JPH01283398A - 錫およびその製造方法 - Google Patents

錫およびその製造方法

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JPH01283398A
JPH01283398A JP11043688A JP11043688A JPH01283398A JP H01283398 A JPH01283398 A JP H01283398A JP 11043688 A JP11043688 A JP 11043688A JP 11043688 A JP11043688 A JP 11043688A JP H01283398 A JPH01283398 A JP H01283398A
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JP
Japan
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tin
sulfuric acid
electrolyte
anode
electrolysis
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JP11043688A
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Morimasa Sumita
住田 守正
Kiyonobu Nakamura
中村 精伸
Tomiko Yamaguchi
山口 冨子
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Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
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Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、主としてエレクトロニクス産業分野において
用いられるロー付は材や半田材料等として有用なα線カ
ウントの少ない錫およびその製造方法に関する。
[従来の技術および発明が解決しようとする課題]近年
のエレクトロニクス分野における技術の展開は目覚まし
く、その主役である1、C0や超り、S、l。
等の発達もまた急速である。半導体メモリーにおいては
すでに4M (メガ)ビットDRAMの試作品も発表さ
れ、遠くない将来へ向けての超高容量メモリーの開発も
盛んである。
このような状況になる以前は、これら半導体集積回路の
組立等に用いられるロー付は材や半田材料等として有用
な錫のα線カウントはlC/H−Cm2(単位面積当り
、1時間に1個のα線が検出されるもの)でもよいとさ
れていた。しかし、半導体メモリーの高密度、高容量化
と共に、そのソフトエラーを極限に少なくする必要性が
生じ、ソフトエラーの原因となるα線カウントを厳しく
低減させることが要求されるようになった。
従来、ロー付は材や半田材料等として有用なα線カウン
トを減少させた錫およびその製造方法が特公昭62−1
478号公報に開示されている。同公報に記載された錫
の製造方法は、一定濃度のスルファミン酸(有機酸)お
よび錫を含む電解液中で、錫を陽極に用いて、特定条件
で電解を行うもので、その製造方法により99.95重
量%以上の品位を有し、α線カウントが0.2C/H・
0m2以下の錫が得られるとされている。しかし、同公
報の実施例に記載されているα線カウントは0.04〜
0.2C/H−cm2の範囲に過ぎず、本発明者らの追
試の結果からも同公報に記載の発明では、各種条件を同
公報に開示の範囲で変更してもα線カウントが0.04
 C/H・0m2未満の錫は得られなかった。
従って、より半導体の高信頼度化が要求される現今にあ
っては、ロー付は材や半田材料等として有用な錫として
は、上記公報に記載された錫よりも、−層α線カウント
を低減せしめた錫が希求されている。
本発明は、上記課題に鑑み、半導体メモリー等において
、ソフトエラーの低減を可能とし、電子機器の信頼度を
大幅に向上させるべく、α線カウントを低減し、特に半
導体メモリーのアラセンブリング等の際のロー付は材、
半田材料等に有用な錫およびその製造方法を提供するこ
とを目的とするものである。
[課題を解決するための手段および作用コ本発明者らは
上記目的を達成するために鋭意検討を重ねた結果、電解
液を充分に吟味選択し、精製度の高い硫酸を用いて特定
濃度範囲の電解液を作成し、高品位の錫を陽極に用いて
電解を行うことにより、α線カウントが極めて少ない錫
が得られることを見い出し、本発明を完成するに至った
すなわち本発明は、品位が99.99重量%以上であり
、かつ放射性物質によ−るα線カウントが0,08C/
H−0m2以下であることを特徴とする錫にある。
本発明の錫の品位が99.99重量%未満、もしくはα
線カウントがO,Q3 C/H−cm2を超えてしまう
と、高信頼度を要する半導体メモリー等においてソフト
エラーを低減することかできず、電子機器の高信頼度化
は得られない。
また、本発明の錫の製造方法としては、JIS−に89
51に規定される試薬特級硫酸の規格に適合する濃硫酸
を用いて作成された50〜280 g/lの硫酸電解液
中で、品位が99.90重量%以上である錫を陽極に用
いて電解を行うことを特徴とするものである。
この製造方法においては、電解液として硫酸が用いられ
、この硫酸はJIS−K 8951に規定される試薬特
級硫酸の規格に適合する濃硫酸を用いて作成されること
