JP2000180470A - 検査用プロ―ブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電極端子を損傷することがなく、十分な接触
力が得られ、安定した電気的接続ができる。 【解決手段】 所定の弾性率を有し、電極端子３の表面
に接触して弾性変形する導電性を有するリング状の接触
部材２２と、この接触部材２２に連結されて接触部材２
２の弾性率よりも高い弾性率のばね部材２３とを備え
た。従って、接触部材２２の下端を電極端子３の表面に
接触させて押し付けると、このリング状の接触部材２２
が弾性変形しながらその弾性率よりも高い弾性率のばね
部材２３が弾性変形し、これらの弾性変形に伴って接触
部材２２の下端が電極端子３の表面に広い接触面積で押
し付けられるので、接触部材２２の下端が電極端子３の
表面を損傷することなく電極端子３に押し付けられ、こ
れにより十分な接触力が得られ、電極端子３に対し安定
した電気的接続ができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、液晶表示装置や
回路基板などに設けられた配線の検査をする検査用プロ
ーブに関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、液晶表示装置においては、図７
に示すように、液晶を封入した一対のガラス基板１、２
のうち、一方（同図では下側）のガラス基板１が他方
（同図では上側）のガラス基板２の端部から側方に突出
し、この突出した部分の上面にＩＴＯなどの透明な導電
材料からなる電極端子３が複数配列されており、これら
電極端子３のいずれかの表面に検査用ブローブ４の先端
を接触させ、この状態で電極端子３に電気信号を供給し
て、電極端子３に接続された配線の検査を行っている。
このような検査用プローブ４では、電極端子３がＩＴＯ
などの透明な導電材料で形成されているので、電極端子
３が軟らかく、このため検査用プローブ４の先端が鋭く
尖っていると、この先端を電極端子３の表面に押し当て
た際に、電極端子３の表面に穴があいてしまうという問
題がある。そこで、従来の検査用プローブ５として、図
８に示すように、筒状のプローブ本体６内にコイルばね
７を設け、このコイルばね７の下端部に先端が丸く形成
された接触子８を取り付け、この接触子８をプローブ本
体６の下部に出没可能に装着し、この接触子８の先端を
ガラス基板１の電極端子３の表面に接触させるようにし
たものが開発されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな検査用プローブ５では、コイルばね７のばね力が強
いと、接触子８の先端を丸くしても、電極端子３に穴が
あいてしまい、またコイルばね７のばね力を弱く設定す
ると、接触子８による十分な接触力が得られず、電気的
な接続が不安定となり、正確な検査ができなくなるとい
う問題がある。特に、ガラス基板１の表面に絶縁性の樹
脂層を形成し、この樹脂層の表面に電極端子３を形成し
た構成では、電極端子３が更に軟らかくなるため、上記
のような問題が顕著に現れる。

【０００４】この発明の課題は、電極端子を損傷するこ
とがなく、十分な接触力が得られ、電極端子に対し安定
した電気的接続ができるようにすることである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明は、基板上に設
けられた電極端子の表面に接触して導通し、この状態で
前記電極端子に電気信号を供給することにより、前記電
極端子に接続された配線の検査を行う検査用プローブで
あって、所定の弾性率および導電性を有し、前記電極端
子の表面に接触する先端が円弧状に形成された接触部材
と、この接触部材に連結され、かつこの接触部材の弾性
率よりも高い弾性率の弾性部材とを備えたことを特徴と
する。この発明によれば、接触部材の先端を電極端子の
表面に接触させて押し付けると、まず、弾性部材の弾性
率よりも低い所定の弾性率の接触部材が弾性変形するの
で、この接触部材の円弧状に形成された先端が電極端子
の表面に軽く押し付けられ、この後、接触部材が弾性変
形しながらその弾性率よりも高い弾性率の弾性部材が弾
性変形し、これらの弾性変形に伴って接触部材の先端が
電極端子の表面に押し付けられるので、接触部材の先端
が電極端子の表面を損傷することなく電極端子の表面に
押し付けられ、これにより十分な接触力が得られ、電極
端子に対し安定した電気的接続ができる。

