JPH02165059A - Icソケット - Google Patents

Icソケット

Info

Publication number
JPH02165059A
JPH02165059A JP32157788A JP32157788A JPH02165059A JP H02165059 A JPH02165059 A JP H02165059A JP 32157788 A JP32157788 A JP 32157788A JP 32157788 A JP32157788 A JP 32157788A JP H02165059 A JPH02165059 A JP H02165059A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
tip
socket
pins
pedestal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32157788A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Nakagawa
博 中川
Kunihiro Shigetomo
重友 邦宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP32157788A priority Critical patent/JPH02165059A/ja
Publication of JPH02165059A publication Critical patent/JPH02165059A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はICソケット、特にそのコンタクトピンの構
造に関するものである。
〔従来の技術〕
第3図、第4図は従来のICソケットの構造を示す断面
正面図8よび平面図である。このICソケットは台座I
ll上にコンタクトピン(2)を植え付け、固定板(3
)によってコンタクトピン(2)を台座Il+に固定し
たものである。
IC+4)のリード、部分〔5)と導通接触を得るため
にはコンタクトピン(2)の先端接触面(60こリード
部分(5)を位置合せして押し付ける。リード部分(5
)が先端接触面(6)に接触し、さらにリード部分(5
)を先端接触面(6)に押し付けると、先端接触面(6
)は図示Aの方向に変位すると同時に、図示Bの方向に
も変位して、先端接触面(6)の接触したリード部分(
51の表面酸化部分を剥がす。また、コンタクトピン(
2)は弾性を有するので、先端接触面(6)には図示A
の変位方向とは反対方向の反発力が作用し、先端接触面
(6)はリード部分(5)に一定の接触圧で押し付けら
れ安定した接触抵抗が得られる。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のICソケットは以上のように開成されていたので
、コンタクトピンの接触面がリード接触面の表面酸化部
分を剥がし、1通を得るが、酸化部分が完全に除去でき
ず、十分少さい接触抵抗が得られないため、コンタクト
不良となる場合が生じる。
特に、近年はICパンケージの多ビン化が進んでいるた
め、IC個数あたりのコンタクト不良率は増加し、再試
験等、テストの効率が悪くなるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、コンタクト不良の少ない安定した接触抵抗の
得られるICソケットを得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るICソケットはコンタクトピンの先端部
分を2つ割りとし、かつ両先端部分は各々弾性を持つよ
うにしたものである。
〔作用〕
この発明に2けるコンタクトピンの2つ割りにした両先
端部分は各々が独立して弾性を持ち、各々が従来のコン
タクトピンと同様な作用をする様につくられている。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図に従って説明する。第1
図、第2図はこの発明の一実施例によるICソケットの
構造を示す断面正面図2よび平面図である。即ち、台座
Ill上に先端部分が2つ割りになったコンタクトピン
(2a、 2b)を植え付け、固定板(3)にてコンタ
クトピン(2a、 2b)を台座Illに固定したもの
である。
そして、IC14)のリード部分(51と導通接触を得
るにはコンタクトピン(2a、2b)の各々の先端接触
面(6a、 6b)の両方にリード部分(5)を位置合
せして押し付ける。リード部分(51が、先端接触面(
6a。
6b)に同時に接触し、さらに、リード部分(51を先
端接触面(6a、 6b)に押し付けると、先端接触面
(6a、6b)は各々、図示Aの方向に変位すると同時
にBの方向にも変位して、先端接触面(&、6b)の接
触したリード部分〔5)の表面酸化部分を剥がす。
また、先端部分が2つ割りになったコンタクトピン(2
a、 2b)は各々弾性を有するので、先端接触面(6
a、 6b)には各々図示Aの変位方向とは反対方向の
反発力が作用し、先端接触面(6a、 6b)は各々。
リード部分(51に一定の接触圧で押し付けられ、2カ
所の先端接触面(6a、6b)から安定した接触抵抗が
得られる。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、先端部分を2つ割りに
したコンタクトピンの2カ所の先端接触面で導通接触を
するようにしたので、コンタクト不良を減少させること
ができ、工程内でのコンタクト不良による検査のやりな
8しを減少でき、また、従来より安定した接触抵抗を得
やすいので、より正確な検査を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はこの発明の一実施例によるICソケッ
トの構造を示す断面正面図2よび平面図。 第3図、第4図は従来のICソケットの構造を示す断面
正面図および平面図である。 図において、Illは台座、(2a)、 (2b)はコ
ンタクトピンである。 なお、図中、同一符号は同一 または相当部分を示す。 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 非導電性の台座と、この台座上に被測定ICのリード接
    触位置に合せて設けられた複数の導電性を有し、かつ弾
    性を有するコンタクトピンと、このコンタクトピンの先
    端部分を2つ割りにしたことを特徴とするICソケット
JP32157788A 1988-12-19 1988-12-19 Icソケット Pending JPH02165059A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32157788A JPH02165059A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 Icソケット

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32157788A JPH02165059A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 Icソケット

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02165059A true JPH02165059A (ja) 1990-06-26

Family

ID=18134116

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32157788A Pending JPH02165059A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 Icソケット

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02165059A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100326943B1 (ko) * 1999-04-07 2002-03-13 윤종용 반도체 장치의 전기적 연결 장치
KR100583448B1 (ko) * 2001-03-29 2006-05-24 군세이 기모토 접촉자 조립체

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100326943B1 (ko) * 1999-04-07 2002-03-13 윤종용 반도체 장치의 전기적 연결 장치
KR100583448B1 (ko) * 2001-03-29 2006-05-24 군세이 기모토 접촉자 조립체

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4965865A (en) Probe card for integrated circuit chip
WO1997013392A2 (en) Button contact for surface mounting an ic device to a circuit board
EP1424748A3 (en) Microelectronic contacts and assemblies
EP1610375A3 (en) Contact carriers for populating substrates with spring contacts
JPH01238048A (ja) 半導体装置の試験方法
GB1487209A (en) Panel mounting fasteners
JP4355074B2 (ja) プローブカード
JPH02165059A (ja) Icソケット
KR950003835A (ko) 집적회로칩에 직접 전기접속하기 위한 소켓
JPH10177038A (ja) 電子部品の試験用の電気的接続装置
JP2600745Y2 (ja) 集積回路の検査装置用治具
JPS58199545A (ja) テストソケツトピン
US4950981A (en) Apparatus for testing a circuit board
JP3354075B2 (ja) 半導体テスタ装置のコンタクトピン
JPS59208469A (ja) プロ−ブカ−ド
JPH05264589A (ja) 半導体集積回路の検査装置
JPH0269682A (ja) 測定用接続基板
KR0117115Y1 (ko) 웨이퍼 테스트용 프로브 카드
EP0401848A3 (en) Tape carrier and test method therefor
KR100240112B1 (ko) 접속 패드
JPS59117143A (ja) 半導体装置用パツケ−ジ
JPS63253271A (ja) コンタクトブロツク
JPS60206148A (ja) プロ−ブカ−ド
JPS6312147A (ja) パフオ−マンスボ−ド
JPH03249573A (ja) 測定用ソケット