JPH02246278A - 薄膜電界効果トランジスタ - Google Patents

薄膜電界効果トランジスタ

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Publication number
JPH02246278A
JPH02246278A JP6813489A JP6813489A JPH02246278A JP H02246278 A JPH02246278 A JP H02246278A JP 6813489 A JP6813489 A JP 6813489A JP 6813489 A JP6813489 A JP 6813489A JP H02246278 A JPH02246278 A JP H02246278A
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JP
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Pending
Application number
JP6813489A
Other languages
English (en)
Inventor
Keiji Tanaka
敬二 田中
Kinya Kato
加藤 謹矢
Kenji Nakazawa
中沢 憲二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication of JPH02246278A publication Critical patent/JPH02246278A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【産業、1:、の利用分野】 本発明は、スイッチング用素子としC用いて好適なil
 m fff界効rAl−ランジスタに閏1°る。
【従来の技術】
従来、第7図及び第8図を伴って次に述べる辞膜電界効
果トランジスタが提案されている。 すなわら、例えばガラス′Qなる絶縁性基板1をイjし
、そのl/lA縁性7縁板7J板1上型またはn型不純
物のいずれ・b意図的に導入させていない例えばシリコ
ンでなる半導体薄膜でなる活性層2が、例えば方形パタ
ーンに形成されている。 また、絶縁性す板1上に1.活性FM2を覆って延長し
ている例えば5102でなるゲート絶縁膜3が形成され
ている。 さらに、絶縁性間板1上に、ストライプ状パターンを有
するゲート電極4が、ゲート絶縁膜3を介して、上方か
らみて、活性FII2を幅方向に横切って延長して形成
されている。 また、活性層2内に、上方からみて、ゲ・−上電極4を
挟んだ角位置において、n型不純物またはn型不純物を
、導入しているソース領域5及びドレイン領域6がそれ
ぞれ形成され゛(いる。 この場合、ソース領域5は、活性F!J2の幅を決めて
いる両側面2a及び2bと同じ面上に、幅を決めている
両側面5a及び5bをそれぞれ有し、且つ上方からみて
、ゲーI−電極4のゲート電極長を決めている両側面4
a及び4b中のソース領域511の側面4a上に、ドレ
イン領域6111の内面5.cを右している。 また、ドレインm域6も、ソース領域5に準じて、活性
層2の幅を決めている両側面2a及び2bと同じ面上に
、幅を決めている両側面6a及び6bをそれぞれ右し、
且つ上方からみてゲート電極4のドレイン領域6側の一
面4b上に、ソース領域5mの内面6Cを有している。 また、絶縁性基板1上に、ゲート絶縁膜3及びゲート電
極4を覆って延長している層間絶縁膜7が形成され
【い
る。 さらに、層間絶縁膜7及びゲート絶縁膜3に、それらを
通しC1ソース領域5及びドレイン領域6をそれぞれ外
部にaまLる窓8及び9が穿設されている。 また、層面絶縁g!7上に、窓7及び8をそれぞれ通じ
てソース領域5及びドレイン領域6に連結しているソー
ス電極10及びドレイン電極11が形成されている。 以上が、従来提案されている薄膜電界効rA+−ランジ
スタの構成である。 このような構成を有する薄膜電界効果トランジスタによ
れば、ソース電極10及びドレイン電極11聞に、負荷
(図示せず)を介して所要の電源(図示せず)を接続し
、モし【、ソース電極10またはドレイン電極11とゲ
ート電極4との間に、’A11制御電圧を、極性を加味
した所要値で印加させれば、活性層2のソース領域5及
びドレイン領域6間の領域に、ソース領域5及びドレイ
ン領域6問に延長しているチtpンネルが形成されるこ
とによって、ソースff1J410及びドレイン電4I
iA11間がAンの状態になる。このため、負荷に、1
?源からの?Iff流を供給さUることができる。 また、このような状態から、ソース電#A10またはド
レイン電極11とゲー]・電極4どの間の印加している
il、lJ御雷電圧値を、だの所要の蛤に変更させれば
、活性層2のソース領域5及びドレイン領域61FIの
領域に形成されていたチャンネルがなくなることによっ
て、ソース電極10及びドレイン電極11間がオフの状
