JP2780539B2 - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JP2780539B2
JP2780539B2 JP27942091A JP27942091A JP2780539B2 JP 2780539 B2 JP2780539 B2 JP 2780539B2 JP 27942091 A JP27942091 A JP 27942091A JP 27942091 A JP27942091 A JP 27942091A JP 2780539 B2 JP2780539 B2 JP 2780539B2
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semiconductor layer
intersection
liquid crystal
crystal display
tft element
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良彦 堀
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  • Elimination Of Static Electricity (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アクティブマトリクス
液晶表示装置に関し、特にマトリクス配線の構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来のアクティブマトリクス液晶表示装
置の構造の一例を図2に示す。図2は単位画素の構造を
示している。この構造では、上層配線である信号配線1
と下層配線である走査配線2はTFT素子のゲート絶縁
層と同一層の絶縁層(図示しない)によってのみ分離し
ている。図3は、従来のアクティブマトリクス液晶表示
装置の他の例を示しており、図2に示した構造に対し、
さらに信号配線1と走査配線2の交差部のみに半導体層
(または絶縁層)3を追加している。この例ではTFT
素子半導体層4と同一の製造工程で堆積される半導体層
(交差部半導体層3)を信号配線1の直下に設けてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前述した図2の従来例
の場合、信号配線1と走査配線2の分離は、TFT素子
のゲート絶縁層と同一層の絶縁層によってのみなされて
おり、この絶縁層は非常に薄いため信号配線1と走査配
線2の配線間耐圧が低い。また、前記配線間耐圧の向上
を目的として絶縁層を厚くした場合、TFT素子の特性
劣化は避けられない。
【0004】図3の例は図2の改良型であり、信号配線
1と走査配線2の配線間耐圧の向上を目的として、信号
配線1と走配配線2の交差部にのみ絶縁層または、半導
体層をはさんでいる。しかし、交差部に絶縁層を追加す
る場合は、そのために工程の追加が必要となる。また、
交差部に半導体層を追加する場合はTFT素子半導体層
4と同時期に形成されるため、新たな工程の追加を必要
としないが、半導体は高抵抗ながらも導電性があること
から交差部半導体層3が電気的にフローティングとな
る。交差部半導体層3の形成後から信号配線1の形成ま
での工程途中で静電気などにより交差部半導体層3が帯
電しやすく、この場合、電界が交差部半導体層3と走査
配線2の間の絶縁層にすべてかかってしまうため、前述
した特定の製造工程で絶縁破壊が発生したり、絶縁層に
トンネル電流が流れて、その結果、電気化学反応により
走査配線2に電気抵抗の増加などの悪影響が出るといっ
た問題点があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、同一基板上で
走査配線と信号配線が絶縁層を介して交差し、TFT素
子によりスイッチングするアクティブマトリクス液晶表
示装置において、走査配線と信号配線の交差部にTFT
素子の半導体層と同じ工程で形成される交差部半導体層
を有し、さらに隣接する交差部半導体層どうしが信号配
線に沿って連結し、かつ連結された交差部半導体層はT
FT素子の半導体層とは分離した構造を有していること
を特徴とする。
【0006】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1(a)は本発明を適用した液晶表示装置の一実
施例の平面図であり、図1(b)はそのA−A’断面図
である。図は単位画素を示している。信号配線1と走査
配線2は、それぞれTFT素子半導体層4,ドレイン電
極5,ゲート電極6,ソース電極7で形成されるTFT
素子のドレイン電極5およびゲート電極6に接続する。
実施例においては、走査配線2及び信号配線1の交差部
にTFT素子半導体層4と同時に形成される交差部半導
体層3を設け、さらに交差部半導体層3を信号配線1に
沿って連結している。これによって静電気に対する耐性
を向上する効果を得ている。
【0007】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、信号配線
に沿って連結した交差部半導体層を持つことにより、交
差部半導体層が形成された時点で従来と同量の静電気を
帯電した場合でも交差部半導体層が連結されたことより
電荷がこれに沿って分散し、走査配線と交差部半導体層
間の絶縁層にかかる電界が小さくなり、交差部での絶縁
破壊や絶縁層を流れるトンネル電流が発生要因の1つと
なっている走査配線の電気抵抗の増加現象が抑えられ
る。また、TFT素子半導体層が交差部半導体層と分散
してあることより、この時点での交差部半導体層の静電
気による帯電の影響をTFT素子半導体層は受けず、さ
らに、TFT素子の半導体層が帯電しても、1つのTF
T素子の電気特性が変動するのみで、隣接するTFT素
子へは影響を及ぼさないという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示し、(a)図は単位画素
の平面図,(b)図は(a)図のA−A’断面図であ
る。
【図2】従来の構造例を示す平面図である。
【図3】従来の他の構造例を示す平面図である。
【符号の説明】
1 信号配線 2 走査配線 3 交差部半導体層 4 TFT素子半導体層 5 ドレイン電極 6 ゲート電極 7 ソース電極 8 画素電極 9 絶縁層 10 ガラス基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02F 1/136 500

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 同一基板上で走査配線と信号配線が絶縁
    層を介して交差し、TFT素子によりスイッチングする
    アクティブマトリクス液晶表示装置において、走査配線
    と信号配線の交差部にTFT素子の半導体層と同じ工程
    形成される交差部半導体層を有し、さらに隣接する
    差部半導体層どうしが信号配線に沿って連結し、かつ連
    結された交差部半導体層はTFT素子の半導体層とは分
    離していることを特徴とする液晶表示装置。
JP27942091A 1991-10-25 1991-10-25 液晶表示装置 Expired - Lifetime JP2780539B2 (ja)

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JP4661076B2 (ja) * 2004-04-16 2011-03-30 三菱電機株式会社 Tftアレイ基板、液晶表示パネル及び液晶表示装置
JP4522145B2 (ja) 2004-05-25 2010-08-11 シャープ株式会社 表示装置用基板、その製造方法及び表示装置
CN104503178A (zh) * 2014-12-31 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、其制备方法及显示装置

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