JPH0449056B2 - - Google Patents
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- JPH0449056B2 JPH0449056B2 JP57140563A JP14056382A JPH0449056B2 JP H0449056 B2 JPH0449056 B2 JP H0449056B2 JP 57140563 A JP57140563 A JP 57140563A JP 14056382 A JP14056382 A JP 14056382A JP H0449056 B2 JPH0449056 B2 JP H0449056B2
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- Japan
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- circuit
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- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 12
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
- G01K1/028—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for numerical indication
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)
- Measuring Pulse, Heart Rate, Blood Pressure Or Blood Flow (AREA)
- Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の関連する技術分野
この発明は電子体温計等の電子温度計に関す
る。
る。
(b) 従来技術の欠点
従来の電子温度計は電源スイツチをオンすると
直ちに測定モードに移り、動作モードとしては通
常の測定モードしか備えていなかつた。しかし、
このような温度計では、回路機能が正常でない場
合に、誤つた測定をすることになり、しかも誤つ
た測定を行うときにその表示値が誤測定値である
ことを表示する手段がない。それ故、従来の電子
温度計では測温精度に対する信頼性が劣るという
問題があつた。
直ちに測定モードに移り、動作モードとしては通
常の測定モードしか備えていなかつた。しかし、
このような温度計では、回路機能が正常でない場
合に、誤つた測定をすることになり、しかも誤つ
た測定を行うときにその表示値が誤測定値である
ことを表示する手段がない。それ故、従来の電子
温度計では測温精度に対する信頼性が劣るという
問題があつた。
(c) 発明の目的
この発明の目的は、使用毎に回路機能の自己診
断を短時間に行える電子温度計を提供することに
ある。
断を短時間に行える電子温度計を提供することに
ある。
(d) 発明の構成および効果
この発明は、感温素子と、この感温素子の出力
にもとづいて温度を測定する温度測定回路と、こ
の温度測定回路により得られた温度を表示器に表
示する電子温度計において、 前記表示器の表示テストを行う表示テスト回路
と、 前記温度測定回路の機能テストのための基準信
号を発生して前記温度測定回路に出力するととも
にそのテスト結果を前記表示器に表示させる機能
テスト回路と、 動作開始を支持するスイツチを含み、このスイ
ツチ操作にもとづいて前記表示テスト回路と前記
機能テスト回路とを共に起動し、前記表示テスト
および前記機能テスト終了後、自動的に、前記温
度測定回路を測定開始状態に移行させるスイツチ
回路と、を備えてなることを特徴とする。
にもとづいて温度を測定する温度測定回路と、こ
の温度測定回路により得られた温度を表示器に表
示する電子温度計において、 前記表示器の表示テストを行う表示テスト回路
と、 前記温度測定回路の機能テストのための基準信
号を発生して前記温度測定回路に出力するととも
にそのテスト結果を前記表示器に表示させる機能
テスト回路と、 動作開始を支持するスイツチを含み、このスイ
ツチ操作にもとづいて前記表示テスト回路と前記
機能テスト回路とを共に起動し、前記表示テスト
および前記機能テスト終了後、自動的に、前記温
度測定回路を測定開始状態に移行させるスイツチ
回路と、を備えてなることを特徴とする。
この発明によれば、
温度測定開始時に、回路機能の自己診断が短時
間に自動的に行われるので、回路機能の故障等を
使用する前にあらかじめ知ることができ、測定結
果の信頼性が向上する利点を有する。
間に自動的に行われるので、回路機能の故障等を
使用する前にあらかじめ知ることができ、測定結
果の信頼性が向上する利点を有する。
(e) 実施例の説明
第１図はこの発明の一実施例を示す電子温度計
のブロツク図である。同図において、サーミスタ
（感温抵抗）Rx、基準抵抗Ｒの一端は共通接続さ
れて、電源電圧の電源（図示せず）に接続され、
夫々の他端はスイツチSWを介して一端が接地さ
れたコンデンサＣに接続される。スイツチSWは
フリツプフロツプFF１の出力によつて切換わる
スイツチであつて、フリツプフロツプFF１のＱ
