KR890004449B1 - 측정회로 장치 - Google Patents

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KR890004449B1
KR890004449B1 KR1019830003785A KR830003785A KR890004449B1 KR 890004449 B1 KR890004449 B1 KR 890004449B1 KR 1019830003785 A KR1019830003785 A KR 1019830003785A KR 830003785 A KR830003785 A KR 830003785A KR 890004449 B1 KR890004449 B1 KR 890004449B1
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Abstract

내용 없음.

Description

측정회로 장치
제1도는 본 발명의 일실시예를 도시하는 전자온도계의 블록도.
제2도는 상기 전자온도계의 발진기(1)와 그 주변부를 도시한 회로도.
제3도는 상기 전자온도계의 스위치회로(14)의 회로도.
제4도는 상기 전자온도계의 기능 테스트 회로(15)의 회로도.
제5도는 상기 전자온도계의 콘덴서 C의 단자 전압파형을 도시한 파형도.
제6도 및 제7도는 각각 상기 전자온도계의 스위치회로(14) 및 기능테스트 회로(15)의 동작을 도시한 타이밍도.
제8도는 감온저항과 기준 저항간을 절환하는 스위치 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 발진기 2,6 : 카운터
3 : 래치회로 4,9 : 지연회로
5 : 클록발진기 7 : 래치회로
8 : 비교회로 10,16 : OR 회로
11 : 디코더 12 : 드라이버
13 : 표시기 14 : 스위치회로
15 : 기능테스트 회로 17,23,25 : 인버어터
18 : MOS 트랜지스터 19,20 : 게이트회로
21,22 : NOR 회로 24 : 카운터
본 발명은 온도, 습도, 압력등을 측정하는 측정회로 장치에 관한 것이다. 전자온도계등에서 볼 수 있는 종래의 측정회로 장치에서는 전원스위치를 "온"하면 즉시 측정모드로 이행하고, 동작모드로서는 통상의 측정모드 밖에 구비하지 못했다. 그러나, 이와같은 측정회로 장치에서는 회로기능이 정상이 아닌 경우에 잘못된 측정을 하게되고, 또한 잘못된 측정을 할때 그 표시치가 오측정치 라는 것을 표시하는 수단이 없다. 그러므로 종래의 측정 회로장치에서는 측정 정밀도에 대한 신뢰성이 떨어지는 문제가 있었다.
본 발명의 목적은 사용할때마다 회로기능의 자기진단을 단시간에 할 수 있는 측정회로 장치를 제공하는 데에 있다.
본 발명을 요약하면, 측정치 표시를 행하는 표시수단의 표시테스트를 행하는 표시테스트 회로와, 상기 표시 수단에 기준 측정치를 표시시키는 기능테스트를 행하는 기능테스트 회로와, 측정개시를 지정하는 스위치를 포함하고, 상기 스위치 조작시에 상기 표시테스트 회로와 상기 기능 테스트 회로를 기동하고 일정시간 후에 측정개시 상태로 이행시키는 스위치회로를 가지며, 상기 스위치조작이 행해졌을때 상기 표시테스트 및 상기 기능테스트를 하여 일정시간 후에 측정을 개시하도록 한 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 측정을 개시할때에 회로기능의 자기진단이 단시간에 자동적으로 시행되므로 회로기능의 고장 등을 사용하기전에 미리 알 수 있고, 측정 결과의 신뢰성이 향상되는 이점이 있다.
다음에 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.
