JPH02177092A - Eeprom集積回路装置 - Google Patents
Eeprom集積回路装置Info
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- JPH02177092A JPH02177092A JP63331718A JP33171888A JPH02177092A JP H02177092 A JPH02177092 A JP H02177092A JP 63331718 A JP63331718 A JP 63331718A JP 33171888 A JP33171888 A JP 33171888A JP H02177092 A JPH02177092 A JP H02177092A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 3
- UCTWMZQNUQWSLP-VIFPVBQESA-N (R)-adrenaline Chemical compound CNC[C@H](O)C1=CC=C(O)C(O)=C1 UCTWMZQNUQWSLP-VIFPVBQESA-N 0.000 description 2
- 101150080656 DIO2 gene Proteins 0.000 description 2
- 101001005166 Homo sapiens Lens fiber membrane intrinsic protein Proteins 0.000 description 2
- 102100026038 Lens fiber membrane intrinsic protein Human genes 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 101001020548 Homo sapiens LIM/homeobox protein Lhx1 Proteins 0.000 description 1
- 101000976913 Homo sapiens Lens fiber major intrinsic protein Proteins 0.000 description 1
- 102100023487 Lens fiber major intrinsic protein Human genes 0.000 description 1
- 101100041823 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) AI3 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000003079 width control Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は電気的に消去可能なプログラマブルROX(以
下、EEPROMと称す)に関する。
下、EEPROMと称す)に関する。
[従来の技術]
従来、コントロールゲート及びフローティングゲートの
2種類のゲートを持ち、コントロールゲートをトレイン
に対し正の高電圧印加することでフローティングケート
にデータを書き込むことができ、ざらにコントロールゲ
ートをトレインに対して負の高電圧印加することでフロ
ーティングゲートの酸化膜の薄くした部分から電子を流
れ出すことでデータを消去できるリートオンリーメモリ
が実用化され、このようなメモリ装置をEEFROMと
称している。第3図に従来のEEFROM集積回路装置
の回路図を示す。このEEFROM集積回路装置は通常
、メモリセル1.アドレスデコーダ2.センスアンプ3
.書き込み/消去制御回路4.及び書き込み電圧検出回
路5から構成されていて、複数のアドレス端子(ADR
I N)。
2種類のゲートを持ち、コントロールゲートをトレイン
に対し正の高電圧印加することでフローティングケート
にデータを書き込むことができ、ざらにコントロールゲ
ートをトレインに対して負の高電圧印加することでフロ
ーティングゲートの酸化膜の薄くした部分から電子を流
れ出すことでデータを消去できるリートオンリーメモリ
が実用化され、このようなメモリ装置をEEFROMと
称している。第3図に従来のEEFROM集積回路装置
の回路図を示す。このEEFROM集積回路装置は通常
、メモリセル1.アドレスデコーダ2.センスアンプ3
.書き込み/消去制御回路4.及び書き込み電圧検出回
路5から構成されていて、複数のアドレス端子(ADR
I N)。
複数の読み出しデータ出力端子(RDDT)、複数の書
き込みデータ入力端子(WRDT)、 通常稼働時用の
電源端子(VCC)、書き込み時用の高電源端子(VP
P)、 書き込みプログラム端子(WR)、消去プログ
ラム端子(E P、 )及びスタンバイ端子(STB)
を有している。このEEPROM集積回路装置の書き込
み状態、消去状態。
き込みデータ入力端子(WRDT)、 通常稼働時用の
電源端子(VCC)、書き込み時用の高電源端子(VP
