JPH0136978B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0136978B2
JPH0136978B2 JP58190210A JP19021083A JPH0136978B2 JP H0136978 B2 JPH0136978 B2 JP H0136978B2 JP 58190210 A JP58190210 A JP 58190210A JP 19021083 A JP19021083 A JP 19021083A JP H0136978 B2 JPH0136978 B2 JP H0136978B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
block
mounting device
mounting
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP58190210A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6081820A (ja
Inventor
Juji Ishida
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP19021083A priority Critical patent/JPS6081820A/ja
Publication of JPS6081820A publication Critical patent/JPS6081820A/ja
Publication of JPH0136978B2 publication Critical patent/JPH0136978B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02631Physical deposition at reduced pressure, e.g. MBE, sputtering, evaporation

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 この発明は、分子線エピタキシヤル(MBE)
法を用いた半導体素子を製造する装置(分子線エ
ピタキシヤル装置)のウエハ取付装置に関する。
(ロ) 従来の技術 分子線エピタキシヤル法は、超真空中で、基板
ウエハに材料を分子線の形で入射させ、ウエハ上
にその材料を堆積させるエピタキシヤル成長法で
ある。すなわち第1図に示すように、分子線エピ
タキシヤル装置の超高真空チヤンバ内1内に、ヒ
ータで加熱可能なブロツク2を設け、このブロツ
ク2にウエハ3を取付け、このウエハ3にルツボ
4の例えばGa、ルツボ5の例えばAsを分子線で
投射し、ウエハ3上に例えばGaAsを成長させる
ようにしている。この種の分子線エピタキシヤル
装置において、従来はブロツク2として、モリブ
デン(Mo)を用い、このモリブデンブロツク2
にウエハ3を取付けるのに、In(インジユーム)
等で貼り付けていた。
(ハ) 発明が解決しようとする課題 しかしながら、Inを用いた取付け方法では、大
型ウエハの場合、貼り付けが難しく、また一旦貼
り付けられると堅く貼り付けられ、簡単に取外し
ができなかつた。またウエハの貼り付け時に、In
が飛散してウエハを汚染したり、ウエハの取外し
後にウエハ裏面にInが残り、このInを除去する際
にウエハ表面が汚染され、フアインパターン用ウ
エハとして不適であつた。さらにまた、ウエハ裏
面がInと反応して凹凸が生じ、以後の工程で、例
えばマスクパターンを密着させる場合に、ウエハ
に割れを発生させたりする欠点があつた。
それゆえに、この発明の目的は、上記従来の欠
点を解消し、ウエハの取付け、取外し過程で、ウ
エハに汚染を生じさせることなく、しかも取付
け、取外しが容易で量産に適した分子線エピタキ
シヤル装置のウエハ取付装置を提供することであ
る。
(ニ) 課題を解決するための手段及び作用 上記課題を解決するため、この発明の分子線エ
ピタキシヤル装置のウエハ取付装置は、超高真空
チヤンバ内に、エピタキシヤル成長を行うべきウ
エハを収納するためのウエハ取付装置であつて、
加納可能な取付ブロツクと、この取付ブロツク上
に設けられ、前記ウエハを前記ブロツクに脱着自
在に係合固着する固着機構と、前記取付ブロツク
の前記ウエハに対接する面上に設けられ、前記ウ
エハを固着する面以外の面を覆う熱反射板とから
なるものである。
従つて、Inを用いることなくウエハをブロツク
に脱着自在に係合固着することができ、従来Inを
用いることにより生じていた問題点が解消され
る。しかし、ウエハがブロツクに接触しているだ
けなので、従来のInによりウエハをブロツクに貼
り付ける場合に比べて、ブロツクよりウエハに伝
達される熱量が低下する。そこで、熱反射板によ
り、ブロツクより放射される熱を反射して戻しブ
ロツクよりウエハへ、効率のよい熱伝達を行わせ
る。
(ホ) 実施例 この発明の実施例を第2図乃至第6図に基づい
て以下に説明する。
第2図及び第3図は、それぞれ実施例に係るウ
エハ取付装置の熱反射板を省略して示す平面図及
び側面図である。
第2図、第3図において、ウエハ取付装置10
はモリブデンブロツク11と、ウエハ押さえピン
12と、ウエハ押さえピン12の締付け用のネジ
13とから構成されている。このウエハ押さえピ
