JPH01287431A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH01287431A JPH01287431A JP11743688A JP11743688A JPH01287431A JP H01287431 A JPH01287431 A JP H01287431A JP 11743688 A JP11743688 A JP 11743688A JP 11743688 A JP11743688 A JP 11743688A JP H01287431 A JPH01287431 A JP H01287431A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- thermistor
- oscillation
- time
- counter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 8
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 48
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 14
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】
本発明は半導体装置の電子体温計における検温方法に関
する。 【従来の技術１ 従来の電子体温計は第２図のように規準抵抗４１をサー
ミスタ発振回路４４にて発振を開始する。この時、発振
カウンタ回路４５．タイマーカウンタ回路４８はリセッ
トされた状態からカウントを始める１発振カウンタ回路
４５がカウンタデコーダ回路４６にあらかじめセットさ
れた値になると制御回路４９に信号が出力され、その時
のタイマーカウンタ回路４８の値がタイマーラッチ回路
５０にラッチされる。 次に規準抵抗４１からサーミスタ４２に切替えをし、サ
ーミスタ発振回路４４にて発振を開始する。この時発振
カウンタ回路４５、タイマーカウンタ回路４８はリセッ
トされており、この状態からカウントを始める。タイマ
ーカウンタ回路４８と、先程のタイマーラッチ回路５０
にラッチされた値とを一致検出回路５１で絶えず比較し
ており、一致が検出された場合、制御回路４９へ信号が
送られ、制御回路４９により発振カウンタ回路４５のカ
ウントが停止する。 この発振カウンタでカウントされた値がサーミスタの温
度情報となっていた。 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし従来の電子体温計は、高い温度分解能を得るため
にはサーミスタでカウントする値が大きくなければなら
ない、すなわちあらかじめ設定される規準抵抗の発振カ
ウント数を大きくするか。 規準の温度を与える規準抵抗値を大きくするしかない、
この場合どうしても１回計測を行なう時間が増大する。 すなわち規準抵抗を発振している時間を長くしなければ
ならないためである。 この計測時間を短かくするために、基準抵抗、サーミス
タの発振周波数をアップする事も考えられる。しかしこ
の計測方法は基準抵抗、サーミスタの充電時間を比較す
る方法である０発振させるためには放電時間がどうして
も必要になり、この放電時間は温度計測にとって誤差の
要因になる。 基準抵抗、サーミスタの発振周波数を大きくする事は、
基準抵抗、サーミスタの発振周期は小さくなる事であり
、相対的に放電時間の割合が大きくなり、計測誤差の増
大につながる。規準抵抗、サーミスタの発振周期を上げ
るためには同時に放電時間も小さくしなければならない
、放電時間を同様に短か（するのはトランジスタサイズ
を大きくしなければならず、チップコストの増大を招い
ている。 そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところは、回路構成を一部変更することに
より容易に温度測定時の分解能を向上させるところにあ
る。 ［課題を解決するための手段］ 本発明の半導体装置は、 ａ）コンデンサを規準抵抗またはサーミスタで充電し、
それぞれの充電時間を比較し温度を計測する電子体温計
において、 ｂ）基本温度を規定する規準抵抗、 Ｃ）温度を測定するサーミスタ、 ｄ）前記規準抵抗または前記サーミスタで充電するため
のコンデンサ、 ｅ）前記規準抵抗、前記サーミスタ、前期コンデンサ及
びスイッチング手段からなるサーミスタ発振回路、 ｆ）サーミスタ発振回路からの発振を数えるサーミスタ
カウンタ、 ｇ）サーミスタカウンタ回路より決められた数を検出す
るカウンタデコーダ、 ｈ）時間を計る基本になるクロック発振回路、ｉ）クロ
ック発振を数える、アップダウンカウンタで構成される
タイマーカウンタ回路、ｊ）以上の各回路を制御する制
御回路より構成され、サーミスタ発振時間とクロック発
振時間の差が温度情報となる事を特徴とする。 〔作 用］ 本発明の上記の構成によれば、規準抵抗の発振をサーミ
