JPH02189903A - 積層型バリスタ - Google Patents
積層型バリスタInfo
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- JPH02189903A JPH02189903A JP1010829A JP1082989A JPH02189903A JP H02189903 A JPH02189903 A JP H02189903A JP 1010829 A JP1010829 A JP 1010829A JP 1082989 A JP1082989 A JP 1082989A JP H02189903 A JPH02189903 A JP H02189903A
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- 238000007747 plating Methods 0.000 abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000011029 spinel Substances 0.000 abstract description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 abstract 1
- VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N oxoantimony Chemical compound [Sb]=O VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910000410 antimony oxide Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000003303 reheating Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電圧非直線性抵抗として機能する積層型バリ
スタに関し、特に積層体に形成された外部電極の表面に
メツキ層を形成する際のレジスト膜形成工程を省略して
生産性を向上できるようにした構造に関する。
スタに関し、特に積層体に形成された外部電極の表面に
メツキ層を形成する際のレジスト膜形成工程を省略して
生産性を向上できるようにした構造に関する。
一般に、バリスタは、印加電圧に応じて抵抗値が非直線
的に変化する抵抗体素子であり、例えば電子回路に過電
圧が加わるのを防止するためのサージ吸収素子として採
用されている。このようなバリスタとして、従来、第5
図に示すような直方体状の積層型バリスタがある。この
積層型バリスタ10は、バリスタ層11と内部電極12
とを交互に積層して一体焼結するとともに、該焼結体1
3の左、右端面13a、13bに外部電極14を形成し
て構成されている。また、この外部電極14には、上記
焼結体13の左、右端面13a、13bに交互に露出さ
れた内部電極12の一端面12aが接続されている。さ
らに、上記積層型バリスタ10においては、実装時にお
けるプリント基板上の配線パターンとの半田付は性を向
上させるために、上記外部電極14の表面に電解メツキ
によるメツキ層15を形成するようにしている。
的に変化する抵抗体素子であり、例えば電子回路に過電
圧が加わるのを防止するためのサージ吸収素子として採
用されている。このようなバリスタとして、従来、第5
図に示すような直方体状の積層型バリスタがある。この
積層型バリスタ10は、バリスタ層11と内部電極12
とを交互に積層して一体焼結するとともに、該焼結体1
3の左、右端面13a、13bに外部電極14を形成し
て構成されている。また、この外部電極14には、上記
焼結体13の左、右端面13a、13bに交互に露出さ
れた内部電極12の一端面12aが接続されている。さ
らに、上記積層型バリスタ10においては、実装時にお
けるプリント基板上の配線パターンとの半田付は性を向
上させるために、上記外部電極14の表面に電解メツキ
によるメツキ層15を形成するようにしている。
ところで、上記焼結体13は、例えばZnOを主成分と
するセラミクス半導体であるから、そのまま電解メツキ
処理を行うと外部電極14以外の焼結体13の表面にも
メツキ層が形成されることとなる。従って、これを防止
するために、従来から、上記焼結体13の外部電極14
以外の表面にレジスト膜を形成し、しかる後電解メツキ
を行う方法が採用されている。
するセラミクス半導体であるから、そのまま電解メツキ
処理を行うと外部電極14以外の焼結体13の表面にも
メツキ層が形成されることとなる。従って、これを防止
するために、従来から、上記焼結体13の外部電極14
以外の表面にレジスト膜を形成し、しかる後電解メツキ
を行う方法が採用されている。
しかしながら、上記従来のレジスト膜を形成した後電解
メツキ処理を行う方法は、このレジスト膜を形成するた
めの余分な工程が必要なことから、それだけ生産性が低
いという問題点がある。
メツキ処理を行う方法は、このレジスト膜を形成するた
めの余分な工程が必要なことから、それだけ生産性が低
いという問題点がある。
本発明は−J−,記従来の問題点を解決するためになさ
れたもので、レジスト膜の形成工程を省略しながら、外