が必要である。本発明で用いられる硫酸電解液は、含有
される放射性物質が極めて少ないものでなくてはならな
い。JIS−K 8951に規定される試薬特級硫酸の
規格に適合しない濃硫酸を用いた場合には、得られる錫
のα線カウントが多くなるため好ましくない。また、本
発明において用いられる濃硫酸は、前記条件を満たすも
のであればよく、市販品あるいは自家精製品であっても
よい。
また、上記濃硫酸を希釈して電解液を作成する際に用い
られる水は、放射性物質を含有しないものが好ましく、
高純度純水が好ましい。
本発明の製造方法における電解液の硫酸濃度は、放射性
物質を低減させるために重要な因子で、高い程α線カウ
ントが少ない錫が得られる傾向があり、また陽極の電解
電圧を支配する因子でもある。
本発明においては50〜280g/)、好ましくは10
0〜280 g/lである。50g/l未満の場合は、
陰極への析出錫のα線カウントが高く、また電解液に錫
がスムーズに溶は込みにくくなり、280 g/lを超
える場合は、陽極の電解電圧が高く不安定となり、また
それ以上硫酸濃度を高くしてもα線カウントを低減する
効果が得られず不経済となるので、それぞれ好ましくな
い。
また、本発明の製造方法においては、品位が99.90
重量%以上である錫を陽極に用いて電解を行う。品位が
99.90重量%未満の錫の場合は、錫に含有される放
射性物質、すなわちα線カウントが多くなる。またさら
に、本発明の製造方法により一度陰極に析出させた錫を
陽極に用いて再電解を行うと一層好ましい。
本発明では上述の錫を陽極として電解液に溶出させて用
いるのであるが、その際の電解液中の錫イオン濃度は3
0〜200 g/lであることが好ましい。
Bog/l未満の場合は陰極への析出錫が稠密でなくな
り、200 gNを超える場合は経済性が悪くなるため
、それぞれ好ましくない。
本発明にあっては上述の電解液および陽極を用いて電解
を行う。その際陽極には陽極泥を回収するために、耐酸
性の化学繊維製の陽極袋を装着する。また陰極としては
、ステンレス等の金属板が用いられるが、本発明の製造
方法により一度陰極に析出させた錫を薄板状に加工して
用いることも可能である。
この際の電解条件としては、電解液の温度は15〜95
℃、電流密度は0.5〜2 、A/dm2であることが
好ましい。
電解液の温度が、15℃未満では電解液の電気的抵抗が
高いため電解効率が悪くなり、95℃を超えると電解液
が沸騰した状態となってしまうため、それぞれ好ましく
ない。またさらに、電解液を特に加温しなくても15℃
以上であれば電解は良好に続くので、経済的な面で電解
液の温度はより低い方が好適なのであるが、硫酸濃度が
高く、陽極の電解電圧が高くなる時は、電圧を安定化す
るために高温にすることが好ましい。したがって、電圧
の安定性と経済性の見地から考慮すると、硫酸濃度が5
0〜220 gHの時は液温15〜20℃程度がより好
適であり、硫酸濃度が220〜2.go g/、、iの
時は液温70〜95℃がより好適である。
電解時の電流密度が、0.5A/dm2未満の場合は陰
極に析出させる錫に悪い影響はないものの、単位時間当
りの取得量が少なく非能率的であり、2A/dm2を超
える場合は陽極の不働態化を早くまねくので、それぞれ
好ましくない。
本発明で用いられる電解液には、ゼラチン1〜2 g/
lおよびβナフトール1〜2 gNをさらに添加すると
、陰極に析出する錫の析出状態が良好となり好ましい。
さらに電解中は、電解槽内での濃度不均一を防止するた
めに電解液の循環を行う。
このような本発明の製造方法によると、α線カウントが
0.03C/H−cI112以下と従来のものに比べて
低い錫が得られる。これは、従来の技術において選定さ
れていた電解液を用いていたのでは、放射性物質、すな
わちα線放出の主原因となるウラン、トリウムをはじめ
、それらの核崩壊による生酸物も更にα線放出の原因物
質に転化するので、それら崩壊系列に属する放射性の状
態にある放射性物質、例えばラジウム、ラドン、ポロニ
ウム、ビスマス、アスタチン、鉛等の電解による分離が
充分でなく、特に核崩壊生成物を系外へ除去することが
不完全であったためα線カウントの低減が完遂されてい
なかった。それに対し、本発明における硫酸電解液を用
いることにより、これらの放射性物質をほぼ完全に分離
することが達成できるためα線カウントを0.03C/
H−0m2以下に低減させることが可能となったと考え
られる。
[実施例] 以下、本発明を実施例および比較例に基づき具体的に説
明する。
実施例1〜7 JIS−K 8951に規定される試薬特級硫酸の規格
(第1表)に適合する和光純薬玉業■製試薬特級硫酸[
192−04696]  (規格を第1表に示す)と高
純度純水とを用い、第2表に示される酸濃度の硫酸をI
ノ作成して電解液とした。さらに電解液には、ゼラチン
2g1βナフトール2gをそれぞれ溶解液として添加混
合しておく。
陽極には第2表に示される品位の錫を、大きさio’x
 IOX l cmに鋳造し、これに陽極泥回収用とし
て、耐酸性の化学繊維製の陽極袋をかぶせたものを用い
た。この陽極のα線カウントをα線測定器(住友化学■
製、LAC8−1000−M型)であらかじめ測定し、
その結果を第2表に併記する。
陰極としては大きさIOX IQX O,03cmのス
テンレス板を用い、陽極1枚に対して陰極2枚を対応さ
せて前述の電解液中に配置した。その表面は電解終了時
に析出する錫の剥離をよくするため、2000番のサン
ドペーパーで仕上げをしておく。
前述の電解液を第2表に示しだ液温とし、電流密度0.
