する場合、測定支援、目視点検結果
判断、実機データ等に当該機種のものを用意することに
より、そのまま適用できる。また、回転機に限らず、静
止機についても同様である。勿論、他の機器、設備等に
ついても、また、異なる試験内容についても、当該機器
等の試験すべき項目に対するデータベースおよび知識ベ
ースを与えることにより、本実施例のエキスパートシス
テムと同様のシステムが構築できる。

【０１６０】この場合、データベースの内容は、対象に
応じたものとなる。例えば、モデルコイルデータは、当
該機器または設備に用いられる部品等の構成要素につい
てのモデルデータとなり、巻替コイルデータは、同様
に、交換されて外された部品等の構成要素についての試
験データとなる。

【０１６１】次に、測定値の異常の有無または劣化度の
推論において、ファジー推論を用いる場合の一実施例に
ついて、図９〜図１１により説明する。

【０１６２】まず、図９を用いてファジー推論の一例を
説明する。

【０１６３】測定値の劣化および健全の程度を、連続の
メンバーシップ関数９１で与える。横軸に測定値、縦軸
に劣化度および健全度を、０〜１の値（グレード）でと
り、測定値に対するあいまい度を各々のメンバーシップ
関数で与える。さらに、測定値の劣化または健全に対
し、余寿命値または残存破壊値の信頼度を各々連続の関
数で与える。測定値ｘ₁₀に対し、劣化および健全度のと
る値（グレード）を、余寿命値側の信頼度として与え、
それぞれに対し、ハッチングを施した領域（本明細書で
は信頼度分布領域と称する）を重ね合わせて、その面積
の重心の値を余寿命または残存破壊値ｙとして求める。

【０１６４】これを一般化した式で表わすと、グレード
をω_i，測定値をｘ_i，事象をＡ_i，余寿命値をｙ_i，事象
をＢ_iとすると、

【０１６５】

【数４】

【０１６６】で表わされる。

【０１６７】図１０は、劣化のメンバーシップ関数が劣
化度に応じて複数に存在する場合の例である。測定値ｘ
₂₀は、劣化中と劣化小の２つの事象に属し、各々の信頼
度に対する余寿命の信頼度の面積の和の重心のｙ座標ｙ
₂₀が得られる。

【０１６８】本例は、１つの測定パラメータに対する例
であるが、複数のパラメータが存在する場合には、各々
に対して対応する信頼度領域分布を求め、平均的な値を
推定したい場合は、各々の信頼度領域分布の和集合をと
り、重心の余寿命座標値を得る。また、危険度を重視し
たい場合には、和集合をとらずに、最も余寿命値の小さ
なパラメータの場合の値を用いればよい。さらに、メン
バーシップ関数としては、連続型のみならず、図１１の
如く離散型でもよい。

【０１６９】ファジー推論を行なわせる場合には、通常
のディジタルコンピュータで行なわせてもよいが、推論
が遅くなるので、本絶縁診断システムでは、ファジー推
論専用の集積回路を端末装置およびホスト装置に搭載し
てもよい。

【０１７０】専用集積回路としては、アナログ回路を用
い、ファジー推論実行時のみ、コンピュータ内でファジ
ー専用回路を動作させ、残りの処理は、通常のディジタ
ル処理回路で行なわせる。

【０１７１】ファジー推論専用集積回路を用いることに
より、高速推論が可能となる。

【０１７２】前述したファジー推論による診断は、前述
した回転機を含む機器や設備の診断に好適である他、各
種の診断に広く適用できる。例えば、医療診断、経営診
断等に用いることができる。

【０１７３】本発明は、前述した実施例に限らず、種々
の変形が可能である。以下、その例を示す。

【０１７４】出力装置１２としては、前述したように、
フルカラーディスプレイが使用できる。ディスプレイと
しては、例えば、液晶型のフルカラーディスプレイを用
いればよい。これにより、ホスト装置と同じ表示法が使
用可能となる。