出力がある場合はサーミスタRx側に、Ｑ出力が
ない場合は基準抵抗Ｒ側に夫々切換わるように構
成されている。基準抵抗Ｒは感温抵抗Rxが例え
ば37.0℃のときの抵抗値を有する。スイツチ回路
１４は、測定開始を指示する押ボタンスイツチ
（図示せず）を含み、この押ボタン操作により、
発振器１およびクロツク発振器５へ発振開始信号
を出力し、また機能テスト回路１５に機能テスト
開始信号を出力する。また、スイツチ回路１４
は、押ボタンスイツチを押したときから一定時間
ドライバ１２へ表示器１３を全灯点灯させる表示
テスト信号を出力する。機能テスト回路１５は、
クロツク発振器５からのクロツク信号を受け、一
定時間出力をリセツト信号としてオア回路１６を
介してフリツプフロツプFF１に出力する。
のブロツク図である。同図において、サーミスタ
（感温抵抗）Rx、基準抵抗Ｒの一端は共通接続さ
れて、電源電圧の電源（図示せず）に接続され、
夫々の他端はスイツチSWを介して一端が接地さ
れたコンデンサＣに接続される。スイツチSWは
フリツプフロツプFF１の出力によつて切換わる
スイツチであつて、フリツプフロツプFF１のＱ
出力がある場合はサーミスタRx側に、Ｑ出力が
ない場合は基準抵抗Ｒ側に夫々切換わるように構
成されている。基準抵抗Ｒは感温抵抗Rxが例え
ば37.0℃のときの抵抗値を有する。スイツチ回路
１４は、測定開始を指示する押ボタンスイツチ
（図示せず）を含み、この押ボタン操作により、
発振器１およびクロツク発振器５へ発振開始信号
を出力し、また機能テスト回路１５に機能テスト
開始信号を出力する。また、スイツチ回路１４
は、押ボタンスイツチを押したときから一定時間
ドライバ１２へ表示器１３を全灯点灯させる表示
テスト信号を出力する。機能テスト回路１５は、
クロツク発振器５からのクロツク信号を受け、一
定時間出力をリセツト信号としてオア回路１６を
介してフリツプフロツプFF１に出力する。
発振器１はコンデンサＣとサーミスタRx又は
基準抵抗Ｒの時定数によりほぼ定まる周波数で発
振する発振器であり、その出力はカウンタ２に与
えられる。カウンタ２は所定数Noまで係数でき
るNo進カウンタであつて、その出力はラツチ回
路３に与えられ、オーバーフロー出力は遅延回路
４とラツチ回路７に与えられる。一方、所定のク
ロツク周波数cを発振するクロツク発振器５の出
力はカウンタ６に与えられる。カウンタ６の出力
はラツチ回路７および比較回路８に与えられる。
クロツク発振器５、カウンタ６、ラツチ回路７お
よび比較回路８は、カウンタ２がオーバーフロー
するまでの時間を計測する計時手段を構成してい
る。ラツチ回路７はカウンタ２のオーバーフロー
出力をストローブ信号とする計数値の保持回路で
あつて、その出力は比較回路８に与えられる。比
較回路８はこれらの二種類の入力信号を比較する
ものであつて、両入力が一致したとき出力を発生
する。その出力は遅延回路９に与えられ、更にス
トローブ信号としてラツチ回路３に与えられる。
遅延回路４の出力はセツト信号としてフリツプフ
ロツプFF１に与えられると共に、オア回路１０
を介してカウンタ２，６にクリヤ信号として与え
られる。ラツチ回路３の出力はデコーダ１１、更
にリードオンリメモリROMに与えられる。リー
ドオンリメモリROMは入力に対応する温度値が
記憶されているメモリであつて、その温度情報出
力はドライバ１２を介して表示器１３によつて表
示される。
基準抵抗Ｒの時定数によりほぼ定まる周波数で発
振する発振器であり、その出力はカウンタ２に与
えられる。カウンタ２は所定数Noまで係数でき
るNo進カウンタであつて、その出力はラツチ回
路３に与えられ、オーバーフロー出力は遅延回路
４とラツチ回路７に与えられる。一方、所定のク
ロツク周波数cを発振するクロツク発振器５の出
力はカウンタ６に与えられる。カウンタ６の出力
はラツチ回路７および比較回路８に与えられる。
クロツク発振器５、カウンタ６、ラツチ回路７お
よび比較回路８は、カウンタ２がオーバーフロー
するまでの時間を計測する計時手段を構成してい
る。ラツチ回路７はカウンタ２のオーバーフロー
出力をストローブ信号とする計数値の保持回路で
あつて、その出力は比較回路８に与えられる。比
較回路８はこれらの二種類の入力信号を比較する
ものであつて、両入力が一致したとき出力を発生
する。その出力は遅延回路９に与えられ、更にス
トローブ信号としてラツチ回路３に与えられる。
遅延回路４の出力はセツト信号としてフリツプフ
ロツプFF１に与えられると共に、オア回路１０
を介してカウンタ２，６にクリヤ信号として与え
られる。ラツチ回路３の出力はデコーダ１１、更
にリードオンリメモリROMに与えられる。リー
ドオンリメモリROMは入力に対応する温度値が
記憶されているメモリであつて、その温度情報出
力はドライバ１２を介して表示器１３によつて表
示される。
第２図は発振器１とその周辺部の一例を示す回
路図である。同図に示すようにコンデンサＣには
放電用抵抗Ｒ１を介してインバータ１７，２５及
びMOSトランジスタ１８が接続されている。こ
こでインバータ２５はヒステリシス特性を有する
ものとし、インバータ１７はヒステリシス特性を
持たないものとする。インバータ２５，１７の出
力はゲート回路１９，２０を介してフリツプフロ
ツプFF２のセツト入力端子及びリセツト入力端