部電極の表面にのみメツキ層を形成できる積層型バリス
タを提供することを目的としている。
れたもので、レジスト膜の形成工程を省略しながら、外
部電極の表面にのみメツキ層を形成できる積層型バリス
タを提供することを目的としている。
そこで本発明は、バリスタ層と内部電極とを交互に積層
して積層体を形成し、該積層体の両端面に上記内部電極
に接続された外部電極を形成してなる積層型バリスタに
おいて、上記積層体の外表面部分に酸化物を拡散させて
絶縁層を形成したことを特徴としている。
して積層体を形成し、該積層体の両端面に上記内部電極
に接続された外部電極を形成してなる積層型バリスタに
おいて、上記積層体の外表面部分に酸化物を拡散させて
絶縁層を形成したことを特徴としている。
ここで、」−記積層体の外表面に絶縁層を形成する方法
として、上記積層体を焼成炉内にて加熱焼結する際に、
該炉内に例えば酸化アンチモン粉末を一緒に配設してお
き、上記積層体の焼成と同時に酸化アンチモンを拡散さ
せることにより実現できる。また、上記積層体を焼成し
て焼結体を成形した後、該焼結体と酸化アンチモンとを
920°cD)」二で再熱処理する方法でも実現できる
。
として、上記積層体を焼成炉内にて加熱焼結する際に、
該炉内に例えば酸化アンチモン粉末を一緒に配設してお
き、上記積層体の焼成と同時に酸化アンチモンを拡散さ
せることにより実現できる。また、上記積層体を焼成し
て焼結体を成形した後、該焼結体と酸化アンチモンとを
920°cD)」二で再熱処理する方法でも実現できる
。
本発明に係る積層型バリスタによれば、積層体の外表面
部分に酸化物の拡散による絶縁層を形成したので、外部
電極が形成された積層体にそのまま電解メツキ処理を施
しても、この外部電極の表面のみにメツキ層が形成され
、これ以外の部分にはメツキは付着するごとはない。し
かも、上記絶縁層は、積層体を焼成する際に同時に形成
できることから、従来のような別工程でレジスト膜を形
成するという作業を不要にでき、それだけ生産性を向」
二でき、ひいては製造コストを低減できる。
部分に酸化物の拡散による絶縁層を形成したので、外部
電極が形成された積層体にそのまま電解メツキ処理を施
しても、この外部電極の表面のみにメツキ層が形成され
、これ以外の部分にはメツキは付着するごとはない。し
かも、上記絶縁層は、積層体を焼成する際に同時に形成
できることから、従来のような別工程でレジスト膜を形
成するという作業を不要にでき、それだけ生産性を向」
二でき、ひいては製造コストを低減できる。
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第1図ないし第4図は本発明の一実施例による積層型バ
リスタを説明するための図である。
リスタを説明するための図である。
図において、■は本実施例の積層型バリスタであり、こ
れはZnO系セラミクスからなるバリスタ層2とptか
らなる内部電極3とを交互に積層し、これを一体焼結し
てなる焼結体4の左、右端面4a、4bにAg合金から
なる外部電極5を被覆形成して構成されている。また、
上記各内部電極3の端面3aは焼結体4の左、右端面4
a、4bに交互に露出して上記外部電極5に接続されて
おり、上記内部電極3の他の端面ば焼結体4内に封入さ
れている。さらに、」1記外部電極5の外表面には、配
線パターンとの半田付は性を向」ニさせるメツキ層6が
被覆形成されている。そして、本実施例の焼結体3の外
表面部分には酸化アンチモンとZnOとの焼成反応によ
るスピネル(Zn7SbzO+z)が形成されており、
これにより上記外表面部分には絶縁層7が形成されてい
る。
れはZnO系セラミクスからなるバリスタ層2とptか
らなる内部電極3とを交互に積層し、これを一体焼結し
てなる焼結体4の左、右端面4a、4bにAg合金から
なる外部電極5を被覆形成して構成されている。また、
上記各内部電極3の端面3aは焼結体4の左、右端面4
a、4bに交互に露出して上記外部電極5に接続されて
おり、上記内部電極3の他の端面ば焼結体4内に封入さ
れている。さらに、」1記外部電極5の外表面には、配
線パターンとの半田付は性を向」ニさせるメツキ層6が
被覆形成されている。そして、本実施例の焼結体3の外
表面部分には酸化アンチモンとZnOとの焼成反応によ
るスピネル(Zn7SbzO+z)が形成されており、
これにより上記外表面部分には絶縁層7が形成されてい
る。
次に上記積層型バリスタIの製造方法について説明する
。
。
■ まず、Zn○(97,8mo 47%)、Bi20
3(0,5mo 1%) 、 M n O(0,5mo
A%) 、 COz O:+(0,5mo 1%)
、 S bz O:+ (0,7mon%)を混合し
てなるセラミクス原料に、有機バインダーを混合してグ
リーンシートを形成する。このグリーンシトを矩形状に
切断して多数のバリスタ層2を形成する。
3(0,5mo 1%) 、 M n O(0,5mo
A%) 、 COz O:+(0,5mo 1%)
、 S bz O:+ (0,7mon%)を混合し
てなるセラミクス原料に、有機バインダーを混合してグ
リーンシートを形成する。このグリーンシトを矩形状に
切断して多数のバリスタ層2を形成する。
■ 上記バリスタ層2の上面に、ptとビヒクルとを混
合してなるペーストを印刷して内部電極3を形成する。