スタカウンタ回路で数え、あらかじめ定められた数にな
るまでの時間をタイマーカウンタ回路でダウンカウント
を行なう０次に規準抵抗からサーミスタに切替を行ない
、サーミスタの発振を同じく定められた数まで発振を行
ないこの時間をタイマーカウンタ回路で先程の数からア
ップカウントを行なう、このアップカウントをして残っ
た数が温度情報となる。 〔実 施 例］ 以下、本発明について実施例に基づいて詳細に説明する
。 第１図は、本発明の半導体装置のブロック図である。１
１は測定温度の規準を与える基準抵抗９１２は温度測定
部へあてるサーミスタ、１３は基準抵抗１１またはサー
ミスタ１２に見合ったコンデンサ、１４はコンデンサ１
３を基準抵抗１１またはサーミスタ１２で充電し、ある
レベルまで充電されると即座にコンデンサ１３を放電し
再び充電を始めることにより、基準抵抗１１またはサー
ミスタ１２とコンデンサ１３で発振を行なうサーミスタ
発振回路、１５はサーミスタ発振回路１４から出力され
る発振信号を数えるサーミスタカウンタ回路、１６はサ
ーミスタカウンタ回路１５の状態をデコードし、あらか
じめ決められた値を検出すると信号を出力するカウンタ
デコーダ回路。 １７は時間を計測するために規準信号を出力するクロッ
ク発振回路、１８はクロック発振回路１７からのクロッ
ク信号をアップカウントまたはダウンカウントを行なう
タイマーカウンタ回路、１９はそれぞれの指揮を行なう
制御回路である。 サーミスタカウンタ回路１５及びタイマーカウンタ回路
１８をともにリセットしておき、まずサーミスタ発振回
路１４で規準抵抗１１の発振を行なう、この時、同時に
タイマーカウンタ回路１８で制御回路１９の指示のもと
アップカウントを行なう、サーミスタカウンタ回路１５
があらかじめ決められた値になった時、カウンタデコー
ダ回路１６がそれを検出し、制御回路１９へ信号をおく
る。制御回路ではただちにタイマーカウンタ回路１８に
クロック発振回路１７のクロック信号のアップカウント
をストップさせる。 次にタイマーカウンタ回路１８はそのままにして、サー
ミスタカウンタ回路１５はリセットを行なう、サーミス
タ発振回路１４で規準抵抗１１からサーミスタ１２へ切
替を行ないサーミスタ発振をスタートさせる。同時にタ
イマーカウンタ回路１８もカウントをスタートさせるが
今回はダウンカウントを行なう、前回と同様にサーミス
タカウンタ回路１５が決められた数に達するとカウンタ
デコーダ回路１６がそれを検出し、制御回路１９を通し
てタイマーカウンタ回路１８のダウンカウントをストッ
プする。このストップした時の値がすなわち温度情報に
なる。 ここでは規準抵抗発振時にアップカウント、サーミスタ
発振時にはダウンカウントを行なっているが、これが逆
であっても可能である。 尚、ここに挙げた実施例はあくまでも一実施例にすぎな
いものである。 〔発明の効果〕 以上述べた様に、本発明によれば規準抵抗、サーミスタ
、コンデンサはそのままにして、クロック発振周波数を
上げてあげれば高い分解能が容易に得られるという効果
がある。 またさらに規準抵抗、サーミスタ、コンデンサの定数を
変更し、放電時間はそのままにして、充電時間を大きく
する事により、相対的に放電時間が小さ（なる０発振ク
ロックが同じならば分解能がさらに増す他に、検温精度
の向上もまた期待できる。また検温時間を同一とするな
らば発振クロックを増すだけで以前と同様の分解能とな
り、検温精度が向上する効果がある。
する。 【従来の技術１ 従来の電子体温計は第２図のように規準抵抗４１をサー
ミスタ発振回路４４にて発振を開始する。この時、発振
カウンタ回路４５．タイマーカウンタ回路４８はリセッ
トされた状態からカウントを始める１発振カウンタ回路
４５がカウンタデコーダ回路４６にあらかじめセットさ
れた値になると制御回路４９に信号が出力され、その時
のタイマーカウンタ回路４８の値がタイマーラッチ回路
５０にラッチされる。 次に規準抵抗４１からサーミスタ４２に切替えをし、サ
ーミスタ発振回路４４にて発振を開始する。この時発振
カウンタ回路４５、タイマーカウンタ回路４８はリセッ
トされており、この状態からカウントを始める。タイマ
ーカウンタ回路４８と、先程のタイマーラッチ回路５０
にラッチされた値とを一致検出回路５１で絶えず比較し
ており、一致が検出された場合、制御回路４９へ信号が
送られ、制御回路４９により発振カウンタ回路４５のカ
ウントが停止する。 この発振カウンタでカウントされた値がサーミスタの温
度情報となっていた。 〔発明が解決しようとする課題〕 しかし従来の電子体温計は、高い温度分解能を得るため
にはサーミスタでカウントする値が大きくなければなら
ない、すなわちあらかじめ設定される規準抵抗の発振カ
ウント数を大きくするか。 規準の温度を与える規準抵抗値を大きくするしかない、
この場合どうしても１回計測を行なう時間が増大する。 すなわち規準抵抗を発振している時間を長くしなければ
ならないためである。 この計測時間を短かくするために、基準抵抗、サーミス
タの発振周波数をアップする事も考えられる。しかしこ