【０１７５】また、出力装置１２および出力装置１９で
は、端末装置２およびホスト装置１の内部に、絶縁診断
システム専用の音声ＲＯＭまたは音声合成ＬＳＩを内蔵
させて、推論の回答およびその他指示を、音声で出力さ
せる構成としてもよい。音声出力により、多人数が同時
に絶縁診断状況を見ている場合に、ディスプレイが判読
不能な人にも、判定の内容が把握できると共に、ディス
プレイの内容の誤解読がなくなる。

【０１７６】回転機の絶縁診断システムのその他の実施
例として、端末装置、例えば、可搬型コンピュータ内に
書き換え可能な大容量光ディスクを内蔵させる構成とす
ることができる。

【０１７７】記憶容量の大容量化に伴い、今までホスト
装置１のコンピュータのデータベースに収納していた、
点検対象機の詳細関連情報を、すべて可搬型コンピュー
タのデータベース中に記憶させると共に、推論知識ベー
スをすべて可搬型コンピュータに移すことができる。こ
れにより、現地で可搬型コンピュータ単独で状況報告か
ら総合判定までの推論がすべて行なえるようになる。

【０１７８】もっとも、端末装置とホスト装置とを通信
手段で接続し、オンライン処理を行なえば、端末装置側
にホスト装置のすべての情報を移転しなくとも、前述し
たと同様に実行できる。

【０１７９】ところで、本発明の診断システムは、端末
装置とホスト装置との組み合わせで構成されるが、少な
くとも端末装置を、点検対象機器または設備の専用点検
装置として付属させることもできる。この場合、ホスト
装置は、汎用装置を用いてもよく、また、専用装置とし
てもよい。また、複数の点検対象について共通のホスト
装置としてもよい。

【０１８０】このような構成とすることにより、診断機
能付の機器または設備を構築することができる。特に、
測定値を自動入力でき、かつ、データをオンライン転送
できれば、より好ましい。

【０１８１】また、１のホスト装置に、複数の端末装置
を備えて、複数の対象機器や設備の保守点検を管理する
保守点検システムを構築することができる。

【０１８２】この他、複数台のホスト装置を通信回線で
結び、診断のネットワークシステムを構築することがで
きる。このようにすると、多数の点検情報を相互に利用
することができ、余寿命の推定等の信頼度をより向上す
ることができる。

【０１８３】なお、前述した実施例において、非破壊測
定支援は、一例であって、本発明は、非破壊測定に限ら
ず、測定一般の支援が可能である。

【０１８４】

【発明の効果】本発明によれば、現地で定期点検時の測
定値の異常の有無が判定できるので、定期点検が迅速か
つ正確に行なえる。

【０１８５】また、本発明によれば、状況報告も現地で
なし得るため、不具合点に対する迅速な対応が可能とな
る。さらに、工場等におけるホスト装置での絶縁診断で
は、膨大なデータベースを用い、類似コイルとの比較に
より劣化に対する詳細な診断ができるので、劣化要因、
巻替要否などの回転機絶縁診断の総合判定結果の信頼性
向上の効果がある。

【０１８６】さらに、本発明によれば、定期点検での測
定法を未熟練者にも教示することができ、専門家以外に
も、測定データのチェック、総合判定が迅速に行なえる
効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のシステム構成を示すブロッ
ク図。