子に与えられる。フリツプフロツプFF２のＱ出
力は前途するカウンタ２及びMOSトランジスタ
１８のゲートに与えられる。フリツプフロツプ
FF２のCL端子には、スイツチ回路１４からの発
振開始信号が与えられる。
路図である。同図に示すようにコンデンサＣには
放電用抵抗Ｒ１を介してインバータ１７，２５及
びMOSトランジスタ１８が接続されている。こ
こでインバータ２５はヒステリシス特性を有する
ものとし、インバータ１７はヒステリシス特性を
持たないものとする。インバータ２５，１７の出
力はゲート回路１９，２０を介してフリツプフロ
ツプFF２のセツト入力端子及びリセツト入力端
子に与えられる。フリツプフロツプFF２のＱ出
力は前途するカウンタ２及びMOSトランジスタ
１８のゲートに与えられる。フリツプフロツプ
FF２のCL端子には、スイツチ回路１４からの発
振開始信号が与えられる。
第３図はスイツチ回路１４を示すブロツク図で
ある。同図において、フリツプフロツプFF３の
Ｄ入力端子には電源電圧VDDが導入され、フリツ
プフロツプFF３とFF４の各CLK端子には、分周
されたクロツク信号CLSがクロツク発振器５より
与えられる。フリツプフロツプFF３のＱ出力は
フリツプフロツプFF４のＤ入力端子に与えられ
る。フリツプフロツプFF４のＱ出力はフリツプ
フロツプFF５のCLK入力端子とノア回路２２に
与えられ、またその出力はノア回路２１に与え
られる。フリツプフロツプFF５のＤ入力は、フ
リツプフロツプFF５の出力より与えられ、そ
のＱ出力はノア回路２１，２２に与えられる。ノ
ア回路２１の出力端子はフリツプフロツプFF６
のＤ入力端子に接続され、そのCLK入力端子に
はクロツク発振器５よりクロツク信号が与えられ
る。フリツプフロツプFF３，４，６のCL入力端
子には、前述の押ボタンスイツチ（図示せず）の
出力が接続される。フリツプフロツプFF６のＱ
出力は機能テスト開始信号として機能テスト回路
１５に、また、発振開始信号として、発振器１に
与えられ、また、出力は発振開始信号としてク
ロツク発振器５に与えられる。この機能開始信号
および発振器１への発振開始信号はＱ出力の
「０」（ロー）に対応し、またクロツク発振器５へ
の発振開始信号は出力の「１」（ハイ）に対応
している。また、ノア回路２２の出力は表示テス
ト信号としてドライバ１２に与えられる。この表
示テスト信号はノア回路２２出力の「１」に対応
している。
ある。同図において、フリツプフロツプFF３の
Ｄ入力端子には電源電圧VDDが導入され、フリツ
プフロツプFF３とFF４の各CLK端子には、分周
されたクロツク信号CLSがクロツク発振器５より
与えられる。フリツプフロツプFF３のＱ出力は
フリツプフロツプFF４のＤ入力端子に与えられ
る。フリツプフロツプFF４のＱ出力はフリツプ
フロツプFF５のCLK入力端子とノア回路２２に
与えられ、またその出力はノア回路２１に与え
られる。フリツプフロツプFF５のＤ入力は、フ
リツプフロツプFF５の出力より与えられ、そ
のＱ出力はノア回路２１，２２に与えられる。ノ
ア回路２１の出力端子はフリツプフロツプFF６
のＤ入力端子に接続され、そのCLK入力端子に
はクロツク発振器５よりクロツク信号が与えられ
る。フリツプフロツプFF３，４，６のCL入力端
子には、前述の押ボタンスイツチ（図示せず）の
出力が接続される。フリツプフロツプFF６のＱ
出力は機能テスト開始信号として機能テスト回路
１５に、また、発振開始信号として、発振器１に
与えられ、また、出力は発振開始信号としてク
ロツク発振器５に与えられる。この機能開始信号
および発振器１への発振開始信号はＱ出力の
「０」（ロー）に対応し、またクロツク発振器５へ
の発振開始信号は出力の「１」（ハイ）に対応
している。また、ノア回路２２の出力は表示テス
ト信号としてドライバ１２に与えられる。この表
示テスト信号はノア回路２２出力の「１」に対応
している。
第４図は機能テスト回路１５を示すブロツク図
である。同図において、カウンタ２４はクロツク
発振器５よりクロツク信号を、また、インバータ
２３を介して機能テスト開始信号を受け、一定時
間カウントする。そして、カウントアツプ信号
を、カウンタ２４のカウントアツプ出力よりフリ
ツプフロツプFF７のＳ入力端子に出力する。イ
ンバータ２３の出力はフリツプフロツプFF７の
Ｒ入力端子にも与えられ、フリツプフロツプFF
７の出力は、前述のようにオア回路１６を介し
てフリツプフロツプFF１のＲ入力端子に与えら
れる。なお、フリツプフロツプFF１，７はリセ
ツト優先のフリツプフロツプである。
である。同図において、カウンタ２４はクロツク
発振器５よりクロツク信号を、また、インバータ
２３を介して機能テスト開始信号を受け、一定時
間カウントする。そして、カウントアツプ信号
を、カウンタ２４のカウントアツプ出力よりフリ
ツプフロツプFF７のＳ入力端子に出力する。イ
ンバータ２３の出力はフリツプフロツプFF７の
Ｒ入力端子にも与えられ、フリツプフロツプFF
７の出力は、前述のようにオア回路１６を介し
てフリツプフロツプFF１のＲ入力端子に与えら
れる。なお、フリツプフロツプFF１，７はリセ
ツト優先のフリツプフロツプである。
以上の構成において、この発明を構成する感温
抵抗はサーミスタRxが、比較手段はカウンタ２，
６、ラツチ回路７、クロツク発振器５、遅延回路