態になる。 このため、負荷への電源からの電流の供給を断にさ「る
ことがでさる。 従って、第7図及び第8図に示す薄1!A電界効果トラ
ンジスタによれば、スイッチング素子としての機能が得
られる。 また、従来、第9図及び第10図を伴って次に述べるn
膜電界効果トランジスタも提案されている。 ツなわら、第7図及び第8図に示I F4IJ膜電界効
果トランジスタの場合と同様の絶縁性基板21を右し、
その絶縁性基板21−Lに、r1型不純物またはn型不
純物を導入しでいる例えばシリコンでなる半導体薄膜ひ
なるソース領域22及びドレイン領域23が、並置して
、例えば方形パターンに形成されている。 また、絶縁性基板21上に、ソース領域22及びドレイ
ン領域23間に延長し、且つ両端がソース領域22上の
ドレイン領域23側の領域及びドレイン領域23上のソ
ース領域22側の領域に延長しているn型不純物または
n型不純物のいずれbQ図的に導入さUていない例えば
シリコンによる半導体薄膜でなる活性層24が、例えば
方形パターンに形成されている。 この場合、活性層24の幅を決めている両側面24a及
び24bは、上方からみて、ソース領域22の幅を決め
ている両側面228及び22b、及びドレイン領域23
の幅を決めている両側面23a及び23bより6内側に
あり、従って、ソース領域22、及びドレイン領域23
が、上方からみて、活性層24の幅を決めている両側面
24a及び24bよりも外側に、幅を決めている両側面
22a及び22b1及び23a及び23.bをそ4ぞれ
イlしている。 さらに、絶縁性基板21上に、ソース領域22、ドレイ
ン領域23及び活性層24を覆つC延長している例えば
S ! 02でなるゲート絶縁PIA25が形成されで
いる。 また、絶縁性基板21上に、例えばストライブ状パター
ンを有するゲート電極26が、ゲート絶縁膜25を介し
て、上方からみて、活性層24を幅方向に横切って延長
して形成されている。 この場合、ゲート電#F426は、ソース領域22及び
ドレイン領域23に対応している領域において、上方か
らみて、ソース領域22のドレイン領域231111の
内面22C上またはそれにりも僅かにドレイン領域23
側とは反一対銅の面上にゲート電極長を決めている両側
面26a及び26b中の一方の側面26.aを右し、ま
た、同様に、上りからみて、ドレイン領域23のソース
領域22側の内filq面上またはそれよ一リム1吊か
にソース領域側とは反対側の面上に、ゲート電極長を決
めCいる他の側面26bを右している。 ざらに、絶縁性基板21上に、ゲート絶縁膜25及びゲ
ー]・電極2Gを1つで延長している層間絶縁膜27が
形成されている。 また、n間絶縁膜27及びゲート絶縁膜25に、それら
を通して、ソース領域22及びドレイン領域23をそれ
ぞれ外部に臨ま「る窓28及び29が穿設されている。 さらに、層間絶縁膜27上に、窓28及び29をそれぞ
れ通じてソース領域22及びドレイン領域23に連結し
でいるソース電4430及びドレイン電極31が形成さ
れている。 以上が、従来提案されている他の薄膜電界効果トランジ
スタの構成である。 このような構成を有する薄V、電界効果トランジスタに
よれば、第7図及び第8図に示すU膜電界効果トランジ
スタの場合に準じて、ソース電極30及びドレイン電極
31問に、負荷(図示せず)を介して所要の電源(図示
せず)を接続し、そして、ソース電極30またはドレイ
ン電極31とゲート電極26との闇に、制御電圧を、極
性を加味した所要の値で印加さUoれば、活性層24に
ソース領域22及びドレイン領域23聞に延長している
チャンネルが形成されることにより【、ソース電極30
及びドレイン電極31間がオフ状態になる。このため、
負荷に、電源からのrri流を供給させることができる
。 また、このような状態から、ソース1d430またはド
レイン電極31とゲート電極26との間に印加している
制御電圧の値を、他の所要の値に変更させれば、活性層
24に形成されていたチャンネルがなくなることによっ
て、ソース領域22及びドレイン領域23問がオフ状態
になる。このため、負荷への電源からの電流の供給を断
にさせることができる。 従って、第9図及び第10図に示す薄膜電界効果1〜ラ
ンジスタによる場合も、第7図及び第8図に承り博し1
電界効果トランジスタの場合と同様に、スイッチング素
子としての機能がfJられる。 さらに、従来、第11図及び第12図を伴って次に述べ
る薄膜電昇効果トランジスタも提案されている。 ずなわら、第7図及び第8図、及び第9図及び第10図
に示す薄膜電界効!J +−ランジスタの場合ど同様の
例えばガラスでなる絶縁性基板41を右し、−その絶縁
性基板41上に、ゲート電極42が、ストライブ状パタ
ーンに形成され【いる。 また、絶縁性基板41上に、ゲート電極42を覆って例
えば5i02′cなるゲート絶縁膜43が形成されてい
る。 さらに、絶縁性基板l11上に、例えばシリコンによる
半導体薄膜′r−なり且つ例えば方形パターンを有する
