JPH0511029A - 故障診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 故障診断において、エラー検出箇所からのフ
ァンイントレースにより従来の絞り込み手段では絞り込
めなかった範囲まで絞り込みを行い、故障の診断時間の
短縮をはかる。 【構成】 テストパタン１０より、そのパタン中で値が
固定されている入力ピンＦとその値“０”とを抽出し、
固定値ピン情報１１として出力する。回路の論理接続情
報９で、入力ピンＦから出力側へ値が確定するまで演算
を繰り返す。この場合は信号線Ｎ３まで値が確定する。
その後、エラーを検出した出力ピンＺからファンイント
レースして故障範囲を絞り込むが、その際、ＡＮＤゲー
トＣの入力Ｎ２は“０”で固定されているので、単一故
障を固定すれば、信号線Ｎ５のファンイン側には故障が
ないことが判り、絞り込み故障情報１２が作成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は論理回路の故障診断方式
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、論理回路（以下回路という）の単
一故障に対する故障診断方式は、試験機でエラーの発生
した箇所からファンイン方向にトレースし、トレースさ
れた回路部分のみに故障範囲を絞り込み、その後故障シ
ミュレーションや故障辞書方式により故障の特定を行っ
ていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の故障診
断方式において、最初に故障範囲を絞り込むのは、その
後の故障シミュレーションや故障辞書方式が非常に時間
を要するものであるため、それらの方法を用いる前にあ
る程度故障数を減らしておくことを目的としている。

【０００４】ところが、スキャンパスなどのように回路
全体に接続されている回路などがあると、エラー箇所か
らのファンイン方向へのトレースだけでは故障範囲の絞
り込みが困難になるという欠点がある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の故障試験方式
は、回路の論理接続情報及びテストパタンとその回路を
テスタでテストした際のエラー情報が与えられたとき
に、テストパタンを入力し、そのテストパタン中で
“０”もしくは“１”に値が固定されている入力ピンを
抽出し、それを固定値ピン情報として出力する固定値ピ
ン抽出手段と、回路の論理接続情報と固定値ピン情報と
を入力し、固定値の影響により定常的に値が確定する回
路内信号を演算によって求める固定値信号演算手段と、
この固定値信号演算手段による演算後の回路の論理接続
情報とエラー情報とを入力し、エラー発生箇所からのフ
ァンイントレース中、固定値信号により活性化されない
部分回路の故障を削除して故障範囲を絞り込む絞り込み
手段とを有している。

【０００６】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。

【０００７】図１は本発明の一実施例における処理の流
れを示すフローチャートである。

【０００８】本発明の故障診断方式は、固定値ピン抽出
手段１と、固定値信号演算手段２と、故障絞り込み手段
３とから構成される。

【０００９】固定値ピン抽出手段１は、テストパタン４
を入力し、そのテストパタン中で値が“０”又は“１”
で固定されている入力ピンを抽出し、固定値ピン情報７
として出力する。

【００１０】固定値信号演算手段２は、回路の論理接続
情報５と固定値ピン情報７とを入力し、値が確定してい
る入力ピンから順次出力側へ、値が確定するまで演算を
行い、その結果を回路の論理接続情報５の中に記述する
手段である。

【００１１】故障絞り込み手段３は、回路の論理接続情
報５とエラー情報６とを入力し、エラーを検出した箇所
から論理素子のファンイン方向にトレースを行い、故障
範囲をトレースされた回路に限定する手段であるが、そ
の際、回路の論理接続情報５の中に記述された値の確定
した信号の情報を参照し、また、活性化されない部分回
路はトレースを省略することにより、故障範囲をより小
さい部分回路に絞り込み、絞り込み後の回路の故障情報
として出力する手段である。

【００１２】図２は本実施例の具体的な適用の一例を示
す模式図である。

【００１３】まず、テストパタン１０では、入力ピンＦ
の値は全パタンを通して“０”となっている。従って、
固定値ピンはＦでその固定値は“０”という固定値ピン
情報１１を得る。この固定値ピン１１を基に入力ピンＦ
から出力側へ値が確定するまで演算を進めていく。即
ち、本実施例では、入力ピンＦの値が“０”であること
により、信号線Ｎ１の値が“０”となる。信号線Ｎ１の
値はＡＮＤゲートＡに入力されているが、信号線Ｎ１の
値が常に“０”であるから、ＡＮＤゲートＡの出力の信
号線Ｎ２の値も信号線Ｎ２の値も常に“０”になる。そ
の結果、ＡＮＤゲートＣの出力の信号線Ｎ３にも常に
“０”になる。ところが、ＤはＯＲゲートであり、入力
の信号線Ｎ３が“０”であってもその出力の信号線Ｎ４
の値は確定しない。従って、ここで演算処理を終える。
このように確定した信号線の値を回路の論理の接続情報
９の中に記述していく。