４，９、比較回路８およびその他のゲート回路
が、表示手段はドライバ１２および表示器１３
が、また、表示テスト回路はスイツチ回路１４の
ノア回路２２等の表示テスト信号発生部がそれぞ
れ対応する。
抵抗はサーミスタRxが、比較手段はカウンタ２，
６、ラツチ回路７、クロツク発振器５、遅延回路
４，９、比較回路８およびその他のゲート回路
が、表示手段はドライバ１２および表示器１３
が、また、表示テスト回路はスイツチ回路１４の
ノア回路２２等の表示テスト信号発生部がそれぞ
れ対応する。
次に、この電子温度計の測定動作について説明
する。第５図はコンデンサＣの端子電圧波形を示
す波形図である。今スイツチSWが基準抵抗Ｒ側
にあるものとすると、基準抵抗Ｒを介してコンデ
ンサＣは充電され、その端子電圧は徐々に上昇す
る。端子電圧がインバータ２５のオン電圧V2に
達すると、フリツプフロツプFF２がセツトされ、
MOSトランジスタ１８がオン状態となり、コン
デンサＣは抵抗R1を通じて放電される。端子電
圧が下がつてインバータ２５のオフ電圧V1に達
すると、フリツプフロツプFF２がリセツトされ
て、再び充電される。充電時間Tcは次式 Tc＝RC・1nＥ−V1／Ｅ−V2 …(1) で表わされる。ここでR1＜Ｒ，Rxである場合に
は放電時間は無視できる。従つて発振器１の発振
周波数oは次式 o＝１／Tc＝１／k1RC …(2) （但し、k1＝1nＥ−V1／Ｅ−V2としておく。） で表わされる。カウンタ２および６は同時にクリ
ヤされて夫々発振器１及びクロツク発振器５の出
力パルスを計数する。カウンタ２の計数値が所定
数Noに達すると、そのオーバーフロー出力によ
つてカウンタ６の計数値がラツチ回路７に保持さ
れる。ところでカウンタ２がオーバーフローする
までの時間はNo／oであるので、クロツク発振
器５のクロツク周波数をc（例えば33KHz）とす
るとラツチ回路７に保持されるカウンタ６の計数
値は次式 No／o／１／c＝cNo／o …(3) と表わすことができる。次にカウンタ２のオーバ
ーフロー出力は遅延回路４により微小時間遅れて
オア回路１０に加わり、カウンタ２，６をクリヤ
すると共に、フリツプフロツプFF１をセツトす
る。フリツプフロツプFF１が反転することによ
り、スイツチSWが基準抵抗Ｒ側からサーミスタ
Rx側に切換えられる。サーミスタRxが接続され
た場合、発振器１の発振周波数xは、式(2)のＲ
をRxに変換して x＝１／k2RxC …（2′） （但しk2＝1nＥ−V1／Ｅ−V2） （サーミスタRxに接続されているとき） によつて求めることができる。カウンタ２はこれ
以後発振周波数xの発振器１の出力パルスを計
数し始める。一方カウンタ６は再びクロツク発振
器５の出力パルスを計数する。ここでクロツク周
波数をc′とする。カウンタ６が式(3)で示される
計数値に達した時に比較回路８は両者の一致を検
出してその時点でのカウンタ２の計数値をラツチ
回路３によつて一時保持する。ラツチ回路３によ
り保持される計数値をNxとすると、カウンタ２
がNxまで計数する時間（Nx／x）内にカウン
タ６が計数する計数値（′cNx／x）はラツチ回
路７に保持されている計数値cNo／o（式(3)の
値）に等しい。従つて次式が成立つ。
する。第５図はコンデンサＣの端子電圧波形を示
す波形図である。今スイツチSWが基準抵抗Ｒ側
にあるものとすると、基準抵抗Ｒを介してコンデ
ンサＣは充電され、その端子電圧は徐々に上昇す
る。端子電圧がインバータ２５のオン電圧V2に
達すると、フリツプフロツプFF２がセツトされ、
MOSトランジスタ１８がオン状態となり、コン
デンサＣは抵抗R1を通じて放電される。端子電
圧が下がつてインバータ２５のオフ電圧V1に達
すると、フリツプフロツプFF２がリセツトされ
て、再び充電される。充電時間Tcは次式 Tc＝RC・1nＥ−V1／Ｅ−V2 …(1) で表わされる。ここでR1＜Ｒ，Rxである場合に
は放電時間は無視できる。従つて発振器１の発振
周波数oは次式 o＝１／Tc＝１／k1RC …(2) （但し、k1＝1nＥ−V1／Ｅ−V2としておく。） で表わされる。カウンタ２および６は同時にクリ
ヤされて夫々発振器１及びクロツク発振器５の出
力パルスを計数する。カウンタ２の計数値が所定
数Noに達すると、そのオーバーフロー出力によ
つてカウンタ６の計数値がラツチ回路７に保持さ
れる。ところでカウンタ２がオーバーフローする
までの時間はNo／oであるので、クロツク発振
器５のクロツク周波数をc（例えば33KHz）とす
るとラツチ回路７に保持されるカウンタ６の計数
値は次式 No／o／１／c＝cNo／o …(3) と表わすことができる。次にカウンタ２のオーバ
ーフロー出力は遅延回路４により微小時間遅れて
オア回路１０に加わり、カウンタ２，６をクリヤ
すると共に、フリツプフロツプFF１をセツトす
る。フリツプフロツプFF１が反転することによ
り、スイツチSWが基準抵抗Ｒ側からサーミスタ
Rx側に切換えられる。サーミスタRxが接続され
た場合、発振器１の発振周波数xは、式(2)のＲ
をRxに変換して x＝１／k2RxC …（2′） （但しk2＝1nＥ−V1／Ｅ−V2） （サーミスタRxに接続されているとき） によつて求めることができる。カウンタ２はこれ
以後発振周波数xの発振器１の出力パルスを計
数し始める。一方カウンタ６は再びクロツク発振