ン12とネジ13はウエハ14を位置決め固定で
きるように3点に配置されている。15はモリブ
デンブロツク11の加熱用のヒータである。モリ
ブデンブロツク11の表面には、大型ウエハを取
付けた場合でも、チヤンバ内の雰囲気を悪化させ
ずに高温を得るために、熱輻射率を良くする
GaAs層16等が予め付着されている。
第4図は、このウエハ取付装置10に熱反射板
21を装着した状態での側面図で、ウエハ押さえ
ピン12とネジ13は省略している。熱反射板2
1は、モリブデンブロツク11のウエハ14に対
接する面11a上の、ウエハ14を固着する面以
外の面を覆つている。モリブデンブロツク11よ
り発せられる熱は、ウエハ14に対接する面では
GaAs層16を通じてウエハ14に伝達される
が、ウエハ14に対接する面以外の面よりの熱
は、この熱反射板21で反射する。このためモリ
ブデンブロツク11よりの熱放出が抑えられ、ウ
エハ14に対して効率の良い熱伝達を行うことが
できる。
この実施例ウエハ取付装置10で、ウエハ14
の取付けを行うには、ネジ13で押さえピン12
を締付け、押さえピン12でウエハ14を押さえ
付け固定し、取外す場合には、ネジ13をゆるめ
ることにより、それぞれ簡単に行うことができ
る。
第5図は、固着機構の変形を示している。この
実施例ウエハ取付装置30は、モリブデンブロツ
ク11に2本の支柱31,31を立てるととも
に、バネ材32を設け、ウエハ14の端辺を支柱
31,31に当接させるとともに、バネ材32で
ウエハ14の他方の端辺を側方から押圧して、ウ
エハ14を係合固着するようにしている。なお、
第5図では省略しているが、このウエハ取付装置
30にも先と同様の熱反射板が装着される。
第6図は、固着機構のさらに他の変形を示して
いる。この実施例ウエハ取付装置40は、モリブ
デンブロツク11に、内側にそれぞれ切欠を有す
る支柱41,41を立てるとともに、1個の押さ
えピン42及びネジ43を設け、ウエハ14の端
辺を支柱41,41の切欠に嵌込むとともに、ウ
エハ14の他方の端辺を押さえピン42で押さ
え、ネジ43で締付け固定して、ウエハ14をモ
リブデンブロツク11に取付けるようにしてい
る。
このほか、この発明におけるウエハをブロツク
に取外し自在に係合固着する固着機構は、適宜変
形が可能である。
(ヘ) 発明の効果 以上説明したように、この発明の分子線エピタ
キシヤル装置のウエハ取付装置は、超高真空チヤ
ンバ内に、エピタキシヤル成長を行うべきウエハ
を収納するためのウエハ取付装置であつて、加熱
可能な取付ブロツクと、この取付ブロツク上に設
けられ、前記ウエハを前記ブロツクに脱着自在に
係合固着する固着機構と、前記取付ブロツクの前
記ウエハに対接する面上に設けられ、前記ウエハ
を固着する面以外の面を覆う熱反射板とからなる
ものであるから、ウエハの取付け、取外しが簡単
に行え、作業性が向上するのでMBE法を量産に
適用することができる。また、取付ブロツクより
ウエハへ良い熱伝達の効率を保つことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、分子線エピタキシヤル装置のチヤン
バを示す概略図、第2図は、この発明の一実施例
に係るウエハ取付装置の平面図、第3図は、同ウ
エハ取付装置の側面図、第4図は、同ウエハ取付
装置の熱反射板を装着した状態での側面図、第5
図及び第6図は、それぞれ同ウエハ取付装置の固
着機構の変形例を説明する図である。 1:超高真空チエンバ、10,30,40:ウ
エハ取付装置、11:モリブデンブロツク、1
2,42:ウエハ押さえピン、13,43:ネ
ジ、14:ウエハ、16:GaAs層、21:熱反
射板、31,41:支柱、32:バネ材。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 超高真空チヤンバ内に、エピタキシヤル成長
    を行うべきウエハを収納するためのウエハ取付装
    置であつて、加熱可能な取付ブロツクと、この取
    付ブロツク上に設けられ、前記ウエハを前記ブロ
    ツクに脱着自在に係合固着する固着機構と、前記
    取付ブロツクの前記ウエハに対接する面上に設け
    られ、前記ウエハを固着する面以外の面を覆う熱
    反射板とからなる分子線エピタキシヤル装置のウ
    エハ取付装置。
JP19021083A 1983-10-11 1983-10-11 分子線エピタキシヤル装置のウエハ取付装置 Granted JPS6081820A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19021083A JPS6081820A (ja) 1983-10-11 1983-10-11 分子線エピタキシヤル装置のウエハ取付装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19021083A JPS6081820A (ja) 1983-10-11 1983-10-11 分子線エピタキシヤル装置のウエハ取付装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6081820A JPS6081820A (ja) 1985-05-09
JPH0136978B2 true JPH0136978B2 (ja) 1989-08-03

