JP2000512766A - 高電圧絶縁における部分放電測定の統計的パターン分析方法 - Google Patents
高電圧絶縁における部分放電測定の統計的パターン分析方法Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.部分放電測定を用いて高電圧装置における電気的絶縁の品質評価の統計的 方法であって、以下のステップ、すなわち、 まだ求められていない絶縁品質を有する前記高電圧装置の部分放電測定から、 1組のヒストグラムに基づく分析特徴を得ること、 前記のまだ求められていない絶縁の品質確率を計算するために、前記分析特徴 を複数の絶縁条件を有する複数の基準品質クラス代表値と比較すること、 前記分析特徴の前記のそれぞれの基準品質クラス特徴のおのおのへの統計的距 離を分析することによって前記のまだ求められていない絶縁のための前記の選択 された品質クラスに1確立を割り当てること、 とを含む方法。 2.品質評価の統計的方法であって、 第1の基準値集合が少なくとも健全な絶縁システムからのデータを備え、第2 基準値集合が少なくとも欠陥絶縁システムからのデータを備えるというように、 少なくとも2組の前記基準部分放電測定を得て、前記の基準部分放電データ集合 のおのおのからそれぞれ少なくとも1つの品質クラスを採収するために、前記の 基準データ集合を処理し、 前記のそれぞれの品質クラス特徴のおのおののために品質クラス代表値および 品質クラスしきい値を計算する ことをさらに含む請求項1に記載の方法。 3.品質評価の統計的方法であって、 前記の分析特徴と、前記のそれぞれの基準品質クラス代表値のおのおのとの間 のそれぞれの統計的距離を計算し、 前記の統計的距離の少なくとも1つが、前記品質クラスしきい値内にある場合 に、前記のそれぞれの品質クラスのうちの少なくとも1つと一致していることを 識別するために、前記のそれぞれの統計的距離のおのおのと、前記の品質クラス しきい値のおのおのとを比較することによって、前記のまだ求められていない絶 縁の分析的特徴を分類する ステップをさらに含む請求項1に記載の方法。 4.前記のまだ求められていない絶縁からの部分放電装置測定の多重集合を評 価することによって前記のそれぞれの信頼レベルが求められる信頼レベルを、前 記の選択された品質クラスのおのおののそれぞれについて求めるステップをさら に含む請求項3に記載の品質評価の統計的方法。 5.品質評価の統計的方法であって、1組の分析的特徴を得るステップが、 供給電圧周期を所定の位相窓数に分割し、 前記部分放電データが、複数の前記供給電圧周期にわたって収集される前記部 分放電測定のヒストグラムをまだ求められていない絶縁から得る ステップをさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の方法。 6.品質評価の統計的方法であって、 前記部分放電ヒストグラムの位相を、前記供給電圧の単一周期にわたって同調 させ、 前記部分放電ヒストグラムの部分放電の大きさを正規化し、 前記部分放電ヒストグラムから励起雑音を除去する ステップをさらに含む請求項5に記載の方法。 7.低い大きさの高部分放電事象数を最小にするために、前記部分放電データ の大きさの対数をとるステップをさらに含む請求項6に記載の品質評価の統計的 方法。 8.前記部分放電測定にわたって前記のそれぞれの基準品質クラスのおのおの から採収された前記のそれぞれの基準品質クラス特徴のおのおのの基準標本平均 値を計算するステップをさらに含む請求項7に記載の品質評価の統計的方法。 9.前記分析的特徴と、各基準品質クラス代表値との間のKolmogoro v Simirnov距離を計算するステップをさらに含む請求項8に記載の品 質評価の統計的方法。 10.前記のそれぞれの分析的特徴と、前記品質クラス代表値のおのおのとの 間のカイ2乗距離を計算するステップをさらに含む請求項8に記載の品質評価の 統計的方法。 11.前記のそれぞれの分析的特徴と、前記品質クラス代表値のおのおのとの 間の相反変換距離を計算するステップをさらに含む請求項8に記載の品質評価の 統計的方法。 12.各前記品質クラスについて、前記のそれぞれの分析的特徴のおのおのと 前記品質クラス代表値との前記統計的距離の平均および分散を計算するステップ をさらに含む請求項11に記載の品質評価の統計的方法。 13.