器５の出力パルスを計数する。ここでクロツク周
波数をc′とする。カウンタ６が式(3)で示される
計数値に達した時に比較回路８は両者の一致を検
出してその時点でのカウンタ２の計数値をラツチ
回路３によつて一時保持する。ラツチ回路３によ
り保持される計数値をNxとすると、カウンタ２
がNxまで計数する時間（Nx／x）内にカウン
タ６が計数する計数値（′cNx／x）はラツチ回
路７に保持されている計数値cNo／o（式(3)の
値）に等しい。従つて次式が成立つ。
c′Nx／x＝cNo／o …(4)
クロツク周波数は基準抵抗ＲとサーミスタRx
とを切換える間には変化しないものとすればcと
c′とは等しいので、式(4)を変形し、式(2)、（2′）
を代入すると、次式が成立つ。
とを切換える間には変化しないものとすればcと
c′とは等しいので、式(4)を変形し、式(2)、（2′）
を代入すると、次式が成立つ。
Nx＝x／o・No＝k1／k2：Ｒ／Rx・No …(5)
ところでサーミスタRxの抵抗値は次式で表す
ことができる。
ことができる。
Rx＝Ro expB（１／Ｔ−１／To） …(6)
但しRo：絶対零度Toのときの抵抗値
Ｂ：ボルツマン定数
Ｔ：絶対温度
尚スイツチSWは半導体スイツチで構成する
が、基準抵抗ＲとサーミスタRxの抵抗値がほぼ
等しければ、スイツチのオン抵抗、オフ電圧V1、
オン電圧V2の値は等しいものと考えられるので
k1＝k2とおくことができる。これを用いて式(6)を
式(5)に代入すると、 Nx＝No・Ｒ／RoexpB（１／To−１／Ｔ） …（5′） が成立つ。これをＴについて書き直すと、 Ｔ＝１／１／To−１／Ｂ・1nNxRo／NoR …(7) 従つてNxが定まれば、他は全て定数であるの
で温度を求めることができる。第１図に示すリー
ドオンリメモリROMには式(7)に基づく変換コー
ドが記憶されており、ラツチ回路３に保持される
Nxのデータはデコーダ１１を通じてリードオン
リメモリROMに与えられ、温度の情報が読出さ
れる。温度情報はドライバ１２を介して表示器１
３によつて表示される。
が、基準抵抗ＲとサーミスタRxの抵抗値がほぼ
等しければ、スイツチのオン抵抗、オフ電圧V1、
オン電圧V2の値は等しいものと考えられるので
k1＝k2とおくことができる。これを用いて式(6)を
式(5)に代入すると、 Nx＝No・Ｒ／RoexpB（１／To−１／Ｔ） …（5′） が成立つ。これをＴについて書き直すと、 Ｔ＝１／１／To−１／Ｂ・1nNxRo／NoR …(7) 従つてNxが定まれば、他は全て定数であるの
で温度を求めることができる。第１図に示すリー
ドオンリメモリROMには式(7)に基づく変換コー
ドが記憶されており、ラツチ回路３に保持される
Nxのデータはデコーダ１１を通じてリードオン
リメモリROMに与えられ、温度の情報が読出さ
れる。温度情報はドライバ１２を介して表示器１
３によつて表示される。
次にこの電子温度計における回路機能テスト動
作を説明する。
作を説明する。
第６、７図はそれぞれスイツチ回路１４、機能
テスト回路１５の動作を示すタイミングチヤート
である。スイツチ回路１４の押ボタンスイツチを
押すと、その入力の立上りタイミングで、フリツ
プフロツプFF３，４，６はリセツトされる。そ
のリセツト直後より、フリツプフロツプFF６の
出力から、機能テスト開始信号および発振器１の
発振開始信号、クロツク発振器５の発振開始信号
が出力される。このときノア回路２２から表示テ
スト信号が出力される。すなわち、この押ボタン
操作によりパワーオン状態に移る。この表示テス
ト信号が出力されている時間は、第６時に示すよ
うに、押ボタンスイツチのオン時間T1と、チヤ
タリング防止用に設けられた時間T2との和であ
る。ところで、時間T2は210／c秒程度であるの
で、T1≫T2といえる。したがつて、表示テスト
信号はほぼ押ボタンスイツチを押している間出力
されることになる。この表示テスト信号がドライ
バ１２に与えられると、表示器１３が全灯点灯さ
れる。これにより、操作者は、表示器１３が全灯
点灯されているか否かを肉眼で確認することによ
つて表示器１３の正常動作をチエツクすることが
できる。押ボタンスイツチをオフしてからT2時
間経過すると、クロツク信号CLSの立下りタイミ
ングにおいて、フリツプフロツプFF４，５はセ
ツトされ、ノア回路２２の出力が反転して表示テ
スト信号は出力されなくなる。
テスト回路１５の動作を示すタイミングチヤート
である。スイツチ回路１４の押ボタンスイツチを
押すと、その入力の立上りタイミングで、フリツ
プフロツプFF３，４，６はリセツトされる。そ
のリセツト直後より、フリツプフロツプFF６の
出力から、機能テスト開始信号および発振器１の
発振開始信号、クロツク発振器５の発振開始信号
が出力される。このときノア回路２２から表示テ
スト信号が出力される。すなわち、この押ボタン
操作によりパワーオン状態に移る。この表示テス
ト信号が出力されている時間は、第６時に示すよ
うに、押ボタンスイツチのオン時間T1と、チヤ
タリング防止用に設けられた時間T2との和であ
る。ところで、時間T2は210／c秒程度であるの
で、T1≫T2といえる。したがつて、表示テスト
信号はほぼ押ボタンスイツチを押している間出力
されることになる。この表示テスト信号がドライ
バ１２に与えられると、表示器１３が全灯点灯さ