【０００６】

【発明の実施の形態】［第１実施形態］以下、図１を参
照して、この発明の検査用プローブの第１実施形態につ
いて説明する。なお、図７および図８に示された従来例
と同一部分には同一符号を付し、その説明は省略する。
この検査用プローブ１０は、図１に示すように、筒状の
プローブ本体１１内に接触部材１２とばね部材（弾性部
材）１３とを設けた構成になっている。接触部材１２
は、ばね部材１３よりも低い所定の弾性率のばね部１４
と、このばね部１４の下端部に設けられた導電性を有す
る接触子１５とからなっている。この場合、ばね部１４
は、コイルばねであり、その下端部に接触子１５が取り
付けられ、プローブ本体１１内に上下方向に移動可能に
配置されている。接触子１５は、その先端が丸く形成さ
れ、プローブ本体１１の下部に出没可能に装着されてい
る。この接触子１５は、導電性を有するベリリウム銅な
どの合金からなり、その表面に金めっきが施されてい
る。ばね部材１３は、コイルばねであり、その弾性率が
接触部材１２のばね部１４の弾性率よりも高く設定さ
れ、プローブ本体１１内における接触部材１２のばね部
１４の上側に配置され、その上端部がプローブ本体１１
内に固定され、下端部が接触部材１２のばね部１４の上
端部に連結されている。これにより、接触部材１２は、
ばね部材１３の伸縮に応じて上下方向に移動するように
なっている。

【０００７】このような検査用プローブ１０により液晶
表示装置の電極端子３に接続された配線の検査をする際
には、検査用プローブ１０の接触部材１２の先端を電極
端子３の表面に接触させて押し付ける。このときには、
接触部材１２の接触子１５の先端が丸く形成され、この
先端が電極端子３の表面に接触し、かつ接触部材１２の
ばね部１４がばね部材１３の弾性率よりも低い所定の弾
性率に設定されているので、接触部材１２の先端が電極
端子３の表面に押し付けられると、まず、接触部材１２
のばね部１４が弾性変形するので、接触子１５の先端を
電極端子３の表面に軽く押し付けることができる。この
後、接触部材１２のばね部１４が更に弾性変形しながら
その弾性率よりも高い弾性率のばね部材１３が弾性変形
し、これらの弾性変形に伴って接触部材１２の接触子１
５の先端が電極端子３の表面に押し付けられるので、接
触子１５の先端が電極端子３の表面を損傷することなく
電極端子３の表面に押し付けられ、これにより接触子１
５による十分な接触力が得られ、電極端子３に対し安定
した電気的接続ができ、電極端子３に接続された配線の
検査を正確に行うことができる。

【０００８】［第２実施形態］次に、図２〜図４を参照
して、この発明の検査用プローブの第２実施形態につい
て説明する。この場合にも、図７および図８に示された
従来例と同一部分には同一符号を付し、その説明は省略
する。この検査用プローブ２０は、図３および図４に示
すように、筒状のプローブ本体２１の下部にその下側に
突出した状態でリング状の接触部材２２を上下方向に移
動可能に配置し、この接触部材２２に取り付けられたば
ね部材（弾性部材）２３をプローブ本体２１内に配置し
た構成になっている。プローブ本体２１の下部における
外周面には、接触部材２２をガイドするガイド溝２１ａ
が形成されている。リング状の接触部材２２は、導電性
を有するベリリウム銅などの合金からなり、その表面に
金めっきが施され、ばね部材２３の弾性率よりも低い所
定の弾性率で弾性変形するリング状に形成され、その上
端部側の一部がプローブ本体２１の下部に設けられたガ
イド溝２１ａ内に上下方向に移動可能に配置されてい
る。ばね部材２３は、コイルばねであり、その弾性率が
接触部材２２の弾性率よりも高く設定され、プローブ本
体２１内に上端部が固定された状態で配置され、その下
端部が接触部材２２の上端部に連結されている。これに
より、接触部材２２は、ばね部材２３の伸縮に応じてプ
ローブ本体２１のガイド溝２１ａに沿って上下方向に移
動するようになっている。

