JPS63291452A - システム機能を備えた半導体集積回路装置 - Google Patents
システム機能を備えた半導体集積回路装置Info
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- JPS63291452A JPS63291452A JP62127628A JP12762887A JPS63291452A JP S63291452 A JPS63291452 A JP S63291452A JP 62127628 A JP62127628 A JP 62127628A JP 12762887 A JP12762887 A JP 12762887A JP S63291452 A JPS63291452 A JP S63291452A
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- Japan
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- semiconductor integrated
- integrated circuit
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- chip
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/02—Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L24/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01014—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はシステム機能を持った半導体集積回路装置に関
する。
する。
チップに多数の機能を盛り込み複雑に入り組んだ回路構
成によりシステム機能を持った一つのチップが半導体集
積回路としての動作をする。第2図に示すように従来の
半導体集積回路装置は各チップ2にボンディング用パッ
ト3・・・を備え、外部との接続ばパット3からボンデ
ィングワイヤを介してケースのリード端子に結ばれてい
た。
成によりシステム機能を持った一つのチップが半導体集
積回路としての動作をする。第2図に示すように従来の
半導体集積回路装置は各チップ2にボンディング用パッ
ト3・・・を備え、外部との接続ばパット3からボンデ
ィングワイヤを介してケースのリード端子に結ばれてい
た。
ところで、半導体集積回路は微細加工技術で作られてい
るため、製造後の不良解析が困難である。
るため、製造後の不良解析が困難である。
又、初期での内部ブロック(小機能)の動作確認、特性
確認ができにくいという欠点がある。
確認ができにくいという欠点がある。
本発明の目的は前記問題点を解消し、不良解析を容易な
らしめ、かつ初期での内部ブロックの動作確認、特性確
認を容易ならしめる半導体集積回路装置を提供すること
にある。
らしめ、かつ初期での内部ブロックの動作確認、特性確
認を容易ならしめる半導体集積回路装置を提供すること
にある。
本発明はシステム機能を持った半導体集積回路装置にお
いて、該半導体集積回路を機能別に分割する切断領域と
、機能別に分離される機能領域内に設けた。半導体集積
回路外部との接続用ボンディングバットとを有すること
を特徴とするシステム機能を備えた半導体集積回路装置
である。
いて、該半導体集積回路を機能別に分割する切断領域と
、機能別に分離される機能領域内に設けた。半導体集積
回路外部との接続用ボンディングバットとを有すること
を特徴とするシステム機能を備えた半導体集積回路装置
である。
次に本発明について第1図を用いて説明する。
第1図(a) 、 (b) 、 (c) 、 (d)は
本発明の実施例の構成図である。第1図(a)、(b)
に示すようにウェハー1はシリコンの結晶で作られた基
板10に写真食刻技術を用いた微細加工で素子、配線を
施したパターン9で作られている。ウェハー1はシステ
ム機能を持ったチップ2と個々の回路機能を持ったチッ
プ5.6,7,8を接続するボンディングパット3で構
成している。
本発明の実施例の構成図である。第1図(a)、(b)
に示すようにウェハー1はシリコンの結晶で作られた基
板10に写真食刻技術を用いた微細加工で素子、配線を
施したパターン9で作られている。ウェハー1はシステ
ム機能を持ったチップ2と個々の回路機能を持ったチッ
プ5.6,7,8を接続するボンディングパット3で構
成している。
チップ2は第1図(c)に示すように4つの回路機能に
分離可能なように配置設計し、個々のチップ5.6,7
.8の間にボンディングパット3.・・・を並べ、この
チップ2を切断領域4にそって分割することにより、個
々の回路機能独自の機能を果たす。
分離可能なように配置設計し、個々のチップ5.6,7
.8の間にボンディングパット3.・・・を並べ、この
チップ2を切断領域4にそって分割することにより、個
々の回路機能独自の機能を果たす。
第1図(d)は本発明の実施例のチップ分割の一例を示
している 〔発明の効果〕 以上説明したように本発明は半導体集積回路を機能別に
分離することにより、分離した個々の回路機能を独自に
使用することができ、また分離した回路機能をボンディ
ングパットを介して有機的に結げば汎用性、実用性に優
れた半導体集積回路装置を形成できる効果を有するもの
である。
している 〔発明の効果〕 以上説明したように本発明は半導体集積回路を機能別に
分離することにより、分離した個々の回路機能を独自に
使用することができ、また分離した回路機能をボンディ
ングパットを介して有機的に結げば汎用性、実用性に優
れた半導体集積回路装置を形成できる効果を有するもの
である。
第1図(a)は本発明の実施例を示すウェハーの正面図
、第1図(b)は第1図(a)のA部拡大断面図、第1
図(c)はチップ配列を示す図、第1図(d)は分割し
たチップを示す図、第2図は従来例を示す図である。 1・・・ウェハー 2・・・チップ(システム機
能)3・・・ボンディングパット 4・・・切断領域5
.6,718・・・チップ(小機能)9・・・パターン
10・・・基板
、第1図(b)は第1図(a)のA部拡大断面図、第1
図(c)はチップ配列を示す図、第1図(d)は分割し
たチップを示す図、第2図は従来例を示す図である。 1・・・ウェハー 2・・・チップ(システム機
能)3・・・ボンディングパット 4・・・切断領域5
.6,718・・・チップ(小機能)9・・・パターン
10・・・基板
Claims (1)
- (1)システム機能を持った半導体集積回路装置におい
て、該半導体集積回路を機能別に分割する切断領域と、
機能別に分離される機能領域内に設けた、半導体集積回
路外部との接続用ボンディングパットとを有することを
特徴とするシステム機能を備えた半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62127628A JPS63291452A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | システム機能を備えた半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62127628A JPS63291452A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | システム機能を備えた半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63291452A true JPS63291452A (ja) | 1988-11-29 |
Family
ID=14964788
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62127628A Pending JPS63291452A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | システム機能を備えた半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63291452A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5016080A (en) * | 1988-10-07 | 1991-05-14 | Exar Corporation | Programmable die size continuous array |
-
1987
- 1987-05-25 JP JP62127628A patent/JPS63291452A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5016080A (en) * | 1988-10-07 | 1991-05-14 | Exar Corporation | Programmable die size continuous array |
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