JPH0132738Y2 - - Google Patents

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JPH0132738Y2
JPH0132738Y2 JP3511785U JP3511785U JPH0132738Y2 JP H0132738 Y2 JPH0132738 Y2 JP H0132738Y2 JP 3511785 U JP3511785 U JP 3511785U JP 3511785 U JP3511785 U JP 3511785U JP H0132738 Y2 JPH0132738 Y2 JP H0132738Y2
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mask
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【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は被焼付け部材、とくにウエハマウン
トに保持され、表面にフオトレジスト膜面を有す
るウエハを、ウエハマウントによつて持ち上げ、
下面にパターンが形成された透明なパターンマス
クに密着させ、密着露光を行うに当つて、前記パ
ターンマスクを保持するマスクホルダーに関する
ものである。
〔従来の技術〕
最近半導体素子に要求される性能に対応するた
め、半導体基板に−族化合物、たとえばGa
−As化合物からなる著しく脆い材料を用いたも
のにおいて、製作工程間に損傷し易いことが問題
とされている。たとえば前記したマスクパターン
による密着露光工程では、従来ウエハマウントの
可動部に保持させたウエハを、マスクホルダーの
固定部に保持させたパターンマスクに、前記ウエ
ハマウントの可動部によつて近接させて密着させ
る際に、アライメント精度を向上させようとして
ウエハに過大な接触圧力を加えてしまい、ウエハ
を破壊したり、もしくは破壊するに到らなくとも
そのフオトレジスト膜面をマスクのパターン面に
接着させるなどのトラブルを完全に防止すること
ができなかつた。このような密着露光工程におけ
るトラブルの解消手段としては、投影露光を行い
うる露光装置の使用が考えられる。しかし直径が
少なくとも4ないし5インチのウエハのフオトレ
ジスト膜面の大部分の領域にマスクパターンを収
差なしに高精度に投影するため特別な光学系を具
備しなければならないから、この種の露光装置は
高価であり、おのずから用途が限定される。
〔考案が解決しようとする問題点〕
半導体基板、とくに著しく脆弱な化合物半導体
基板のたとえば密着露光工程における問題点、す
なわちマスクアライメントを向上させようとし
て、ウエハとマスクとの接触時に過大な接触圧力
を生じさせ、この過大圧力の発生によるトラブル
を皆無になしえないことが従来のマスクホルダー
における問題点である。
この考案は、高価な投影露光式の露光装置を用
いずとも、密着露光に際してアライメント精度を
良好に保持しながら、従来の装置におけるような
トラブルの発生を未然に防止しうるマスクホルダ
ーを提供することを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
この考案は、前記した課題を解決するための技
術的手段として、マスクホルダーをつぎのように
構成した。すなわち、固定部3に取り付けられ、
その固定部からの張り出し部に露光用の開口1を
有する固定台板2と、この固定台板2に傾動自在
に支持され、前記固定台板2の開口1に沿うよう
に一対の腕部4を張り出した可動台板5と、この
可動台板5にほぼ水平位置に保たれるよう傾動自
在に支持され、下面がパターンマスクMの吸着面
をなすとともに、露光用開口9を有するマスク保
持部9と、前記可動台板5の支持軸6の位置に対
して前記開口1,9とは反対側で前記可動台板5
に弾発力を上向きに作用させるように設けられた
弾性手段11,14と、前記マスク保持部8に保
持されたパターンマスクMと被焼付け部材Wとの
接触に際し前記マスク保持部8に作用する押圧力
を検出する押圧力検出用センサ13とによつて構
成されている。
〔作用〕
この考案にかかるマスクホルダーは、前記した
ように構成されているので、つぎのとおり作用す
る。マスクホルダーのマスク保持部8にマスクM
が水平状態で保持され、マスク保持部8とともに
傾動自在とされている。したがつて被焼付け部
材、たとえばウエハWをウエハマウントに水平に
保持させ、ウエハマウントを上昇させることによ
つて前記マスクMに接触させるときは、マスクM
はウエハWになじみながら接触してゆき、両者の
接触は均一に行われる。そしてその間に生ずる接
