JPH02153615A - パターン発生回路 - Google Patents

パターン発生回路

Info

Publication number
JPH02153615A
JPH02153615A JP63308105A JP30810588A JPH02153615A JP H02153615 A JPH02153615 A JP H02153615A JP 63308105 A JP63308105 A JP 63308105A JP 30810588 A JP30810588 A JP 30810588A JP H02153615 A JPH02153615 A JP H02153615A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
signal
logic
logical pattern
logic pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63308105A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuko Sudo
優子 須藤
Teruaki Ogata
尾方 照明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP63308105A priority Critical patent/JPH02153615A/ja
Publication of JPH02153615A publication Critical patent/JPH02153615A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はパターンメモリに格納された論理パターンに
基づいた論理パターン信号をチャネル単位で出力するパ
ターン発生回路に関するものである。
(従来の技術) 第2図は従来のパターン発生回路10を示すブロック構
成図である。同図において、1は複数チャネル(この例
では2チヤネル)を有するパターンメモリであり、各チ
ャネルch1.ch2ごとにパターン長l以下の論理パ
ターンPi、P2を格納可能に構成されている。2はフ
ォーマツタであり、パターンメモリ1から、各チャネル
ごとの論理パターンPi、P2を読出し、これらの論理
パターンPi、P2に基づき、フェーズコントローラ3
のフェーズ指示によるタイミングで所定の波形の論理パ
ターン信号82..822  (以下、総称する場合、
「S2」と言う。)をそれぞれドライバ(あるいはコン
パレータ)4a、4bに出力している。
第3図はパターン発生回路10の動作を示すタイミング
図である。同図において、信号82’ は、フォーマツ
タ2の設定波形がR’Z(RETURN−To−ZER
O)の場合の論理パターン信号、信号82″は、フォー
マツタ2の設定波形がNRZ(NON−RETtJRN
−To−ZERO)+7)場合の論理パターン信号であ
る。なお、フェーズ指示における期間toは1ビツト論
理パタ一ン信号出力期間、期間t1が立上り期間、期間
t2がデータ保持期間である。
ドライバ4a、4bは、パターン発生回路10から出力
される論理パターン信号S2 、s22を入力信号とし
ており、このドライバ4a、4bの出力を、例えば被測
定素子に与えることで、該被測定素子のテストが行える
(発明が解決しようとする課題) 従来のパターン発生回路は以、Eのように構成されてお
り、パターンメモリーに格納された論理パターンP1.
P2に基づいて発生する論理パターン信号S2  、S
22はチャネル単位で完全に独立していた。
このため、パターンメモリーに対し、チ17ネルごとに
割り当てられたパターン長lを越える論理パターン(以
下[長ビツト論理パターンしPJと言う。)に基づいて
、1つのチャネルから論理パターン信号S2を発生させ
るには、以下に述べるような改良、工夫が必要であった
。なお、説明の都合上、長ビツト論理パターンLPのパ
ターン長l′を1<1’ S21とし、論理パターン信
号S2、として、出力する場合を仮定する。
■ パターンメモリーのメモリ容量を拡張し、チャネル
ごとに割り当てられるパターン長を、1′以上に設定す
る。
■ 長ビツト論理パターンLPをパターン長l内の2つ
の論理パターンLP、LP、、に分解し、分解された論
理パターンLP、LP2を順次論理パターンP1として
パターンメモリに書込み、書込む度に(つまり、2回に
分けて)論理パターン信号S21を出力する。
しかしながら、 ■の方法は、コストがかかる。
■の方法は、論理パターン信号82.発生中に、パター
ンメモリーの論理パターンP1として、LP からしP
2に書換えを行う分、論理パターン信号S2.の発生に
時間がかかる。
等の問題点があった。
この発明はF記のような問題点を解決するためになされ
たもので、論理パターン信号の発生に時間をかけること
なく、長ピット論理パターンに基づいた論理パターン信
号を出力することのできる、パターン発生回路を安価な
構成で得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明にかかるパターン発生回路は、複数のチャネル
を有し、各チャネルごとに所定ビットの論理パターンを
格納可能なパターンメモリと、前記パターンメモリに格
納された各前記チャネルごとの前記論理パターンに基づ
き、各前記チャネル単位で論理パターン信号を出力する
パターン信号生成回路と、複数の前記論理パターン信号
を取込み、選択信号に基づき、取込んだ複数の前記論理
パターン信号のうち、1つを出力する信号選択u路とを
備えて構成されている。
〔作用〕
この発明における信号選択回路は、複数の論理パターン
信号を取込み、選択信号に基づき、取込んだ複数の論理
パターン信号の1つを出力するため、同一の信号選択回
路から、時分割して複数の論理パターン信号を出力する
ことができる。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例であるパターン発生回路2
0を示すブロック構成図である。同図に示すように、フ
ォーマツタ2とドライバ4aとの間に信号選択回路5a
を設け、フォーマツタ2とドライバ4bとの間に信号選
択回路5bを設けている。信号選択回路5a、5bは共
に、論理パターン信号S2.S2□を取込み、それぞれ
スイッチSW1〜SW2.SW3〜SW4を介して出力