제1도는 본 발명의 일실시예를 도시하는, 온도를 측정대상으로 한 측정회로 장치, 즉 전자온도계의 블록도이다. 이 도면에서 검지 소자로서의 더미스터(감온저항) Rx와 기준저항 R의 일단은 공통으로 접속되어서 접지된 콘덴서 C에 접속되고, 각각의 타단은 스위치 SW를 개재하여 전원전압 E의 전원(도시생략)에 접속된다. 감온저항 Rx는 전자온도계의 검온 프로우브(도시생략)의 선단에 설치된다. 스위치 SW는 플립플롭FF1의 출력에 의하여 절환되는 스위치로서, 플립플롭FF1의 Q출력이 있는 경우는 더미스터 Rx측으로, Q출력이 없는 경우는 기준저항 R측으로 각각 절환되도록 구성된다. 제8도의 상세한 설명과 같이, 플립플롭 FF1의 Q출력(로우레벨)이 있는 경우는 P형 MOS트랜지스터(81)가 도통하여 전원전압 E가 더미스터 Rx에 인가되고, Q출력이 없는 경우는 인버어터(83)를 개재하여 P형 MOS트랜지스터(82)가 도통해서 기준 저항 R에 전원전압 E가 인가된다. 제너다이오드 Z1및 Z2는 감온소자 Rx가 외부로부터 높은 정전압을 받았을때, 관련 회로를 보호하기 위하여 설치된 방전용 소자이다. 기준 저항 R는 감온저항 Rx가 예를들어 37.0℃일때의 저항치를 가지며 기준측정치(기준온도치)를 제공하기 위하여 설치되어 있다. 스위치회로(14)는 측정개시를 지시하는 누름버튼 스위치(30)(제3도 참조)를 포함하고, 이 누름버튼 조작에 의하여 발진기(1) 및 클록발진기(5)에 발진 개시신호를 출력하고, 또 기능테스트 회로(15)에 기능테스트 개시신호를 출력한다. 또 스위치회로(14)는 누름버튼 스위치를 눌렀을때부터 일정시간 동안 드라이버(12)에 표시기(13)의 전체 등을 점등시키는 표시테스트 신호를 출력한다. 기능테스트 회로(15)는 클록발진기(5)에서 클록 신호를 받아 일정시간 동안 출력을 리세트 신호로서 OR회로(16)을 통하여 플립플롭FF1에 출력한다.
발진기(1)는 콘덴서 C와 더미스터 Rx또는 기준 저항 R의 시정수에 의하여 거의 정해지는 주파수로 발진하는 발진기이고, 그 출력은 카운터(2)로 공급된다. 카운터(2)는 그 카운트 값이 소정수 No에 도달하면 기준출력을 발생하는 카운터인데, 카운터로부터의 출력은 래치회로(3)에 공급되고, 상기 기준출력은 지연회로(4)와 래치회로(7)에 공급된다. 한편 소정의 클록주파수 fc를 발진하는 클록발진기(5)의 출력은 카운터(6)에 공급된다. 카운터(6)의 출력은 래치회로(7) 및 비교회로(8)에 공급된다. 클록발진기(5), 카운터(6), 래치회로(7) 및 비교회로(8)는 카운터(2)가 기준출력을 발생할때 까지의 시간을 계측하는 계시(計時)수단을 구성하고 있다. 래치회로(7)는 카운터(2)의 기준출력을 스트로우브 신호로 하는 카운트값의 유지회로로서 그 출력은 비교회로(8)에 공급된다. 비교회로(8)는 이들 2종류의 입력신호를 비교하는 것으로서 양 입력이 일치되었을때 출력을 발생한다. 그 출력은 지연회로(9)에 공급되고, 다시 스트로우브 신호로서 래치회로(3)에 공급된다. 지연회로(4)의 출력은 세트신호로서 플립플롭FF1에 공급되는 동시에 OR회로(10)를 통하여 카운터(2) 및 (6)에 클리어 신호로서 공급된다. 래치회로(3)의 출력은 디코더(11) 및 리드온리 메모리 ROM에 공급된다. 리드 온리 메로리 ROM은 입력에 대응하는 온도치가 기억되어 있는 메모리로서, 그 온도 정보출력은 드라이버(12)를 개재하여 표시기(13)에 의하여 표시된다.
제2도는 발진기(1)와 그 주변부의 일예를 도시하는 회로도이다. 도시된 바와같이, 콘덴서 C에는 방전용 저항 R1을 개재하여 인버어터(17) 및 (25)와 MOS트랜지스터(18)가 접속된다. 여기에서 인버어터(25)는 히스테리시스 특성을 가진 것으로 하고, 인버어터(17)는 히스테리시스 특성을 갖지 않는 것으로 한다. 인버어터(25) 및 (17)의 출력은 게이트회로(19) 및 (20)를 개재하여 플립플롭 FF2의 세트 입력단자 및 리세트 입력단자에 공급된다. 플립플롭 FF2의 Q출력은 상기한 카운터(2) 및 MOS트랜지스터(18)의 게이트에 공급된다. 플립플롭 FF2의 CL단자에는 스위치회로(14)로 부터의 발진 개시신호가 공급된다.