触圧力は圧縮コイルばね11に予め付与された変
形量によつて左右されるが、この圧縮コイルばね
11の弾発力によつてマスク保持部8に加えられ
る押圧力は押圧力検出用センサ13の出力から算
出して知りうるので、接触圧力を所定の値におさ
えることができる。
〔実施例〕
以下、この考案にかかる実施例装置について図
面を参照しながら詳細に説明する。第1図は、こ
の実施例装置の要部の構成を示す展開斜視図であ
り、第2図はその外形側面図である。左側端部に
露光用の開口1を備えた固定台板2が、第2図に
示すように、たとえば基台に固定した支持台など
の固定部3に張り出して水平に固定されており、
この固定台板2に、その開口1に沿うように一対
の腕部4を張り出した可動台板5が固定台板2に
水平に挿入されたピン6を介して傾動自在に支持
されている。この可動台板5には、その一対の腕
部4に水平に挿入されたピン7を介して、マスク
保持部8がそのほぼ中央部で傾動自在に支持され
ている。マスク保持部8は、露光用円形開口9を
有する偏平な筐体で、その下面は、四隅に真空吸
引孔が開口し、パターンマスクMを吸引して保持
する吸着面とされている。またピン7はその中心
軸線がマスク保持部8の重心位置の直上をよぎる
ようにされていて、自由状態においてはマスク保
持部8は水平姿勢に保たれている。
固定台板2には、その長手方向の軸線上で、そ
の開口1とは反対側に、円形状凹みからなるばね
座10が設けられ、このばね座10に可動台板5
に弾発力を作用させるコイルばね11がガイドブ
ツシユ12に収められて取り付けられており、さ
らにコイルばね11の近傍に押圧力検出用センサ
13が同じく長手方向の軸線上に固定されてい
る。
一方可動台板5には、その長手方向の軸線上
で、コイルばね11および押圧力検出用センサ1
3にそれぞれ対応する位置に小孔が穿設され、こ
れら各小孔を介して先端面でコイルばね11およ
び押圧力検出用センサ13にそれぞれ接触するよ
うに押圧力調整用のマイクロメータヘツド14、
センサ感度調整用の小形マイクロメータヘツド1
5がそれぞれの取り付け片16,17を介して固
定されている。
さらにマスク保持部8にパターンマスクMを吸
着させるに先立つて、パターンマスクMを前記吸
着面に近接してマスク保持部8に送り込む手段と
して、マスク保持部8の前端部の隅部に垂直に挿
入されたピン18を介して、前記吸着面の下方に
若干の間隙を保つて水平面において回動自在に支
持され、かつ露光用開口19を備えた装填板20
が設けられている。把手21は装填板20を回動
させるためのものである。
つぎにこの装置における動作について第3図を
併せて参照しながら説明する。
把手21を水平面においてピン18のまわりに
回動することによつて装填板20をマスク保持部
8の側方に引き出し、この引き出した装填板20
に、所定のパターンが下面に形成された透明なマ
スクMが載置されると、装填板20をマスクMと
ともに把手21によつてマスク保持部8の下面に
持つてき、マスクMを真空吸引によつてマスク保
持部8の吸着面に固定する。この場合、マスク保
持部8は、その重心位置の直上を水平によぎるピ
ン7で可動台板5の腕部4に傾動自在に支持され
ているので、マスクMは水平に保持されている。
このように水平に保持れたマスクMの下方に
は、ウエハマウント25の上部の吸着板26に吸
着されたウエハWが同じく水平に保持されてい
る。ウエハマウント25は、前記基台上に設けら
れたX−Y−θテーブル(図示せず)の中央部
に、このテーブルに対し昇降自在に係合されてい
る。ウエハWに密着露光を行うに先立つてウエハ
マウント25を上昇させ、ウエハWをマスクMに
たとえば50μm程度のアライメントギヤツプを隔
てて近接させ、ウエハマウント25によりマスク
MとウエハWとの位置合せを行う。ついでウエハ
Wを、ウエハマウント25によつて前記アライメ
ントギヤツプををころし、さらにわずかに上昇さ
せる。第3図はこの状態を誇張して模式的に示し
たものである。すなわちウエハWがマスクMに接
触するまではたとえば水平に保持たれていた可動
台板5が図示のとおり傾斜し、圧縮コイルばね1
1はx2だけ予め圧縮された初期状態よりΔx2だけ
圧縮変形し、その結果コイルばね11に生ずる弾
発力W2に比例した押圧力W1がピン7を介してマ
スク保持部8に加えられている。そしてこの場
合、マスクMはウエハWになじみながら接触して
ゆくので、両者の接触は均等に行われ、またその
接触圧力は、前記押圧力W1の大きさを押圧力検
出用センサ13の出力により算出して知りうるの
で、所定の値におさえ、過大な接触圧力を発生さ
せないようにコントロールすることができる。い
ま第3図においてマスクMとウエハWとの接触圧
力をp、接触面積をA、ウエハマウント25から