している。信号選択回路5aのスイッチSW1゜SW2
はセレクタ6より出力される制御信号S6aにより少な
くとも一方がオフされる。同様に、信号選択回路5bの
スイッチSW3.8W4はセレクタ6より出力される制
御信号S6bにより、少なくとも一方がオフされる。な
お、他の構成は従来と同様であるので説明は省略する。
このような構成において、まず、パターンメモリ1の1
つのチャネルに割り当てられたビット数1以下の論理パ
ターンMPに基づく論理パターン信号S2を信号選択回
路5aの出力信号とする場合を説明する。
まず、パターンメモリ1のチャネルch1に対応する論
理パターンP1として論理パターンMPを格納する。
このとき、セレクタ6の制御信号S6aにより、信号選
択回路5aのスイッチSW1.8W2をそれぞれオン、
オフに設定する。そして、論理パターンPI (−MP
)に基づく論理パターン信号S21をドライバ4aに出
力する。
次に、長ビツト論理パターンLP(パターン長J’  
:i’−1!’ ≦21)に基づく論理パターン信号S
2を信号選択回路5aの出力信号とする場合を考える。
まず、パターンメモリ1のチャネルch1に対応する論
理パターンP1として長ビツト論理パターンLPの前半
部(1ビツト)の論理パターンLP1を格納すると共に
、チャネルch2に対応する論理パターンP2として艮
ピッi・論理パターンLPの俊半部((J!’−1)ビ
ット)の論理パターンLP2を格納する。
次に、セレクタ6の制御信号S6aにより、信号選択回
路5aのスイッチSW1.SW2をそれぞれオン、オフ
に設定し、論理パターンPI (=LP  )に基づく
論理パターン信号S21をドライバ4aに出力する。
論理パターン信号S21の発生終了(1、セ1ツクタロ
aの制御信号S6aにより信号選択回路5aのスイッチ
SW1.SW2をそれぞれオフ、オンに設定し、論理パ
ターンP2 (=LP2)に基づく論理パターン信号S
22をドライバ4aに出力する。
その結果、長ビツト論理パターンLP (LPl 。
LP  )に基づく論理バタ、−ン信号S2,822が
信号選択回路5aの出力信号としてドライバ4aに出力
される。
このように、長ビツト論理パターンLPを2つの論理パ
ターンLP、LP2に分解し、2つのチャネルchl、
ch2における論理パターンP1、P2としてパターン
メモリーに格納し、セレクタ6の指示により同一の信号
切替回路5aの出力信号として、論理パターン信号82
 .822を順次出力している。このため、艮ビット論
理パターンLPに基づく論理パターン信号S2を同一の
信号選択回路5aの出力信号とすることができる。
また、信号選択回路5a、5b及びセレクタ6は簡単に
構成でき、セレクタ6の制御もパターン制御用10グラ
ムを追加する程度で行えるため、装置コストはさ程かか
らない。しかも、論理パターン信号82発生中に、パタ
ーンメモリ1への論理パターンの書替えを行わないため
、論理パータン信号S2の発生時間が遅くなることもな
い。
なお、この実施例では信号選択回路5aのスイッチング
による論理パターン信号S2の選択について述べたが、
同様のことが、信号選択回路5bにおいても行えること
は勿論である。
また、この実施例では、2チヤネルのパターン発生回路
について述べたが、信号選択回路の機能及び数、セレク
タの機能を拡張すれば3チヤネル以上の出力曙能を有す
るパターン発生回路においても、この発明を適用するこ
とができる。
すなわち、ドライバと被測定素子との接続に必要な端子
数をN1パターン発生回路のチャネル数をMとすれば次
の(1)式を満たす K  =  TNT(M/N)      ・・・(1
)(KはM/Nを越えない最大の整数) Kfピッl−までの長ビツト論理パターンに基づいた論
理パターン信号を同一の信号選択回路の出力信号とする
ことができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、同一の信号選
択回路から、複数の論理パターン信号のうちの1つを選
択的に出力することができるため、論理パターン信号の
発生に時間をかけることなく、長ビツト論理パターンに
基づいた論理パターン信号を出力することが安価にでき
る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例であるパターン発生回路を
示すブロック構成図、第2図は従来のパターン発生回路
を示すブロック構成図、第3図は従来のパターン発生回
路の動作を示したタイミング図である。 図において、1はパターンメモリ、2はフォーマツタ、
3はフェーズコントローラ、4a、4bはドライバ、5
a、5bは信号選択回路、6はセレクタである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人    大  岩  増  雄 手 続 補 正 t (自発) 5゜ 補正の対象 図面の第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のチャネルを有し、各チャネルごとに所定ビ
    ットの論理パターンを格納可能なパターンメモリと、 前記パターンメモリに格納された各前記チャネルごとの
    前記論理パターンに基づき、各前記チャネル単位で論理
    パターン信号を出力するパターン信号生成回路と、 複数の前記論理パターン信号を取込み、選択信号に基づ
    き、取込んだ複数の前記論理パターン信号のうち1つを
    出力する信号選択回路とを備えたパターン発生回路。
JP63308105A 1988-12-05 1988-12-05 パターン発生回路 Pending JPH02153615A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63308105A JPH02153615A (ja) 1988-12-05 1988-12-05 パターン発生回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63308105A JPH02153615A (ja) 1988-12-05 1988-12-05 パターン発生回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02153615A true JPH02153615A (ja) 1990-06-13