P)、 書き込みプログラム端子(WR)、消去プログ
ラム端子(E P、 )及びスタンバイ端子(STB)
を有している。このEEPROM集積回路装置の書き込
み状態、消去状態。
読み出し状態、スタンバイ状態の4状態は、上記のVP
P、WR,ER,STBの各端子の組合せにより決めら
れる。
P、WR,ER,STBの各端子の組合せにより決めら
れる。
[発明が解決しようとする問題点コ
しかしながら、装置の小型化と共に、集積回路化された
チップを搭載するパッケージの小型及び端子数の削減が
重要となる。特に状態数を多数に必要とするE E P
ROMでは状態設定用の端子をできるだけ少なくした
いという問題点を有している。
チップを搭載するパッケージの小型及び端子数の削減が
重要となる。特に状態数を多数に必要とするE E P
ROMでは状態設定用の端子をできるだけ少なくした
いという問題点を有している。
[発明の従来技術に対する相違点コ
上述した従来のEEFROM集積回路装置に対し、高電
源端子と書き込み/消去入力端子との入力の絹合せのみ
で前記4状態が得られるという相違点を有する。
源端子と書き込み/消去入力端子との入力の絹合せのみ
で前記4状態が得られるという相違点を有する。
[問題点を解決するための手段]
本発明のEEPROM集積回路装置は、高電源端子から
の入力電圧が一定値を越えたときに、書き込み用あるい
は消去用の電圧が印加されたと判定する書き込み/消去
電圧検出回路と、この書き込み/消去電圧検出回路の出
力と状態制御入力端子からの人力との組合せから、書き
込み状態と消去状態と読み出し状態の4状態を決定する
状態制御回路とを有して構成される。なおこの状態制御
回路からの4状態を示す出力はアドレスデコーダ。
の入力電圧が一定値を越えたときに、書き込み用あるい
は消去用の電圧が印加されたと判定する書き込み/消去
電圧検出回路と、この書き込み/消去電圧検出回路の出
力と状態制御入力端子からの人力との組合せから、書き
込み状態と消去状態と読み出し状態の4状態を決定する
状態制御回路とを有して構成される。なおこの状態制御
回路からの4状態を示す出力はアドレスデコーダ。
書き込み/消去制御回路及びセンスアンプ等に与えられ
て必要な状態が作られる。
て必要な状態が作られる。
[実施例コ
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例のブロック図てEEPROM
素子回路(以下、MCEL)1と、アドレスデコーダ回
路(以下、ADDEC)2と、センスアンプ回路(以下
、5ENS)3と、書き込み/消去制御回路(以下W/
E CNT)4と、書き込み/消去電圧検出回路(以
下、VDET)5と、状態制御回路(以下、5TSC)
6とて構成されていて、VDET5に接続された高電源
端子VPPと、5TSC6に接続された状態制御入力端
子〜VECと、ADDEC2に入力される複数のアドレ
ス入力端子ADRINと、5ENS3からの出力となる
複数の読み出し出力端子RDDTと、書き込み用の複数
のデータ入力端子WRDTと、電源端子vCCと地気端
子GNDとを有している。
素子回路(以下、MCEL)1と、アドレスデコーダ回
路(以下、ADDEC)2と、センスアンプ回路(以下
、5ENS)3と、書き込み/消去制御回路(以下W/
E CNT)4と、書き込み/消去電圧検出回路(以
下、VDET)5と、状態制御回路(以下、5TSC)
6とて構成されていて、VDET5に接続された高電源
端子VPPと、5TSC6に接続された状態制御入力端
子〜VECと、ADDEC2に入力される複数のアドレ
ス入力端子ADRINと、5ENS3からの出力となる
複数の読み出し出力端子RDDTと、書き込み用の複数
のデータ入力端子WRDTと、電源端子vCCと地気端
子GNDとを有している。
電源端子VCCおよび地気端子GNDは上記のそれぞれ
の機能回路に接続されて、例えば+5■の通常の動作用
の電源を供給している。読み出し時およびスタンバイ時
には、VDET5は高電源端子VPPから通常、電源端
子VCCに与えられている電圧と同じ+5■が与えられ
ていて、VDET5の出力には“0゛′となっているが
、書き込み時および消去時には高電圧例えば+22Vが
与えられるとVDET5の出力の検出信号線VHLに検
出信号((1uを送出し、5TSC8の入力に人力され
る。一方、5TSC8はデコーダ回路から構成されてい
て、上記の検出信号線VHLと状態制御入力端子WEC
の信号の組合せにより、例えばWECに0°′あるいは
jl 11′が与えられると、書き込み状態、消去状態
、スタンバイ状態。
の機能回路に接続されて、例えば+5■の通常の動作用
の電源を供給している。読み出し時およびスタンバイ時
には、VDET5は高電源端子VPPから通常、電源端
子VCCに与えられている電圧と同じ+5■が与えられ
ていて、VDET5の出力には“0゛′となっているが
、書き込み時および消去時には高電圧例えば+22Vが
与えられるとVDET5の出力の検出信号線VHLに検