제3도는 스위치회로(14) 및 클록발진기(5)를 도시하는 블록도이다. 도시와 같이, 플립플롭 FF3의 D입력단자에는 전원전압 VDD가 도입되고, 플립플롭 FF3과 FF4의 각 CLK단자에는 분주회로(50)로 분주된 클록신호 CLS가 클록발진기(5)로 부터 공급된다. 플립플롭 FF3의 Q출력은 플립플롭 FF4의 D입력단자에 공급된다. 플립플롭 FF4의 Q출력은 플립플롭 FF5의 CLK입력 단자와 NOR회로(22)에 공급되고, 또 그
Figure kpo00001
출력은 NOR회로(21)에 공급된다. 플립플롭 FF5의 D입력은 플립플롭 FF5의
Figure kpo00002
출력에서 주어지고, 그 Q출력은 NOR회로(21) 및 (22)에 공급된다. NOR회로(21)의 출력단자는 플립플롭 FF6의 D입력단자에 접속되고, 그 CLK입력단자에는 클록발진기(5)로부터의 클록신호가 공급된다. 플립플롭 FF3, FF4 및 FF6의 CL입력단자에는 상기한 누름버튼 스위치(30)의 출력이 접속된다. 플립플롭 FF6의 Q출력은 기능테스트 개시신호로서 기능테스트 회로(15)에, 또 발진 개시신호로서 발진기(1)에 공급되고, 또한
Figure kpo00003
출력은 발진 개시신호로서 클록발진기(5)에 공급된다. 이 기능테스트 개시신호 및 발진기(1)로의 발진개시신호는 Q출력의 「0」(로우)에 대응하고, 또 클록발진기(5)로의 발진 개시신호는 Q출력의 「1」(하이)에 대응하고 있다. 또, NOR회로(22)의 출력은 표시테스트 신호로서 드라이버(12)에 공급된다. 이 표시테스트 신호는 NOR회로(22)출력의 「1」에 대응하고 있다.
제4도는 기능테스트 회로(15)를 도시하는 블록도이다. 이 도면에서 카운터(24)는 클록발진기(5)에서 클록신호를, 또 인버어터(23)를 통하여 기능테스트 개시신호를 수신하여 일정시간 카운트한다. 그리고 카운트업신호를 카운터(24)의 카운터업에 출력에서 플립플롭 FF7의 S입력단자에 출력한다. 인버어터(23)의 출력은 플립플롭 FF7의 R입력 단자에도 공급되고, 플립플롭 FF7의
Figure kpo00004
출력은 상기와 같이 OR회로(16)를 개재하여 플립플롭 FF1의 R입력단자에 공급된다. 또, 플립플롭 FF1 및 FF7은 리세트 우선의 플립플롭 이다.
이상의 구성에 있어서, 본 발명을 구성하는 측정회로는 더미스터와 카운터(2) 및 (6), 래치회로(7), 클록발진기(5), 지연회로(4) 및 (9), 비교회로(8) 및 그밖의 게이트회로로 구성되는 비교수단이, 표시수단은 드라이버(12) 및 표시기(13)가, 또 표시테스트 회로는 스위치회로(14)의 NOR회로(22)등의 표시테스트 신호발생부가 각각 대응한다.
다음에 이 전자온도계의 측정동작에 대하여 설명한다.
제5도는 콘덴서 C의 단자전압 파형을 도시하는 파형도이다. 지금 스위치 SW가 기준 저항 R측에 있다고 가정하면, 기준저항 R을 통하여 콘덴서 C는 충전되고 그 단자 전압은 서서히 상승한다. 단자 전압이 인버어터(25)의 "온"전압 V2에 도달하면, 플립플롭 FF2가 세트되고 MOS트랜지스터(18)가 "온"상태가 되고 콘덴서 C는 저항 R1을 통해서 방전된다. 단자전압이 하강하여 인버어터(25)의 "오프"전압 V1에 도달하면 플립플롭 FF2가 리세트되어 재차 충전된다. 충전시간 Tc는 다음식
Tc =RC.1n
Figure kpo00005
······················(1)
로 표시된다. 여기서 R1＜R, R1＜Rx인 경우에는 방전시간은 무시할 수 있다. 따라서 발진기(1)의 발진주파수 fo는 다음식
fo=
Figure kpo00006
=
Figure kpo00007
·····················(2)
(단 K1=1n
Figure kpo00008
로 한다.)