活性層44が、ゲート絶縁IMJ43を介して、上方か
らみて、ゲート電極42を・ゲート電極長の方向に横切
つ〔延長しで形成されている。 また、絶縁性を板41上に、n型不純物及びn型不純物
を尋人している例えばシリコンによる半導体薄膜でな、
り且つ例えば方形パターンをjJするソース領1ilt
45及びドレイン領域46が、ゲート絶縁lA43を介
して1.活f’1層44の長さ方向の両側部上から(れ
ぞれ外方に延長し形成されている。 この場合、ソース領域45゛は、上方からみて、九う性
病44の幅を決めている両側面4−4F1及び44bよ
りも外側に、幅を決めている両側面45a及び45bを
右し、且つゲート電極42のソース領域45及びドレイ
ン領域4Gに対応している領域におけるゲート電極長を
決めている両側面42a及び42b中の一方の側面、4
2aよりもドレイン領域46側に、トレイン領域46側
の内側面45cを有している。 また、ドレイン領域4Gも、上方からみて、ソース領J
445と同様に、活性層44の幅を決めている両側面4
4a及び44【)よりも外側に、幅を決めている両側面
、46a及び48bを右し、1つゲート電極42のゲー
ト電極長を決めている両側面42a及び42bの他方の
側面42bよりもソース領域45側に、ソース領域側の
内側面46Gを右している。 ざらに、絶縁性基板41」−に、ゲート絶縁膜43゛、
活性Y444、ソース領域45及びドレイン領域46を
覆って延長している層間絶縁膜47が形成されている。 また、Ii!聞絶縁膜47に、ソ−ス領域側5及びドレ
イン領b146をそれぞれ外部に臨ませる窓48及び4
9が穿設されている。 ざらに、層間絶縁PIA47上に、窓48及び49をそ
れぞれ通じてソース領域45及びドレイン領域46に連
結しているソース電極50及びドレイン電極51が形成
されている。 以上が、従来提案されでいるFJ n!A IFi界効
果・トランジスタのざらに他の構成である。 このような構成を有するit9膜電界効果トランジスタ
によれば、第7図及び第8図、第9図及び第1゛0図に
示す蒲yA電界効采トランジスタの場合に準じて、ソー
ス電極50及びドレイン電Mi51問に、負荷(図示せ
ず)を介して所要の電源(図示せず)を接続し、そして
、ソース電極50またはドレイン電極51とゲート電極
42との間に、制御電圧を、極性を加味した所要の値で
印加させれば、活性層44に、ソース領blt45及び
ドレイン領域46間に延長しているチャンネルが形成さ
れることによって、ソース電極50及びトレイン電極5
1問がオンの状態になる。このため、負荷に、電源から
の電流を供給させることができる。 また、このような状態から、ソース電極50またはドレ
イン電極51とゲート電極42との闇に印加しているυ
制御電圧の値を、他の所要の値に変更させれば、活性層
44にソース領域45及びドレイン領1446問に延長
して形成されていたチャンネルがなくなることによって
、ソース電極50及びトレイン電極51問がオフの状態
になる。このため、負荷への電源からの電流の供給を断
にさUることがぐきる。 従っ゛【、第、11図及び第12図に示ず薄膜電界効果
トランジスタの場合も、第7図及び第8図、及び第9図
及び第10図に示〜ずn9膜電界効rA1.ランジスタ
の場合と同様に、スイッチング素子としての機能が1!
′?られる。 【発明が解決しようと1Jる課題】 第7図及び第8図に承り従来の薄膜電界効果I・ランジ
スタの場合、活性B2内に形成されているソース領域5
、及びドレイン領域6が、活t’1層20幅を決め1い
る両側面2a及び2bと同じ面上に、幅を決めている両
側面5a及び5b、及び6a及び6bをそれぞれ有しで
いる。 一方、iM t’l FJ2は、その活性層になる半を
体薄膜に対して活性rj2の所要のパターン(例えば図
示のように方形パターン)になる加工が施されC形成さ
れるため、その工程で誘起された多数の欠陥を、少なく
とも両側面2a及び2b側の側部2a’及び2b’に含
んで63す、従つて、それら側部2a’及び2b’に1
−ラップを^い密度で有している。 このため、ソース電極10及びドレイン電極11聞に所
要の電源を接続している状態で、ソース電極10及び、
ドレイン電極31聞がオフの状態にある場合においても
、ソース電極10及びドレイン電極11間に、活性層2
の側部2a′及び2b’にお番ノるトラップを介して、
漏れfiv&が、比較的大きな値で流れる。 このため、スイッチング素子としての良さを示ツソース
Ir1極10及びドレイン電極11間がオン状態にある
ときに負荷に流れる電流と、オフの状態にあるとき、に
負荷に流れる電流との比が、比較的小さな埴しか右しな
い、という欠点を右していた。 また、m9図及び第10図に示ず従来のIl’J電界効
果トランジスタの場合、ソース領域22、及びドレイン
領域23が、活性層24の幅を決めている両側面24a
及び24bよりも外側に、幅を決めている両側面22a