出信号((1uを送出し、5TSC8の入力に人力され
る。一方、5TSC8はデコーダ回路から構成されてい
て、上記の検出信号線VHLと状態制御入力端子WEC
の信号の組合せにより、例えばWECに0°′あるいは
jl 11′が与えられると、書き込み状態、消去状態
、スタンバイ状態。
読み出し状態に対応する信号線W/E、R/SおよびS
TBに第1表に示す出力が得られる。
TBに第1表に示す出力が得られる。
第1表
第1表(続き)
書き込み時には高電源端子(v pp)を+22Vとし
、W/E信号を“1”とすることで、W/ECNT4で
VPI信号を+22V近くまで上げてADDECIに印
加し、指定されたアドレス線を+22V近くの電圧にす
ると共に、書き込みデータ入力端子WRDTの“1”あ
るいは“0”のデータに応じ、MCELIのビット線を
+22VあるいはOVとし、書き込みを行い、この時5
ENS3の入力はオフしておく。消去時にはVPPを高
電圧+22Vとし、W/E信号線を“0”とすることで
、メモリセルのフローティングゲート部と、ドレイン部
の電圧関係を書き込み時と逆にするような信号をW/E
CNTで作ることによって得られる。読み出し時に
は、VPPを■CCと同電圧程度の+5Vとし、STB
信号線を′1”となるように入力端子WECを制御する
。またW/E信号線は11011とし、書き込み/消去
状態とならないようにしておき、R/S信号線をII
1 !1とする。
、W/E信号を“1”とすることで、W/ECNT4で
VPI信号を+22V近くまで上げてADDECIに印
加し、指定されたアドレス線を+22V近くの電圧にす
ると共に、書き込みデータ入力端子WRDTの“1”あ
るいは“0”のデータに応じ、MCELIのビット線を
+22VあるいはOVとし、書き込みを行い、この時5
ENS3の入力はオフしておく。消去時にはVPPを高
電圧+22Vとし、W/E信号線を“0”とすることで
、メモリセルのフローティングゲート部と、ドレイン部
の電圧関係を書き込み時と逆にするような信号をW/E
CNTで作ることによって得られる。読み出し時に
は、VPPを■CCと同電圧程度の+5Vとし、STB
信号線を′1”となるように入力端子WECを制御する
。またW/E信号線は11011とし、書き込み/消去
状態とならないようにしておき、R/S信号線をII
1 !1とする。
ここてW/E CNT4からRD倍信号“0”とする
ことで、5ENS3の入力端子をすべて1”あるいは′
0″に固定し、入力ディスエーブル状態とすることで、
スタンバイ状態を作り出せる。
ことで、5ENS3の入力端子をすべて1”あるいは′
0″に固定し、入力ディスエーブル状態とすることで、
スタンバイ状態を作り出せる。
アドレス入力端子ADRiNも静止状態どしておけば、
第1図て示されるEEPROM集積回路装置全体の消費
電流はゲートリーク及び接合リーク電流程度の微小の電
流しか流れず、パワーセーブができる。読み出し時はW
ECをスタンバイ時と逆にし、STB信号線を“0″と
し、RD信号線を“1″とすることで実現する。以上の
ようにVPPの電圧の高低と、WECの制御により書き
込み。
第1図て示されるEEPROM集積回路装置全体の消費
電流はゲートリーク及び接合リーク電流程度の微小の電
流しか流れず、パワーセーブができる。読み出し時はW
ECをスタンバイ時と逆にし、STB信号線を“0″と
し、RD信号線を“1″とすることで実現する。以上の
ようにVPPの電圧の高低と、WECの制御により書き
込み。
消去、スタンバイ、読み出しの状態が作れる。
第2図は8ワード×2ビツトのEEFROM集積回路装
置の具体例を示す回路図である。メモリセル1はEPR
OM素子(ME 11〜ME82)と、EEPROME
PROM素子圧を制御するためのMOS)ランジスタM
CI〜MC4,MW11〜MW82及びカラムセレクタ
の役割を果たすMOS)ランジスタMYII〜MY22
からなっている。アドレスデコーダ2は、3ビツトの入
力端子Adrl〜Adr3の信号をデコードする。
置の具体例を示す回路図である。メモリセル1はEPR
OM素子(ME 11〜ME82)と、EEPROME
PROM素子圧を制御するためのMOS)ランジスタM
CI〜MC4,MW11〜MW82及びカラムセレクタ
の役割を果たすMOS)ランジスタMYII〜MY22
からなっている。アドレスデコーダ2は、3ビツトの入
力端子Adrl〜Adr3の信号をデコードする。
XデコーダXDECおよびYデコーダYDECと、書き
込み及び消去時に高電圧を印加するためのアドレスバッ
ファABFI〜ABF6からなっている。センスアンプ
3は読み出し時に誤書き込みにならないよう振幅を制限
するリミッタ回路LIM1、LIM2と土曽幅を行うア
ンプ゛5ENI、5EN2よりなる。書込/消去の制御
は状態制御回路6 (STSCI、5TSC2)とVP
発生回路■PGENと書き込みデータ制御回路WRDI
、WRD2よりなる。ここで状態制御入力端子WECと
、高電源端子VPPの入力状態により、第1図と同様4