上向きに作用する反力をW1とすると、W1=p・
A……(イ)となる。
圧縮コイルばね11のばね定数をk、その設定
変形量をx2、その際の弾発力をW2とすると、W2
=k・x2……(ロ)となる。
反力W1および弾発力W2は支点(ピン)6に対
し同じ大きさのモーメントを付与することによつ
てバランスしているからW1・l1=W2・l2……(ハ)
となる。
ウエハW、マスクM接触後における支点(ピ
ン)7の上昇量Δx1、圧縮コイルばね11の圧縮
変形量Δx2およびセンサ13のONとなる位置と
小形マイクロメータヘツド15の下端面との距離
Δyはいずれも微小量であるので、Δx1/l1=Δx2/l2
= Δy/l3……(ニ)なる関係が成立する。
したがつて(イ),(ロ),(ハ)各式より、接触圧力p=
(k・Δx2/A)・(l2/l1)……(ホ) (ニ),(ホ)式よりΔp=(k・Δx2/A)・(l2/l1
)=
(k・Δx1/A)・(l2/l12 l1≒l2であればΔp=k・Δx1/A……(ヘ) (ホ)式より接触圧力pの設定は、マイクロメータ
ヘツド14によつて、コイルばね11を自然状態
よりx2だけ予め変形させることで行われる。
また(ニ)式よりΔy=Δx1・l3/l1となるので、この 値どおり小形マイクロメータヘツド15を調整し
ておけばよい。
〔効果〕
この考案にかかるマスクホルダーにおいては、
それに保持されたマスクに下方からウエハが上昇
して接触するに当つて、常にマスクはウエハにな
じむように保持されているので両者間には均一な
接触状態のもとで、徐々に接触圧力が高められ、
しかもこの接触圧力をコントロールすることがで
きるようにされているので、従来の装置における
ようなウエハとマスクの接触時に過大な接触圧力
を生じさせたことにもとづくトラブルの発生を完
全に防止することができるとともに、アライメン
ト精度の高に密着露光を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この考案の1実施例であるマスクホ
ルダーの要部の構成を示す展開斜視図、第2図は
その外形側面図、第3図はこの装置の作動状態を
誇張して示した模式説明図である。 1……露光用開口、2……固定台板、3……固
定部、4……腕部、5……可動台板、6……ピ
ン、7……ピン、8……マスク保持部、9……露
光用開口、11……圧縮コイルばね、13……押
圧力検出用センサ、14……マイクロメータヘツ
ド、15……小形マイクロメータヘツド、25…
…ウエハマウント、M……パターンマスク、W…
…ウエハ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 固定部に取り付けられ、その固定部からの張り
    出し部に露光用の開口を有する固定台板と、この
    固定台板に傾動自在に支持され、前記固定台板の
    開口に沿うように一対の腕部を張り出した可動台
    板と、この可動台板にほぼ水平位置に保たれるよ
    う傾動自在に支持され、下面がパターンマスク吸
    着面をなすとともに、露光用開口を有するマスク
    保持部と、前記可動台板の支持軸の位置に対して
    前記開口とは反対側で前記可動台板に弾発力を上
    向きに作用させるように設けられた弾性手段と、
    前記マスク保持部に保持されたパターンマスクと
    被焼付け部材との接触に際し前記マスク保持部に
    作用する押圧力を検出する押圧力検出用センサと
    を備えたことを特徴とするマスクホルダー。
JP3511785U 1985-03-11 1985-03-11 Expired JPH0132738Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3511785U JPH0132738Y2 (ja) 1985-03-11 1985-03-11

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3511785U JPH0132738Y2 (ja) 1985-03-11 1985-03-11

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JPS61151334U JPS61151334U (ja) 1986-09-18
JPH0132738Y2 true JPH0132738Y2 (ja) 1989-10-05

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ID=30539104

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