JPH0198318A - 入力バッファ回路 - Google Patents

入力バッファ回路

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JPH0198318A
JPH0198318A JP62255822A JP25582287A JPH0198318A JP H0198318 A JPH0198318 A JP H0198318A JP 62255822 A JP62255822 A JP 62255822A JP 25582287 A JP25582287 A JP 25582287A JP H0198318 A JPH0198318 A JP H0198318A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
switch
mos transistor
transistor
channel mos
Prior art date
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Pending
Application number
JP62255822A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuyuki Sugiyama
杉山 伸之
Toshiaki Tanaka
田中 敏昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0198318A publication Critical patent/JPH0198318A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は入カバッファ回路に係り、特にCMO8集積回
路の入カバッファ回路に関する。
〔従来の技術〕
従来のこの種の入カバッファ回路は、第3図に示す様に
、入力端子53と出力端子54とを有する単純なインバ
ータの型をしている。即ち、Pチャンネル型MOSトラ
ンジスタ51と、NチャンネルfiMOSトランジスタ
52とのサイズの比によシ、論理しきい値電圧を、目的
とする値に設定するものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前述した従来の入カバッファ回路のトランジスタサイズ
は設計時に決定しておシ、放射線の影響により、使用し
ているMOS)ランジスタのしきい値電圧、及び移動度
が変動し、論理しきい値が低下すると、低(Low)レ
ベル入力電圧の規格を満足することが出来なくなシ、誤
動作するという欠点がある。
本発明の目的は、前記欠点が解決され、論理しきい値が
変動することがなく、誤動作する心配がないようにした
入カバッファ回路を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の入カバッファ回路の構成は、出力端子とGND
端子との間に並列に接続された第1.第2のNチャンネ
ル型MOS)ランジスタと、出力端子とVDD端子との
間に並列に接続された第1゜第2のPチャンネル型MO
Sトランジスタと、第2のNチャンネル型MOSトラン
ジスタのゲート電極と入力端子との間に接続された第1
のスイ。
チと第2のPチャンネル型MOSトランジスタのゲート
電極と入力端子との間に接続さnた第2のスイッチと、
第1のスイッチがし中断状態の時に第2のNチャンネル
MOS)ランジスタのゲート電極の電位t−GND電位
に設定する回路と、第2のスイッチがしゃ断状態の時に
第2のPチャンネル型MOSトランジスタのゲート電極
の電位をVDDの電位に設定する回路と、論理しきい値
の変動を検出する回路とを備え、第1のNチャンネルM
OS)ランジスタのゲート電極及び第1のPチャンネル
MO8)う/ジスタのゲート電極は入力端子に接続され
、前記論理しきい値の変動を検出する回路と前記第1お
よび第2のスイッチとが、前記論理しきい値が低下した
際に前記第1のスイッチをし中断状態にしかつ前記第2
のスイッチを導通状態にする様に、接続されていること
を特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面金参照して詳細に説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の入カバッファ回路の回
路図である。同図において、本実施例の入カバッファ回
路は、出力端子20とGND端子との間に接続されたN
チャンネルMOS)ランジスタ1と、同様に出力端子2
0とGND端子との間に接続されたNチャンネルMOS
)ランジスタ3と、出力端子20とVDD端子との間に
接続されたPチャンネルMOSトランジスタ2,4と、
MOS)ランジスタ3のゲートと入力端子19との間に
接続されたスイッチ7と、MOSトランジスタ4のゲー
トと入力端子19との間に接続されたスイッチ8と、M
OSトランジスタ3のゲートとGND端子との間に接続
されたNチャンネルMOSトランジスタ5と、MOSト
ランジスタ4のゲートとVDD端子との間に接続された
PチャンネルMOSトランジスタロとを含み、構成され
る。
ここで、MOS)ランジスタ1,2のゲートはいずれも
入力端子19に接続されている。さらに、本回路は、節
点N2とGND端子との間に接続されたNチャンネルM
OS)ランジスタ9と、節点N2とVDD端子との間に
接続されたPチャンネルMOSトランジスタ10と、前
記節点N2t−人力とし節点N3を出力とするインバー
タを構成するMOS)ランジスタ11.12と、同様に
節点N3e入力とし節点N4を出力とするインバータを
構成するMOS)ランジスタ13.14と、節点N4を
入力としN5t−出力とするインバータを構成するMO
S)ランジスタl 5 、16.!=’に含ミ、構成さ
れる。ここで、MOSトランジスタ9+t。
ゲートは、共に節点N1に接続さnておシ、この節点N
1は抵抗17.18によってそれぞれGND端子、VD
D端子に接続されている。今、節点N1の電位を、抵抗
17.18の値を適当な値を選び、MOS)ランジスタ
9.lOから成る論理しきい値電圧より低い値にするこ
とによシ、節点N4には高(Hlgh) *節点N5に
は低(Low )レベルの出力が得られ、さらに、スイ
ッチ7は導通(on)L、スイッチ8は非導通(off
)l、、MOB)ランジスタ5はoff%MOSトラン
ジスタロはonl、、MOB)ランジスタ4はoffす
るので、入力信号はMOB)ランジスタ2,1.3の計
3個のMOB)ランジスタのゲートに接続され、この3
個のMOB)ランジスタがインバータとして働き、入力