つの状態が得られる。さらに第2図では状態制御信号を
入出力制御回路7に人力し、データの書き込み入力とデ
ータの読み出し出力の入出力兼用端子Dial、Dio
2の制御を行い端子数削減を図っている。すなわちWE
Cが1′”てVPPが+22Vならば書き込み状態てD
iolとDio2は入力モードとなり、WECが“0”
てVPP= V CC= 5 Vの時には読み出し状態
で出力モートとなる。
込み及び消去時に高電圧を印加するためのアドレスバッ
ファABFI〜ABF6からなっている。センスアンプ
3は読み出し時に誤書き込みにならないよう振幅を制限
するリミッタ回路LIM1、LIM2と土曽幅を行うア
ンプ゛5ENI、5EN2よりなる。書込/消去の制御
は状態制御回路6 (STSCI、5TSC2)とVP
発生回路■PGENと書き込みデータ制御回路WRDI
、WRD2よりなる。ここで状態制御入力端子WECと
、高電源端子VPPの入力状態により、第1図と同様4
つの状態が得られる。さらに第2図では状態制御信号を
入出力制御回路7に人力し、データの書き込み入力とデ
ータの読み出し出力の入出力兼用端子Dial、Dio
2の制御を行い端子数削減を図っている。すなわちWE
Cが1′”てVPPが+22Vならば書き込み状態てD
iolとDio2は入力モードとなり、WECが“0”
てVPP= V CC= 5 Vの時には読み出し状態
で出力モートとなる。
なお検出信号VHLと状態制御信号WECとの組合せは
、必ずしも第1表の通りとする必要はなく任意に4つの
状態に割り当てても一向にかまわない。
、必ずしも第1表の通りとする必要はなく任意に4つの
状態に割り当てても一向にかまわない。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明は、書き込み用の高電圧入力
と状態制御入力との2人力によって、EEPROMに必
要な書込み、消去、読み出し状態を得ることができ、特
に従来から設けられている書き込み用の信号入力端子や
消去用の信号入力端子を設ける必要がなく、ざらにパワ
ーセーブ機能となるスタンバイ状態を端子数を増やすこ
となく設定できるという効果がある。
と状態制御入力との2人力によって、EEPROMに必
要な書込み、消去、読み出し状態を得ることができ、特
に従来から設けられている書き込み用の信号入力端子や
消去用の信号入力端子を設ける必要がなく、ざらにパワ
ーセーブ機能となるスタンバイ状態を端子数を増やすこ
となく設定できるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
一実施例の具体例を示す回路図、第3図は従来のEEF
ROM集積回路装置のブロック図である。 1・・・・・・・・・メモリセル(MCEL)、2・・
・・・・アドレスデコーダ(AD D E C)、3・
・・・・・・センスアンプ(SENS)、4・・・・・
書き込み/消去制御回路(W/ECNT)、 5・・・・・・書き込み/消去電圧検出回路(VDET
)、 6・・・・・・状態制御回路(STSC)、7・・・・
・・入出力制御回路(IOBUF)、ADDRIN。 Adrl〜A d r 3・・・アドレス入力端子、v
CC・ ・ VPP・ ・ WECψ GND ・ WRφ ・ ER・ ・ TB − ・電源端子、 ・高電圧入力端子、 ・状態制御入力端子、 ・地気端子、 ・書き込み制御入力端子、 ・消去制御入力端子、 ・スタンバイ制御入力端子、 RDDT・・・・読み出しデータ出力端子、WRDT・
・・・書き込みデータ入力端子、Dial、Dio2・
・・・書き込み/読み出し入出力端子、 5TSC1,5TSC2・・・・状態制御回路、XDE
C・・・・・Xデコーダ回路、 YDEC・・・・・Yデコーダ回路、 ABFI〜ABF6・・・・アドレスバッファ、LIM
I、LIM2・・・・リミッタ回路、5ENI、5EN
2−・・・アンプ、 VPGEN・・・・・・vp発生回路、WRDI、WR
D2・・書き込みデータバッファ、VHL・・・・・・
書き込み/消去電圧検出信号、W/E・・・・・書き込
み/消去信号、R/S・・・・・読み出し/スタンバイ
信号、RD・・・・・・読み出し信号、 VPI・・・・VP発生出力。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 桑 井 清 −
一実施例の具体例を示す回路図、第3図は従来のEEF
ROM集積回路装置のブロック図である。 1・・・・・・・・・メモリセル(MCEL)、2・・
・・・・アドレスデコーダ(AD D E C)、3・
・・・・・・センスアンプ(SENS)、4・・・・・
書き込み/消去制御回路(W/ECNT)、 5・・・・・・書き込み/消去電圧検出回路(VDET
)、 6・・・・・・状態制御回路(STSC)、7・・・・
・・入出力制御回路(IOBUF)、ADDRIN。 Adrl〜A d r 3・・・アドレス入力端子、v