及び22b1及び238及び23bをそれぞれ右してい
る。 一方、活性F7124は、第7図及び第8図で上述した
i9膜電界効果1〜ランジスタの活性層2の場合に準じ
(゛、そのFrri性層に性病半々体薄膜が、所要のパ
ターン(例えば図示のように方形パターン)に加工され
(形成凸れるため、その形成工程′c読起された多数の
欠陥を、少なくとb両側面24a及び24b側の側部2
4a′及び24b’に含Al cJ3す、従って、それ
ら側部243 r及び24b′が高いトラップ密度を右
している。 このため、第7図及び第8図で・上述した芯膜電界効果
トランジスタの活性層2の場合に準じて、ソース電極3
0及びドレイン電極31聞に所要の電源を接続し°Cい
る状Bc、ソ7”スミ極30及びドレイン電極31問が
オフの状態にある場合におい
【も、ソース144i30
及びトレーイン電極31闇に、活性層24の側部24a
′及び24b′にJ3けるトラップを介し、゛【、漏れ
電流が、比較的大きなytで流れる。 このため、第7図及び第8図で上述したH(1119電
界効果トランジスタの活性層2の場合に準じて、スイッ
チング素子としての良さを示すソース電極30及びドレ
イン電極31問がオン状態にあるときに負荷、に流れる
電流と、オフの状態にあるときに負荷に流れる電流との
比が、比較的小さな値しか有しない、という欠点を有し
ていた。 さらに、第11図及び第12図に示す従来の薄膜電界効
果トランジスタの場合、ソース領域45、及びドレイン
領域46が、第10図及び第11図ひ上述した薄膜電界
効果トランジスタの場合に準じて、活性?j44の幅を
決めている両側面44a及び44bよりも外側に、幅を
決めている両側面45a及び45b1及び46a及び4
6・bをそれぞれ有している。 一方、活性層44は、第゛10図及び第11図で上述し
た薄膜電界効果トランジスタの場合に準じて、その活性
層になる半導体薄膜が、所飲のパターン(例えば図示の
ように方形パターン)に加工されて形成されるため、そ
の形成工程ぐ誘起さ゛れた多数の欠陥を、少なくとら両
側面44a及び44b1111の側部44a′及び44
b′に含/υでおり、従って、それら側部4/la’及
び2/14’が高い1−ラップ密度を有し【いる。 このため、第10図及び第11図で上述した薄I!A電
界効采トランジスタの場合に準じC、ソース雷4(A 
50及びドレイン電極51問に所要の電鯨を接続してい
る状態で、ソース電極50及びドレイン電極51問がオ
フの状態にある場合にJjいてら、ソース電極50及び
ドレイン電極51聞に、活性層44の側部44a′及び
44b′におけるトラップを介して、漏れ?[電流が、
比較的大きな値で流れる。 このため、第10図及び第11図で上述した薄膜電界効
果トランジスタの場合に準じて、スイッチング素子とじ
での良さを示すソース電極50及びドレイン電極51f
2gがオン状態にあるときに負荷に流れる電流と、オフ
の状態にあるとぎに負荷に流れる電流との比が、比較的
小さな値しか右しない、という欠点を右していた。 よって、本発明は、上述した欠点のない新規な薄膜電界
効果トランジスタを12案Vんとするものである。 【課題を解決する。ための手段] 本願第1番・目の発明による薄膜電界効果トランジスタ
は、第7図及び第8図で」一連した従来のR?I!A電
界効果1ヘランジスタの場合と同様に、絶縁性基板上に
、半を体薄躾でなる活性層が、所要のパターンに形成さ
れ、また、上記絶縁性基板上に、所要のパターンを有す
るゲートN極が、ゲート絶nI!を介して、上方からみ
て、上記活性層を幅方向に横切って延長して形成され、
さらに、上記活性層内に、上方からみて、上記ゲート電
極を挟んだ角位置にJjいて、r1型不純物またはn型
不純物を尋人しているソース領域及びドレイン領域がそ
れぞれ形成されている構成を有する。 また、本願第2番目の発明によるBII界効果トランジ
スタは、第9図及び第10図で上述した従来の薄膜電界
効果トランジスタの場合と同様に、絶n性基板上に、n
型不純物またはn型不純物を尋人しでいる半導体薄膜で
なるソース領域及びドレイン領域が、並置して所要のパ
ターンに形成され、また、上記絶縁性基板上に、」:記
ソース領域及びドレイン領域聞に延長し、1つ両端が上
記ソース領域上の上記ドレイン領域側の領域及び上記ド
レイン領域上の上記ソース領域側の領域に延長している
!F導体薄股でな6 P+ f!1. fmが、所要の
パターンに形成され、さらに、上記絶縁性U板上に、所
要のパターンを右Jるゲート電極が、ゲート絶縁膜を介
して、上方からみて、上記活性層を幅方向に横切って延
長して形成されている構成を有する。 さらに、本願第2番目の発明による薄膜電界効果トラン
ジスタは、第11図及び第12図で上述した従来のR1
a電界効果l・ランジスタの場合と同様に、J18株性
お板上に、ゲート電極が、所要のパターンに形成され、
また、上記絶縁性Ll板上に、n型不純物またはn型不
純物を尋入している半導体R9膜でな且つ所要のパター
