JPH02164051A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH02164051A
JPH02164051A JP63319853A JP31985388A JPH02164051A JP H02164051 A JPH02164051 A JP H02164051A JP 63319853 A JP63319853 A JP 63319853A JP 31985388 A JP31985388 A JP 31985388A JP H02164051 A JPH02164051 A JP H02164051A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
bonding pads
logic
test
lsi
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63319853A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiki Noguchi
孝樹 野口
Yoshimune Hagiwara
萩原 吉宗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63319853A priority Critical patent/JPH02164051A/ja
Publication of JPH02164051A publication Critical patent/JPH02164051A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特にシングルチップマイク
ロプロセッサのいわゆるASIC化、すなわち、特定用
途向けIC化に対応した論理LSIの構成に好適な半導
体装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の半導体装置としては、例えば。
特公昭62−62471号公報に開示された装置が知ら
れている。この装置は、セル配列マスタースライス方式
LSIに、基本ゲートセルの他にコンピュータセルを含
むことを特徴としたものである。この装置においては、
マスタースライス方式の特徴による開発工数短縮と多機
能化とが可能になる。
一方、コンピュータセル(マクロセル)とチャネルレス
型ゲートアレイとを組合せた半導体装置としては、特開
昭62−276866号公報に開示された装置がある。
この装置は、前述のマスタースライス方式の特徴の他に
、チャネルレス型ゲートアレイの利点である高集積化が
可能になる。なお、チャネルレス型(もしくは、全面素
子形成型)ゲートアレイに関しては、アイ・イー・イー
・イー、インターナシ目ナル・ソリッド・ステート・サ
ーキット・カンファレンス(1985年)122〜12
5頁(I E E E  International
 5olid−8tate C1rcuit Conf
erence。
1985、pp、122−125)等において論じられ
ている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術は、LSI出荷検査で使用するテストパタ
ーンの生成工数およびLSI内に予め用意しておくテス
ト用回路の規模(コスト)についての配慮がなされてお
らず、テストパターン生成工数を下げようとするとテス
ト用回路の規模が増加し、テスト用回路の規模を下げよ
うとするとテストパターン生成コストが増大するという
問題があった。つまり、上記従来技術においては、設計
の三要素である、論理設計、レイアウト設計、テスト設
計のうち、前二者については考慮されているものの、最
後のテスト設計は不充分であり、実質的に量産が不可能
であった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的゛
とするところは、従来の技術における上述の如き問題を
解消し、ライブラリ化されたテストパターンを用いて最
小規模のテスト回路で出荷検査が行えるとともに、CP
Uを含む主要論理回路部分の設計をすることなしに、容
易に任意の周辺回路を追加することが可能なシングルチ
ップマイクロプロセッサを実現できる半導体装置を提供
することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の上述の目的は、他素子との接続を考慮しつつ所
定の機能を有する如くレイアウトされたCPUを含む論
理回路、ボンディングパッドおよびこれらの間の配線を
有するレイアウト固定領域と、金属配線を行うのみで論
理回路が作成可能に構成された領域および未接続のボン
ディングパッドを有する可変論理領域とから構成したこ
とを特徴とする半導体装置によって達成される。
〔作用〕
本発明に係る半導体装置においては、集積回路の一部に
、マクロセル、すなわち、他素子との接続を考慮しつつ
所定の機能を有するレイアウトブロックを用いた、CP
Uを含む主要論理回路、ボンディングパッドおよびこれ
らの間の配線をレイアウトパターンで準備しておき、任
意設計を行う周辺回路との接続を行うインタフェース部
分が設定されている。更に、残りの部分には、ユーザが
任意に設計し得るゲートアレイと未接続のボンディング
パッドが配置されている。なお、上記CPUを含む主要
論理回路部分に対するLSI出荷検査用テストパターン
は、予めう゛イブラリ化されている。
