JPH02130015A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH02130015A JPH02130015A JP63283467A JP28346788A JPH02130015A JP H02130015 A JPH02130015 A JP H02130015A JP 63283467 A JP63283467 A JP 63283467A JP 28346788 A JP28346788 A JP 28346788A JP H02130015 A JPH02130015 A JP H02130015A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reset
- signal
- input
- active
- buffer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路に関し、特にセットリセット付
フリップフロップのセットリセットアクティブが発生す
る可能性があるセットリセット付フリップフロップのテ
ストパタンを検出するセットリセットアクティブチェッ
ク回路に関する。
フリップフロップのセットリセットアクティブが発生す
る可能性があるセットリセット付フリップフロップのテ
ストパタンを検出するセットリセットアクティブチェッ
ク回路に関する。
従来、この種のセットリセットアクティブチェックは、
セット入力バタンとリセット入力バタンの比較でチエツ
クすることとなっていた。
セット入力バタンとリセット入力バタンの比較でチエツ
クすることとなっていた。
上述した従来のセットリセットアクティブチェックは、
シミュレーション結果で得たセット入力のバタンとリセ
ット入力のパタンを照らし合せて調べなければならなか
った。
シミュレーション結果で得たセット入力のバタンとリセ
ット入力のパタンを照らし合せて調べなければならなか
った。
本発明の目的は前記課題を解決した半導体集積回路を提
供することにある。
供することにある。
前記目的を達成するため、本発明はセットリセット付フ
リップフロップを含む半導体集積回路において、セット
リセットアクティブが発生する可能性があるセットリセ
ット付フリップフロップと、該フリップのセット入力と
リセット入力に並列に接続され、セットリセット付ブリ
ッププロップでセットリセットアクティブが発生する可
能性があるタイミングにセット入力とリセット入力に関
するテストパタンを検出するセットリセットアクティブ
チェック回路とを有するものである。
リップフロップを含む半導体集積回路において、セット
リセットアクティブが発生する可能性があるセットリセ
ット付フリップフロップと、該フリップのセット入力と
リセット入力に並列に接続され、セットリセット付ブリ
ッププロップでセットリセットアクティブが発生する可
能性があるタイミングにセット入力とリセット入力に関
するテストパタンを検出するセットリセットアクティブ
チェック回路とを有するものである。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は具体
例を示す回路図である。1は半導体集積回路に組み込ま
れ、セットリセットアクティブが発生する可能性がある
セットリセット付フリップフロップ、2はセットリセッ
トアクティブチェック回路である。Aはセットリセット
付フリップフロップ(以下、 FFという)1のセット
入力(以下。
例を示す回路図である。1は半導体集積回路に組み込ま
れ、セットリセットアクティブが発生する可能性がある
セットリセット付フリップフロップ、2はセットリセッ
トアクティブチェック回路である。Aはセットリセット
付フリップフロップ(以下、 FFという)1のセット
入力(以下。
S入力という)に入る入力端子、BはFFIのリセット
入力(以下、R入力という)に入る入力端子、4.5,
6,7,8,9.10.11 、12.13.14.1
5.16.17.18は1人力1出力のバッファ、19
.20はCLKの立ち上がりでDを読むフリップフロッ
プ(以下、FFという)、21.22はCLKの立ち上
がりでDを読むフリップフロップ(以下、FFという)
である、また23は2人力1出力AND、 24.25
は2人力1出力N0R126は2人力1出力0R127
はEN(イネーブル)がL(ロウレベル)のとき、アク
ティブの3ステートバツフア、3は外部出力端子である
。
入力(以下、R入力という)に入る入力端子、4.5,
6,7,8,9.10.11 、12.13.14.1
5.16.17.18は1人力1出力のバッファ、19
.20はCLKの立ち上がりでDを読むフリップフロッ
プ(以下、FFという)、21.22はCLKの立ち上
がりでDを読むフリップフロップ(以下、FFという)
である、また23は2人力1出力AND、 24.25
は2人力1出力N0R126は2人力1出力0R127
はEN(イネーブル)がL(ロウレベル)のとき、アク
ティブの3ステートバツフア、3は外部出力端子である
。
本発明のセットリセットアクティブチェック回路2はF
FIの入力に入る信号及びR入力に入る信号の変化をF
F19.21.20.22で読み取り、同じバタン内で
FFIのセット・リセットとも変化すると、N0R24
,N0R25でセットリセットアクティブが生じている
ことを知らせるスパイクを生じさせ、バッファ27に出
力させ、またAND 23によりFFIのSとRの同時
アクティブの禁止状態を知らせる信号が出力されバッフ
ァ27のENに伝わり、FF1のSとRの同じバタン内
での変化が禁止状態でなければ、S−Rアクティブが生
じているスパイク信号を出力端子3に出力させ、禁止状
態であれば、バッファ27のENの作動により、出力端
子3に禁止状態が生じている信号Z(ハイインピーダン
ス)を出力するという機能を有している。
FIの入力に入る信号及びR入力に入る信号の変化をF
F19.21.20.22で読み取り、同じバタン内で
FFIのセット・リセットとも変化すると、N0R24
,N0R25でセットリセットアクティブが生じている
ことを知らせるスパイクを生じさせ、バッファ27に出
力させ、またAND 23によりFFIのSとRの同時
アクティブの禁止状態を知らせる信号が出力されバッフ
ァ27のENに伝わり、FF1のSとRの同じバタン内
での変化が禁止状態でなければ、S−Rアクティブが生