れる。これにより、操作者は、表示器１３が全灯
点灯されているか否かを肉眼で確認することによ
つて表示器１３の正常動作をチエツクすることが
できる。押ボタンスイツチをオフしてからT2時
間経過すると、クロツク信号CLSの立下りタイミ
ングにおいて、フリツプフロツプFF４，５はセ
ツトされ、ノア回路２２の出力が反転して表示テ
スト信号は出力されなくなる。
一方、この表示テスト信号が出力されている
間、機能テスト回路１５はインバータ２３を介し
て機能テスト開始信号と、クロツク発振器５より
のクロツク信号とを受け、カウンタ２４はカウン
トを開始する。これと同時に、フリツプフロツプ
FF７にはリセツト信号が与えられ、フリツプフ
ロツプFF７の出力が「１」になる。この出
力はオア回路１６を介してフリツプフロツプFF
１のＲ入力端子に導入され、フリツプフロツプ
FF１はリセツトされる。したがつて、スイツチ
SWは感温抵抗Rx側に切換わることなく、基準抵
抗Ｒ側に接続されたままになる。それ故、発振器
１は強制的に基準抵抗Ｒで発振する。そして、前
述したように、基準抵抗Ｒは37.0℃のときの感温
抵抗Rxの抵抗値に設定されているので、カウン
タ２４がカウントアツプするまで表示器１３には
基準温度値として37.0℃が一定時間表示される。
すなわち、操作者は、表示器１３に37.0℃が表示
されているか否かを肉眼で確認することによつ
て、回路機能のテストを行うことができる。な
お、このテストは表示テスト信号が出力されてい
る間のうち、押ボタンスイツチを押しているとき
でも行われるが、そのT1時間の間は表示器１３
が全灯点灯されるので、実質上37.0℃の表示を確
認できるのは押ボタンスイツチを押し終えた後か
らである。
間、機能テスト回路１５はインバータ２３を介し
て機能テスト開始信号と、クロツク発振器５より
のクロツク信号とを受け、カウンタ２４はカウン
トを開始する。これと同時に、フリツプフロツプ
FF７にはリセツト信号が与えられ、フリツプフ
ロツプFF７の出力が「１」になる。この出
力はオア回路１６を介してフリツプフロツプFF
１のＲ入力端子に導入され、フリツプフロツプ
FF１はリセツトされる。したがつて、スイツチ
SWは感温抵抗Rx側に切換わることなく、基準抵
抗Ｒ側に接続されたままになる。それ故、発振器
１は強制的に基準抵抗Ｒで発振する。そして、前
述したように、基準抵抗Ｒは37.0℃のときの感温
抵抗Rxの抵抗値に設定されているので、カウン
タ２４がカウントアツプするまで表示器１３には
基準温度値として37.0℃が一定時間表示される。
すなわち、操作者は、表示器１３に37.0℃が表示
されているか否かを肉眼で確認することによつ
て、回路機能のテストを行うことができる。な
お、このテストは表示テスト信号が出力されてい
る間のうち、押ボタンスイツチを押しているとき
でも行われるが、そのT1時間の間は表示器１３
が全灯点灯されるので、実質上37.0℃の表示を確
認できるのは押ボタンスイツチを押し終えた後か
らである。
次にカウンタ２４がカウントアツプすると、そ
のカウントアツプ出力をフリツプフロツプFF７
に与え、フリツプフロツプFF７をセツトする。
したがつて、フリツプフロツプFF１へのリセツ
ト信号が解除されることになり、前述した通常の
測定動作に移る。
のカウントアツプ出力をフリツプフロツプFF７
に与え、フリツプフロツプFF７をセツトする。
したがつて、フリツプフロツプFF１へのリセツ
ト信号が解除されることになり、前述した通常の
測定動作に移る。
測定終了後、押ボタンスイツチを押すと、その
入力の立上りタイミングで、フリツプフロツプ
FF３，４はリセツトされる。そして、押ボタン
スイツチを押し終えたときから、チヤタリング防
止用に設けた時間T3を経過した後、クロツク信
号CLSの立下りタイミングでフリツプフロツプ
FF４がセツトされ、また、フリツプフロツプFF
５がリセツトされる。したがつて、フリツプフロ
ツプFF６のＱ出力は「１」に、また、出力は
「０」になつて、パワーオフ状態になる。すなわ
ち、フリツプフロツプFF６の出力の反転によつ
て、発振器１およびクロツク発振器５の発振が停
止する。
入力の立上りタイミングで、フリツプフロツプ
FF３，４はリセツトされる。そして、押ボタン
スイツチを押し終えたときから、チヤタリング防
止用に設けた時間T3を経過した後、クロツク信
号CLSの立下りタイミングでフリツプフロツプ
FF４がセツトされ、また、フリツプフロツプFF
５がリセツトされる。したがつて、フリツプフロ
ツプFF６のＱ出力は「１」に、また、出力は
「０」になつて、パワーオフ状態になる。すなわ
ち、フリツプフロツプFF６の出力の反転によつ
て、発振器１およびクロツク発振器５の発振が停
止する。
第１図はこの発明の一実施例を示す電子温度計
のブロツク図、第２図は同電子温度計の発振器１
の周辺を示す回路図、第３図は同電子温度計のス
イツチ回路１４の回路図、第４図は同電子温度計
の機能テスト回路１５の回路図、第５図は同電子
温度計コンデンサＣの端子電圧波形を示す波形
図、第６図および第７図はそれぞれ同電子温度計
のスイツチ回路１４、機能テスト回路１５の動作
を示すタイミングチヤートである。 １……発振器、１３……表示器、１４……スイ
ツチ回路、１５……機能テスト回路、Ｒ……基準
抵抗、Rx……感温抵抗。
