JPH01304369A - キャプチャ装置 - Google Patents

キャプチャ装置

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JPH01304369A
JPH01304369A JP13586888A JP13586888A JPH01304369A JP H01304369 A JPH01304369 A JP H01304369A JP 13586888 A JP13586888 A JP 13586888A JP 13586888 A JP13586888 A JP 13586888A JP H01304369 A JPH01304369 A JP H01304369A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の第1」用分野」 本発明はマイクロコンビーータによるパルス幅。
パルス間隔などを計測するだめのキャプチャ装置に関1
゛る。
〔従来の技術」 従来、パルス幅ヤハルス間隔は所定のカウントクロック
を計数するタイマカウンタを用いて行なっており、計測
すべきパルス入力数が増えた場合にはそれに対応し℃タ
イマカウンタの数を増力口して計測を行なっている。し
り・シながら、かかる方式によれば、パルス入力数が増
えるとハードウェア負担が非常に大きくなり、応用/ス
テムのコスト高を招くことになる。
そこで最近では、パルス入力数が増えてもタイマカウン
タを1つのみとして共通に使用し、且つパルス入力数に
応じた数のメイマカウンタ値をラッチするレジスタを設
定することにより、パルス幅やパルスL口j隔などの計
測を行なうキャプチャ装置を用いたシステムが考えられ
ている。以下、この従来のキャプチャ装置を用いた針側
システムおよびその動作を第5区乃至第8図を用いて説
明する。
第5図は従来の計測/ステムのブロック構成図である。
第5図に示すように、かかる計測システムはパルス入力
端子6〜9からのパルスを計測するキャプチャ装置1′
と、キャプチャ装置1′に接続されたキャブチャ割込要
求信号線10.12.14゜16を介して送出されるキ
ャプチャ割込要求に基づき計測結果を演算するC I)
 U 2と、CPU2が実行するグログラムを記憶する
ROM4と、演算時に一時的にデータを記憶するRAM
5およびそれらを接続するバス3とから構成されている
。このキャプチャ装置1′はパルス入力端子6〜9に印
加されるパルスを入力し、このパルス入力に応じてタイ
マ力クンタ値をラッチしたことを示すキャブチャ割込み
要求を信号線10.12,14゜16を介してCPU2
に出力する。
次に、第6図は従来のキャプチャ装置の一例を説明する
ための詳細回路図である。
第6図に示すように、キャプチャ装置は所定のクロック
をカウントするタイマカウンタ18と、パルス入力端子
6〜9に印加されたノくバスの立上りエツジを検出する
エツジ検出回路19.23゜27.31と、それぞれの
エツジ検出回路19゜23.27.31が入力パルスの
エツジを検出したときに夕・イマカウンタ18の値を取
シ込むキャプチャレジスタ20.24.28.32と、
ノくス3およびタイマカウンタ18間のデータの送受を
行つオーバーフロー7ラグ41とから構成されている。
このタイマ力つ7タ18がフルカウントすると、CP 
U 2 (第り図#照)がグログラム処理によりリード
、ライト可能7ヨオーバーフローフラグ41をセットす
る。次に、キャプチャレジスタ20.24.28.32
はタイマカウンタ18の値を取り込んだときに、それぞ
れに対応するキャブチャ割り込み情報をキャプチャ割込
信号線10゜12.14.16を介してCPU2に対し
て出力する。
次に、かかる構成のキャプチャ装置を用いた従来の1t
fA’l システム、特にパルス間隔計測のグログラム
処理を第5図乃至第7図を参照して説明する。
第7図は第6図に示すキャプチャ装置の動作を説明する
ためのタイミング図である。