の計測方法は基準抵抗、サーミスタの充電時間を比較す
る方法である０発振させるためには放電時間がどうして
も必要になり、この放電時間は温度計測にとって誤差の
要因になる。 基準抵抗、サーミスタの発振周波数を大きくする事は、
基準抵抗、サーミスタの発振周期は小さくなる事であり
、相対的に放電時間の割合が大きくなり、計測誤差の増
大につながる。規準抵抗、サーミスタの発振周期を上げ
るためには同時に放電時間も小さくしなければならない
、放電時間を同様に短か（するのはトランジスタサイズ
を大きくしなければならず、チップコストの増大を招い
ている。 そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところは、回路構成を一部変更することに
より容易に温度測定時の分解能を向上させるところにあ
る。 ［課題を解決するための手段］ 本発明の半導体装置は、 ａ）コンデンサを規準抵抗またはサーミスタで充電し、
それぞれの充電時間を比較し温度を計測する電子体温計
において、 ｂ）基本温度を規定する規準抵抗、 Ｃ）温度を測定するサーミスタ、 ｄ）前記規準抵抗または前記サーミスタで充電するため
のコンデンサ、 ｅ）前記規準抵抗、前記サーミスタ、前期コンデンサ及
びスイッチング手段からなるサーミスタ発振回路、 ｆ）サーミスタ発振回路からの発振を数えるサーミスタ
カウンタ、 ｇ）サーミスタカウンタ回路より決められた数を検出す
るカウンタデコーダ、 ｈ）時間を計る基本になるクロック発振回路、ｉ）クロ
ック発振を数える、アップダウンカウンタで構成される
タイマーカウンタ回路、ｊ）以上の各回路を制御する制
御回路より構成され、サーミスタ発振時間とクロック発
振時間の差が温度情報となる事を特徴とする。 〔作 用］ 本発明の上記の構成によれば、規準抵抗の発振をサーミ
スタカウンタ回路で数え、あらかじめ定められた数にな
るまでの時間をタイマーカウンタ回路でダウンカウント
を行なう０次に規準抵抗からサーミスタに切替を行ない
、サーミスタの発振を同じく定められた数まで発振を行
ないこの時間をタイマーカウンタ回路で先程の数からア
ップカウントを行なう、このアップカウントをして残っ
た数が温度情報となる。 〔実 施 例］ 以下、本発明について実施例に基づいて詳細に説明する
。 第１図は、本発明の半導体装置のブロック図である。１
１は測定温度の規準を与える基準抵抗９１２は温度測定
部へあてるサーミスタ、１３は基準抵抗１１またはサー
ミスタ１２に見合ったコンデンサ、１４はコンデンサ１
３を基準抵抗１１またはサーミスタ１２で充電し、ある
レベルまで充電されると即座にコンデンサ１３を放電し
再び充電を始めることにより、基準抵抗１１またはサー
ミスタ１２とコンデンサ１３で発振を行なうサーミスタ
発振回路、１５はサーミスタ発振回路１４から出力され
る発振信号を数えるサーミスタカウンタ回路、１６はサ
ーミスタカウンタ回路１５の状態をデコードし、あらか
じめ決められた値を検出すると信号を出力するカウンタ
デコーダ回路。 １７は時間を計測するために規準信号を出力するクロッ
ク発振回路、１８はクロック発振回路１７からのクロッ
ク信号をアップカウントまたはダウンカウントを行なう
タイマーカウンタ回路、１９はそれぞれの指揮を行なう
制御回路である。 サーミスタカウンタ回路１５及びタイマーカウンタ回路
１８をともにリセットしておき、まずサーミスタ発振回
路１４で規準抵抗１１の発振を行なう、この時、同時に
タイマーカウンタ回路１８で制御回路１９の指示のもと
アップカウントを行なう、サーミスタカウンタ回路１５
があらかじめ決められた値になった時、カウンタデコー
ダ回路１６がそれを検出し、制御回路１９へ信号をおく
る。制御回路ではただちにタイマーカウンタ回路１８に
クロック発振回路１７のクロック信号のアップカウント
をストップさせる。 次にタイマーカウンタ回路１８はそのままにして、サー
ミスタカウンタ回路１５はリセットを行なう、サーミス
タ発振回路１４で規準抵抗１１からサーミスタ１２へ切
替を行ないサーミスタ発振をスタートさせる。同時にタ
イマーカウンタ回路１８もカウントをスタートさせるが
今回はダウンカウントを行なう、前回と同様にサーミス
タカウンタ回路１５が決められた数に達するとカウンタ
デコーダ回路１６がそれを検出し、制御回路１９を通し
てタイマーカウンタ回路１８のダウンカウントをストッ
プする。このストップした時の値がすなわち温度情報に
なる。 ここでは規準抵抗発振時にアップカウント、サーミスタ
発振時にはダウンカウントを行なっているが、これが逆
であっても可能である。 尚、ここに挙げた実施例はあくまでも一実施例にすぎな
いものである。 〔発明の効果〕 以上述べた様に、本発明によれば規準抵抗、サーミスタ
、コンデンサはそのままにして、クロック発振周波数を
上げてあげれば高い分解能が容易に得られるという効果
がある。 またさらに規準抵抗、サーミスタ、コンデンサの定数を
変更し、放電時間はそのままにして、充電時間を大きく