CC・ ・ VPP・ ・ WECψ GND ・ WRφ ・ ER・ ・ TB − ・電源端子、 ・高電圧入力端子、 ・状態制御入力端子、 ・地気端子、 ・書き込み制御入力端子、 ・消去制御入力端子、 ・スタンバイ制御入力端子、 RDDT・・・・読み出しデータ出力端子、WRDT・
・・・書き込みデータ入力端子、Dial、Dio2・
・・・書き込み/読み出し入出力端子、 5TSC1,5TSC2・・・・状態制御回路、XDE
C・・・・・Xデコーダ回路、 YDEC・・・・・Yデコーダ回路、 ABFI〜ABF6・・・・アドレスバッファ、LIM
I、LIM2・・・・リミッタ回路、5ENI、5EN
2−・・・アンプ、 VPGEN・・・・・・vp発生回路、WRDI、WR
D2・・書き込みデータバッファ、VHL・・・・・・
書き込み/消去電圧検出信号、W/E・・・・・書き込
み/消去信号、R/S・・・・・読み出し/スタンバイ
信号、RD・・・・・・読み出し信号、 VPI・・・・VP発生出力。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 桑 井 清 −
Claims (1)
- 一定の電圧以上の電圧印加により書き込み用及び消去用
の電圧と判定する書き込み及び消去電圧検出回路と、前
記書き込み及び消去電圧検出回路の出力と状態制御入力
とから書き込み状態と消去状態とスタンバイ状態と読み
出し状態との4状態を作成する状態制御回路とを有する
ことを特徴とするEEPROM集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63331718A JPH02177092A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Eeprom集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63331718A JPH02177092A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Eeprom集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02177092A true JPH02177092A (ja) | 1990-07-10 |
Family
ID=18246816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63331718A Pending JPH02177092A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Eeprom集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02177092A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04256088A (ja) * | 1991-02-07 | 1992-09-10 | Fuji Photo Film Co Ltd | Icメモリカードシステム |
JPH08227585A (ja) * | 1994-08-26 | 1996-09-03 | Sgs Thomson Microelectron Ltd | メモリ装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832297A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Sony Corp | 不揮発性メモリの制御回路 |
JPS62173695A (ja) * | 1986-01-27 | 1987-07-30 | Nec Corp | Eprom集積回路装置 |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP63331718A patent/JPH02177092A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832297A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Sony Corp | 不揮発性メモリの制御回路 |
JPS62173695A (ja) * | 1986-01-27 | 1987-07-30 | Nec Corp | Eprom集積回路装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04256088A (ja) * | 1991-02-07 | 1992-09-10 | Fuji Photo Film Co Ltd | Icメモリカードシステム |
JPH08227585A (ja) * | 1994-08-26 | 1996-09-03 | Sgs Thomson Microelectron Ltd | メモリ装置 |
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