第7図に示すように、このタイミング図はタイマカウン
タの値に対するパルス入力の三つのケース〔(1)〜(
3)〕を表わしている。
まず、パルス入力端子6に図中(1)に示すようなパル
スが入力されると、エツジ検出回路19はパルスの立上
シを検出し、TIタイミングでキャプチャV)スタ20
にタイマカウンタ18の値を取込みラッチする。このラ
ッチと同時にキャブチャ割込み要求信号線10がアクテ
ィブになるのでCPu2は割込み要求を受付け、几OM
4に記憶されている割込み処理グログラムを起動すると
ともに、次のパルス入力の立上りに備えてキャプチャレ
ジスタ20の値をバス3を介してR,AM 5へ転送し
且つ一時的に記憶する。次に、パルス入力端子6からの
パルスが立上るT3タイミングでも同様のラッチ動作が
行なわれ、CPU2は割込み処理プログラムによりキャ
グチャレンスタ20の値から几AM5上に記憶しである
前回のラッチデー゛りを減算する。この処理によりパル
ス入力端子6に印加されるパルスの間隔(TlからT3
タイミング1での間隔二図中(a))を計611」する
ことができる。
一力、タイマカウンタ18はフルカウントを繰返すフリ
ーランニング伏態で動作を行なっているためオーバーフ
ローが発生するので、例えばT4タイミングでオーバー
フローフラグ41にこれをセットする。
次に、図中(2)、 (3)に示すように、入力される
パルス間隔の間でタイマカウンタ18がオーバーフロー
したときの処理を説明する。
まず、図中(2)に示す場付では、T5タイミングでラ
ッチした値からT2タイミングでラッチした値を減算す
ることにより、正しいパルス間隔(図中(b))を計測
することができる。また、図中(3)に示す場合では、
キャプチャレジスタ20はタイマカウンタ18と同じビ
ット幅のためT6タイミングでラッチした値からTIタ
イミングでラッチした値を減算し、さらにタイマカウン
タ18のオーバーフロー周期分の局間を加えて補正する
ことにより、正しいパルス間隔(図中(C))を得るこ
とかできる。
以上に示したように、キャプチャレジスタヲ用いて演算
処理を行ないパルス間隔を計測するには、前のタイミン
グでラッチした値をCAPAとし且つ後のタイミングで
ラッチした値をCAL)Bとすると、パルス間隔はオー
バーフローが発生したか否かにより以下のように処理を
区別する必要がある。
■計測するパルスの間隔中にオーバーフローが発生しな
い場合 (図I:P(1)の場合) パルス間隔=CAPB−CAPA ■計測するパルスの間隔中にオーバーフローが発生した
場合 CAPB(CAPA(図中(2)の場合)パルス間隔=
CAPB−CAPA CAPBンCAPA(図中(3)の場合)パルス間隔=
CAPB−CAPA十タイマカフ − ウンタ18のオーバーフロー周期 このように、従来のパルス計測におい又は前記処理によ
りタイマカウンタ180オーバーフロー周期の最大2倍
までのパルスllJ〕隔を計測することができる。とこ
ろが、前記処理は1本のパルス入力について注目して処
理を示したが、実際には第6図に示すように4本のキャ
プチャレジスタについて同一のタイマカウンタ18とオ
ーバーフローフラグ41を用いてグログラム処理を行な
う必要がある。
次に、第8図は第6図に示すキャプチャ装置の動作を説
明するための複数株類のパルスのパルス115隔を同時
に計測]する処理を示すタイミング図である。
第8図に示すように、T4タイミングにてキャブチャ割
込み安来信号線12からのキャブチャ割込みが発生した
ときのソフトワエア処理を表わす。
このキャブチャ割込み12に対する割込み処理プログラ
ムでは、まず前回にラッチしたT2タイミングからT4
タイミングまでにタイマカウンタ18がオーバーフロー
したかを否かを検出するためオーバーフローフラグ41
 K対しバス3を介して杭み込み且っ抗み込んたものを
テスト−fるとともに、次ノ、、l−−/<−フローに
圃えてオーバーフローフラグ41に0をiff込みりて