ンを有する活性層が、上記ゲート電極を介して、上方か
らみて、上記ゲート電極をゲート電極長方向に横切って
延長して形成され、さらに、上記絶縁性基板上に、J導
体薄膜でなり且つ所要のパターンを616ソース領域及
びドレイン領域が、上記活性図上の長さh向の両端部領
域からそれぞれ外方に延長しC形成されζ゛いる構成を
有する。 しかしながら、本願用1、第2及び第3番目の発明によ
る薄股雷界効果I・ランジスタは、それぞれ上述した構
成を有するi?躾電界効果トランジスタにおいて、上記
ソース領域及びドレイン領域のいずれか一方または双方
が、少なくとも上記ゲート電極と対向している領域及び
その外側近傍領域において、上記活性層の幅を決めてい
る両側面よりも内側に、幅を決めている両側面を有して
いる。 【作用・効果】 本願用1、第2及び第3番目の発明による薄膜電界効果
1〜ランジスタによれば、ソースfiri域及びドレイ
ン領域のいずれか・一方または双方が、少なくとbゲー
ト電極と対内している領域&tFヤの外側近傍領域にお
いて、上記活性層の幅を決めている両側面にりも内側に
、幅を決めている両側面を有していることを除いて、工
れぞれ第7図及び第8図、第9図及び第10図、及び第
11図及び第12図で上述した従来の薄膜電界効果トラ
ンジスタと同様の構成を右1rるので、aT 411説
明は省略り°るが、第7図及び第8図、第9図及び第1
0図、及び第11図及び第12図で上述した従来の薄膜
電界効果トランジスタの場合と同様に、ソース電極及び
ドレイン電極間に負nを介して所要の電源を接続し、イ
して、ソース電極またはドレイン電極とゲート電極との
間にil、II all電圧を所要の値で印加さ1!る
ことによって、ソース電極及びドレイン電極間でのAン
及びオフを選択的に得ることがひき、従っで、スイッチ
ング素子としての機能が得られる。 しかしながら、本願用1、第2及び第3ffl目の発明
による91plA電界効果トランジスタの場合、活性層
が、その活性層になる半尋体薄躾に対して活性層の所要
のパターンになる加工が施されて形成されることによっ
て、そのT程で誘起された多数の欠陥を1.少なくとも
幅を決める両側面側の側部に含Iυでいても、従って、
それら側部にトラップを高い密痕で右しくいCム、ソー
ス領域及びドレイン領域のいずれか一方または双方が、
少なくともゲート電極と対向している領域及びその外側
近傍領域において、活性層の幅を決めている両側面より
も内側に、幅を決め゛(いる両側面を右し°Cいるので
、上述したようにソース電極及びドレイン電極間に所要
の電源を接続している状態で、ソース電極及びドレイン
電極間がオフの状態にある場合においても、ソース電極
及びドレイン電極問に、活性層の側部におけるトラップ
を介して、漏れ電流が流れる、ということが実質的にな
い。 このため、スイッチング素子としての良さを示づ°ソー
ス電極及びドレイン電極間がオン状態にあるどきに負荷
に流れる電流と、オフの状態にあるときに負荷に流れる
電流との比が、第7図及び第8図、第9図及び第10図
、及び第11図及び第12図で上述した従来の薄膜電界
効果1〜ランジスタの場合に比し格段的に大きな値を有
する。 【実施例1] 次に、第1図及び第2図をともなって、本発明による薄
膜電界効果トランジスタの第1の実施例を述べよう。 第1図及び第2図においで1第7図及び第8図どの対応
部分には同一符号を付し、詳a説明を省略覆る。 第1向及び第2図に示す本発明による助成電界効果トラ
ンジスタ番ま、ソース領域5、及びドレイン領域6の双
方が、その全領域において、活性層2の幅を決め【いる
両側面2a及び2bよりb内側に、幅を決めている両側
面5a及び5b1及び6a及び6bを有していることを
除いて、第7図及び第8図で上述した従来のKg膜電界
効果トランジスタと同様の構成を有する。 以上が、本発明によるR9膜電界効果1ヘランジスタの
第1の実施例の構成である。 このような構成を有する本発明ににる醇膜電界効采トラ
ンジスタによ・れば、上述した事項を除いて、第7図及
び第8図で上述した従来の)W11ATj界効果トラン
ジスタの12合と同様の構成を有するのぐ、詳細説明は
省略するが、第7図及び第8図で上述した従来の薄膜電
界効果トランジスタの場合と同様に、ソース電極10及
びドレインff電極1117FJに・負荷を介して所要
の電源を接続し、そして、ソース電極10またはドレイ
ン電極11とゲート電極4との闇にl+!制御電圧を所
要の値で印加させることによって、ソース電極10及び
ドレイン電極11聞でのオン及びオフを選択的に得るこ
とがCき、従っ【、スイッヂング素子としての機能が得
られる。 しかしながら、第1図及び第2図に承り本発明による薄
膜電界効果トランジスタの場合、活性層2が、その活性
層2になる半尋体薄膜に対してt、r; t4rの所要
のパターンになる加工が施され(゛形成されることによ
って、その工程で銹起された多数の欠陥を、少なくと6
幅を決める両#Il面2a及び2b#Ilの1111?