로 표시된다. 카운터(2) 및 (6)는 동시에 클리어 되어 각각 발진기(1) 및 클록발진기(5)의 출력펄스를 카운트한다. 카운터(2)의 카운트 값이 소정수 No에 도달하면 기준출력의 발생에 의하여 카운터(6)의 카운트 값이 래치회로(7)에 유지된다. 그런데 카운터(2)가 오우버플로우하기 까지의 시간은 No/fo이므로 클록발진기(5)의 클록주파수를 fc(예를들면 33KHZ)로 하면 래치회로(7)에 유지되는 카운터(6)의 카운터 값은 다음식
Figure kpo00009
=
Figure kpo00010
······················(3)
로 표시된다.
다음에 카운터(2)의 오우버플로우 출력은 지연회로(4)에 의하여 미소시간동안 지연되어 OR회로(10)에 인가되고 카운터(2) 및 (6)를 클리어하는 동시에 플립플롭 FF1을 세트한다. 플립플롭 FF1이 반전함으로써 스위치 SW가 기준저항 R측에서 더미스터 Rx측으로 절환된다. 더미스터 Rx가 접속된 경우, 발진기(1)의 발진주파수 fx는 식(2)의 R을 Rx로 변환하여
fx=
Figure kpo00011
·························(2')
(단 K2=1n
Figure kpo00012
)
(더미스터 Rx에 접속되었을때)에 의하여 구할 수 있다.
카운터(2)는 그 이후 발진주파수 fx의 발진기(1)의 출력펄스를 카운트하기 시작한다. 한편 카운터(6)은 재차 클록발진기(5)의 출력펄스를 카운트한다. 여기에서 클록주파수를 fc'로 한다. 카운터(6)가 식(3)으로 표시되는 카운트값에 도달했을때 비교회로(8)는 양자의 일치를 검출하여 그 시점에서 카운터(2)의 카운트값을 래치회로(3)에 의하여 일시 유지한다. 래치회로(3)에 의하여 유지되는 카운트값을 Nx로 하면 카운터(2)가 Nx까지 카운트하는 시간(Nx/fx)내에 카운터(6)가 카운트하는 카운트값 (fc' Nx/fx)는 래치회로(7)에 유지되고 있는 카운트값 fcNo/fo(식(3)의 값)와 같다. 따라서 다음의 식이 성립된다.
Figure kpo00013
·······················(4)
클록주파수는 기준저항 R과 더미스터 Rx를 절환하는 동안에는 변화되지 않는다고 하면 fc와 fc'는 동일하므로 식(4)를 변형하여 식(2) 및 (2')를 대입하면 다음식이 성립한다.
Nx=
Figure kpo00014
·No=
Figure kpo00015
·
Figure kpo00016
·No··············(5)
그런데, 더미스터 Rx의 저항치는 다음식으로 표시할 수 있다.
Rx=Ro exp B(
Figure kpo00017
-
Figure kpo00018
)···················(6)
단 Ro : 절대영도 To일때의 저항치, B : 볼쯔맨 정수, T : 절대온도.
또, 스위치 SW는 반도체 스위치를 구성하는데, 기준저항 R과 더미스터 Rx의 저항치가 거의 같으면 스위치의 "온"저항, "오프"전압 V1, "온"전압 V2의 값은 같은 것으로 생각하므로 K1=K2로 할 수 있다. 이것을 사용해서 식(6)를 식(5)에 대입하면
Nx=No·
Figure kpo00019
exp B(
Figure kpo00020
-
Figure kpo00021
)················(5')이 성립된다. 이것을 T에 대하여 다시쓰면
T=
Figure kpo00022
·1n
Figure kpo00023
··················(7)
따라서, Nx가 정해지면, 다른 것은 모두 정수이므로 온도를 구할 수 있다. 제1도에 도시하는 리드온리 메모리 ROM에는 식(7)에 따르는 변환코드가 기억되어 있고, 래치회로(3)에 유지되는 Nx의 데이타는 디코더(11)를 통해서 리드온리 메모리 ROM에 인가되어 온도의 정보가 독출된다. 온도 정보는 드라이버(12)를 통하여 표시기(13)에 의하여 표시된다.
