JPH0224455B2 - - Google Patents

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JPH0224455B2
JPH0224455B2 JP18363485A JP18363485A JPH0224455B2 JP H0224455 B2 JPH0224455 B2 JP H0224455B2 JP 18363485 A JP18363485 A JP 18363485A JP 18363485 A JP18363485 A JP 18363485A JP H0224455 B2 JPH0224455 B2 JP H0224455B2
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JP
Japan
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leakage amount
signal
leakage
switch
calculation
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JP18363485A
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JPS6243536A (ja
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Naotaka Narasaki
Shigenobu Narasaki
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NIPPON MAIKARUTA KOGYO KK
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NIPPON MAIKARUTA KOGYO KK
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Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、リーク量演算記録装置に関し、さら
に詳しくは、リークデテクタ装置から出力される
信号に基づいて最小検出可能リーク量Qmやリー
ク量Qlの算出を行い記録する装置に関する。
「従来技術およびその問題点」 配電用小型端子のリーク量の測定を例にとつて
説明する。
従来、この測定では、質量分析計型ヘリウムリ
ークデテクタ装置が用いられ、操作者が所定の手
順に従つてフード法により小型端子にヘリウムガ
スを通し、そのときのリークデテクタ装置のリー
クレートメータの指示値Dや倍率器の倍率値Mを
読み取り、これを記録し、その記録したデータに
基づいて操作者が手動的にリーク量Qlを算出し
ている。
具体的には、まずリークデテクタ装置の標準リ
ークのバルブを開いて、そのときのリークレート
メータの指示値Dと倍率器の倍率値Mを読み取
り、予め既知の標準リークの値qを用いて、Qm
=q/(D×M)の演算を行つて最小検出可能リ
ーク量Qmを算出する。
次に、被試験体の小型端子をリークデテクタ装
置に取り付けてフード法によりヘリウムガスを通
し、そのときの倍率器の倍率値Mを読み取り、ま
た、スタート時のリークレートメータの指示値
D0を読み取り、その後1分毎に5回にわたりリ
ークレートメータの指示値D1,D2,D3,D4,D5
を読み取り、それらのデータD0〜D5に基づいて
指示値の増加分Eを求め、Ql=Qm×M×Eによ
りリーク量Qlを算出している。
ここで、データD0〜D5に基づいて指示値の増
加分Eを求めるのは、ある程度熟練を要する。す
なわち、第5図aに示すようにデータD0〜D5
単調増加であるならば、E=D5−D0によつて増
加分Eは容易に求まるが、実際には、第5図bか
らfに例示するように、単調増加とならない場合
があり、こられの場合には増加分Eを簡単には求
められないからである。
単調増加でない場合に増加分Eを求めるための
一つの手段としては、データD0〜D5のうちの最
大値からその最大値より前の時刻に得られたデー
タのうちの最小値を減算してEとするものが挙げ
られる。また、他の一つの手段としては、第5図
b〜fに示すように、単調増加となつている区間