Family

ID=17976930

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63308105A Pending JPH02153615A (ja) 1988-12-05 1988-12-05 パターン発生回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02153615A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004511053A (ja) * 2000-10-06 2004-04-08 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ アップスケールされたクロックをメモリに供給し並列波を作る集積回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004511053A (ja) * 2000-10-06 2004-04-08 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ アップスケールされたクロックをメモリに供給し並列波を作る集積回路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0218261B1 (en) Test pattern generator
US4639919A (en) Distributed pattern generator
JP2673298B2 (ja) セルフテスト機能付半導体集積回路
JP3605150B2 (ja) アドレスパターン発生器
US7043675B2 (en) Logic circuit test apparatus and logic circuit test method
US5481671A (en) Memory testing device for multiported DRAMs
KR20070112047A (ko) 반도체 기억 장치 및 그 시험 방법
JPH0963300A (ja) 半導体メモリ試験装置のフェイル解析装置
KR970011585B1 (ko) 반도체 시험장치의 파형 정형기
US5930271A (en) Circuit testing apparatus for testing circuit device including functional block
US4759021A (en) Test pattern generator
JPH0454909B2 (ja)
JPH02153615A (ja) パターン発生回路
JP3574728B2 (ja) 半導体デバイス試験装置
JPH033200A (ja) 半導体記憶装置
JP2753407B2 (ja) Icテストパターン発生装置
JP3281898B2 (ja) メモリ搭載半導体装置及びメモリテスト方法
JPH07209389A (ja) 高速パターン発生器
JPH06290584A (ja) 半導体記憶装置
SU1636858A1 (ru) Устройство генерации тестовых последовательностей дл контрол оперативных накопителей
JPS62259145A (ja) アルゴリズミツク・パタ−ン発生装置
JP2001319498A (ja) 半導体集積回路装置
JPH06186304A (ja) 組み込み型ramテスト回路
JP2002071757A (ja) 半導体集積回路および内蔵アナログ回路テスト方法
JPH06251600A (ja) 半導体集積回路装置