合してなるペーストを印刷して内部電極3を形成する。
この場合、内部電極3の一端面3aのみがバリスタ層2
の外縁まで延び、他の端面ば内側に位置するようにする
。
の外縁まで延び、他の端面ば内側に位置するようにする
。
■ 次に、第3図に示すように、上記バリスタ層2と内
部電極3とが交互に重なり、かつ内部電極3の一端面3
aがバリスタ層2の左1右端面に交互に露出するように
積層し、これをプレスにより加圧、圧着して積層体を形
成する。これにより内部電極3の一端面3aだけが積層
体の左、右端面の外面に露出し、残りの部分はバリスタ
層2内に完全に埋設されることとなる。
部電極3とが交互に重なり、かつ内部電極3の一端面3
aがバリスタ層2の左1右端面に交互に露出するように
積層し、これをプレスにより加圧、圧着して積層体を形
成する。これにより内部電極3の一端面3aだけが積層
体の左、右端面の外面に露出し、残りの部分はバリスタ
層2内に完全に埋設されることとなる。
■ 上記積層体を、第4図に示すように、例えばジルコ
ニアからなる容器8a内に収容するとともに、該容器8
a内に酸化アンチモン(Sb20、)粉末9を適量配置
する。そして、この容器8aを焼成炉8b内に収容し、
1100℃×3時間で加熱焼成する。すると、上記酸化
アンチモンと積層体の外表面のZnOとが反応して、積
層体の外表面部分にスピネル(Zn、St)+ O+g
)が形成され、これにより絶縁層7が形成された焼結体
4が得られる。
ニアからなる容器8a内に収容するとともに、該容器8
a内に酸化アンチモン(Sb20、)粉末9を適量配置
する。そして、この容器8aを焼成炉8b内に収容し、
1100℃×3時間で加熱焼成する。すると、上記酸化
アンチモンと積層体の外表面のZnOとが反応して、積
層体の外表面部分にスピネル(Zn、St)+ O+g
)が形成され、これにより絶縁層7が形成された焼結体
4が得られる。
■ 次に、上記焼結体4の、内部電極3の一端面3aが
露出された左、右端面4a、4bにAgを主体としたペ
ーストを塗布した後、焼き付けて外部電極5を形成する
。
露出された左、右端面4a、4bにAgを主体としたペ
ーストを塗布した後、焼き付けて外部電極5を形成する
。
■ しかる後、上記焼結体4に電解メツキ処理を施し、
上記外部電極5の外表面にメツキ層6を形成する。この
場合、上記焼結体4の外部電極5以外の部分は絶縁層7
で覆われていることから、メツキは付着することはない
。これにより本実施例の積層型バリスタ1が製造される
。
上記外部電極5の外表面にメツキ層6を形成する。この
場合、上記焼結体4の外部電極5以外の部分は絶縁層7
で覆われていることから、メツキは付着することはない
。これにより本実施例の積層型バリスタ1が製造される
。
次に本実施例の作用効果について説明する。
本実施例の積層型バリスタ1によれば、積層体と酸化ア
ンチモン粉末9とを一緒に加熱焼成し、上記積層体を焼
成するとともに、上記酸化アンチモンを拡散させて焼結
体4の外表面部分に絶縁層7を形成したので、この焼結
体4に外部電極5を形成した後、電解メツキ処理を施す
ことにより、上記外部電極5の外表面にのみメツキ層6
が形成されることとなる。その結果、従来のレジスト膜
形成工程を省略でき、それだけ生産性を向上できる。
ンチモン粉末9とを一緒に加熱焼成し、上記積層体を焼
成するとともに、上記酸化アンチモンを拡散させて焼結
体4の外表面部分に絶縁層7を形成したので、この焼結
体4に外部電極5を形成した後、電解メツキ処理を施す
ことにより、上記外部電極5の外表面にのみメツキ層6
が形成されることとなる。その結果、従来のレジスト膜
形成工程を省略でき、それだけ生産性を向上できる。
なお、上記実施例では、■工程で形成された積層体を酸
化アンチモンと一緒に容器8a内に収容し、同時に加熱
焼成した場合を例にとって説明したが、本発明では積層
体を加熱焼成して焼結体を成形した後、再熱処理により
酸化アンチモンを拡散させてもよい。
化アンチモンと一緒に容器8a内に収容し、同時に加熱
焼成した場合を例にとって説明したが、本発明では積層
体を加熱焼成して焼結体を成形した後、再熱処理により
酸化アンチモンを拡散させてもよい。
また、上記実施例では焼結体がZnOからなり、酸化物
が酸化アンチモンである場合を説明したが、これらに限
定されるものではなく、要は焼結体の表面に酸化物の拡
散による絶縁層を形成すればよい。
が酸化アンチモンである場合を説明したが、これらに限
定されるものではなく、要は焼結体の表面に酸化物の拡
散による絶縁層を形成すればよい。
以上のように本発明に係る積層型バリスタによれば、積
層体の外表面部分に酸化物の拡散による絶縁層を形成し
たので、外部電極の表面にメツキ層を形成する際のレジ
スト膜形成工程を省略して生産性を向上できる効果があ
る。
層体の外表面部分に酸化物の拡散による絶縁層を形成し
たので、外部電極の表面にメツキ層を形成する際のレジ
スト膜形成工程を省略して生産性を向上できる効果があ
る。
第1図ないし第4図は本発明の一実施例による積層型バ
リスタを説明するための図であり、第1゜図はその断面
図、第2図はその斜視図、第3図はその分解斜視図、第
4図はその積層体に絶縁層を形成する方法を示す概略構
成図、第5図は従来の積層型バリスタを示す断面図であ
る。 図において、1は積層型バリスタ、2はバリスタ層、3