する事により、相対的に放電時間が小さ（なる０発振ク
ロックが同じならば分解能がさらに増す他に、検温精度
の向上もまた期待できる。また検温時間を同一とするな
らば発振クロックを増すだけで以前と同様の分解能とな
り、検温精度が向上する効果がある。
第１図は本発明の半導体装置のブロック図、第２図は従
来の半導体装置のブロック図である。 １１・・・基準抵抗 １２・・・サーミスタ １３・・・コンデンサ １４・・・サーミスタ発振回路 １５・・・サーミスタカウンタ回路 １６・・・カウンタデコーダ回路 １７・・・クロック発振回路 １８・・・タイマーカウンタ回路 １９・・・制御回路 ４１・・・規準抵抗 ４２・・・サーミスタ ４３・・・コンデンサ ４４・・・サーミスタ発振回路 ４５・・・発振カウンタ回路 ４６・・・カウンタデコーダ回路 ４７・・・クロック発振回路 ４８・・・タイマーカウンタ回路 ４９・・・ホ１１御回路 ５０・・・タイマーラッチ回路 ５１・・・−数構出回路 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 上柳 雑書（他１名）第１巳 嬰ＩＢ
来の半導体装置のブロック図である。 １１・・・基準抵抗 １２・・・サーミスタ １３・・・コンデンサ １４・・・サーミスタ発振回路 １５・・・サーミスタカウンタ回路 １６・・・カウンタデコーダ回路 １７・・・クロック発振回路 １８・・・タイマーカウンタ回路 １９・・・制御回路 ４１・・・規準抵抗 ４２・・・サーミスタ ４３・・・コンデンサ ４４・・・サーミスタ発振回路 ４５・・・発振カウンタ回路 ４６・・・カウンタデコーダ回路 ４７・・・クロック発振回路 ４８・・・タイマーカウンタ回路 ４９・・・ホ１１御回路 ５０・・・タイマーラッチ回路 ５１・・・−数構出回路 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 上柳 雑書（他１名）第１巳 嬰ＩＢ
Claims (1)
- （１）ａ）コンデンサを規準抵抗またはサーミスタで充
電し、それぞれの充電時間を比較し温度を計測する電子
体温計において、 ｂ）基本温度を規定する規準抵抗、 ｃ）温度を測定するサーミスタ、 ｄ）前記規準抵抗または前記サーミスタで充電するため
のコンデンサ、 ｅ）前記規準抵抗、前記サーミスタ、前記コンデンサ及
びスイッチング手段からなるサーミスタ発振回路、 ｆ）サーミスタ発振回路からの発振を数えるサーミスタ
カウンタ回路、 ｇ）サーミスタカウンタ回路より決められた数を検出す
るカウンタデコーダ回路、 ｈ）時間を計る基本になるクロック発振回路、ｉ）クロ
ック発振を数える、アップダウンカウンタで構成される
タイマーカウンタ回路、 ｊ）以上の各回路を制御する制御回路より構成され、サ
ーミスタ発振時間とクロック発振時間の差が温度情報と
なる事を特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11743688A JPH01287431A (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11743688A JPH01287431A (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01287431A true JPH01287431A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14711603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11743688A Pending JPH01287431A (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01287431A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010001535A1 (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-07 | テルモ株式会社 | 電子体温計及び作動制御方法 |
-
1988
- 1988-05-13 JP JP11743688A patent/JPH01287431A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010001535A1 (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-07 | テルモ株式会社 | 電子体温計及び作動制御方法 |
| JP2010014501A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Terumo Corp | 電子体温計及び作動制御方法 |
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