ツトしておく。その後、キャン”ナヤ装置1′のキャブ
チャ蝕ハ)ら図中(a)で示されるパルス間隔を減算処
4!により求める。
−刀、他のパルス入力端子7に印〃目されるパルスは′
P5タイミングで立上るため、キャプチャレジスタ24
に′v5タイミノグにおけるタイマカウンタ18の値乞
ラッチするので、キャグナヤ割込み*′$12かアクテ
ィブになる。この割込み処理では、前回フッテ動作ケ行
なったT1タイミングからT5タイミノグ筐での間にタ
イマカウンタ18がオーバーフローしているにもD)か
わらず、すでに、T4タイミングにおける割込み処理で
リセットされているため、グログラム処理ではオーバー
フローの発生がなしと判断し、パルス間隔として図中(
C)を計測結果とし、正しいパルス間隔(図中(b) 
)との間にタイマカウンタ18がオーバーフロ−する一
周期分の勝差を発生してしまうという致命的な問題が起
きる。通常、パルス計測した結果から応用ンスデムに接
続されているモータなどの印加すべき電圧を制隣するた
め、パルス間隔計測を誤まることは応用/ステムが正常
動作しないことを意味し大きな問題となる。
〔発明が解決しようとする課題J 上述した従来のキャプチャ装置においてiは、タイマカ
ウンタがオーバーフローした際の補正を正しく行えない
という欠点がある。
〔課題を解決するための+段〕
本発明のキャプチャ装置は、所定のクロックを計数する
タイマカウンタと、前記タイマ力ワンタ出力を所定のト
リガ信号入力によりラッチする複数のキャプチャレジス
タと、前記キャプチャレジスタに対応して設けられ、所
定のクリア信号によりリセットされ且つ前記タイマカウ
ンタのオーバーフロー信号によりセットされる第一のラ
ッチ手段と、前記クリア信号により 1)セットサれ且
つ前記トリガ信号により前記第一のラッチ手段の出力を
それぞれ書き込む第二のラッチ手段とを備えて構成され
る。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例を図面を参照して説明する0 第1図は本発明のキャグチ装置を用いたパルス計測/ス
テムのブロック構成図である。
第1図に示すように、かかるパルス計測システムは4つ
のパルスを入力し計測するキャプチャ装置1と、この計
測結果を演算するCPU2と、CPU2が実行スるプロ
グラムを記憶するROM4と、CPU2の演算時に一時
的にデータを記憶するRAM5およびこれらの各装置間
の情報受授のために接続されたバス3とから構成されて
いる。
キャプチャ装置1はパルス入力端子6〜9に印加される
パルスを入力し、パルス入力に応じたラッチ動作を行っ
たことを示すキャプチャ割込み要求信号線10.12.
14.16からの割シ込み安来信号をCPU2に対して
出力する。また、キャプチャ装置lKは、オーバーフロ
ーを示すフラグをクリアするためのクリア信号をCP 
U 2から受信するクリア信号線11.13.15.1
7が設けられている。
第2図は本発明の第一の実施例を説明するための第1図
に示すキャプチャ装置の詳細回路図である。
第2図に示すように、かかるキャプチャ装置1は所定の
クロックをカウントするタイマカウンタ18と、パルス
入力端子6〜9に印加されたそれぞれのパルスのエツジ
を検出するエツジ検出回路19.23,27.31と、
このエツジ検出回路がエツジを検出したときにタイマカ
ウンタ18の出力を読み取シシッチするキャプチャレジ
スタ≠20.24.28.32と、各キャプチャレジス
タ20.24.28.32に対応して設けられ、しかも
第一のラッチ手段を構成するためにタイマカウンタ18
からのオーバーフロー信号18Aによりセットされ且つ
CPU 2からのクリア信号線11.13.15.17
によるクリア信号でリセットされるセット・リセットフ
リラグフロッグ媚(以下、S RF/Fと称すン21,
25.29・罐33’、Th、第二のラッチ手段を構成
するためにこれらSR,F/Fの各出力をそれぞれデー
タ入力とし対応するエツジ検出回路19.23.27.