上述の如く構成したので、本発明に係る半導体装置にお
いては、任意の論理回路を1通常のマスタースライス方
式のLSIよりも高密度に実装することができる。更に
、CPUを含む主要論理回路、ボンディングパッドおよ
びこれらの間の配線が予め設定されているので、チャネ
ルレス型ゲートアレイの如き金属配線を行うのみで論理
回路が作成可能に構成された領域上に構築される周辺回
路とは独立させ、この部分のLSI出荷検査用テストパ
ターンを、予めライブラリ化する等して準備することが
可能となるものである。
なお、上記主要論理回路部分の金属配線と、チャネルレ
ス型ゲートアレイの如き領域の金属配線とは、レイアウ
ト設計上でマージするため、半導体装置の製造工程中で
は、同じ金属配線工程で作られ、LSI製造工程を複雑
化あるいは長時間化させる原因とはならない。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
第1図は、本発明の一実施例を示すLSIチップのブロ
ック図である。本実施例に示すLSIチップは、CPU
3および内部アドレスバス8.データバス9等で該CP
U3に接続された内蔵メモリ4.A/D変換器5.更に
これらの論理回路へのチップ外部からの入出力経路とな
るアドレスバッフ76、データバッファ7、ボンディン
グパッド10およびこれらの間の配線をレイアウト配置
したレイアウト固定領域1と、チャネルレス型ゲートア
レイ11および未接続のボンディングパッド12をレイ
アウト記聞した可変論理領域2から構成されている。
上記CPU3は、内蔵メモリ4あるいは図示されていな
い本LSIチップ外のメモリ上に格納された命令を実行
する。内蔵メモリ4は、CPU3の実行する命令だけで
なく、各種データも格納する。内蔵メモリ4は、スタテ
ィック型RAM、ダイナミック型RAM、マスクROM
、EPROM。
E”FROM等で構成することができる。A/D変換器
5は、ボンディングパッド10を通してLSIチップ外
部から入力される各種のアナログ信号のA/D変換を行
う。CPU3に対してA/D変換の終了を割込み処理要
求の形で伝え、CPU3は、A/D変換結果を内部アド
レスバス8およびデータバス9を通して読出すことがで
きる。
上記レイアウト固定領域1に配置されたCPU3を含む
主要論理回路は、LSIチップ外部からボンディングパ
ッド10を通して入出力される信号経路の配線を予め設
定しているため、可変論理領域2に構築される論理回路
とは全く独立して動作可能であり、また、このため、上
記主要論理回路部分に対するLSI出荷検査用テストパ
ターンを予め生成しておき、それをライブラリ化してお
くことも可能になる。
第2図は、シングルチップマイクロプロセッサの一般的
な構成例を示す図である0図中、CPU3、内蔵メモリ
4.A/D変換器5から構成される部分は、第1図のL
SIチップのレイアウト固定領域1上に配置された論理
回路と等価なものである0本図に示したシングルチップ
マイクロプロセッサには、システムの監視を行うウオッ
チドックタイマ(VDT)13.任意のデユーティ比の
パルスを生成するパルス幅モジュレーション(pwM)
14、任意の波形のパルス出力等を行うタイマ15゜外
部デバイスとのシリアルデータ通信を行うシリアルコミ
ュニケーションインタフェース(SCI)16の周辺回
路およびそれらの周辺回路とLSIチップ外部との接続
を制御するボート論理18.19等が配置されている。
上記周辺回路とCPU3との接続は、チップ内部のアド
レスバス8および該バス8上の信号を入力としデコード
を行うモジュール選択回路17の出力信号、データバス
92割込み信号20等により行われている。このような
構成を有するシングルチップマイクロプロセッサにおい
て、ユーザが仕様を変更したいと考えるのは、通常1周
辺回路の構成である。
上記周辺回路13〜19は、すべてディジタル回路であ
るため、先に示した第1図の可変論理領域2上に配置し
たチャネルレス型ゲートアレイ11で横築可能であり、
LSIチップ外部との接続も、未接続のボンディングパ
ッド12までの配線レイアウトにより可能である。第1
図に示したレイアウト固定領域1上に、可変論理領域2
上に構築される周辺回路との接続用インタフェースの部
分を設定しておき、可変論理領域2上に構築される周辺
回路から接続用の配線をレイアウトすれば、第1図に示
した構成のLSIチップで、第2図に示した従来の一般
的なシングルチップマイクロプロセッサと全く等価なも
のを実現することができる。
第1図に示したLSIチップにおいて、可変論理領域2
上のチャネルレス型ゲートアレイ11を用いた論理回路
の構築、また、内蔵メモリ4としてマスクROMを用い
た場合のビット情報の格納等は、すべて配線レイアウト
のみで対応することができ、これらの配線は、半導体装
置の製造工程では同じ金属配線工程で作られる。このた
め、予めこの金属配線工程直前までの製造工程を処理し
たウェハを準備しておき、可変論理領域2に構築する論
理回路やマスクROMで作る内蔵メモリ4内に格納する
ビット情報が決まってから、金属配線工程以降の製造プ
ロセスを行うこともできる。これにより、LSIの製造
期間を見かけ上短縮することが可能である。
第3図は、本発明の他の実施例を示すLSIチップのブ
ロック図である。本実施例に示すLSIチップにおいて
は、可変論理領域2の構成は、先の実施例に示したLS
Iチップの場合と全く同じである。また、レイアウト固