のそれぞれについて増加分を求め、それらの増加
分のうち最も大きいものをEとするものが挙げら
れる。
しかし、いずれにしても増加分Eを求める作業
が手作業であること、および最小検出可能リーク
量Qmやリーク量Qlを算出する処理が手動的であ
ること等から、操作者の作業の負担が大きく、ま
た能率が極めて悪いという問題点がある。
「発明の目的」 本発明の目的とするところは、最小検出可能リ
ーク量Qm、リーク量Qlの算出を、増加分Eを求
める処理をも含めて、自動的に行いかつ記録しう
るリーク量演算記録装置を提供することにある。
「発明の構成」 本考案のリーク量演算記録装置は、リークデテ
クタ装置から出力されるリークレートメータの振
れ信号Dと倍率器の倍率信号Mとを入力する入力
手段、最小検出可能リーク量Qmの算出処理の開
始を指示する「最小」スイツチ、リーク量Qlの
算出処理の開始を指示する「スタート」スイツ
チ、算出したリーク量Ql等を印字するプリンタ、
および前記「最小」スイツチが押されると、前記
入力手段を介して振れ信号Dと倍率信号Mとを読
み込み、予め設定されていた標準リーク量qを用
いて、Qm=q/(D×M)の演算により最小検
出可能リーク量Qmを算出し、また、前記「スタ
ート」スイツチが押されると、前記入力手段を介
して倍率信号Mを読み込むと共に、所定時間間隔
をあけて所定回数振れ信号D1を読み込み、それ
ら振れ信号D1に基づいて増加分Eを求め、かつ
Ql=Qm×M×Eの演算によりリーク量Qlを算出
し、その算出したリーク量Ql等を前記プリンタ
へ出力する演算制御手段を具備してなることを構
成上の特徴とするものである。
「実施例」 以下、図に示す実施例に基づいて本発明を更に
詳しく説明する。ここに第1図は本発明の一実施
例のリーク量演算記録装置とリークデテクタ装置
の模式的外観図、第2図は第1図に示すリーク量
演算記録装置の構成ブロツク図、第3図は第1図
に示すリーク量演算記録装置から出力される印字
紙の例示図、第4図は第1図に示すリーク量演算
記録装置の演算処理の要部フローチヤート、第5
図は振れ信号D1の時間変化の種々のパターンを
示す例示図である。なお、図に示す実施例により
本発明が限定されるものではない。
第1図に示すように、リーク量演算記録装置1
は、リークデテクタ本体R1とインジケータR2
らなるリークデテクタ装置Rに接続され、そのイ
ンジケータR2からリークレートメータLの振れ
信号Dと、倍率器Hの倍率信号Mとを入力されて
いる。
被試験体である例えば配電用の小型端子Uは、
リークデテクタ本体R1に取り付けられている。
このような小型端子Uの取付けやリークデテク
タ装置Rの操作等は、従来公知のリーク量測定の
操作等と同様に行う。
リーク演算記録装置1の前面パネルには、電源
スイツチ2、「最小」スイツチ3、「スタート」ス
イツチ4、「ストツプ」スイツチ5、「フイード」
スイツチ6、製品名コード入力スイツチ7、製品
番号入力スイツチ8、作動状態表示LED9、数
値量表示器10、倍率値表示LED11、記録紙
装着扉12および印字紙排出口13が設けられて
いる。
上記スイツチ類やLED等は、第2図に示すよ
うに、このデータ演算記録装置1の中枢たるマイ
クロコンピユータ14で制御されている。このマ
イクロコンピユータ14は、プリンタ15の制御
をも行うもので、演算制御手段を構成している。
第3図は、上記リーク量演算記録装置1から出
力される印字紙を例示したものであつて、製品名
コード入力スイツチ7から入力したコードに対応
する製品名たとえば「コガタ タンシ」が最上段
に印字され、次に製品番号が印字され、次に最小
検出可能リーク量Qmが「QMIN」として数値を
印字されており、次にスタート時から1分おきに
5分までの振れ信号Dと倍率Mの数値が順次印字
され、最後に算出したリーク量Qlが「QLEAK」
として数値を印字されている。
さて、次に第4図aおよびbを参照して、上記
リーク量演算記録装置1の作動を説明する。
まず操作者は、リークデテクタ本体R1におい
て、標準リークのバルブを開けて、リークデテク
タ装置Rを作動させる。すなわち公知の最小検出
可能リーク量Qmを求める操作と同じ操作を行
う。
この状態で、リーク量演算記録装置1の「最
小」スイツチ3を押す。
そうすると、マイクロコンピユータ14は、第
4図aに示すように、倍率器Hの倍率信号Mを読