は内部電極、4は焼結体(積層体)、44bは焼結体の
左、右端面(両端面)、5は外部電極、7は絶縁層、9
は酸化アンチモン(酸化物)である。
リスタを説明するための図であり、第1゜図はその断面
図、第2図はその斜視図、第3図はその分解斜視図、第
4図はその積層体に絶縁層を形成する方法を示す概略構
成図、第5図は従来の積層型バリスタを示す断面図であ
る。 図において、1は積層型バリスタ、2はバリスタ層、3
は内部電極、4は焼結体(積層体)、44bは焼結体の
左、右端面(両端面)、5は外部電極、7は絶縁層、9
は酸化アンチモン(酸化物)である。
Claims (1)
- (1)バリスタ層と内部電極とを交互に積層して積層体
を形成し、該積層体の両端面に上記内部電極に接続され
た外部電極を形成してなり、電圧非直線性抵抗として機
能する積層型バリスタにおいて、上記積層体の外表面部
分に酸化物を拡散させて絶縁層を形成したことを特徴と
する積層型バリスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1010829A JPH02189903A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 積層型バリスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1010829A JPH02189903A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 積層型バリスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02189903A true JPH02189903A (ja) | 1990-07-25 |
Family
ID=11761251
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1010829A Pending JPH02189903A (ja) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | 積層型バリスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02189903A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04218765A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-10 | Toshiba Corp | 超音波プローブ |
JPH0538802U (ja) * | 1991-10-25 | 1993-05-25 | テイーデイーケイ株式会社 | チツプサーミスタ |
US5757263A (en) * | 1994-12-09 | 1998-05-26 | Harris Corporation | Zinc phosphate coating for varistor |
JP2002043105A (ja) * | 2000-07-31 | 2002-02-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化亜鉛型バリスタ及びその製造方法 |
CN1088903C (zh) * | 1994-10-19 | 2002-08-07 | 松下电器产业株式会社 | 电子器件及其制造方法 |
WO2002071825A3 (de) * | 2001-03-06 | 2002-10-31 | Epcos Ag | Elektrisches bauelement |
WO2003030187A3 (de) * | 2001-09-28 | 2003-07-03 | Epcos Ag | Elektrokeramisches bauelement mit mehreren kontaktflächen |
JP2011091199A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Tdk Corp | 積層電子部品 |
-
1989
- 1989-01-18 JP JP1010829A patent/JPH02189903A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7123467B2 (en) | 2001-09-28 | 2006-10-17 | Epcos Ag | Electroceramic component comprising a plurality of contact surfaces |
US7341639B2 (en) | 2001-09-28 | 2008-03-11 | Epcos Ag | Electroceramic component comprising a plurality of contact surfaces |
JP2011091199A (ja) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Tdk Corp | 積層電子部品 |
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