31からの出力信号でSRF/F21,25.29.3
3の各レベルをラッチする一方、CPU2からのクリア
信号線11.13’、15’、17によるクリア信号ソ
リセットされるDラッチ構成のオーバーフローフラグ2
2,26,30.34とを含んで構成される。
次に、このキャプチャ装置1におけるキャプチャレジス
タ20,24.26.32とSR,F’/li”22.
26.30.34およびオーバーフローフラグ22,2
6.30.34の動作について、第2図および第3図を
参照して説明するが、個々の動作は等しいので代表して
パルス入力端子6および7に印/J11されるパルス間
隔を計測する場合の動作を説明する。
第3図に示すように、ここではsaF/p  21とD
ラッチ22とはToタイミングであらかじめクリアされ
ているものとする。まず、T1タイミングでパルス入力
端子6にパルスが入力されると、エツジ検出回路19は
パルスの立上クエッジを検出し、その時のタイマカウン
タ18出力をキャプチャレジスタ20にラッチする。ま
た、同時にSRF/F 21のレベルがオーバーフロー
7ラグ22にラッチされ、キャプチャ割込み要求10が
アクティブになる。かかるエツジ検出回路19が立上り
エツジを検出する前のタイミングでタイマカウンタ18
がオーバーフロー信号18Aを発生しているとS’RI
;’/F’ 21はセットされているので、T2タイミ
ングではタイマカウンタ18の値がキャプチャレジスタ
20にラッチされると同時にオーバーフローフラグ22
がセットされる。従って、キャプチャ割込み要求10が
アクティブになるとCPU2は几OM4にあらかじめ格
納された割込み処理プログラムを笑行し、オーバーフロ
ーフラグ22の伏態をバス3を介して読み込む。次に、
この読み込んだ伏態のテストを行なった後に1゛3タイ
ミングでクリア信号11をアクティグにしてSRF/F
21とオーバーフローフラグ22とを共にリセットする
。この処理プログラムではRAM5に記憶されている前
回にキャプチャした値と、キャプチャレジスタ20の値
およびオーツ(−フローフラグ22の伏態とから)々ル
ス間隔を正しく計測することができる。
また、図中(2)に示す他のパルス入力端子7にノくバ
ス入力が行なわれた場合でも、同様にエツジ検出回路2
3てよりタイマカワツタ18の値をキャプチャレジスタ
24に取り込みラッチすることになるが、本発明ではキ
ャプチャレジスタ毎にオーバーフローフラグを有してい
るので、干ヤノ”チャ割込み要求10による割込み処理
によりオー−ノ<−フローフラグ26がリセットされる
ことは7゛ヨい。
従って、キャブチャ割込み要求12により起動される割
込み処理グログラムではオーツ(−フローフラグ26を
読み込むことで正しいパルス間隔を計測することができ
る。尚、S xcJyF2 sおよびオーバーフローフ
ラグ26のクリヤに関しては前述と同様にクリヤ信号1
3により行われる。
次に、第4図は本発明の第二の実施例を説明するための
キャプチャ装置の詳細回路図である。
第4図に示すように、このキャプチャ装置は、前述した
第一の実施例がSRF/F 21 、25.29゜33
およびオーバーフローフラグ22.26.30゜34を
それぞれ対応するクリア信号11,13゜15.17に
よりフリアしていたものを、バス3上のデータによりS
II、F/Fおよびオーバーフローフラグをクリアする
例である。尚、SRF/F’ 21 。
25.29.33およびオーバーフローフラグ僕22.