【００１４】そして最後に、エラーを検出した出力ピン
Ｚから入力側へファンイントレースを行い、トレースさ
れた回路部分に故障範囲を絞り込む。その際、ＡＮＤゲ
ートまでトレースしてきたとき、その入力の信号線Ｎ２
は常に“０”であり、また、ＣはＡＮＤゲートであるた
め、このＡＮＤゲートＣのもう一方の入力の信号線Ｎ
５、即ち、ファンイン側の部分回路Ｄ２の信号の値は、
出力ピンＺに伝搬されることはなく、単一故障を仮定す
れば、この部分には故障はないと考えられる。従って、
絞り込み後の故障情報１２が得られ、故障範囲は出力ピ
ンＺのファンイン側であって、かつ、ＡＮＤゲートＣの
信号線Ｎ５のファンイン側部分回路Ｄ２以外の領域と判
断される。

【００１５】これにより、故障範囲をＡＮＤゲートＢの
ファンイン側部分回路Ｄ１に絞り込んで調べればよい。

【００１６】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、与えられ
たテストパタンから、値が固定になる入力信号を抽出
し、活性化されない部分回路の故障を削除するという方
法を、従来のエラー箇所からファンイン方向へのトレー
スによって故障を絞り込むという方法に加えることによ
って、従来の手法だけでは絞り込めなかった範囲まで故
障の絞り込みを行うことが可能になる。

【００１７】特に、スキャンパス入りの回路を通常動作
モード（シフト動作させない）のテストパタンで試験を
行い、エラーが生じた場合に効果がある。スキャンパス
回路は回路全体に接続されているため、従来の方式は、
即ち、ファンイントレースの方法のみでは、ほとんど全
ての回路のトレースを行うことになり絞り込みの効果が
ない。しかし、本発明の故障診断方式では、入力が通常
モードのテストパタンなのでスキャンパスは活性化され
ず、従って、ファンイントレースしないため絞り込み範
囲を非常に小さくできるとうい効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の処理の流れを示すフローチ
ャートである。

【図２】本実施例の具体的な適用の一例を示す模式図で
ある。

【符号の説明】

１ 固定値ピン抽出手段 ２ 固定値信号演算手段 ３ 故障絞り込み手段 ４、１０ テストパタン ５、９ 回路の論理接続情報 ６ エラー情報 ７、１１ 固定値ピン情報 ８、１２ 絞り込み後の回路の故障情報 Ａ、Ｂ、Ｃ ＡＮＤゲート Ｄ ＯＲゲート Ｆ 入力ピンＦ Ｚ 出力ピンＺ Ｄ１ ＡＮＤゲートＢのファンイン側部分回路 Ｄ２ ＡＮＤゲートＣの信号線Ｎ５のファンイン側部
分回路 Ｎ１〜Ｎ５ 信号線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｆ 11/28 ３１０ Ａ 8725−5Ｂ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 回路の論理接続情報及びテストパタンと
   その回路を試験した際のエラー情報とが与えられたとき
   に、前記テストパタンを入力し、そのテストパタン中で
   “０”もしくは“１”に値が固定されている入力ピンを
   抽出し、それを固定値ピン情報として出力する固定値ピ
   ン抽出手段と、前記回路の論理接続情報と前記固定値ピ
   ン情報とを入力し、固定値の影響により定常的に値が確
   定する回路内部信号を演算によって求める固定値信号演
   算手段と、この固定値信号演算手段による演算後の回路
   の論理接続情報エラーと情報とを入力し、エラー発生箇
   所からのファンイントレース中、固定値信号により活性
   化されない部分回路の故障を削除して故障範囲を絞り込
   む故障絞り込み手段とを備えることを特徴とす故障診断
   方式。