JPH02181838A - スキャンパターン発生器 - Google Patents
スキャンパターン発生器Info
- Publication number
- JPH02181838A JPH02181838A JP64000853A JP85389A JPH02181838A JP H02181838 A JPH02181838 A JP H02181838A JP 64000853 A JP64000853 A JP 64000853A JP 85389 A JP85389 A JP 85389A JP H02181838 A JPH02181838 A JP H02181838A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scan
- scan pattern
- storage
- length
- scan length
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、論理回路の試験に使用されるスキャンパター
ン発生器に関する ［従来の技術］ 従来、この種のスキャンパターン発生器は、第２図に示
されるように被試験回路１３に存在する１本のスキャン
バスを対象としており、スキャンパターン記憶部９、実
行命令記憶部１０、制御部１１、スキャン長記憶部１２
を有する。そして、もしスキャン長を変更する場合は、
制御部１１が実行命令記憶部１０より実行命令を読み出
し、解読し、スキャン長記憶部１２ヘスキャン長を設定
し、スキャン長記憶部１２の内容に従い制御部１］がス
キャンパターン記憶部９よりスキャンパターンを被試験
回路１３に対して発生する構成となっていた。
ン発生器に関する ［従来の技術］ 従来、この種のスキャンパターン発生器は、第２図に示
されるように被試験回路１３に存在する１本のスキャン
バスを対象としており、スキャンパターン記憶部９、実
行命令記憶部１０、制御部１１、スキャン長記憶部１２
を有する。そして、もしスキャン長を変更する場合は、
制御部１１が実行命令記憶部１０より実行命令を読み出
し、解読し、スキャン長記憶部１２ヘスキャン長を設定
し、スキャン長記憶部１２の内容に従い制御部１］がス
キャンパターン記憶部９よりスキャンパターンを被試験
回路１３に対して発生する構成となっていた。
［発明が解決しようとする課題］
上述した従来のスキャンパターン発生器は、スキャン長
記憶部が１つしかない為、スキャンバスの長さがかわる
と、実行命令記憶部より命令を読み出し、解読し、スキ
ャン長をスキャン長記憶部へ設定する構成となっている
ので、実行命令記憶部の容量が太き（なるという欠点が
ある。また、スキャン長が変わるたびにスキャン長記憶
部にスキャンパスの長さを設定する為に、実行速度が遅
くなるという欠点がある。
記憶部が１つしかない為、スキャンバスの長さがかわる
と、実行命令記憶部より命令を読み出し、解読し、スキ
ャン長をスキャン長記憶部へ設定する構成となっている
ので、実行命令記憶部の容量が太き（なるという欠点が
ある。また、スキャン長が変わるたびにスキャン長記憶
部にスキャンパスの長さを設定する為に、実行速度が遅
くなるという欠点がある。
［課題を解決するための手段］
本発明によるスキャンパターン発生器は、スキャンパタ
ーンを記憶するスキャンパターン記憶部と、実行命令を
記憶する実行命令記憶部と、各々がスキャン長を記憶す
る複数のスキャン長記憶部と、前記実行命令記憶部より
実行命令を読み出し、解読し、前記複数のスキャン長記
憶部に記憶されているスキャン長方だけ、前記スキャン
パターン記憶部よりスキャンパターンを発生させる制御
部とを有する。
ーンを記憶するスキャンパターン記憶部と、実行命令を
記憶する実行命令記憶部と、各々がスキャン長を記憶す
る複数のスキャン長記憶部と、前記実行命令記憶部より
実行命令を読み出し、解読し、前記複数のスキャン長記
憶部に記憶されているスキャン長方だけ、前記スキャン
パターン記憶部よりスキャンパターンを発生させる制御
部とを有する。
［実施例］
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例によるスキャンパターン発生
器の構成を示すブロック図である。
器の構成を示すブロック図である。
本実施例のスキャンパターン発生器は、スキャンパター
ン記憶部１、実行命令記憶部２、制御部３、第１乃至第
４のスキャン長記憶部４，５，６゜７から構成され、被
試験回路８にパターンを与える構成となっている。
ン記憶部１、実行命令記憶部２、制御部３、第１乃至第
４のスキャン長記憶部４，５，６゜７から構成され、被
試験回路８にパターンを与える構成となっている。
制御部３は実行命令記憶部２より実行命令を読み出し、
解読し、それぞれに対応する第１乃至第４のスキャン長
記憶部４，５，６．７に設定されているスキ中２長分だ
けスキャンパターン記憶部１よりスキャンパターンを発
生させ、被試験回路８ヘスキヤンパターンを印加する。
解読し、それぞれに対応する第１乃至第４のスキャン長
記憶部４，５，６．７に設定されているスキ中２長分だ
けスキャンパターン記憶部１よりスキャンパターンを発
生させ、被試験回路８ヘスキヤンパターンを印加する。
［発明の効果］
以上説明した様に本発明は、スキャンパターン記憶部と
、実行命令記憶部と、多数のスキャン長記憶部と、それ
らを制御する制御部とを有することにより、実行命令記
憶部の記憶容量を縮小する事ができ、また、スキャン長
が変更になってもリアルタイムにスキャン長を変更でき
、かつ高速に動作する事ができるという効果がある。
、実行命令記憶部と、多数のスキャン長記憶部と、それ