み込みS1、リークレートメータLの振れ信号D
を読み込みS2、予め設定していた標準リークの
リーク量qをメモリーから読み出しS3、Qm=
q/(D×M)の演算を行つて最小検出可能リー
ク量Qmを算出しS4、そのQmをメモリーに記
憶するS5。
また、その値を表示器10に表示する。S6。
以上で最小検出可能リーク量の算出処理を終わ
る。
操作者は、表示器10に最小検出可能リーク量
Qmが表示されるのを確認して、この最小検出可
能リーク量の測定の操作を終わればよい。
次に、操作者は、被測定体である配電用小型端
子Uをリークデテクタ本体R1に取り付け、その
小型端子Uにヘリウムガスを満たしたフードFを
取り付ける。すなわち、いわゆるフード法により
小型端子Uのリーク量を測定する公知の操作と同
じ操作を行う。
リーク量Qlをもとめる方法は、従来公知の方
法と実質的に同様である。すなわち、小型端子U
を通じてのヘリウムリーク量をリークデテクタ本
体R1で検出し、そのときのインジケータR2のリ
ークレートメータLの振れ信号Dを0分、1分、
2分、3分、4分、5分の6回読み取つて、その
振れ信号D1の増加分Eを求め、また、倍率器H
の倍率信号Mを読み取つて、Ql=Qm×M×Eの
演算で、リーク量Qlを求めるのである。
操作者は、上述のように小型端子Uおよびフー
ドFを取り付けて、リークデテクタ装置Rを作動
させ、リーク量演算記録装置1の「スタート」の
スイツチ4を押す。
そうすると、第4図bに示すように、マイクロ
コンピユータ14は、リークインジケータR1
倍率器Hの倍率信号Mを読み込み記憶するS1
1。
次いで、パラメータiを0と置いてS12、イ
ンジケータR2のリークレートメータLの振れ信
号Dを読み込みS13、その値DをメモリーD1
に記憶するS14。ここではi=0だから、D0
に記憶される。
上記ステツプS13,S14を1分間間隔で更
に5回繰り返しS15,S16,S17、データ
D1,D2,D3,D4,D5を得ると、増加分Eの判
定・算出処理に移行する。
増加分Eの判定・算出処理では、まずデータの
1分間毎の増加分a,b,c,d,eが算出され
る。すなわち、a=D1−D0,b=D2−D1,C=
D3−D2,d=D4−D3,e=D5−D4の演算を行う
S21。
D0〜D5は、原理的には単調増加で、第5図a
に示すような右上りの変化パターンとなるから、
a〜eは、すべて正となるはずである。しかしな
がら現実的には種々の要因によつてD0〜D5は右
上りの変化パターン以外の変化パターンを示すこ
とがあり、a〜eは必ずしもすべて正とはならな
い。そこで以下のような判定処理が必要となる。
説明の都合上、まず第5図eに示すようなW字
形パターンのD0〜D5が得られたとする。
このときステツプS11において、a<0,b
>0,c<0,d<0,e>0が得られる。
そこでステツプ22において、c<0だからス
テツプS23へ移行する。
ステツプS23では、a≧0であればそのaの
値を保持するが、a<0の場合はa=0と置く。
ここではa<0だから、a=0と置かれるS2
4。
次いでbについて上記ステツプS23,S24
と同様の処理が行われS25,S26、b>0で
あるからbの値はそのまま保持される。
次いで、ステツプS27において、E1=a+
bの算出がなされる。このE1は、D0〜D2の区間
における単調増加部分だけでの増加分を表してい
る。すなわち、1分間の増加分が負であればその
部分は無視され、正の部分だけがE1に取り出さ
れる。
次いで、d,eについて、上記ステツプS23
〜S27と同様の処理が行われるS28。すなわ
ち、D3〜D5の区間における単調増加部分の増加
分がE2として取り出される。
このように2通りの増加分E1,E2が得られる
ので、これらを比較しS29、大なる方を増加分
Eとして設定するS30,S31。ここではE2
>E1なので、E2がEとして設定される。
得られたEが正であればEの値はそのまま保存
される。しかし、正でなければ、リーク量Qlが
0であつたり負であつたりすることは原理的に有
り得ないので、検出可能な最小のリーク量以下で
あるものとみなし、E=1が設定されるS44。
以上のように増加分Eが得られると、Ql=M
×Eによつてリーク量Qlが算出されるS45。
得られたリーク量Qlは表示器10に表示され
るS46。
また、第3図に示すように、製品名、製品番
