JPS62293452A - メモリic診断回路 - Google Patents

メモリic診断回路

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JPS62293452A
JPS62293452A JP61137399A JP13739986A JPS62293452A JP S62293452 A JPS62293452 A JP S62293452A JP 61137399 A JP61137399 A JP 61137399A JP 13739986 A JP13739986 A JP 13739986A JP S62293452 A JPS62293452 A JP S62293452A
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JP
Japan
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data
circuit
memory
pattern data
diagnostic
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JP61137399A
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Chikara Suzuki
鈴木 主税
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリIC診断回路に関し、特に大型中央処理
装置や磁気ディスクキャッシュメモリ等の大容量記憶回
路のメモリICの良否を診断するメモリIC診断回路に
関する。
「従来の技術〕 従来、この種のメモリIC診断回路は、マイクロプロセ
ッサを使用し、マイクロプログラムにより所定の診断パ
ターンデータを発生し、この診断パターンデータをメモ
リICへ書込み、その後で読出して書込み前の診断パタ
ーンデータと比較する構成になっていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来のメモリIC診断回路は診断パターンデー
タの発生、読出し及びデータの比較等をマイクロプロセ
ッサを使用しマイクロプログラムによって行っているの
で、そのマイクロプログラムの処理速度が遅い場合には
その診断時間が大幅にかかるという欠点があり、又、マ
イクロプログラムの処理速度を向上させて診断時間を短
縮させるためには使用するマイクロプロセッサが高価に
なりすぎるという欠点があった。
本発明の目的は、高価なマイクロプロセッサを使用しな
いで診断時間を短縮することができるメモリIC診断回
路を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のメモリIC診断回路は、少なくとも1個のメモ
リICを備え、書込・読出信号の書込み指示により診断
パターンデータをこのメモリICに書込み、読出し指示
によりこのメモリICに書込まれた診断パターンデータ
を読出データとして出力する記憶回路と、前記診断パタ
ーンデータを記憶しておき、制御信号のデータ発生指示
によりこの診断パターンデータを出力し、データ比較指
示によりこの診断パターンデータと前記記憶回路からの
読出データとを比較し一致不一致信号を出力するROM
回路とを有している。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
この実施例は、入力切換信号ISにより入力データを切
換える入力データ切換回路1と、少なくとも1個のメモ
リICを備え、書込・読出信号W/Rにより入力データ
切換回路1からのデータをこのメモリICに書込み、ま
た、このメモリICに書込まれたデータを読出データR
Dとして出力する記憶回路2と、所定の診断パターンデ
ータを記憶しておき、制御信号RCの指示により、診断
パターンデータTDを出力する一方、この診断パターン
データTDと記憶回路2からの読出データRDとを比較
し一致不一致信号TRを出力するROM回路3と、入力
切換信号IS、制御信号R(E、書込・読出信号W/R
等を出力する制御回路4とを有する構成となっている。
第1図において、モード選択信号MSが診断モードでな
いときは、制御回路4は記憶回路2の入力データを通常
の入力データD1になるように入力データ切換回路1に
指示し、記憶回路2は通常の入力データDIの書込み及
び読出しを行う。
診断モードがセットされると、制御回路4は入力データ
切換回路1に対して記憶回路2への入力データを診断パ
ターンデータTDになるように指示する。また、ROM
回路3に対して制御信号RCを送り、制御信号RCの情
報がデータ発生指示のときには、診断パターンデータT
Dを発生し、入力データ切換回路1を通して記憶回路2
のメモリICに診断パターンデータTDを書込む。診断
パターンデータTD書込み後、書込・読出信号W/Rが
読出し指示に変り、記憶回路2から書込まれた診断パタ
ーンデータの読出しが行われ、これと同時に制御回路4
からの制御信号RCがデータ比較指示に変り、書込む前
の診断パターンデータTDと読出しデータRDとの比較
がROM回路3で行われ、一致不一致信号TRが出力さ
れる。
なお、上記診断は、記憶回路2のメモリIC全部を1回
で行うこともできるし、また、メモリIC1個づつを個
々に行うこともできる。また、ROM回路3に記憶され
る診断パターンデータTDは、パターンを変えた複数の
診断パターンデータとすることもでき、この場合には制
御信号RCにこれらの診断パターンデータのうちの何れ
を使用するかを選択する情報を盛込む必要がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、簡単なROM回路に診断
パターンデータを記憶させておき、この診断パターンデ
ータとこの診断パターンデータを一旦メモリICに書込
んでから読出したデータとを比較する構成にすることに
より、高価なマイクロプロセッサを使用しないでメモリ
ICの診断時間を短縮できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。 ■・・・入力データ切換回路、2・・・記憶回路、3・
・・ROM回路、4・・・制御回路。 l′″″ ′、 ・−一゛ ・)I″

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 少なくとも1個のメモリICを備え、書込・読出信号の
    書込み指示により診断パターンデータをこのメモリIC
    に書込み、読出し指示によりこのメモリICに書込まれ
    た診断パターンデータを読出データとして出力する記憶
    回路と、前記診断パターンデータを記憶しておき、制御
    信号のデータ発生指示によりこの診断パターンデータを
    出力し、データ比較指示によりこの診断パターンデータ
    と前記記憶回路からの読出データとを比較し一致不一致
    信号を出力するROM回路とを有することを特徴とする
    メモリIC診断回路。
JP61137399A 1986-06-12 1986-06-12 メモリic診断回路 Granted JPS62293452A (ja)

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JP61137399A JPS62293452A (ja) 1986-06-12 1986-06-12 メモリic診断回路

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JPS62293452A true JPS62293452A (ja) 1987-12-21
JPH0523449B2 JPH0523449B2 (ja) 1993-04-02

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0258142A (ja) * 1988-08-24 1990-02-27 Fujitsu Ltd 診断方式
JP2544494B2 (ja) * 1988-08-31 1996-10-16 富士通株式会社 プログラマブル・ロジックアレイの論理規模拡張構成

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0258142A (ja) * 1988-08-24 1990-02-27 Fujitsu Ltd 診断方式
JP2544494B2 (ja) * 1988-08-31 1996-10-16 富士通株式会社 プログラマブル・ロジックアレイの論理規模拡張構成

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JPH0523449B2 (ja) 1993-04-02

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