8 A/cI112として電解を行った。
本実施例においては、通電当初は、電解液中に錫イオン
は存在しないから、もっばら水素イオンによって電解反
応は進行し、若干の錫イオンの析出もはじまる。しかし
ながら、未だ電気の担体は水素イオンが主であり、この
状態はしばらく続く。
このように水素イオンが電気の担体として作用し続ける
間に、電解液中に放射性物質のほとんどない錫イオンが
蓄積し、かつ陰極に析出もする。このようにして電解を
続けていると、時間経過と共に、錫イオン濃度は20g
/l程度となり、錫イオンによる本来の電解が主体とな
るので、この状態を維持して電解を継続した。
このようにして得られた析出銀を、陰極板から剥離し水
洗乾燥して、前述の陽極と同様にα線測定器でα線カウ
ントを測定し、その結果を第2表に併記する。
なお、電解を繰り返し行っていると、陽極袋に蓄積した
放射性物質が、一部電解液に溶出し、陰極の析出銀に混
入することもありうるので、陽極袋に陽極泥の蓄積が認
められたら、適時陽極および陽極袋の洗浄および電解液
の更新を行って電解系内への放射性物質の蓄積を抑えた
また、電解液中の錫成分は中和によって回収したが、こ
の錫を再び本発明に用いられる陽極とはせずに、別の用
途に供した。
比較例1〜2 電解液として使用する酸を和光純薬工業■製試薬特級ス
ルファミン酸[’98−04475]  (比較例1)
、JIS−K 8951に規定される試薬特級硫酸の規
格に適合しない和光純薬玉業■製試薬和光−級硫酸[1
91−04708]  (規格を第1表に示す)(比較
例2)とした以外は上述の実施例5と同様の条件にて電
解を行い、使用した陽極および得られた析出銀のα線カ
ウントをα線測定器で測定し、その結果を第2表に併記
する。
第2表から明らかなように、JIS−K 8951に規
定される試薬特級硫酸の規格に適合する濃硫酸を用いた
実施例1〜7により得られた析出錫のα線カウントは、
いずれも0.03 C/H−cm2以下であり、従来の
スルファミン酸あるいは上記条件外の硫酸を用いた比較
例1〜2により得られた析出錫のα線カウントより低い
ことがわかる。特に酸濃度を100〜280 g/lと
した実施例2〜7においては、極めてα線カウントの低
い錫が得られる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の製造方法によって、α線
カウントが0.03 C/H−cm2以下と従来の錫と
比較して低いものが簡便に効率良く得られる。
また、本発明の錫を半導体メモリーのアラセンブリング
等の際のロー付は材、半田材料等として用いることによ
り、半導体メモリー等のソフトエラーを極めて少なくし
、電子機器の信頼度を著しく向上させることが可能であ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、品位が99.99重量%以上であり、かつ放射性物
    質によるα線カウントが0.03C/H・cm^2以下
    であることを特徴とする錫。 2、JIS−K8951に規定される試薬特級硫酸の規
    格に適合する濃硫酸を用いて作成された50〜280g
    /lの硫酸電解液中で、品位が99.90重量%以上で
    ある錫を陽極に用いて電解を行うことを特徴とする錫の
    製造方法。
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