号、最小検出可能リーク量Qm、1分おきのリー
クレートメータの振れ信号値D0〜D5、倍率器の
倍率信号値Mおよびリーク量Qlが、プリンタ1
5からプリント出力されるS47。
次に、D0〜D5の変化パターンが第5図cのよ
うであるとする。
このときステツプS32では、b<0且つd>
0なので、ステツプS33へ移行する。
ステツプS22において、c>0であるから、
ステツプS32へ移行する。
ステツプS33は、前記ステツプS23および
ステツプS24と同様の内容を表すもので、a≧
0ならばそのaの値を保持し、そうでないならば
a=0として、そのaの値をE1と置く処理であ
る。
ステツプS34は、前記ステツプS23〜S2
7と同様の処理によつて、c,d,eの正のもの
だけを加算してE2と置く処理である。
ステツプS35は、前記ステツプS29〜ステ
ツプS31と同様の処理で、E1,E2のうち大な
るものをEと設定する処理である。
かくして第5図cのような変化パターンのデー
タD0〜D5が得られたときは、E=D5−D2として
増加分Eが求められる結果となる。
増加分Eが求められた後の処理は、前記ステツ
プS43〜ステツプS47が行われる。
次に、第5図bに示すような変化パターンのデ
ータD0〜D5が得られた場合には、ステツプS2
2,ステツプS32を得てステツプS36へ移行
し、且つステツプS36からステツプS37へ移
行する。
ステツプS37では、a,b,cの正のものだ
けが加算されE1と置かれる。
次にステツプS38において、e≧0のときは
そのeの値が保存され、そうでないときはe=0
とされて、そのeの値がe2と置かれる。
更にステツプS39において、上記E1,E2
うち大なるものが増加分Eと置かれる。
その後の処理は、ステツプS43〜ステツプS
47と同じである。
次に、第5図fのような変化パターンのデータ
D0〜D5が得られたときは、ステツプS40を経
てステツプS41に移行する。
ステツプS41では、a,c,eのうちの最も
大きい値が増加分Eに設定される。
その後の処理は、前記ステツプS43〜ステツ
プS47と同じである。
次に、第5図aに示すように、データD0〜D5
が単調増加であるならば、ステツプS40からス
テツプS42に移行し、ステツプS42におい
て、a,b,c,d,eの正のもののみが加算さ
れ、増加分Eと設定される。その後の処理は、上
記ステツプS43〜ステツプS47と同じであ
る。
以上の説明から理解されるように、このリーク
量演算記録装置1によれば、操作者はスイツチを
押すだけでよく、面倒な記録・演算を行う必要は
ない。
すなわち、リーク量演算記録装置1が、1分間
毎のリークレートメータLの振れ信号D1の読み
込みを行い、そのデータD1に基づき増加分Eを
求め、リーク量Qlを算出する。また、得られた
リーク量Ql等を記録する。
したがつて、リーク量測定の能率が格段に向上
し、また測定の信頼性が向上し、更に製品名や製
品番号等も印刷されるから、操作者がデータを取
り違えるといつたミスも防止できるものである。
他の実施例としては、増加分Eを求める判定処
理として、データD0〜D5のうちの最大値からそ
の最大値より前の時刻に得られたデータのうちの
最小値を減算して、その差値をEとして設定し、
前記最大値または最小値が得られないときはE=
1とするものが挙げられる。
「発明の効果」 本発明によれば、リークデテクタ装置から出力
されるリークレートメータの振れ信号Dと倍率器
の倍率信号Mとを入力する入力手段、最小検出可
能リーク量Qmの算出の開始を支持する「最小」
スイツチ、リーク量Qlの算出の開始を指示する
「スタート」スイツチ、算出したリーク量Ql等を
印字するプリンタ、および前記「最小」スイツチ
が押されると、前記入力手段を介して振れ信号D
と倍率信号Mとを読み込み、予め設定されていた
標準リーク量qを用いて、Qm=q/(D×M)
の演算により最小検出可能リーク量Qmを算出
し、また、前記「スタート」スイツチが押される
と、前記入力手段を介して倍率信号Mを読み込む
と共に、所定時間間隔をあけて所定回数振れ信号
D1を読み込み、それら振れ信号D1に基づいて振
れ増加分Eを求め、かつQl=Qm×M×Eの演算
によりリーク量Qlを算出し、その算出したリー
ク量Ql等を前記プリンタへ出力する演算制御手
段を具備してなるリーク量演算記録装置が提供さ