定領域1には、先の実施例と同様に、CPU3.内蔵メ
モリ4をレイアウト配置し、更に、プログラマブル論理
デバイス(P L D)21を付加させている。上記プ
ログラマブル論理デバイス21の論理構成は、AND〜
ORの二段論理であるプログラマブルロジックアレイ(
PLA)と等価であり、プログラマブルロジックアレイ
のAND面OR面の目のパターンを、半導体装置の製造
工程を用いずに、電気的操作により形成することができ
る。
上記プログラマブル論理デバイス21は、入出力端子を
、内部アドレスバス8.データバス9にも接続させてお
くため、LSI出荷時の検査では、この経路でテストパ
ターンを印加させることができ、これにより、第1図に
示した実施例のLSIチップと同様に、レイアウト固定
領域部分1の出荷検査用テストパターンを予め準備して
おくことができる。本実施例に示す構成を有するLSI
チップにおいては、製造されたLSIに対して更に機能
変更を加えることができるため、この機能変更で実現で
きるLSIは同一種のものとすることができ、LSIr
A発コストの低減、量産化にょる製造コストの低減等に
大きな効果がある。
上記各実施例にも示した如く1本発明に係る半導体装置
においては、CPU3を含む主要論理回路部分の仕様は
、予めLSI仕様(ピン仕様)として規定される。この
ため、ソフトウェア開発ツールの主要部分も、可変論理
領域部分2にもが築される論理回路とは無関係に準備す
ることが可能である。また、このため、開発ツールを共
通化することも可能になる。
可変論理領域2のチャネルレス型ゲートアレイ11を用
いて構築するタイマ等の周辺回路は、論理情報だけのソ
フトマクロ、あるいは、レイアウトパターン情報までを
持ったハードマクロとして、各機能回路ごとにライブラ
リ化しておくことができる。これらのライブラリを活用
すれば1周辺回路の論理レイアウト設計が容易になり、
LSI開発コストを低減させることができる。
上記実施例においては、レイアウト固定領域1にアナロ
グ回路であるA/D変換器5を含む構成。
プログラマブル論理デバイス21を含む構成を示したが
、これらの回路は、チャネルレス型ゲートアレイ11を
用いて構築することが困難であるため。
固定論理回路として扱っているものである。これらを同
時にレイアウト固定領域1にレイアウト配置する構成も
考えられる。また、この両者を全く使用せず、CPU3
だけをレイアウト配にする構成も考えられる。これらの
構成においても、LSI出荷検査用のテストパターン生
成およびテスト回路に関する利点は、そのまま生がされ
る。
C発明の効果〕 以上述べた如く1本発明によれば、ライブラリ化された
テストパターンを用いて最小規模のテスト回路で出荷検
査が行えるとともに、cPUを含む主要論理回路部分の
設計をすることなしに、容易に任意の周辺回路を追加す
ることができるシングルチップマイクロプロセッサを実
現可能な半導体装置を提供できるという顕著な効果を奏
するものである。
より詳細に説明すれば、以下の通りである。
(1)CI’Uを含む主要論理回路を、予め、小面積化
したマクロセルで構成しておくため、シングルチップマ
イクロプロセッサの周辺回路を設計するだけで、新機能
を有するシングルチップマイクロプロセッサを構築する
ことができる。
(2)L S I出荷検査に際して最も工数およびコス
トを要するcpu部分を、予め最適設計し、かつ、テス
トパターンをライブラリ化しておくことができるので、
上述の如き新機能を有するシングルチップマイクロプロ
セッサを構築した場合にも、追加機能分の論理回路に対
するテストのみを考えれば良い。
(3)上記追加機能分の論理回路は、いわゆるチャネル
レス型ゲートアレイで構築するため、従来のセル配列マ
スタースライス方式LSIよりも小面積化が可能であり
、また、レイアラ1−12計が容易になる。
(4)上述の追加設計する新機能回路は、半導体装の製
造工程中で同じ金属配線工程で形成されので、予めこの
直前までの工程の処理を行ったウェハを用液ニジておけ
ば、r、srの!!2造期開期間かけ上短縮することが
できる。
(5)CPUを含む主要論理回路の構成が予め規定され
ているため、同一のソフトウェア開発ツールを用いて、
上述の追加機能を有するシングルチップマイクロプロセ
ッサの開発を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すLSIチップのブロッ
ク図、第2図はシングルチップマイクロプロセッサの一
般的な構成例を示す図、第3図は本発明の他の実施例を
示すLSIチップのブロック図である。 1ニレイアウド固定領域、2:可変論理領域、3 : 
CPU、4:内蔵メモリ、5 : A/D変換器。 10:ボンディングパッド、11:チャネルレス型ゲー
トアレイ、12:未接続のボンディングパッド、21:
プログラマブル論理デバイス。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、他素子との接続を考慮しつつ所定の機能を有する如
    くレイアウトされたCPUを含む論理回路、ボンディン
    グパッドおよびこれらの間の配線を有するレイアウト固
    定領域と、金属配線を行うのみで論理回路が作成可能に
    構成された領域および未接続のボンディングパッドを有
    する可変論理領域とから構成したことを特徴とする半導
    体装置。 2、前記レイアウト固定領域内にアナログ回路を含むこ