のブロツク図、第２図は同電子温度計の発振器１
の周辺を示す回路図、第３図は同電子温度計のス
イツチ回路１４の回路図、第４図は同電子温度計
の機能テスト回路１５の回路図、第５図は同電子
温度計コンデンサＣの端子電圧波形を示す波形
図、第６図および第７図はそれぞれ同電子温度計
のスイツチ回路１４、機能テスト回路１５の動作
を示すタイミングチヤートである。 １……発振器、１３……表示器、１４……スイ
ツチ回路、１５……機能テスト回路、Ｒ……基準
抵抗、Rx……感温抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 感温素子と、この感温素子の出力にもとづい
て温度を測定する温度測定回路と、この温度測定
回路により得られた温度を表示器に表示する電子
温度計において、 前記表示器の表示テストを行う表示テスト回路
と、 前記温度測定回路の機能テストのための基準信
号を発生して前記温度測定回路に出力するととも
にそのテスト結果を前記表示器に表示させる機能
テスト回路と、 動作開始を支持するスイツチを含み、このスイ
ツチ操作にもとづいて前記表示テスト回路と前記
機能テスト回路とを共に起動し、前記表示テスト
および前記機能テスト終了後、自動的に、前記温
度測定回路を測定開始状態に移行させるスイツチ
回路と、を備えてなることを特徴とする電子温度
計。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57140563A JPS5930030A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 電子温度計 |
| US06/521,837 US4592003A (en) | 1982-08-12 | 1983-08-10 | Measuring circuit device |
| DE8383107972T DE3380315D1 (en) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Measuring circuit device |
| EP83107972A EP0103183B1 (en) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Measuring circuit device |
| EP89100107A EP0318461A3 (en) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Measuring circuit device |
| AT83107972T ATE45216T1 (de) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Vorrichtung mit messschaltung. |
| KR1019830003785A KR890004449B1 (ko) | 1982-08-12 | 1983-08-12 | 측정회로 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57140563A JPS5930030A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 電子温度計 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1331615A Division JPH0810168B2 (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | 電子体温計の表示方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5930030A JPS5930030A (ja) | 1984-02-17 |
| JPH0449056B2 true JPH0449056B2 (ja) | 1992-08-10 |
Family
ID=15271587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57140563A Granted JPS5930030A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 電子温度計 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0103183B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5930030A (ja) |
| KR (1) | KR890004449B1 (ja) |
| AT (1) | ATE45216T1 (ja) |
| DE (1) | DE3380315D1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0823511B2 (ja) * | 1984-10-26 | 1996-03-06 | セイコーエプソン株式会社 | 測温回路 |
| JPS61111437A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Seiko Epson Corp | 圧力センサ−付小型携帯機器 |