다음에 이 전자온도계에 있어서의 회로 기능테스트 동작을 설명한다.
제6도 및 제7도는 각각 스위치 회로(14)와, 기능테스트회로(15)의 동작을 나타내는 타이밍도이다. 스위치회로(14)의 누름 버튼 스위치(30)를 누르면 그 입력의 상승 타이밍으로 플립플롭 FF3, FF4 및 FF6이 리세트된다. 그 리세트 직후부터 플립플롭 FF6의 출력에서 기능테스트 개시신호 및 발진기(1)의 발진 개시신호와 클록발진기(5)의 발진 개시신호가 출력된다. 이때 NOR회로(22)에서 표시테스트 신호가 출력된다. 즉 이 누름버튼(30)의 조작에 의하여 전원온 상태로 이행한다. 이 표시테스트 신호가 출력되는 시간은 제6도의 도시와 같이 누름버튼 스위치의 "온"시간 T1과 채터링 방지용으로 설정된 시간 T2와의 합이다. 그런데 시간 T2는 210/fc초 정도이므로 T1
Figure kpo00024
T2로 말할수 있다. 따라서 표시테스트 신호는 거의 누름버튼을 누르는 동안 출력하게 된다. 이 표시테스트 신호가 드라이버(12)에 주어지면 표시기(13)의 전체 등이 점등된다. 이로인해 조작자는 표시기(13)의 전체 등이 점등되고 있는지 아닌지를 육안으로 확인함으로써 표시기(13)의 정상 동작을 체크할 수 있다. 누름 버튼스위치를 "오프"하고 나서 T2시간 경과하면CLS의 하강 타이밍에 있어서 플립플롭 FF4 및 FF5는 세트되고, NOR회로(22)의 출력이 반전하여 표시테스트 신호는 출력이 중단된다.
한편, 이 표시테스트 신호가 출력되는 동안 기능테스트 회로(15)는 인버어터(23)를 통하여 기능테스트 개시신호와 클록발진기(5)로 부터의 클록신호를 수신하여 카운터(24)가 카운터를 개시한다. 이것과 동시에 플립플롭 FF7에는 리세트 신호가 공급되어 플립플롭 FF7의
Figure kpo00025
출력이 「1」이 된다. 이
Figure kpo00026
출력은 OR회로(16)를 통하여 플립플롭 FF1의 R입력단자에 도입되고 플립플롭 플립플롭 FF1은 리세트된다. 따라서 스위치 SW는 감온저항 Rx측으로 절환되지 않고 기준저항 R측에 접속된 채로 있게 된다. 그러므로 발진기(1)는 강제적으로 기준저항 R을 근거로 발진한다. 그리고, 상기와 같이 기준저항 R은 37.0℃일때의 감온저항 Rx의 저항치로 설정되어 있으므로, 카운터(24)가 카운트업 할때까지 표시기(13)에는 기준온도치로서 37.0℃가 일정시간 표시된다. 즉 조작자는 표시기(13)에 37.0℃가 표시되고 있는지 아닌지를 육안으로 확인함으로써 회로 기능테스트를 시행 할 수 있다. 또, 이 테스트는 표시테스트 신호가 출력되는 동안, 즉 누름버튼 스위치를 누르는 동안에도 행하여지는데, 그 T1＋T2시간 동안은 표시기(13)의 전체 등이 점등되고 있으므로 실질상 37.0℃의 표시를 확인할 수 있는 것은 누름버튼 스위치를 누르고 난 후 부터이다.
다음에 카운터(24)가 카운트업 되면 그 카운트업 출력을 플립플롭 FF7에 공급하여 플립플롭 FF7을 세트한다. 따라서 플립플롭 FF1로의 리세트 신호가 해제되어 상기한 통상의 측정동작으로 이행한다.