【図２】入力装置の構成例を示すブロック図。

【図３】データチェック法のフローの一例を示すフロー
チャート。

【図４】余寿命演算法の例を示すグラフ。

【図５】余寿命演算法の例を示すグラフ。

【図６】余寿命推定のフローチャート。

【図７】余寿命値を示すグラフ。

【図８】劣化要因推論法の一例を表わすフローチャー
ト。

【図９】各々ファジー推論におけるメンバーシップ関数
の連続と離散の場合の例を示すグラフ。

【図１０】各々ファジー推論におけるメンバーシップ関
数の連続と離散の場合の例を示すグラフ。

【図１１】各々ファジー推論におけるメンバーシップ関
数の連続と離散の場合の例を示すグラフ。

【図１２】本発明の診断システムのメニュー画面の一例
を示すブロック図。

【図１３】本発明の非破壊測定支援における絶縁抵抗の
データチェックの手順の一例を示すフローチャート。

【図１４】本発明の非破壊測定支援における成極指数の
データチェックの手順の一例を示すフローチャート。

【図１５】本発明の非破壊測定支援における誘電正接の
データチェックの手順の一実施例を示すフローチャー
ト。

【図１６】本発明の非破壊測定支援における誘電正接−
電圧特性の傾向のデータ評価の手順の一例を示すフロー
チャート。

【図１７】本発明の非破壊測定支援における誘電正接変
化率のデータ評価の手順の一例を示すフローチャート。

【図１８】本発明の非破壊測定支援における電流増加率
のデータ評価の手順の一例を示すフローチャート。

【図１９】本発明の非破壊測定支援における最大放電電
荷のデータチェックの手順の一例を示すフローチャー
ト。

【図２０】非破壊試験入力データを一覧表示する画面の
一実施例を示す説明図。

【図２１】tanδ測定における標準パターンを表示する
画面の一実施例を示す説明図。

【図２２】非破壊測定支援の測定方法指示画面の一実施
例を示す説明図。

【図２３】tanδ測定結果を表示する画面の一実施例を
示す説明図。

【図２４】データベースを用いて残存破壊値を求める手
法を示すグラフ。

【図２５】データベースを用いて残存破壊値を求める手
法を示すグラフ。

【図２６】目視点検結果判定において点検部位を指示す
るための画面の一実施例を示す説明図。

【符号の説明】

１…ホスト装置、２…端末装置、４，５…推論部、６，
１１…データベース、２０，２１…入力装置、１２，１
９…出力装置、１３，８７…フロッピディスク装置、７
…非破壊データチェック、８…目視点検結果判定、９…
余寿命演算、１０，１５…余寿命推定、１４…劣化要因
推論、２４…知識ベースエディタ。

フロントページの続き (72)発明者 堤 泰行 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社 日立製作所 日立研究所内 (72)発明者 武内 良三 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社 日立製作所 日立研究所内 (72)発明者 藤岡 慎英 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社 日立製作所 日立研究所内 (72)発明者 神谷 宏之 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式 会社 日立製作所 日立工場内 (72)発明者 鈴木 啓司 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式 会社 日立製作所 日立工場内 (72)発明者 助田 正巳 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式 会社 日立製作所 日立工場内 (72)発明者 臼井 崇 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式 会社 日立製作所 日立工場内 (56)参考文献 特開 昭61−55777（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−233418（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−186303（ＪＰ，Ａ)