| JPH0810168B2 (ja) * | 1989-12-21 | 1996-01-31 | オムロン株式会社 | 電子体温計の表示方法 |
| JP5451142B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2014-03-26 | テルモ株式会社 | 電子体温計及び作動制御方法 |
| JP6709241B2 (ja) | 2018-02-26 | 2020-06-10 | 株式会社Ｓｕｂａｒｕ | 診断装置 |
| CN111367332B (zh) * | 2020-02-17 | 2021-03-30 | 深圳芥子科技有限公司 | 基于电阻的温度采集电路及控制方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5171168A (ja) * | 1974-12-18 | 1976-06-19 | Stanley Electric Co Ltd | Deijitaruhyojigatasutotsupuotsuchi |
| JPS5766311A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Toshiba Corp | Automatic testing device |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3743939A (en) * | 1972-05-01 | 1973-07-03 | Weston Instruments Inc | Multimeter battery and display function test apparatus |
| GB1502056A (en) * | 1976-06-25 | 1978-02-22 | American Med Electronics | Automatic on-off electronic switch |
| US4322639A (en) * | 1976-08-26 | 1982-03-30 | Hitachi, Ltd. | Voltage detection circuit |
| US4049930A (en) * | 1976-11-08 | 1977-09-20 | Nasa | Hearing aid malfunction detection system |
| US4321933A (en) * | 1979-08-23 | 1982-03-30 | Baessler Medical Electronics, Inc. | Telemetry system for monitoring hospital patient temperature |
| JPS5710428A (en) * | 1980-06-20 | 1982-01-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Digital thermometer |
-
1982
- 1982-08-12 JP JP57140563A patent/JPS5930030A/ja active Granted
-
1983
- 1983-08-11 DE DE8383107972T patent/DE3380315D1/de not_active Expired
- 1983-08-11 EP EP83107972A patent/EP0103183B1/en not_active Expired
- 1983-08-11 AT AT83107972T patent/ATE45216T1/de not_active IP Right Cessation
- 1983-08-12 KR KR1019830003785A patent/KR890004449B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5171168A (ja) * | 1974-12-18 | 1976-06-19 | Stanley Electric Co Ltd | Deijitaruhyojigatasutotsupuotsuchi |
| JPS5766311A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Toshiba Corp | Automatic testing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0103183B1 (en) | 1989-08-02 |
| KR890004449B1 (ko) | 1989-11-04 |
| EP0103183A2 (en) | 1984-03-21 |
| EP0103183A3 (en) | 1985-08-28 |
| KR840006071A (ko) | 1984-11-21 |
| DE3380315D1 (en) | 1989-09-07 |
| JPS5930030A (ja) | 1984-02-17 |
| ATE45216T1 (de) | 1989-08-15 |
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