    とを特徴とする請求項1記載の半導体装置。 3、前記レイアウト固定領域内に電気的にプログラム可
    能な論理アレイを含むことを特徴とする請求項1または
    2記載の半導体装置。
JP63319853A 1988-12-19 1988-12-19 半導体装置 Pending JPH02164051A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63319853A JPH02164051A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63319853A JPH02164051A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02164051A true JPH02164051A (ja) 1990-06-25

Family

ID=18114960

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63319853A Pending JPH02164051A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02164051A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0689990A (ja) * 1992-04-29 1994-03-29 Motorola Inc ゲートアレイ

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57176744A (en) * 1981-04-22 1982-10-30 Nec Corp Semiconductor device
JPS61258465A (ja) * 1985-05-13 1986-11-15 Seiko Epson Corp ワンチツプ・マイクロ・コンピユ−タ
JPS6297347A (ja) * 1985-10-24 1987-05-06 Seiko Epson Corp ゲ−トアレイ付ワンチツプマイクロコンピユ−タ
JPS62263652A (ja) * 1986-05-09 1987-11-16 Hitachi Ltd プログラム可能なcmosロジツクアレイ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57176744A (en) * 1981-04-22 1982-10-30 Nec Corp Semiconductor device
JPS61258465A (ja) * 1985-05-13 1986-11-15 Seiko Epson Corp ワンチツプ・マイクロ・コンピユ−タ
JPS6297347A (ja) * 1985-10-24 1987-05-06 Seiko Epson Corp ゲ−トアレイ付ワンチツプマイクロコンピユ−タ
JPS62263652A (ja) * 1986-05-09 1987-11-16 Hitachi Ltd プログラム可能なcmosロジツクアレイ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0689990A (ja) * 1992-04-29 1994-03-29 Motorola Inc ゲートアレイ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001313339A (ja) フリップチップ型半導体装置の設計方法
US4833620A (en) Method for fabricating a 1-chip microcomputer
JPH02164051A (ja) 半導体装置
US6780745B2 (en) Semiconductor integrated circuit and method of manufacturing the same
JPH06224300A (ja) 半導体集積回路の設計方法および評価用半導体集積回路
JP3530459B2 (ja) 半導体集積回路のレイアウト方法
JPH02267947A (ja) 半導体装置
JPH0221145B2 (ja)
JP2910734B2 (ja) レイアウト方法
JP3052847B2 (ja) Lsiレイアウト方式
JPH06188397A (ja) 半導体集積回路
JPH11233636A (ja) 半導体集積回路装置及びそのレイアウト設計方法
US20030173642A1 (en) General-purpose logic array and ASIC using the same
JP2957436B2 (ja) ゲートアレイ
JPS62179744A (ja) 半導体集積回路
JPS6278848A (ja) 大規模半導体集積回路
JP3130891B2 (ja) 配線方法
KR900008796B1 (ko) 반주문형 시스템 lsi
JPS61294833A (ja) 半導体集積回路
JPH04373143A (ja) 半導体集積回路装置
JPH05326843A (ja) 半導体集積回路装置
JPS63152145A (ja) 半導体集積回路装置
JPS6182444A (ja) モノリシツクセミカスタムシステムlsi
JPH08316328A (ja) 半導体装置の設計方法及び設計装置
JPS63209140A (ja) 半導体集積回路装置