JPH022164A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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Publication number
JPH022164A
JPH022164A JP14618188A JP14618188A JPH022164A JP H022164 A JPH022164 A JP H022164A JP 14618188 A JP14618188 A JP 14618188A JP 14618188 A JP14618188 A JP 14618188A JP H022164 A JPH022164 A JP H022164A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chips
chip
integrated circuit
region
semiconductor wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14618188A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiji Ayabe
綾部 利治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP14618188A priority Critical patent/JPH022164A/ja
Publication of JPH022164A publication Critical patent/JPH022164A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はマスタースライス集積回路に関し、特に同一の
半導体ウェハー上にマスタースライス法により形成され
た異なる機能、性能をもつ複数種類の半導体チップの中
の少なくとも一つを組み込んで構成されたマスタースラ
イス集積回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種のマスタースライス集積回路は、−枚の半
導体ウェハー上に機能、性能、素子規模の異なる多品種
の半導体チップを形成する場合、半導体基板上に同一の
素子構成をもつ素子領域を形成した後、これを下地に配
線工程において異なる配線パターンを二つ以上組み合わ
せたマスクにより配線する、いわゆるマスタースライス
法により形成していた。
例えば、第3図に示すように素子領域が全て同一である
チップ2aの内部回路3aとチップ2bの内部回路3b
をチップ間領域4を横切る配線5で接続することにより
チップ1個で集積できる素子規模以上のマスタースライ
ス集積回路9を形成している。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のマスタースライス集積回路は、同一の素
子構成をもった素子領域のチップを単位チップとしてス
クライブ可能としており、複数チップを配線で接続して
一つの集積回路を形成している場合、それぞれの半導体
ペレットに分離するスクライブ工程において複数チップ
間を接続する配線が認識しずらく、スクライブする位置
を間違いやすいという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、一種もしくは多種類の素子構成をもったチッ
プを有し、複数チップで集積回路を構成するマスタース
ライス集積回路において、前記複数チップ間を区切る領
域を幅広の導電体で覆うことから成っている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を説明するための半導体ウェ
ハーの平面図である。
一つの半導体ウェハー1上には、いわゆるマスタースラ
イス法により同一の素子構成をもつ複数の素子領域が形
成されこれを下地にしてチップ2aの内部回路3aとチ
ップ2bの内部回路3bをチップ間領域4を横切る配線
5で接続することによりチップ1個で集積できる素子規
模以上のマスタースライス集積回路6を形成している。
さらに、内部回路3a、3bに接続されない幅広の配線
7がチップ間領域4を覆っている為、スクライブ工程に
おいて、これらの集積回路は複数チップで構成されてい
ることを確実に認識でき、スクライブ位置を間違うこと
がない。
第2図は本発明の実施例2を示す半導体ウェハーの平面
図である。
この実施例では電源配線をチップ間を覆う幅広の配線と
しているため、共通インピーダンスを低減するという利
点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、マスタースライス法によ
って形成された複数チップで構成された集積回路のチッ
プ間を幅広の配線で覆うことにより、スクライブ工程に
おいてスクライブ位置を確実に認識できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を説明する為の半導体ウェハ
ーの平面図、第2図は本発明の第2の実施例を示す半導
体ウェハーの平面図、第3図は従来のマスタースライス
集積回路の一例を説明するための半導体ウェハーの平面
図である。 1・・・・・・半導体ウェハー’2a、2b・・・・・
・チップ、3a、3b・・・・・・内部回路、4・・・
・・・チップ間領域、5・・・・・・チップ間配線、6
,9・・・・・・マスタースライス集積回路、7・・・
・・・幅広配線、8・・・・・・ポンディングパッド。 代理人 弁理士  内 原   晋 ]IT¥]

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一種もしくは多種類の素子構成をもったチップを有し、
    複数チップで集積回路を構成するマスタースライス集積
    回路において、前記チップ間を区切る領域を幅広の導電
    体で覆ったことを特徴とする集積回路。
JP14618188A 1988-06-13 1988-06-13 集積回路 Pending JPH022164A (ja)

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JP14618188A JPH022164A (ja) 1988-06-13 1988-06-13 集積回路

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59197151A (ja) * 1983-04-22 1984-11-08 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JPS62156833A (ja) * 1985-12-28 1987-07-11 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
JPS63187648A (ja) * 1987-01-30 1988-08-03 Fuji Xerox Co Ltd ゲ−トアレイ

Patent Citations (3)

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