じているスパイク信号を出力端子3に出力させ、禁止状
態であれば、バッファ27のENの作動により、出力端
子3に禁止状態が生じている信号Z(ハイインピーダン
ス)を出力するという機能を有している。
実施例において、(1)まず、AにL→Hの信号が入力
し、BにL→Hの信号が入力すると、AND 23がH
になりバッファ18を通すバッファ27のENにHが入
り、0R26からの信号に関係なく出力端子3には、Z
(ハイインピーダンス)が出力する。
し、BにL→Hの信号が入力すると、AND 23がH
になりバッファ18を通すバッファ27のENにHが入
り、0R26からの信号に関係なく出力端子3には、Z
(ハイインピーダンス)が出力する。
(2)次にAにL→H,BにH4Lの信号が入力すると
、Aの信号がバッファ2、バッファ7に入力し、Bの信
号はバッファ5.バッファ6に入力する。バッファ4及
びバッファ5に入った信号は。
、Aの信号がバッファ2、バッファ7に入力し、Bの信
号はバッファ5.バッファ6に入力する。バッファ4及
びバッファ5に入った信号は。
FF19. FF21の各D 、 CLK、 CLKに
入力し、各FF19゜FF21のQよりLの信号が出力
される。 FF19. FF21からでた信号は各バッ
ファ8.バツフア9を通りFF19. FF21のセッ
トがかかり、Qからは再びHの信号が出力され、結局N
OR24にはそれぞれの入力ビンに負の信号が入ってく
る。この負の信号がN。
入力し、各FF19゜FF21のQよりLの信号が出力
される。 FF19. FF21からでた信号は各バッ
ファ8.バツフア9を通りFF19. FF21のセッ
トがかかり、Qからは再びHの信号が出力され、結局N
OR24にはそれぞれの入力ビンに負の信号が入ってく
る。この負の信号がN。
R24にスパイクを発生させ0R26を通り、出力端子
3に出力される。バッファ7、バッファ6に入力した信
号は、 FF20. FF22のD 、 CLK、 C
LKにそれぞれ入力され、FF20. FF22の各Q
にはHの信号が出力され、その信号が各バッファ10.
バツフア11を通リセットにかかるが、セットがかから
ず、なおかつLの信号が出ていないので、NOR25に
はスパイクが生じない、結果的に出力端子3にはNOR
24で生じたスパイク信号が出力される。
3に出力される。バッファ7、バッファ6に入力した信
号は、 FF20. FF22のD 、 CLK、 C
LKにそれぞれ入力され、FF20. FF22の各Q
にはHの信号が出力され、その信号が各バッファ10.
バツフア11を通リセットにかかるが、セットがかから
ず、なおかつLの信号が出ていないので、NOR25に
はスパイクが生じない、結果的に出力端子3にはNOR
24で生じたスパイク信号が出力される。
(3)AにH−+L、BにL→Hの信号が入力すると、
前述(2)の反対のFFで動作が起こりNOR25にス
パイクが起こり、NOR24にはスパイクが生じない。
前述(2)の反対のFFで動作が起こりNOR25にス
パイクが起こり、NOR24にはスパイクが生じない。
結果的に出力端子3にはNOR25で生じたスパイク信
号が出力される。
号が出力される。
以上説明したように本発明は外部出方端子で発生するス
パイクを検出することにより、セットリセット付フリッ
プフロップにセットリセットアクティブが生じているの
をチエツクできる効果がある。
パイクを検出することにより、セットリセット付フリッ
プフロップにセットリセットアクティブが生じているの
をチエツクできる効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は具体
例を示す回路図である。
例を示す回路図である。
Claims (1)
- (1)セットリセット付フリップフロップを含む半導体
集積回路において、セットリセットアクティブが発生す
る可能性があるセットリセット付フリップフロップと、
該フリップのセット入力とリセット入力に並列に接続さ
れ、セットリセット付フリップフロップでセットリセッ
トアクティブが発生する可能性があるタイミングにセッ
ト入力とリセット入力に関するテストパタンを検出する
セットリセットアクティブチェック回路とを有すること
を特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63283467A JPH02130015A (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63283467A JPH02130015A (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02130015A true JPH02130015A (ja) | 1990-05-18 |
Family
ID=17665924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63283467A Pending JPH02130015A (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02130015A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6647949B2 (en) * | 2000-10-23 | 2003-11-18 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Control apparatus and control method for direct injection engine |
-
1988
- 1988-11-09 JP JP63283467A patent/JPH02130015A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6647949B2 (en) * | 2000-10-23 | 2003-11-18 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Control apparatus and control method for direct injection engine |
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