JPS59117143A - 半導体装置用パツケ−ジ - Google Patents

半導体装置用パツケ−ジ

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Publication number
JPS59117143A
JPS59117143A JP22616782A JP22616782A JPS59117143A JP S59117143 A JPS59117143 A JP S59117143A JP 22616782 A JP22616782 A JP 22616782A JP 22616782 A JP22616782 A JP 22616782A JP S59117143 A JPS59117143 A JP S59117143A
Authority
JP
Japan
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contactor
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pin
region
lead pin
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Pending
Application number
JP22616782A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Mizuno
明 水野
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS59117143A publication Critical patent/JPS59117143A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49811Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置用パッケージ、特に、接触子との導
電接触を確実に行うことのできる半導体装置用パッケー
ジに関する。
従来、たとえば多ピン用アキシャル型パッケージよりな
る半導体装置用パッケージにおいてテストを行う場合、
第1図に示すように、印刷回路基板1に接続したり−ド
ビン2の先端にテスト治具の接触子3を押し付りること
により電気的導通路を形成し、電気的信号の入力および
出力信号の取り出し、あるいは電源電圧の印加等を行っ
ていた。
しかし、この従来方式では、リードピンの本数が増加す
るにつれて、パンケージを押し付ける力が一定の場合、
1本1本のリードピンに加えられる圧力は相対的に減少
して来る。特に、接触子3の構造が第2図(a)、(b
)に示すものである場合には、リードピン2の表面に形
成された酸化膜を接触子3の先端で突き破ることができ
ず、接触不良が生じることが多(なる。
そこで、このような接触不良を避けるため、第2図(C
)に示すように、1つの尖った先端面を持つ接触子3を
用いてリードピン2の表面の酸化膜を破壊して導電接触
を保つことが考えられるが、この場合には、リードピン
の位置精度の問題から、リードピンの先端の中心と接触
子の先端の中心とが互いにずれることが多く、所期の効
果を得ることができない。特に、多ピンのアキシャル型
パッケージでは、リードピンの径を小さくして単位面積
当たりのリードピン数を多くする傾向が強くなり、また
リードピンの先端中心と接触子の先端中心とが互いにず
れた場合には、接触子でリードピン表面の酸化膜を破壊
して導電接触を保つことができなくなるという問題点が
ある。
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決し、リー
ドピンと接触子との間での導電接触を富に確実に得るこ
とのできる半導体装置用パッケージを提供することにあ
る。
以下、本発明を図面に示す実施例にしたがって詳細に説
明する。
第3図は本発明による半導体装置用パッケージの一実施
例を示す部分正面図、第4図(a)、(b)はそれぞれ
の要部の拡大部分正面図と底面図である。
この実施例において、リートピン2の基端側は印刷回路
基板1の底面側から■通ピン型、埋込ピン型、あるいは
突当てピン型の構造により該印刷回路基板1に接続され
、該印刷回路基板1の表面または内部の導電層に電気的
に接続されている。
前記リートピン2の基端部(付は根部)の周囲における
印刷回路基板1の下面には、導電性ペーストの印刷層4
が形成されている。
ごの印刷層4は、第4図(b)に最も良く示されている
ように、リードピン2の基端部の周囲の円形領域のみな
らず、その円形領域から側方に導出された略矩形の接触
子接触領域4aを有し、この接触子接触領域4aに接触
子3の先端を接触させて電気的導通を得るようにした形
状となっている。この接触子接触領域4aは、リードピ
ン2の先端面とは違って、接触子3の位置精度が少々ず
れても接触子3との導電接触を十分に確保できる形状と
面積を有している。
したがって、本実施例では、接触子3とリートピン2と
の電気的導通は、接触子3の先端と印刷層4の接触子接
触領域4aとの確実な接触により、常に確実に得ること
ができる。
印刷層4およびその接触子接触領域4aはり−ドピン2
の台座を印刷する際に同時に形成できるので、工程増加
はなく、コストの上昇を最少限に抑制できる。
第5図〜第7図は本発明による半導体装置用パッケージ
の印刷層の他の各種実施例を示す拡大部分底面図である
第5図の実施例では、印刷層4の接触子接触領域4bは
リードピン2の基端周囲から導出された略円形の形状を
有し、この領域4bで接触子3の先端との4電接触を當
に確保するようになっている。
第6図の実施例では、リードピン2の基端周囲からその
一辺側に導出された略矩形の形状を有する接触子接触領
域4Cを設げた印刷層4か示されている。
第7図の実施例におりる印刷層4は、リードピン2の基
端側からその一頂点部に導出された略正方形の接触子接
触領域4dを備えている。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものてばなく、
たとえば印刷層4の接触子接触領域は接触子3との接触
を常に確保できる形状であれはとのような形状のものを
用いることも任意に可能である。
以上説明したように、本発明によれば、接触子とリード
ピンとの電気的接続を印刷層の接触子接触領域と接触子
との導電接触により當に確保することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のパッケージの部分正面図、第2図(a)
〜(C)は従来のリードピンと接触子との接触方式を示
す部分図、 第3図は本発明による半導体装置用パッケージの一実施
例の部分正面図、 第4図(a)、(b)はその要部の拡大正面図と印刷層
の拡大底面図、 第5図〜第7図は本発明の他の各種実施例を示す印刷層
の拡大底面図である。 ■・・・印刷回路基板、2・・ リードピン、3・・・
接触子、4・・・印刷層、4a、4b。 4c、4d・・・接触子接触領域。 第  1  図 (’−)   (b2(C) 第  3  図 第  4  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、基板上のリードピン接続部分に導電性の印刷層を形
    成し、この印刷層は、接触子が接触できるようリードピ
    ン接続部分から導出された接触子接触領域を有している
    ことを特徴とする半導体装置用パッケージ。
JP22616782A 1982-12-24 1982-12-24 半導体装置用パツケ−ジ Pending JPS59117143A (ja)

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JP22616782A JPS59117143A (ja) 1982-12-24 1982-12-24 半導体装置用パツケ−ジ

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22616782A JPS59117143A (ja) 1982-12-24 1982-12-24 半導体装置用パツケ−ジ

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JPS59117143A true JPS59117143A (ja) 1984-07-06

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JP22616782A Pending JPS59117143A (ja) 1982-12-24 1982-12-24 半導体装置用パツケ−ジ

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