減少距離関数に基づいて下記平均尤度確率を求めるために、前記のそれ ぞれの分析的特徴のおのおのと前記品質クラス代表値との間の距離を写像するこ とにより、平均尤度確率を前記の選択された品質クラスに割り当てるステップを さらに含む請求項12に記載の品質評価の統計的方法。 14.前記の選択された品質クラスの信頼性を向上させるために、前記のそれ ぞれの平均尤度確率のおのおのを平均し、前記のまだ求められていない絶縁と一 致する前記平均尤度確率にもっとも類似の前記品質クラスを割り当てるステップ をさらに含む請求項13に記載の品質評価の統計的方法。 15.品質評価の統計的方法であって、以下のステップ、すなわち、 前記供給電圧周期を所定数の位相窓に分割し、 ヒストグラム軸が部分放電の大きさを備えることを特徴とする部分放電事象数 の1次元ヒストグラムを前記位相窓のおのおのについて、所定数の前記供給電圧 周期にわたって形成する ステップをさらに含む請求項14に記載の品質評価の統計的方法。 16.前記ヒストグラム軸が前記の所定数の位相窓に分割される1次元ヒスト グラムを形成するステップをさらに含む請求項15に記載の品質評価の統計的方 法。 17.ヒストグラム軸が前記部分放電の大きさを備え、部分放電事象数の1次 元ヒストグラムを所定数の前記供給電圧周期にわたって形成するステップをさら に含む請求項15に記載の品質評価の統計的方法。 18.部分放電測定を用いて高電圧装置における電気的絶縁条件モニタを行う 統計的方法であって、以下のステップ、すなわち、 複数の部分放電測定に基づいて、まだ求められていない絶縁の少なくとも1つ の分析的特徴を計算し、 前記分析的特徴の複数の以前に求められた動向パラメータに基づいて得られる 線形トレンド・ラインに基づいて前記の少なくとも1つの分析的特徴の動向パラ メータを推定し、 前記トレンド・ラインに関して、前記分析的特徴の、推定の分析的特徴統計的 距離を予測し、 前記のまだ求められていない絶縁の条件が変化したかどうかを判定するために 、前記の予測された分析的特徴の統計的距離を現実の分析的特徴の統計的距離と 比較する ことを含む方法。 19.品質評価の統計的方法であって、 コンピュータ操作のために前記部分放電測定を条件付けし、 まだ求められていない絶縁を有する前記高電圧装置から、前記のまだ求められ ていない絶縁の少なくとも1つの前記の分析的特徴を計算するために、複数の部 分放電測定を得る、 ステップをさらに含む請求項18に記載の条件モニタを行う統計的方法。 20.前記分析的特徴の以前に求められた動向パラメータに対応して得られる 放物線トレンド・ラインに基づいて前記の分析的特徴の前記動向パラメータを推 定するステップをさらに含む請求項19に記載の条件モニタを行う統計的方法。 21.前記分析的特徴の以前に求められた動向パラメータに対応して得られる 放物線トレンド・ラインに基づいて前記の分析的特徴の前記動向パラメータを推 定するステップをさらに含む請求項18に記載の条件モニタを行う統計的方法。 22.前記分析的特徴の以前に求められた動向パラメータに対応して得られる 対数線形トレンド・ラインに基づいて前記の分析的特徴の前記動向パラメータを 推定するステップをさらに含む請求項18に記載の条件モニタを行う統計的方法 。 23.測定される統計的距離が、正常の運転限界の外にある場合に、条件信号 に変化を生むステップをさらに含む請求項18に記載の条件モニタを行う統計的 方法。 24.品質評価の統計的方法であって、 供給電圧の単一周期に渡る前記部分放電測定の位相を同調させ、 前記部分放電測定の部分放電の大きさを正規化し、 前記部分放電測定から励起雑音を除去する ステップをさらに含む請求項18に記載の条件モニタを行う統計的方法。 25.低い大きさの高部分放電事象数を最小にするために、前記部分放電デー タの大きさの対数をとるステップをさらに含む請求項24に記載の条件モニタを 行う統計的方法。 26.最近に計算された前記動向パラメータを前記動向パラメータのうち以前 に計算されたものと比較するステップをさらに含む請求項25に記載の条件モニ タを行う統計的方法。 27.前記動向パラメータのうち複数の以前のものと現在の前記動向パラメー タとにおける相違が壊滅的信頼区間値よりも大きい場合に前壊滅的絶縁信号を発 するステップをさらに含む請求項26に記載の条件モニタを行う統計的方法。
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