측정 종료후 누름버튼 스위치를 누르면 그 입력의 상승 타이밍으로 플립플롭 FF3 및 FF4는 리세트된다. 그리고 누름버튼 스위치를 누르고난 후로 부터 채터링 방지용으로 설정한 시간 T3이 경과된 후 클록신호 CLS의 하강 타이밍으로 플립플롭 FF4가 세트되고, 또 플립플롭 FF5가 리세트 된다. 따라서 플립플롭 FF6의 Q출력은「1」로, 또
Figure kpo00027
출력은「0」으로되어 전원 오프상태가 된다. 즉 플립플롭 FF6의 출력의 반전으로 발진기(1) 및 클록발진기(5)의 발진이 정지한다.
상기와 같이 단일의 누름버튼 스위치(30)를 포함하고 간단한 회로 구성으로 이루어진 스위치회로(14)에 의하여 측정, 비측정 상태가 안정되고 또한 확실히 절환되는 스위치 입력부가 구성된다. 이와같은 스위치 입력부에 있어서 플립플롭 FF5는 그 출력이 절환 동작에 응답해서 반전하고, 실질적으로 2진 동작을 한다. 또 그 출력상태는 플립플롭 FF3 및 FF4를 개재하여 전원 E에 의하여 유지된다. 그리고 플립플롭 FF6은 플립플롭 FF5의 출력과 누름버튼 스위치(30)로 부터의 논리적을 출력하는 NOR회로(21)의 출력상태에 따라 발진 개시신호를 클록발진기(5)에 출력하고, 클록발진기(5)의 기동과 정지를 제어한다. 따라서 비측정 상태에서는 클록발생이 정지되고, 절환동작을 하지 않을때는 거의 전력을 소비하지 않는다. 또한 상기 전자 회로를 CMOS로 구성할 수 있으므로 전력소비량을 극히 적게할 수 있다. 이와같이 낮은 소비전력화를 실현할 수 있는 동시에 아날로그 스위치 부분의 IC패턴이 필요없으므로 소형 IC패턴의 사용이 가능해지고, 본 발명에 따르는 회로장치를 IC화 할 경우 그 IC설계가 대단히 간단해진다. 상기 실시예는 온도를 계측대상으로 하고 있으나, 압력, 습도 등에 의하여 변화하는 검지 소자를 사용한 측정 회로로서도 이용할 수 있고 또 발명은 측정 대상에 한정되는 것은 아니다.

Claims (4)

  1. 측정회로 수단과, 상기 측정회로 수단으로 부터의 출력에 따라 측정치를 표시하기 위한 표시 수단과, 상기 표시 수단의 표시테스트를 행하는 표시테스트 회로수단과, 상기 표시 수단에 의해 소정의 기준측정치가 표시되도록 상기 측정회로 수단을 작동시키기 위한 기능테스트 회로 수단과, 측정동작을 개시시키기 위한 스위치 수단과, 상기 스위치 수단을 조작함으로써 상기 표시테스트 회로 수단 및 상기 기능테스트 회로 수단을 작동시켜서, 상기 표시테스트 회로 수단이 상기 표시 수단을 테스트하고 상기 기능테스트 회로 수단이 상기 소정의 기준 측정치를 표시하도록 상기 측정회로 수단을 작동시킨 후 상기 측정회로에 의한 측정을 개시시키기 위한 스위치회로 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 측정 회로 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 측정 회로 수단은 측정될 값을 감지하기 위한 센서와, 기준 소자와, 상기 센서와 기준 소자중 하나가 발진 주파수를 결정하게끔 접속될 수 있는 입력부를 가진 가변 주파수 발진기와, 상기 발진기 입력부에 센서와 기준 소자중 하나를 절환가능하게 접속시키기 위한 수단과, 상기 센서가 상기 발진기에 접속될때 상기 발진기에 의해 생성되는 주파수를 상기 기준 소자가 상기 발진기에 접속될때 상기 발진기에 의해 생성되는 주파수와 비교하기 위한 비교수단과, 상기 비교수단의 출력에 응답하여, 측정된 값을 나타내는 신호를 형성하기 위한 수단을 구비하며, 상기 표시수단은 측정된 값을 나타내는 상기 신호를 표시하는 것을 특징으로 하는 측정 회로 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 측정 회로 장치는 온도계인 것을 특징으로 하는 측정 회로 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기측정 회로 수단은 측정될 값을 감지하기 위한 센서와, 상기 센서에 결합되어 외부로 부터 센서에 충전된 정전압을 방전하는 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 측정 회로 장치.
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