26.30.34のクリア動作以外の動作は前述した第
一の実施例に等しいので、ここではクリア動作のみを説
明する。
まず、SRF/F21のリセット入力およびオーバーフ
ローフラグ22のクリア入力はバス30ビツト0に接続
されている。以下、同様にSRF/F25、オーバーフ
ローフラグ26はビット1に、SRF/F 29 、オ
ーバーフローフラグ30はビット2に、S凡F/F 3
3 、オーバーフローフラグ34はビット3にそれぞれ
接続されている。従って、CPU2はキャブチャ割込み
要求10.12゜14.16を受付けると、対応するオ
ーツく−フローフラグ22,26.30.34を読み出
しテストする。このテストを行った後、バス3にリセッ
トしたいSRF/Fとオーバーフローフラグに対応する
ビットを0に設定したデータを出力すると同時に、ライ
ト信号40をハイレベルとする。ここでは、バス3上の
データはビット0のみがO9他のビットが1とすると、
インバータ39の出力はロウレベルとなり、筐たバス3
上のビット0のデータがOであるので、ノアケート35
のみの出力がハイレベルとなす、オーバーフローフラグ
22およびSRF/F 21がクリアされる。すなわち
、他のSRF/Fおよびオーバーフローフラグはバス3
上のデータが1であるのでクリアされることはない。
尚、上述したように、第一および第二の実施例を用いた
パルス計測装置ではキャプチャレジスタの本数は4本で
示したが、本数が更に増加しても本発明は同様に有効で
ある。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明のキャプチャ装置はフリー
ランニング動作を行なうタイマカウンタとこのカウンタ
に接続した複数のキャプチャレジスタとこのキャプチャ
レジスタ毎に設けたカウンタのオーバーフロー7ラグ手
段とを有することにより、タイマカウンタがオーバーフ
ローした際の計測データの補正を容易に行なうことがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のキャプチャ装置を用いたパルスi 1
11システムのブロック構成図、第2図は本発明の第一
の実施例を説明するためのキャプチャ装置の詳細回路図
、第3図は第2図に示すキャブチャ装置の動作ta明す
るためのタイミング図、第4図は本発明の第二の実施例
を説明するためのキャプチャ装置の詳細回路図、第5図
は従来のパルス針側/ステムのブロック構成図、第6図
は従来の一例を説明するためのキャプチャ装置の詳細回
略図、第7図および第8図は共に第6図に示す従来のキ
ャグナヤ装置の動作を説明するだめのタイミング図であ
る。 1・−・・・・キャブチャ装置、2・・・・・・CPU
、3・・・・・・バス、4・・・・・・ROM、5・・
・・・・RAM、6〜9・・・・・・パルス入力端子、
10,12,14.16・・・・・・キャプチャ割込み
要求信号線、11,13.15゜17・・・・・・クリ
ア信号線、18・・・・・・タイマカウンタ、19.2
3.27.31・・・・・・エツジ検出回路、20゜2
4.28.32・・・・・・キャプチャレジスタ、21
゜25.29.33・・・・・・セット・リセットフリ
ラグフロッグ(IF’/F )、22,26.30.3
4・・・・・・オーバーフローフラグ、35〜38・・
・・・・ノアゲート、39・・・・・・インバータ、4
0・・・・・・ライト信号線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定のクロックを計数するタイマカウンタと、前記タイ
    マカウンタ出力を所定のトリガ信号入力によりラッチす
    る複数のキャプチャレジスタと、前記キャプチャレジス
    タに対応して設けられ、所定のクリア信号によりリセッ
    トされ且つ前記タイマカウンタのオーバーフロー信号に
    よりセットされる第一のラッチ手段と、前記クリア信号
    によりリセットされ且つ前記トリガ信号により前記第一
    のラッチ手段の出力をそれぞれ書き込む第二のラッチ手
    段とを備えたことを特徴とするキャプチャ装置。
JP63135868A 1988-06-01 1988-06-01 キャプチャ装置 Expired - Fee Related JPH0635998B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6324198B1 (en) 1997-12-12 2001-11-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus and method for compensating for temperature of laser diode
JP2007057446A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Fujitsu Ten Ltd パルス信号測定装置及び方法
JP2014067145A (ja) * 2012-09-25 2014-04-17 Denso Corp クロック信号のセルフ検査回路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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