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 指示およびデータの入力を行なうための
   入力装置と、オペレータに対する指示および処理結果を
   表示する出力装置と、これらの装置が接続され、機器／
   設備の診断のためのデータの収集および診断を行うコン
   ピュータとを備える機器／設備の診断システムにおい
   て、 前記入力装置は、診断対象について得られたデータを手
   動入力するための手動入力手段を有し、 前記コンピュータは、 診断対象について収集した入力データについて、入力デ
   ータ自体の有効性を検査するデータチェック機能を有す
   る測定支援手段と、 前記入力データに基づいて、診断対象である機器／設備
   について診断する診断手段と、 前記診断結果に基づいて得られる機器／設備の状況を、
   出力装置を介して報告する状況報告手段とを備え、 前記測定支援手段のデータチェック機能は、診断対象か
   ら収集した入力データについて、予め設定した基準値と
   比較して、異常の有無を判定し、異常のない場合には、
   そのデータを診断に用いることができる有効な入力デー
   タとして扱い、異常のある場合には、当該事項について
   データの再収集の要求を前記出力装置に表示させ、再収
   集された入力データについて異状の有無の判定を行な
   い、異常がある場合には、この手順を繰り返し、異常を
   示す入力データが予め設定した回数であるｎ回続いたと
   き、当該ｎ回目の入力データを診断に用いることができ
   る有効な入力データとして扱うことを特徴とする機器／
   設備の診断システム。
2. 【請求項２】 請求項１において、前記測定支援手段
   は、オペレータにたいして点検すべき事項および手法
   を、出力装置を介して教示する機能をさらに有し、 前記出力装置は、表示画面を有し、 測定支援手段は、前記出力装置の表示画面に、診断対象
   の構造図を表示させるものであることを特徴とする機器
   ／設備の診断システム。
3. 【請求項３】 データを入力する入力装置と、オペレー
   タに対する指示および処理結果を表示する出力装置と、
   これらの装置が接続され、機器／設備の診断のためのデ
   ータの収集および診断を行うコンピュータとを備える機
   器／設備の診断システムにおいて、 前記コンピュータは、 オペレータにたいして点検すべき事項および手法を、出
   力装置を介して教示する機能を有する測定支援手段と、 前記入力データに基づいて、診断対象である機器／設備
   について診断する診断手段と、 前記診断結果に基づいて得られる機器／設備の状況を、
   出力装置を介して報告する状況報告手段とを備え、 前記測定支援手段は、予め設定した基準値と比較して入
   力データの異常有無を判定し、異常が予め設定した回数
   続いたとき、当該データを正常値として扱うデータチェ
   ック機能をさらに有し、かつ、測定値の異常の有無の判
   定において、判定条件を、連続または離散のメンバーシ
   ップ関数の形式で与え、判定のための推論をファジー推
   論により行うことを特徴とする機器／設備の診断システ
   ム。
4. 【請求項４】 請求項２または３において、測定支援手
   段は、前記出力装置の表示画面に、点検すべき事項を質
   問形式で表示するものである機器／設備の診断システ
   ム。
5. 【請求項５】 請求項２または３において、前記出力装
   置は、表示画面を有し、測定支援手段は、前記出力装置
   の表示画面に、診断のための測定に用いる測定回路の回
   路図を表示させると共に、その測定方法の注意事項のメ
   ッセージを表示させるものである機器／設備の診断シス
   テム。
6. 【請求項６】 請求項１、２または３において、前記診
   断手段は、前記入力データに基づいて、診断対象である
   機器／設備の余寿命を推定する余寿命推定手段を含み、 前記余寿命推定手段は、余寿命を推定するための、予め
   生成された関係式、および、前記入力データに基づい
   て、当該点検対象の余寿命を推論する機能を有し、 前記状況報告手段は、前記余寿命を含む、機器／設備の
   状況を、出力装置を介して報告することを特徴とする機
   器／設備の診断システム。
7. 【請求項７】 請求項１、２または３において、前記コ
   ンピュータは、点検ごとに蓄積される点検情報と、モデ
   ル部品について寿命を解析したモデル部品データと、交
   換部品についての試験データである交換部品データとを
   有するデータベースを有し、 前記診断手段は、前記入力データに基づいて、診断対象
   である機器／設備の余寿命を推定する余寿命推定手段を
   含み、 前記余寿命推定手段は、 前記データベースから、点検対象についての非破壊試験
   データを検索し、該非破壊試験データに対する残存破壊
   値の相関関係を示す実験式を求め、かつ、前記データベ
   ースから、点検対象についての運転経歴データを検索
   し、該運転経歴データに対する残存破壊値の相関関係を
   示す実験式を求める手段と、 点検時に得られたデータを、各々対応する前記実験式に
   入力して、各々残存破壊値を求める手段と、 予め求められた残存破壊値と経時変化との相関関係によ
   り、余寿命を求める手段とを有することを特徴とする機
   器／設備の診断システム。
8. 【請求項８】 診断のためのデータを収集し、このデー
   タを基に診断を行う機器／設備の診断システムにおい
   て、 診断対象について収集したデータについて、予め設定し
   た基準値と比較して当該データ自体の有効性を検査する
   データチェック機能と、その結果をオペレータに教示す
   る機能とを有し、診断対象についてデータを収集するに
   際し、診断に有効に用いることができるデータの収集を
   支援する手段を備え、 前記データチェック機能は、判定条件を、連続または離
   散のメンバーシップ関数の形式で与え、判定のための推
   論をファジー推論により行うことを特徴とする機器／設
   備の診断システム。