れ、これによりリークデテクタ装置からの出力デ
ータのサンプリングや演算処理や記録が自動化さ
れるので、操作者の負担は軽減され、能率が格段
に向上し、更に誤りの発生が防止される効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のリーク量演算記録
装置とリークデテクタ装置の模式的外観図、第2
図は第1図に示すリーク量演算記録装置の構成ブ
ロツク図、第3図は第1図に示すリーク量演算記
録装置から出力される印字紙の例示図、第4図は
第1図に示すリーク量演算記録装置の演算処理の
要部フローチヤート、第5図はリークレートメー
タの振れ信号の時間的変化の種々のパターンを示
す特性図である。 符号の説明、1……リーク量演算記録装置、3
……「最小」スイツチ、4……「スタート」スイ
ツチ、14……マイクロコンピユータ、15……
プリンタ、R……リークデテクタ装置、U……被
測定体の小型端子、F……ヘリウム封入フード。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 (a) リークデテクタ装置から出力されるリー
    クレートメータの振れ信号Dと倍率器の倍率信
    号Mとを入力する入力手段、 (b) 最小検出可能リーク量Qmの算出処理の開始
    を指示する「最小」スイツチ、 (c) リーク量Qlの算出処理の開始を指示する
    「スタート」スイツチ、 (d) 算出したリーク量Ql等を印字するプリンタ、 および (e) 前記「最小」スイツチが押されると、前記入
    力手段を介して振れ信号Dと倍率信号Mとを読
    み込み、予め設定されていた標準リーク量qを
    用いて、Qm=q/(D×M)の演算により最
    小検出可能リーク量Qmを算出し、また、前記
    「スタート」スイツチが押されると、前記入力
    手段を介して倍率信号Mを読み込むと共に、所
    定時間間隔をあけて所定回数振れ信号D1を読
    み込み、それら振れ信号D1に基づいて増加分
    Eを求め、かつQl=Qm×M×Eの演算により
    リーク量Qlを算出し、その算出したリーク量
    Ql等を前記プリンタへ出力する演算制御手段
    を具備してなることを特徴とするリーク量演算
    記録装置。
JP18363485A 1985-08-20 1985-08-20 リ−ク量演算記録装置 Granted JPS6243536A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18363485A JPS6243536A (ja) 1985-08-20 1985-08-20 リ−ク量演算記録装置

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JP18363485A JPS6243536A (ja) 1985-08-20 1985-08-20 リ−ク量演算記録装置

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Publication Number Publication Date
JPS6243536A JPS6243536A (ja) 1987-02-25
JPH0224455B2 true JPH0224455B2 (ja) 1990-05-29

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63171881A (ja) * 1987-09-12 1988-07-15 Shunpei Yamazaki 被膜形成方法
JPS63171882A (ja) * 1987-09-12 1988-07-15 Shunpei Yamazaki 被膜形成方法
JPH05121339A (ja) * 1992-03-26 1993-05-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 被膜作製装置

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JPS6243536A (ja) 1987-02-25

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