ll2a′及び2t)′に含んでいCb1従って、ぞれ
ら側部2aI及び2b’ にトラップを高い密度でイー
ILUいでb1ソース領域5、及びドレイン領域6が、
全領域において、活性層2の幅を決めている両側面2a
及び2bよりb内側に、幅を決めている両側面5a及び
5b、及び6a及び6bをそれぞれ右しているのC1上
述したようにソース電極10及びドレイン電極11闇に
所要の電源を接続しCいる状態で、ソース電極1o及び
ドレイン電極11周がオフの状態にある場合においても
、ソース電極10及びドレイン電44i11間に、h5
性Ft2の11M2a’及び2b’にお6ノルI” y
 ylを介して、漏れ電流が流れる、ということが実質
的にない。 このため、スイッヂング素子としての良さを示1ソース
電極10及びドレイン電極11間がAン状態にあるとき
に負荷に流れるTi流と、オフの状態にあるどきに負荷
に流れる電流との比が、第7図及び第8図で上述した従
来の薄膜電界効果!・ランジスタの場合に比し格段的に
大きな値を有する。 【実ay421 次に、第3図及び第4図をともなって、本発明による薄
膜電界効果トランジスタの第2の実施例を述べよう。 第3図及び第4図において、第9図及び第10図との対
応部分には同一符号を付し一訂S説明を省略づる。 第3図及び第4図に示す本発明によるRDIA電界効果
トランジスタは、ソース領域22、及びドレイン領域2
3の双方が、その全領域において、活性層24の幅を決
めている両側面24a及び24bよりも内側に、幅を決
めている両側面22a及び22b1及び23a及び23
bを有していることを除いて、第9図及び第10図で上
述した従来のBPIAM界効果トランジスタと同様の構
成を右りる。 以上が、本発明によるi9膜電界効果トランジスタの第
2の実施例の構成であるム このJ、うな構成を有する本発明によるi’[9股電界
効11−ランジスタによれば、上述した事項を除いて、
第9図及び第10図で上述した従来のfI9股電界効I
Aトランジスタの場合と同様の構成を有するので、訂l
Il説明は省略するが、第9図及び第10図で上述した
従来の薄膜電界効果トランジスタの場合と同様に、ソー
ス電極3o及びドレイン電極31間に負荷を介して所要
の電源を接続し、そして、ソース電極3oまたはドレイ
ン電極31とゲート電極26とのugにルリ御電圧を所
要の値で印加させることにJ:って、ソース電極30及
びドレイン電極31間でのオン及びオフを選択的に得る
ことができ、従っC。 スイッヂング素子としての機能が得られる。 しかしながら、第3図及び第4図に示ず本発明によるi
tg膜電界効果トランジスタの場合、本発明の上述した
第1の実施例の場合に準じて、活性層24が、その活性
層24になる半導体薄膜に対して活性層24の所要のパ
ターンになる加工が施されて形成されることによって、
その工程′C−誘起された多数の欠陥を、少なくとも幅
を決める両側面248及び24b側の側部24a′及び
2/Ib’ に含んでいでも、従つC,てれら側部24
8′及び24b′にトラップを高い密度で右していても
、ソース領域22及びドレイン領域23が、その全領域
において、活性層24の幅を決めている両側面24a及
び24bよりも内側に、幅を決めている両側面22a及
び22b1及び2,3a及び23゛bを有しi”イるの
で、幅方向による薄膜電界効果トランジスタの第1の実
施例の場合に準じて、上述したようにソース電極30及
びドレイン電極31間に所要の電源を接続している状態
で、ソース電極30及びドレインf[4i31問がA)
の状態にある場合においCも、ソース電極30及びドレ
イン電極31問に、活性層24の側部24a′及び24
b′におけるトラップを介して、漏れ電流が流れる、と
いうことが実費的にない。 このため、本発明による博膜電界効果゛ト″う゛ンジス
タの第1の実施例の場合に準じて、スイ′ツブーング素
子としての良さを示1ソース電極00及びドレイン電極
31間がオン状態にあるときに負荷に流れる電流と、オ
フの状態にあるとぎに負荷に流れる電流どの比が、第9
図及び第゛10図で上述した従来の薄膜電界効果トラン
ジスタの場合に比し格段的に大きな値を有する。 【実施例31 次に、第5図及び第6図をともなって、本発明にJ、る
薄膜電界効果トランジスタの第3の実施例を述べよう。 第5図及び第6図において、第11図及び第12図との
対応部分には同−符丹を付し、3T細説明を省略する。 第5図及び第6図に示J木発明によるiヶ膜電界効果ト
ランジスタは、ソース領域45、及びドレイン領域46
の双方が、その全領域においで1活性層44の幅を決め
ている両側面44a及び44bよりも内側に、幅を決め
ている両側面45a及び45b1及び46a及び46b
を有していることを除いて、第11図及び第12図で上
述した従来の薄膜電界効果トランジスタと同様の構成を
右、する。 以上が、本発明による薄模電界効宋1−ランジスタの第
3の実施例の構成である。 このような構成をiする本発明によるM膜電界効果I・
ランジスタによれば、上述した中頃を除いて、第11図
及び第12図で」:述した従来の薄膜電界効果トランジ
スタの場合と同様の構成を有するので、詳細説明は省略