らを制御する制御部とを有することにより、実行命令記
憶部の記憶容量を縮小する事ができ、また、スキャン長
が変更になってもリアルタイムにスキャン長を変更でき
、かつ高速に動作する事ができるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例によるスキャンパターン発生
器の構成を示すブロック図、第２図は従来のスキャンパ
ターン発生器の構成を示すブロック図である。 １・・・スキャンパターン記憶部、２・・・実行命令記
憶部、３・・・制御部、４・・・第１のスキャン長記憶
部、５・・・第２のスキャン長記憶部、６・・・第３の
スキャン長記憶部、７・・・第４のスキャン長記憶部、
８・・・被試験回路。 第２図
器の構成を示すブロック図、第２図は従来のスキャンパ
ターン発生器の構成を示すブロック図である。 １・・・スキャンパターン記憶部、２・・・実行命令記
憶部、３・・・制御部、４・・・第１のスキャン長記憶
部、５・・・第２のスキャン長記憶部、６・・・第３の
スキャン長記憶部、７・・・第４のスキャン長記憶部、
８・・・被試験回路。 第２図
Claims (1)
- １、スキャンパターンを記憶するスキャンパターン記憶
部と、実行命令を記憶する実行命令記憶部と、各々がス
キャン長を記憶する複数のスキャン長記憶部と、前記実
行命令記憶部より実行命令を読み出し、解読し、前記複
数のスキャン長記憶部に記憶されているスキャン長分だ
け、前記スキャンパターン記憶部よりスキャンパターン
を発生させる制御部とを有するスキャンパターン発生器
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP64000853A JPH02181838A (ja) | 1989-01-07 | 1989-01-07 | スキャンパターン発生器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP64000853A JPH02181838A (ja) | 1989-01-07 | 1989-01-07 | スキャンパターン発生器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02181838A true JPH02181838A (ja) | 1990-07-16 |
Family
ID=11485202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP64000853A Pending JPH02181838A (ja) | 1989-01-07 | 1989-01-07 | スキャンパターン発生器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02181838A (ja) |
-
1989
- 1989-01-07 JP JP64000853A patent/JPH02181838A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR830009518A (ko) | 병렬처리용(竝列處理用)데이터 처리 시스템 | |
| KR870003507A (ko) | 집적회로 메모리 시스템 | |
| US5481549A (en) | Apparatus for testing an integrated circuit in which an input test pattern can be changed with an selected application timing | |
| KR960025015A (ko) | 버스상태분석기 및 그 내부버스시험방법 | |
| US4759021A (en) | Test pattern generator | |
| JPH10170607A (ja) | 半導体デバイスのテスト装置 | |
| KR930018389A (ko) | 데이타 처리 시스템의 명령 수행 순서를 결정하는 방법 및 장치 | |
| US5337045A (en) | Pattern generator | |
| JPH02181838A (ja) | スキャンパターン発生器 | |
| KR100277770B1 (ko) | 시퀀스 제어회로 | |
| JP3271307B2 (ja) | 半導体メモリ用試験パターン発生器 | |
| KR950034237A (ko) | 비디오 신호 편집장치 | |
| KR910017295A (ko) | 정보처리장치 | |
| JPS61274280A (ja) | パタ−ン発生装置 | |
| JPH0530225B2 (ja) | ||
| JPS59128642A (ja) | マイクロプログラム制御機器のパイプライン方式 | |
| JPS5937787B2 (ja) | 集積回路試験装置 | |
| JPS61201172A (ja) | メモリ読出制御装置 | |
| JPH08129487A (ja) | プログラムシーケンス制御回路 | |
| JP2590695B2 (ja) | 時分割スイッチ回路 | |
| JPS62293452A (ja) | メモリｉｃ診断回路 | |
| JPH08313602A (ja) | Ｌｓｉ試験パタ−ン発生器 | |
| JPS62259145A (ja) | アルゴリズミツク・パタ−ン発生装置 | |
| JPH02216565A (ja) | メモリテスト回路 | |
| JPH03130839A (ja) | オンラインシミュレーション方式 |