【０００９】このような検査用プローブ２０により液晶
表示装置の電極端子３に接続された配線の検査をする際
には、検査用プローブ２０の接触部材２２の下端を電極
端子３の表面に接触させて押し付ける。このときには、
接触部材２２がばね部材２３の弾性率よりも低い所定の
弾性率で弾性変形するリング状に形成されているので、
接触部材２２の下端が電極端子３の表面に押し付けられ
ると、まず、リング状の接触部材２２が弾性変形するの
で、接触部材２２の下端が電極端子３の表面に軽く押し
付けられるとともに、電極端子３の表面に対する接触部
材２２の接触面積が広くなる。この後、接触部材２２が
更に弾性変形しながらその弾性率よりも高い弾性率のば
ね部材２３が弾性変形し、これらの弾性変形に伴って接
触部材２２の下端が電極端子３の表面に押し付けられる
ので、電極端子３の表面に対する接触部材２２の接触面
積が更に増大し、電極端子３の表面を損傷することなく
電極端子３の表面に押し付けられ、これにより接触部材
２２による十分な接触力が得られ、電極端子３に対し安
定した電気的接続ができ、電極端子３に接続された配線
の検査を正確に行うことができる。

【００１０】［第３実施形態］次に、図５および図６を
参照して、この発明の検査用プローブの第３実施形態に
ついて説明する。この場合にも、図７および図８に示さ
れた従来例と同一部分には同一符号を付し、その説明は
省略する。この検査用プローブ３０は、図５および図６
に示すように、筒状のプローブ本体３１の下部に接触部
材３２を上下方向に移動可能に配置し、この接触部材３
２の上端部に取り付けられたばね部材（弾性部材）３３
をプローブ本体３１内に配置した構成になっている。接
触部材３２は、ばね部材３３の弾性率よりも低い所定の
弾性率の導電性ゴムにより弾性変形可能に形成され、プ
ローブ本体３１の下部に上下方向に移動可能に取り付け
られている。ばね部材３３は、コイルばねであり、その
弾性率が接触部材３２の弾性率よりも高く設定され、プ
ローブ本体３１内に上端部が固定された状態で配置さ
れ、その下端部が接触部材３２の上端部に連結されてい
る。これにより、接触部材３２は、ばね部材３３の伸縮
に応じて上下方向に移動するようになっている。

【００１１】このような検査用プローブ３０により液晶
表示装置の電極端子３に接続された配線の検査をする際
には、検査用プローブ３０の接触部材３２の先端を電極
端子３の表面に接触させて押し付ける。このときには、
接触部材３２がばね部材３３の弾性率よりも低い所定の
弾性率の導電性ゴムにより弾性変形可能に形成されてい
るので、接触部材３２の先端が電極端子３の表面に押し
付けられると、まず、導電性ゴムの接触部材３２が弾性
変形するので、接触部材３２の先端が電極端子３の表面
に軽く押し付けられるとともに、電極端子３の表面に対
する接触部材３２の接触面積が広くなる。この後、接触
部材３２が更に弾性変形しながらその弾性率よりも高い
弾性率のばね部材３３が弾性変形し、これらの弾性変形
に伴って接触部材３２の先端が電極端子３の表面に押し
付けられるので、電極端子３の表面に対する接触部材３
２の接触面積が更に増大し、電極端子３の表面を損傷す
ることなく電極端子３の表面に押し付けられ、これによ
り接触部材３２による十分な接触力が得られ、電極端子
３に対し安定した電気的接続ができ、電極端子３に接続
された配線の検査を正確に行うことができる。