づ゛るが、第11図及び第12図ぐ上述した従来の薄膜
電界効果トランジスタの場合と同様に、ソース電NA3
0及びドレイン電極51間に負荷を介して所要の電源を
接続し、そして、ソース電極50またはドレイン電極5
1とゲート電極42との間に制御IN圧を所要の値で、
印・加さゼることによって、ソース電極50及びドレイ
ン電極51間でのオン及びオフを選択的に得ることがで
き、従って、スイッチング素子としくの機能が得られる
。 しかしながら、第5図及び第6図に承り”薄膜電界効果
トランジスタの場合、活性FJ44が、第1図及び第2
図C上述した本発明の第1の実施例の場合に準じて、そ
の活性層4/lにbる半導体薄膜に対しで活性層440
所要のパターンになる加工が施されて形成されることに
よって、その丁稈c−誘起された多数の欠陥を、少なく
と5幅を決める両側面44a及び/14b側の側部44
a他及び44b′に含んでいてb1従つC1それら側i
’Js44a’及び44b′に、トラップを用い密偵で
右していても、ソース領域45、及びドレイン領域26
が、全領域において、活t’JFA4の幅を決めている
両側面44a及び44bJ、りも内側に、幅を決めてい
る両側面45a及び45b、46a及び46bを右して
いるので、l−述しICようにソースl1fi44i5
0及びドレイン電極51間に所要の電源を接続している
状態で、ソース電極50及びドレイン114151間が
オフの状態にある場合においても、ソース電極50及び
ドレイン電極51問に、活性層44の側部44a′及び
44b′におけるトラップを介して、漏れ電流が流れる
、ということが実質的にない。 このため、第1rV1及び第2図で上述した本発明の第
1の実施例の場合に準じて、スイッチング素子としての
良さを示づ“ソース電極50及びドレイン電極51問が
Aン状態にあるときに負荷に流れる電流と、オフの状態
にあるときに負荷に流れる電流との比が、第11図及び
第12図で上述した従来の薄膜電界効果トランジスタの
場合に比し!8段的に大きな値を有する。 なお、上述においては、ソース領域及びドレイン領域の
双方が、その全領域におい″C1活性層の幅を決めてい
る両側面よりム内側に、幅を決めている両側面を右しで
いる場合につき述べたが、少なくと6ソース領域及びト
レー「ン領域のいずれか一方または双方が、ぞのゲート
電極と対向している領域及びその外側方viJ領域にお
いて、活性層の幅を決めている両側面よりも内側に、幅
を決めている両側面を右しているJ:うにして1.F述
した本発明による作用効果を1!7ることもぐき、ぞの
他1本発明の精神を鋭することなしに、種々の変型、変
更をなし得るであろう。 4、図面(7) M )11な説明 m1図、及び第2図は、本発明による薄膜電界lJJ果
トランジスタの第1の実施例を示り路線的平面図、及び
その■−■線上の断面図ぐある。 第3図、及び第4図番よ1本発明による薄膜電界効果ト
ランジスタの第2の実施例を示す路線的平面図、及びそ
のtv −ivvtの断面図ぐある。 第5図、及び第6図は1本発明による薄膜電界’j)J
rJ!トランジスタの第3の実施例を示1°路線的平面
図、及びそのvt −vt 線1の断面図である。 第7図、及び第8図は、従来の薄膜電界効果トランジス
ウを示1“路線的平面図、及びその■−■線上の断面図
である。 ))9図、及び第10図は、従来の他の薄膜電界効果ト
ランジスタを示ず路線的平面図、及びぞのx−X線上の
断面図である。 第11図、及び第12図は、従来のさらに他のFigW
A電界効果トランジスタを示ず路線的平面図、及びその
xi−xn線上の断面図である。 1・・・・・・・・・絶n性1j板 2・・・・・・・・・活性層 2a、2b、2C ・・・・・・・・・活性VA2の側面 3・・・・・・・・・ゲート絶縁膜 4・・・・・・・・・ゲート電極 5・・・・・・・・・ソース領域 5a、5b15c ・・・・・・・・・ソース領1i115の側面6・・・
・・・・・・ドレイン領域 6a、5b、(3c ・・・・・・・・・ドレイン領域6の側面7・・・・・
・・・・層間絶!1膜 8.9・・・窓 10・・・・・・・・・ソース電1〜 11・・・・・・・・・ドレイン電極 21・・・・・・・・・絶縁性基板 22・・・・・・・・・ソース領域 22a、22b、22c ・・・・・・・・・ソース領域22の側面23・・・・
・・・・・ドレイン領域 24・・・・・・・・・活性層 24a124b、24c ・・・・・・・・・活性層24の側面 25・・・・・・・・・ゲート絶縁膜 2G・・・・・・・・・グー!・電極 27・・・・・・・・・居間絶縁膜 28.29 ・・・・・・・・・窓 30・・・・・・・・・ソース電極 31・・・・・・・・・ドレイン電極 /11・・・・・・・・・絶縁性基板 42・・・・・・・・・ゲート電極 43・・・・・・・・・ゲート絶縁膜 44・・・・・・・・・活性層 4/la、44b、44c ・・・・・・・・・活性層44の側面 45・・・・・・・・・ソース領域 45a、45b、45c ・・・・・・・・・ソース領域45の側面46・・・・
・・・・・ドレイン領域 46a、46b、46c ・・・・・・・・・ドレイン領域46の側面47・・・
・・・・・・躬間絶11股 50・・・・・・・・・ソース’1r141に51・・