信号を出力端子20から後段に伝達する。
さて、ガンマ(r)#等の放射線を照射することによっ
て、論理しきい値は下がるが、この時Δ10S)ランジ
スタ9.10のトランジスタサイズの比を、MOB)ラ
ンジスタ2と(MOB)ランジスタ1+MOSトランジ
スタ3)のトランジスタサイズの比と同一とし、節点N
lの設定値を集積回路(IC)のLowレベル入力電圧
の最大(MAX)値より、0.1 V程度高くしておく
と、論理しきい値の実値が放射線の影響によシ徐々に下
がって、節点Nlの設定値より下がると、MOSトラン
ジスタ9,10から成るインバータが反転し、節点N4
がLowレベル、節点N5がHighレベルにな9、ス
イ、チアはoff、 スイッチ8はon。
MOB)ランジスタロはoff、MOB)ランジスタ3
がoffすると、入力信号はMOB)ランジスタ1.2
.3の3個のMOB)ランジスタのゲートに接続され、
今度はくの3個のMOB)ランジスタによるインバータ
として動作することになシ、等測的にNチャンネルMO
Sトランジスタの(W)が減少し、PチャンネルMOB
)ランジスタのWが増加することになシ、インバータと
しての論理しきい値は高くな、9、Lowレベル入力電
圧のMAX値の規格とのマージンが大きくなシ、よシ多
量の放射線に耐えられることになる。
第2図は本発明の第2の実施例の入カバッファ回路の回
路図である。
本実施例の入カバ、ファ回路は、前記第1図の第1の実
施例の回路のPチャンネルMOSトランジスタロとNチ
ャンネルMOSトランジスタ5とを、それぞれ抵抗26
.抵抗25に置き換え喪ものであり、その他の部分は第
1図と同様である。
抵抗25.26の抵抗値を大きくすることによって、前
記第1の実施例の場合と同様な動作をするが、この抵抗
25.26はトランジスタを用いたものでもよい。例え
ば抵抗26にはゲートをGNDに接続したPチャンネル
MOSトランジスタを用い、抵抗25にはゲートをVD
Dに接続し九N1チャンネルMOSトランジスタを用い
てもよい。
前記第1.第2の実施例の入カバッファ回路は、出力端
子20とGND端子との間に第2のNチャンネルMOS
トランジスタ3が接続され、出力端子20とVDD端子
との間に第2のPチャンネルMOSトランジスタ4が接
続され、入力端子19と第2のNチャンネルMOSトラ
ンジスタ3のゲート電極との間と、入力端子19と第2
のPチャンネルMOSトランジスタ4のゲート電極との
間にそれぞれスイッチ7.8が接続されているという点
が特徴的である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、出力端子とGND端子
、電源端子との間にそれぞれゲート電極がスイッチを介
して入力端子に接続されたMOSトランジスタを持ち、
これらスイッチを導通、非導通にすることによシ、論理
しきい値電圧を適宜変えることが出来る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の入カバッファ回路の回
路図、第2図は本発明の第2の実施例の入カバッファ回
路の回路図、第3図は従来の入カバッファ回路の回路図
である。 1.3,5,9,11,13.15・・・・・・Nチャ
ンネルMOS)ランジスタ、2,4,10,12゜14
.16・・・・・・PチャンネルMOSトランジスタ、
17.18・・・・・・抵抗、19・・・・・・入力端
子、2o・・・・・・出力端子。 代理人 弁理士  内 原   晋 第、 /1 3 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  出力端子とGND端子との間に互いに並列に接続され
    た第1、第2のNチャンネル型MOSトランジスタと、
    前記出力端子とVDD端子との間に互いに並列に接続さ
    れた第1、第2のPチャンネル型MOSトランジスタと
    、前記第2のNチャンネル型MOSトランジスタのゲー
    ト電極と入力端子との間に接続された第1のスイッチと
    、前記第2のPチャンネル型MOSトランジスタと前記
    入力端子との間に接続された第2のスイッチと、前記第
    1のスイッチがしゃ断状態の時に前記第2のNチャンネ
    ル型MOSトランジスタのゲート電極の電位をGND電
    位に設定する回路と、前記第2のスイッチがしゃ断状態
    の時に前記第2のPチャンネル型MOSトランジスタの
    ゲート電極の電位をVDD電位に設定する回路と、論理
    しきい値の変動を検出する回路とを備え、前記第1のN
    チャンネル型MOSトランジスタのゲート電極および前
    記第1のPチャンネル型MOSトランジスタのゲート電
    極が前記入力端子に接続され、前記論理しきい値の変動
    を検出する回路と前記第1および第2のスイッチとが、
    前記論理しきい値が低下した際に前記第1のスイッチを
    しゃ断状態にしかつ前記第2のスイッチを導通状態にす
    る様に、接続されていることを特徴とする入カバッファ
    回路。
JP62255822A 1987-10-09 1987-10-09 入力バッファ回路 Pending JPH0198318A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05145384A (ja) * 1990-12-20 1993-06-11 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Cmosレシーバ入力インターフエース回路
US5773723A (en) * 1995-09-29 1998-06-30 Lewis; Peter B. Flow tube liner

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH05145384A (ja) * 1990-12-20 1993-06-11 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Cmosレシーバ入力インターフエース回路
JP2559931B2 (ja) * 1990-12-20 1996-12-04 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション Cmosレシーバ入力インターフェース回路
US5773723A (en) * 1995-09-29 1998-06-30 Lewis; Peter B. Flow tube liner

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