【００１２】なお、上記第１〜第３実施形態では、弾性
部材として、コイルばねのばね部材１３、２３、３３を
用いた場合について述べたが、これに限らず、板ばねな
どのばね部材を用いても良く、またゴムなどの弾性を有
する部材を用いても良い。また、上記第１〜第３実施形
態では、ガラス基板１の表面に電極端子３が直接形成さ
れているが、これに限らず、ガラス基板１の表面に絶縁
性の樹脂層を形成し、この樹脂層の表面に電極端子３を
形成した構成でも、上記各実施形態と同様の作用効果が
あることは言うまでもない。さらに、上記第１〜第３実
施形態では、液晶表示装置の電極端子に接続された配線
の検査について述べたが、これに限らず、例えば、回路
基板の電極端子に接続された配線の検査などにも適用す
ることができる。

【００１３】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、所定の弾性率および導電性を有し、前記電極端子の
表面に接触する先端が円弧状に形成された接触部材と、
この接触部材に連結され、かつこの接触部材の弾性率よ
りも高い弾性率の弾性部材とを備えたことにより、接触
部材の先端を電極端子の表面に接触させて押し付ける
と、この接触部材が弾性変形しながらその弾性率よりも
高い弾性率の弾性部材が弾性変形し、これらの弾性変形
に伴って接触部材の先端が電極端子の表面に押し付けら
れるので、接触部材の先端が電極端子の表面を損傷する
ことなく電極端子に押し付けられ、これにより十分な接
触力が得られ、電極端子に対し安定した電気的接続がで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の検査用プローブの第１実施形態を示
した拡大断面図。

【図２】この発明の検査用プローブの第２実施形態を示
した外観斜視図。

【図３】図２の接触部材を液晶表示装置の電極端子に軽
く接触させた状態を示した拡大断面図。

【図４】図２の接触部材を液晶表示装置の電極端子に押
し付けた状態を示した拡大断面図。

【図５】この発明の検査用プローブの第３実施形態にお
いて接触部材を液晶表示装置の電極端子に軽く接触させ
た状態を示した拡大断面図。

【図６】図５の接触部材を液晶表示装置の電極端子に押
し付けた状態を示した拡大断面図。

【図７】従来の検査用プローブで電極端子を検査する状
態を示した外観斜視図。

【図８】従来の改良した検査用プローブの拡大断面図。

【符号の説明】

１ ガラス基板 ３ 電極端子 １０、２０、３０ 検査用プローブ １２、２２、３２ 接触部材 １３、２３、３３ ばね部材 １４ ばね部 １５ 接触子

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】基板上に設けられた電極端子の表面に接触
   して導通し、この状態で前記電極端子に電気信号を供給
   することにより、前記電極端子に接続された配線の検査
   を行う検査用プローブであって、 所定の弾性率および導電性を有し、前記電極端子の表面
   に接触する先端が円弧状に形成された接触部材と、 この接触部材に連結され、かつこの接触部材の弾性率よ
   りも高い弾性率の弾性部材とを備えたことを特徴とする
   検査用プローブ。
2. 【請求項２】前記接触部材は、前記弾性部材よりも低い
   前記所定の弾性率のばね部と、このばね部の一端部に設
   けられ、先端が丸く形成されて前記電極端子の表面に接
   触して導通する導電性を有する接触子とからなることを
   特徴とする請求項１記載の検査用プローブ。
3. 【請求項３】前記接触部材は、前記弾性部材よりも低い
   前記所定の弾性率で弾性変形可能なリング状に形成され
   ていることを特徴とする請求項１記載の検査用プロー
   ブ。
4. 【請求項４】前記接触部材は、前記弾性部材よりも低い
   前記所定の弾性率の導電性ゴムにより弾性変形可能に形
   成されていることを特徴とする請求項１記載の検査用プ
   ローブ。