・・・・・・・ドレイン電極

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、絶縁性基板上に、半導体薄膜でなる活性層が、所要
    のパターンに形成され、 上記絶縁性基板上に、所要のパターンを有 するゲート電極が、ゲート絶縁膜を介して、上方からみ
    て、上記活性層を幅方向に横切つて延長して形成され、 上記活性層内に、上方からみて、上記ゲー ト電極を挟んだ両位置において、n型不純物またはp型
    不純物を導入しているソース領域及びドレイン領域がそ
    れぞれ形成されている薄膜電界効果トランジスタにおい
    て、 上記ソース領域及びドレイン領域のいずれ か一方または双方が、少なくとも上記ゲート電極と対向
    している領域及びその外側近傍領域において、上記活性
    層の幅を決めている両側面よりも内側に、幅を決めてい
    る両側面を有していることを特徴とする薄膜電界効果ト
    ランジスタ。 2、絶縁性基板上に、n型不純物またはp型不純物を導
    入している半導体薄膜でなるソース領域及びドレイン領
    域が、並置して、所要のパターンに形成され、 上記絶縁性基板上に、、上記ソース領域及びドレイン領
    域間に延長し、且つ両端が上記ソース領域上の上記ドレ
    イン領域側の領域及び上記ドレイン領域上の上記ソース
    領域側の領域に延長している半導体薄膜でなる活性層が
    、所要のパターンに形成され、 上記絶縁性基板上に、所要のパターンを有 するゲート電極が、ゲート絶縁膜を介して、上方からみ
    て、上記活性層を幅方向に横切って延長して形成されて
    いる薄膜電界効果トランジスタにおいて、 上記ソース領域及びドレイン領域のいずれ か一方または双方が、少なくとも上記ゲート電極と対向
    している領域及びその外側近傍領域において、上方から
    みて、上記活性層の幅を決めている両側面よりも内側に
    、幅を決めている両側面を有していることを特徴とする
    薄膜電界効果トランジスタ。 3、絶縁性基板上に、ゲート電極が、所要のパターンに
    形成され、 上記絶縁性基板上に、n型不純物またはp 型不純物を導入している半導体薄膜でなり且つ所要のパ
    ターンを有する活性層が、上記ゲート電極を介して、上
    方からみて、上記ゲート電極をゲート電極長方向に横切
    って延長して形成され、 上記絶縁性基板上に、半導体薄膜でなり且 つ所要のパターンを有するソース領域及びドレイン領域
    が、上記活性図上の長さ方向の両端部領域からそれぞれ
    外方に延長して形成されている薄膜電界効果トランジス
    タにおいて、上記ソース領域及びドレイン領域のいずれ か一方または双方が、少なくとも上記ゲート電極と対向
    している領域及びその外側近傍領域において、活性層の
    幅を決めている両側面よりも内側に幅を決めている両側
    面を有していることを特徴とする薄膜電界効果トランジ
    スタ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018207135A (ja) * 2012-01-20 2018-12-27 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59168674A (ja) * 1983-03-15 1984-09-22 Canon Inc 半導体装置
JPS6018558B2 (ja) * 1976-11-12 1985-05-10 ライト・ライン・インコ−ポレ−テツド 書類ホルダ
JPS60134474A (ja) * 1983-12-22 1985-07-17 Seiko Epson Corp Mos型アモルフアス半導体装置
JPS6386571A (ja) * 1986-09-30 1988-04-16 Seiko Epson Corp 薄膜トランジスタ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6018558B2 (ja) * 1976-11-12 1985-05-10 ライト・ライン・インコ−ポレ−テツド 書類ホルダ
JPS59168674A (ja) * 1983-03-15 1984-09-22 Canon Inc 半導体装置
JPS60134474A (ja) * 1983-12-22 1985-07-17 Seiko Epson Corp Mos型アモルフアス半導体装置
JPS6386571A (ja) * 1986-09-30 1988-04-16 Seiko Epson Corp 薄膜トランジスタ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018207135A (ja) * 2012-01-20 2018-12-27 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置

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