Family

ID=16254294

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19021083A Granted JPS6081820A (ja) 1983-10-11 1983-10-11 分子線エピタキシヤル装置のウエハ取付装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6081820A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07161801A (ja) * 1993-12-02 1995-06-23 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 基板ホルダ
DE4420113A1 (de) * 1994-06-09 1995-12-14 Leybold Ag Transportvorrichtung für in einer Vakuum-Beschichtungsanlage zu beschichtende Substrate

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730320A (en) * 1980-07-29 1982-02-18 Fujitsu Ltd Substrate holder for molecular beam epitaxy
JPS5759665A (en) * 1980-09-25 1982-04-10 Furukawa Electric Co Ltd:The Control method for coated article-baking oven
JPS57107026A (en) * 1980-12-25 1982-07-03 Seiko Epson Corp Heating mechanic for vacuum machine
JPS58102526A (ja) * 1981-12-14 1983-06-18 Nec Corp スパツタ用パレツト治具
JPS58106820A (ja) * 1981-12-19 1983-06-25 Toshiba Corp 膜形成装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730320A (en) * 1980-07-29 1982-02-18 Fujitsu Ltd Substrate holder for molecular beam epitaxy
JPS5759665A (en) * 1980-09-25 1982-04-10 Furukawa Electric Co Ltd:The Control method for coated article-baking oven
JPS57107026A (en) * 1980-12-25 1982-07-03 Seiko Epson Corp Heating mechanic for vacuum machine
JPS58102526A (ja) * 1981-12-14 1983-06-18 Nec Corp スパツタ用パレツト治具
JPS58106820A (ja) * 1981-12-19 1983-06-25 Toshiba Corp 膜形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6081820A (ja) 1985-05-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4599069A (en) Substrate holder for molecular beam epitaxy apparatus
JPH0136978B2 (ja)
JP3911518B2 (ja) 気相成長装置用サセプターと気相成長方法
US6916373B2 (en) Semiconductor manufacturing method
JPH0215520B2 (ja)
JPS60112691A (ja) 分子線エピタキシャル成長装置用の基板保持装置
JP2944426B2 (ja) 分子線エピタキシー装置
JPH0474794A (ja) 基板ホルダおよび基板の装着方法
JPH06132221A (ja) 分子線結晶成長用基板ホルダ
JP3198971B2 (ja) 分子線エピタキシー装置
JPH02248388A (ja) 分子線結晶成長装置
JPH0633229B2 (ja) 分子線結晶成長用基板ホルダー
JPH0319693B2 (ja)
JPH03271193A (ja) 基板保持具
JPH0427198B2 (ja)
JP2001185488A (ja) 気相成長装置及び方法
JPH079371Y2 (ja) 真空容器窓用掃除具
JPS62241894A (ja) ウエハホルダ−
JPH02243591A (ja) 分子線結晶成長装置
JPS63204713A (ja) 分子線結晶成長用基板ホルダ
JP2793939B2 (ja) 化合物半導体結晶の成長方法
JPS6358916A (ja) 分子線エピタキシ−装置
JPS6158891A (ja) 結晶成長装置
JPS62122121A (ja) 半導体基板の加熱方法
JPS6287484A (ja) 分子線エピタキシ装置用リングサセプタ